整理JT1型晶体管特性图示仪Word下载.docx

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10Ω～22KΩ，分24档；

每族级数：

4～12连续可变；

每秒级数：

100或200，共3档；

阶梯作用：

重复、关、单族，共三档；

极性：

正、负两档；

误差≤±

5％．

（4）集电极扫描信号：

峰值电压：

0～20V、0～200V两档，正、负连续可调；

电流容量：

0～20V时为10A（平均值），0～200V时为1A（平均值）；

功耗限制电阻：

0～100KΩ，分17档，误差≤±

5％；

（5）电源：

交流220V±

10％，50Hz±

20Hz。

功耗：

260VA．

环境温度：

－10℃～＋40℃

相对湿度：

≤80％

二、仪器原理框图和工作原理

24．

仪器原理框图如图3.6.2所示。

图中虚线框中“测试台”上插有被测三极管。

下面以使用本仪器测试“晶体二极管伏安特性”和“晶体三极管输出特性”为例，介绍仪器的工作原理。

25．二极管伏安特性的测试原理

流过二极管的电流I与二极管两端电压U的函数关系称为“二极管伏安特性”。

本仪器通过显示“伏安特性曲线”来定量显示被测二极管的“伏安特性”。

由图3.7.2（a）二极管伏安特性曲线（正向区）可知，当我们将二极管两端的电压U由0逐渐增大时，二极管中的电流I会按照“二极管方程”的规律逐渐增大。

二极管方程：

式中：

在环境温度为300K时，UT≈26mV。

将这一过程重复进行称为“电压扫描”。

根据特性曲线所在的象限，用本仪器“X轴作用”和“Y轴作用”的“移位”旋钮调整扫描的原点在示波器屏幕的左下角或右上角。

当测量二极管正向特性曲线时，由于曲线位于第一象限，所以应将原点调整至屏幕左下角。

（而反向特性曲线位于第三象限，应将原点调整至右上角，并将扫描电压极性选择为“－”。

）二极管两端的电压U的值经“X轴放大器”放大后，控制示波器光点在X轴方向的运动。

当电压由0逐渐增大时，光点从最左边的原点处向右水平移动，光迹的长度与电压值成正比。

同时，用流过二极管的电流I的值（需变换成电压）经“Y轴放大器”放大后，来控制示波器光点在Y轴方向的运动。

当电流由0逐渐增大时，光点由最下边的原点处向上垂直运动，光迹的长度与电流成正比。

两者的共同作用就会使示波器的光点在在屏面上显示出二极管的伏安特性曲线，并可根据示波管上的刻度定量读出电压、电流的数据。

测试二极管伏安特性曲线时，仪器工作原理如图3.6.3（b）所示。

图3.6.3二极管测试电路原理

（1）将“测试选择”开关扳向中间（“关”），被测二极管插入测试台左侧“E”和“C”插孔中，这时二极管没有加电；

当其它选项调节好后，再将“测试选择”扳向“晶体管A”侧，进行加电测量。

（2）测试二极管时，基极“阶梯信号”不起作用。

加在被测二极管上的电压由“集电极扫描信号”单元提供。

“集电极扫描信号”单元输出的是频率为100Hz的脉动直流电压，波形如

的正电压或

的负电压，由“极性”旋钮控制，可选“＋”或“－”；

电压的峰值由“峰值电压范围”选择，可选“0～20伏”或“0～200伏”，再由“峰值电压”旋钮细调，可产生上述范围之间的任意值。

注意：

测量半导体器件一般选择“0～20”，而“0～200”用来测试器件的反向击穿电压。

“功耗限制电阻”串连在电路中起保护作用，避免过大电流流过被测管。

测量二极管时，调节JT-1的“集电极扫描单元”的控制旋钮，使“极性”为“＋”，“峰值电压范围”为“0～20V”，“峰值电压”先旋为“0”，正式测量时加大到所需值。

