10kV电力电缆及附件抽检作业指导书.docx

10kV电力电缆及附件抽检作业指导书.docx

《10kV电力电缆及附件抽检作业指导书.docx》由会员分享，可在线阅读，更多相关《10kV电力电缆及附件抽检作业指导书.docx（114页珍藏版）》请在冰豆网上搜索。

10kV电力电缆及附件抽检作业指导书

1、额定电压10kV交联聚乙烯绝缘电力电缆抽检

检验工程

标准要求

检验器具

检验方法

检测结果

备注

（照片或相关文件）

绝缘厚度测量

电缆绝缘最薄点厚度≥标称值90%-0.1mm，偏心度≤8%

GB/T12706.2—2008：

17.5.2或依据业主技术协议要求.

投影仪、测量显微镜

试样制备：

1.从样品切取一实验薄片试件用于测量平均厚度和最薄点厚度；

2.用锋利刀具从样段上沿着与试样导体线芯轴线垂直地平面切取薄片一个；

测试步骤：

1.每一试片都必须进行焦距调节，使其处于最佳清晰状态；

2.找出试片厚度地最薄点作为第一个测量点；

3.每个试片测量6点，沿试片芯痕凹槽处圆周尽可能等距离测量6点.

实验结果地计算：

在电缆离端头25cm取1个试件测得6个数值地平均值（用mm表示），应计算到小数点后2位，取该值为厚度地平均值；

GB/T2951.11-2008

（1）环境温度：

℃，相对湿度：

%

实验选用仪器：

（2）绝缘最薄点厚度：

mm

偏心度：

%

结论：

符合□不符合□

非金属护套厚度测量

1、非铠装和护套不直接包覆铠装、金属屏蔽或同心导体上地电缆，护套最薄点测量值≥标称值地85%-0.1mm；2、直接包覆在铠装、金属屏蔽或同心导体上地护套，其最小测量值应≥标称值地80%-0.2mm.隔离套最薄点厚度应≥标称值地80%-0.2mm

GB/T12706.2—2008：

17.5.3

投影仪、测量显微镜

（1）环境温度：

℃，相对湿度：

%

实验选用仪器：

（2）护套最薄点厚度：

mm

隔离套最薄点厚度：

mm

结论：

符合□不符合□

电缆结构检查（导体检查、铠装金属丝和金属带地测量、外径测量）

导体根数不少于规定值.铠装金属带、圆金属丝、扁金属丝尺寸低于标称尺寸地量值分别应不超过10%、5%、8%.外径尺寸不考核.铠装钢带包带间隙应不大于钢带宽度地50%.铜带屏蔽搭盖率最小5%，铜带最小厚度应不小于标称值地90%.

GB/T12706.2—2008：

17.5，17.7

千分尺、游标卡尺

1.导体检查应采用适当地检验及测量方法来检查导体结构是否符合GB/T3956要求.

2.导体结构

2.1截面积为800ｍｍ2以下地导体采用符合GB/T3956地第2种紧压绞合圆形结构.

2.2截面积为800ｍｍ2以上地导体采用分割导体结构；800ｍｍ2地导体可以采用紧压绞合圆形结构，也可以采用分割导体结构.

2.3铜分割导体中地单线应不少于170根.

2.4各种绞合导体不允许整芯或整股焊接.绞合导体中地单线允许焊接，但在同一层内,相邻两个接头之间地距离应不小于300ｍｍ.

3导体表面应光洁、无油污、无损伤屏蔽及绝缘地毛刺、锐边以及凸起或断裂地单线.

4铜丝屏蔽应由同心疏绕地软铜线组成，铜丝屏蔽层地表面上应有铜丝或铜带反向扎紧，相邻屏蔽铜丝地平均间隙G应不大于4ｍｍ.G由下式定义：

G=[π（D+d）-nd]/n式中：

D——铜丝屏蔽下地缆芯直径，ｍｍ；d——铜丝地直径，ｍｍ；n——铜丝地根数.铜丝屏蔽地截面积应能满足短路容量地要求.适用时，铜丝屏蔽地电阻测量值应符合GB/T3956规定；或者不大于制造厂标称值（当铜丝屏蔽地）截面积与GB/T3956推荐地系列截面积不同时）.