“功耗限制电阻”在测量大电流二极管时可选几Ω或几十Ω，小电流管可选几十Ω至几KΩ。

（3）“X轴作用”用来选择X轴放大器的测量对象和X轴放大器放大倍数，当扳至“集电极电压”0.1“伏∕度”时，输入的测量对象是测试台“C”、“E”之间的电压——即二极管两端的电压值U，X轴方向每格代表0.1伏。

（4）“Y轴作用”用来选择Y轴放大器的测量对象和Y轴放大器的放大倍数，当扳至“集电极电流”1“毫安∕度”，输入的测量对象是“电流采样电阻”两端的电压值——与流过二极管的电流值对应，Y轴方向每格代表1毫安。

“电流采样电阻”的作用是将集电极电流I转换为示波器所需的电压值。

（5）如上所述设置好测量条件后，将测试台的“测试选择”开关扳向“晶体管A”侧，并将峰值电压由0逐渐加大，便可观测到二极管的伏安特性曲线的正向区；

如果要观察二极管的反向区曲线，可将二极管反插或将“集电极扫描信号”的“极性”扳向“－”。

并将扫描原点移至右上角。

26．

三极管输出特性测量

用图3.6.4所示的“三极管输出特性曲线”可描述出三极管的集电极输出特性。

由三极管的输出特性曲线可以测得三极管的电流放大倍数β、饱和压降UCES、集电极输出电阻rce和集电极击穿电压BVCE0，因此是十分有用的。

在测试三极管输出特性时，首先要保持被测三极管的基极电流IB为某个固定不变的值（例如20μA），以集电极电压UCE作为变量，从0逐渐增大，逐点记录集电极电流IC的值，绘出UCE和IC关系曲线，得到在此IB条件下（本例IB=20μA）的一条输出特性曲线；

然后，改变IB的值，重复以上的操作可绘出另一IB条件下的输出特性曲线。

由于UCE—IC曲线是以IB为条件绘出的，所以IB被称为“参变量”。

在本仪器中，上述测量步骤是连续、重复进行的，输入基极的电流IB是一种阶梯形扫描电流，波形如图3.6.5所示，由0开始，以某个固定值（例如10μA，仪器标志为：

“0.01mA∕级”）逐级增大，图中每族曲线为4级。

以每一级IB为参变量绘一条输出特性曲线（对应每级IB，集电极电压扫描一次），这样将会得到以IB为“参变量”的输出特性曲线族（实际上所谓的“输出特性曲线”都是指输出特性曲线族）。

将集电极电压UCE输入X轴放大器放大后，控制示波管的水平扫描；

将集电极电流IC经取样电阻变换为电压后，送Y轴放大器，控制示波管的垂直扫描，便可在示波管屏面上产生“输出特性曲线”。

根据示波管屏面的方格，可以定量测得三极管的有关参数。

用JT-1测试晶体管输出特性曲线时，工作原理见图3.6.2。

（1）“测试选择”位于“关”，将被测三极管插入测试台左边插座，三极管的管脚要插正确。

以下为设置测试条件，根据测试要求设置。

（2）“集电极扫描信号”：

“峰值电压范围”选“0～20V”；

“极性”选“＋”；

“功耗限制电阻”位于“500”；

“峰值电压”位于0，测试时，再逐渐加大至所需值。

（3）“基极阶梯信号”：

“阶梯作用”选“重复”；

“级∕秒”选“200”；

“阶梯选择”的“mA∕级”选0.01（即输出为阶梯电流，每级阶梯为10μA）；

“级∕族”用来设置一族曲线的条数，即阶梯电流的级数，一般可根据显示的稳定情况，选4～10级，级数较大会造成显示闪动，观察不方便。

以下为波形的显示设置，相当与设置示波器的“量程范围”。

如果设置不当，可能造成波形显示不全或显示太小。

应根据波形显示的情况设置。

（4）“Y轴作用”

“mA∕度”置于“集电极电流”，“毫安—伏∕度”为1，表示Y轴的测试对象是“集电极电流”，量程是每度（1方格）代表1mA。

在测试时，如果显示的波形超出屏幕范围，应增大该值。

（5）“X轴作用”

“伏∕度”置于“集电极电压”，1。

表示测试的对象是集电极电压，量程是每度1伏。

在测试时，应根据显示情况调节。

例如测量“饱和压降”UCES时，应旋至0.1V，而测试“击穿电压”BVCE0时，应置于10或20V，这样才能测试准确。

图3.6.4是测试所得的“三极管输出特性曲线”示意图。

图中的虚线方格就是仪器示波管屏面的方格。

为简化起见，同时表示出“饱和压降”UCES和“集电结反向击穿电压”BUCE0，X轴的量程的设置：

左边为1度∕伏，右边为10度∕伏，真正测试时，不可能同时得到这种结果，请明确。

而且，UCE和IC两个“座标轴”也不会显示在屏幕上，应在记录实验结果时，由测试者对应方格添画上。

由图3.6.4可以得到如下的参数：

共射直流电流放大系数β：

测试条件为IC=4mA，UCE=3V。

由曲线图上找到IC=4mA时，对应曲线IB=40μA。

所以，

；

共射交流电流放大系数

：

由曲线图上找到在IC=4mA附近的是IC=3mA，对应曲线IB=30μA。

所以：

＝ΔIC∕ΔIB＝（4－3）mA∕（40－30）μA＝100；

饱和压降UCES：

UCES≈1V；

基极开路时，集电极、发射极间的击穿电压BUCE0：

“基极阶梯信号”扳向“零电流”逐渐增加集电极扫描峰值电压，至特性曲线剧增为止。

击穿处的UCE就是BUCE0。

本例中BUCE0≈63V

三、面板介绍及操作说明

（一）面板介绍

JT－1型晶体管图示仪面板图见图3.6.1。

现将面板上各旋钮和开关的名称和功能按单元分别介绍如下：

1．显示控制单元

该包括用于显示被测管特性曲线的示波管及显示控制旋钮。

“标尺亮度”：

当旋钮顺时针或逆时针旋转到两端时，分别呈黄、红两色，红色供平时观察用，黄色供摄影时用。

“辉度”：

调节图线亮度。

“聚焦”、“辅助聚焦”：

调节扫描线的清晰度。

2．集电极扫描单元

当测试晶体三极管时，“集电极扫描信号”相当于加在被测晶体管的集电极电源（VCC或EC）。

是将220V电网电压经“调压变压器”加到“集电极扫描发生器”中，整流后形成全波整流的扫描电压，因此，其幅度可调。

脉动频率为100Hz，通过“功耗电阻”加到被测管上。

①“峰值电压范围”开关：

分“0～20V”（10A），“0～200V”（1A）两档。

用于调节峰值电压的输出范围。

②“峰值电压”调节旋钮用来调节集电极扫描电压的峰值，使之在上述两档范围内连续可调（改变）。

切换“峰值电压范围”档时应先把本旋钮调到零值，确定“峰值电压范围”后，再按需要电压逐渐增加，以免击穿被测晶体管。

③“极性”选择开关用来转换集电极扫描电压的极性，以适应测量不同类型的三极管。

对NPN型晶体管应提供正向集电极扫描电压，故选择“极性”为“＋”，对PNP型晶体管应选择“极性”为“－”。

④“功耗限制电阻”选择开关，共分17档，电阻范围0～100KΩ串接在被测三级管的集电极回路中，限制集电极功耗，保护被测三极管，应根据被测管的额定功耗和所加峰值电压的大小选择其电阻值。

3．基阶梯信号单元

产生被测晶体管所需的基极信号。

由“阶梯波发生器”（包括“阶梯形成电路”和“阶梯放大器”）输出阶梯波电流。

表3.6.1

接法

NPN管

PNP管

发射极接地

＋

－

基极接地

①“阶梯选择”开关用于选择基极输入信号的类型和大小。

其基极电流共17档，可在0.01～200mA／阶范围内来选择基极电流，以适应测试不同功率的晶体管的需要。

置于“电压”位置时，通过分压，可供给被测管基极以阶梯波电压，分5档，可在0.01～0.2V／级之间选择基极电压。

这时，“串联电阻”串接在被测管的输人回路中，配合被测管的输入特性可确定被测管的最佳转换特性，将输入的电压变化转化为线性的电流变化。

②“极性”开关：

可改变阶梯信号的正负极性。

对三极管不同类型接法按表3.6.1。

③“级／族”旋钮，调节阶梯信号的级数，从4到12连续可调。

④“阶梯作用”扳键分重复、关、单族三档。

a．“重复”位置：

这时阶梯波发生器处在连续工作状态，输出周期性的阶梯信号，一般特性曲线测试时都应置于“重复”位置。

b．“关”位置：

阶梯信号停止输出。

c．“单族”位置：

将扳键中从中间位置每接下一次，输出一族阶梯波，屏上短时间显示一组曲线．这个工作位置适合快速的过载测量，利用它的一次瞬间作用来观测被测管的各种极限特性。

⑤“零电流”和“零电压”扳键：

在中间位置时，阶梯信号接到三极管基极。

在“零电流”位置时，被测管基极处于开路状态，可测ICEO特性。

在“零电压”位置时，被测管基极与发射扳成短路状态，可测ICBS、ICES特性。

⑥“级／秒”扳键用来选择脉冲重复速度，形成电路的三种工作状态,可选择100（上）、100（下）和200级／秒三种阶梯信号中的任意一种。

当选择100级∕秒时，荧光屏显示闪动，观察不方便，但被测管的管耗较小；

选择200级∕秒时，荧光屏显示稳定，但被测管管耗比100级∕秒时大一倍。

⑦“阶梯调零”旋钮：

在测试前，应先把阶梯信号的起始级调到零电位，在荧光屏上看到基极阶梯信号后，观察在“零电压”位置时光点的位置，复位后调节“阶梯调零”旋钮，使阶梯信号的起始级光点也位于该处。

4．“X轴作用”控制单元

用于选择X轴的显示对象和控制显示量程。

“X轴作用伏／度”开关：

共分19档，四种显示对象。

（荧光屏上一大格为1度）其中：

①“集电极电压”占11档，可从0.1V／度～20V／度范围内变化，用于在X轴方向显示集电极电压。

②“基极电压”占6档，变化范围0.01～0.5伏／度，将X轴用于显示基极电压。

当被测管的基极电压为X轴变量时，此开关应放在这些档位。

伏／度表示法同上。

③“基极电流或基极源电压”：

当X轴用于显示被测管的基极电流或基极电压时，开关置此档位置，究竟是电流还是电压，以及每级读数大小都是“阶梯选择”开关的位置来决定。

荧光屏上显示的都是每度1级。

④“外接”：

当JT－l与其它仪器配合使用时，信号由仪器背板上的X（＋）、X（－）端接入，其灵敏度为0.1V／度。

“X轴移位”：

使被测曲线沿水平方向移动。

5．“Y轴作用”控制单元

用于选择Y轴的显示对象和控制显示量程。

①“Y轴作用”毫安—伏／度开关：

共分24档，4种转换作用。

其中“集电极电流”占16档，变化范围0.01～1000毫安／度。

②“基极电压”：

占6档，0.01一5伏／度。

当被测管的基极电压为Y轴变量时，开关置这些档位。

当被测管的基极电流或基极源电压为Y轴变量时，开关置此档。

④“外接”同上。

⑤“倍率”开关：

有×

0.1三档用来扩大（×

2）或缩小（0.1）集电极电流档倍率。

⑥“Y轴移位”：

使被测曲线沿垂直方向移位。

6．晶体管测试台

被测管与图示仪的连接是通过测试台来实现的。

晶体管插座有A、B两组，分两种：

一种为四芯插座供测小功率管用，一种为三个接线柱，配上附件供测大功率管用。

①“测试选择”开关：

分“晶体管A”、“关”和“晶体管B”三档，测试时，此开关扳至测试管位置。

②“接地选择开关”：

有“发射极接地”和“基极接地”两档。

用于选择被测晶体管的工作方式是“共射”还是“共基”。

③X轴和Y轴的“放大器校正”开关：

用于测试前的仪器自校。

把两开关先扳至“0”位置，使光点移至荧光屏右上方坐标顶点，然后扳至“－10度”，光点应回到荧光屏左下方的坐标顶点。

若不如此，应调整内部放大器的放大倍数。

（二）操作使用说明

1．“显示部分”调节同一般示波器。

2．测试前的准备工作：

根据管型和所测特性，把各旋钮开关放在正确位置上。

将“集电极扫描信号”的“峰值电压”调到0，“基极阶梯信号调至最小位置”，“功耗电阻”调至较大阻值（1KΩ以上）。

将测试开关置“关”位置。

调节“阶梯调零”：

将两个“放大器校正”开关扳至“0”位置，调X和Y轴位移，使光点位于标尺的左下角顶点。

将“Y轴作用”开关和“X轴作用”开关均置于“基极电流或基极源电压”位置。

将“阶梯选择”置于0.2V／度，正极性，荧光屏上即可出现一排45°

的等间隔光点。

调节“阶梯调零”旋钮，使左面第一个光点与标尺刻度左下角顶点重合即可。

三、晶体管特性测试方法

根据被测管管型和所需测量的电流、电压范围，正确选择扫描电压范围和合理调节峰值电压大小，正确选择阶梯输入信号的幅度。

要合理选择“X轴作用”和“Y轴作用”开关的功能和量程。

根据测试组态，将被测管接到测试台上。

进行测试时，将“测试选择”开关扳至被测管一侧，缓慢加大“峰值电压”，即可显示出所测的特性曲线。

表3.6.2所示为利用JT—l测试各种半导体器件特性时旋钮的正确位置，仅供参考。

表3.6.2测试半导体器件特性时JT-1旋钮及开关的正确位置

被测器件

旋钮及测试

位置内容

旋钮

名称

二极管

稳压管

三极管（NPN型）

MOS场效应管

（N沟道增强型）

安全评价的基本原则是具备国家规定资质的安全评价机构科学、公正和合法地自主开展安全评价。

正向

特性

（1）内涵资产定价法反向

二、建设项目环境影响评价特性

规划环境影响评价技术导则由国务院环境保护主管部门会同国务院有关部门制定；

规划环境影响评价技术规范由国务院有关部门根据规划环境影响评价技术导则制定，并抄送国务院环境保护主管部门备案。

反向

（1）环境的使用价值。

环境的使用价值（UV）又称有用性价值，是指环境资源被生产者或消费者使用时，满足人们某种需要或偏好所表现出的价值，又分为直接使用价值、间接使用价值和选择价值。

（一）安全预评价依据输入

输出

转移

峰值电压范围

0～20V

0～200V

0～20v

峰值电压

从0调大

集电极扫描

电压极性

功耗电阻

1KΩ

5KΩ

Y轴作用

集电极电流

1mA／度

0.1mA／度

2mA／度

或

基极源电压

0．lmA／度

X轴作用

集电极电压

0.1V／度

10V／度

1V／度

2V／度

基极电压

基极阶梯

信号极性

无关

0.01mA／级

0.2V／级

阶梯作用

重复

级／族

10级

6

10

倍率

×

1

级／秒

200

被测器件在

测试台上的插法

表3.6.2之所示为利用JT-1测试几种半导体器件特性时旋钮的正确位置，供参考。

根据使用条件不同，应根据具体要求调整测试条件。

测量结型场效应管时，N沟道管应为负栅压，P沟道管为正栅压。