5金属套屏蔽电缆采用铅套或铝套时，金属套可作为金属屏蔽.如铅套或铝套地厚度不能满足用户对短路容量地要求时，应采取增加金属套厚度或增加铜丝屏蔽地措施.GB/T12706.2—2008

（1）环境温度：

℃

相对湿度：

%

实验选用仪器：

仪器编号：

（2）

导体根数：

根

铠装层：

——层数：

层

——厚度：

mm

——包带间隙/钢带宽度：

%

铜带屏蔽：

——搭盖率：

%

——厚度：

mm

结论：

符合□不符合□

局部放电实验

在1.73U0下无超过声明灵敏度（5pC或更优）地可测放电

GB/T12706.2—2008：

18.1.4.

局部放电检测仪、串联谐振实验系统

1试样制备

1.1应按产品标准规定取短电缆试样.

1.2应仔细制作实验用电缆终端，以避免因终端产生地局部放电.

2实验程序

2.1短电缆实验

2.1.1条件

短电缆可认为与集中电容相似，对短电缆长度上地限制取决于所采用地实验回路，其实际数值可从GB/T3048.12中附录B地双脉冲曲线图确定，并定义为lk.当电缆两端连接在一起时，长度直至2lk也属于短电缆.

2.1.2灵敏度检验

校准器应并联于试样远离测试仪器地一端，由注入校准电量qcal和对应测出地偏转值a2，可计算出刻度系数k2（pC/mm）（k2=qcal/a2）和灵敏度qmin（pC）.

qmin=2k2hn

式中：

hn——背景干扰偏转值，单位为毫M（mm）

2.1.3实验步骤

只需在试样地一端进行测量，用测得地偏转值A（mm）计算出放电量q（pC），即：

q=k2A

3注意事项

3.1电缆终端地局部放电影响电缆本体局部放电测量准确度时，可采用任何合适方法加以消除.

3.2测量前试样应先经过工频交流耐受电压实验（在试样上施加实验时所需地最高测试电压有效值，试样不应有任何异常现象），以免在进行局部放电实验发生击穿或闪络，损坏局部放点检测仪.

3.3为了获取理想地双脉冲图，应选用具有a响应宽频带地局部放点检测仪.

4实验记录

4.1实验类型；

4.2试样编号、试样型号、规格、长度；

4.3实验日期、大气条件、实验时试样地温度；

4.4实验回路、测试仪器信号、测试时地相关技术参数；

4.5回路灵敏度校验和背景干扰值；

4.6施加地实验电压地数值和局部放电量；

4.7实验中地异常现象、处理和判断；

4.8必要时地双脉冲图；

4.9实验设备及其校准有效期；

GB/T3048.12-2007

（1）环境温度：

℃

相对湿度：

%

实验选用仪器：

仪器编号：

（2）

实验电压：

kV

背景噪声：

pC

局部放电量：

A相pC

B相pC

C相pC

结论：

符合□不符合□

电压实验

在3.5U0下，持续5min

不击穿

GB/T12706.2—2008：

18.1.8.

高压测试系统

1试样制备

1.1试样地数量和长度应符合产品标准规定；

1.2试样终端部分地长度和终端头地制备方法应能保证在规定地实验电压下不发生沿其表面闪络放电或内部击穿.

2实验程序

2.1实验方式，试样耐压实验地实验电压值和耐受电压时间按产品标准规定.

2.2实验电压应施加在导体和金属屏蔽/金属套间逐渐地升到规定值.

2.3实验要求

2.3.1除非产品标准另有规定，实验应在（20±15）℃温度下进行.实验时，试样地温度与周围环境温度之差应不超过±3℃.

2.3.2对试样施加电压时，应当从足够低地数值（不应超过产品标准所规定实验电压值地40%）开始，以防止操作瞬变过程而引起地过电压影响；然后应缓慢地升高电压，以便能在仪表上准确读数，但也不能升得太慢，以免造成在接近实验电压时耐压时间过长.

2.3.3保持实验电压至规定时间后，降低电压至实验电压值地40%，然后再切断电源.”

3实验结果及评定

3.1试样在施加所规定地实验电压和持续时间内无任何击穿现象，则可认为该试样通过耐受工频电压实验.

3.2实验中如发生异常现象，应判断是否属于“假击穿”.假击穿现象应予排除，并重新实验.只有当试样不可能再次耐受相同电压值地实验时，则应认为试样已击穿.

3.3如果在实验过程，试样地实验终端发生沿其表面闪络放电或内部击穿，允许另做实验终端，并重复进行实验.

GB/T3048.8-2007

（1）环境温度：

℃

相对湿度：

%

实验选用仪器：

仪器编号：

（2）

实验电压：

kV

实验时间：

h

A相实验是否通过：

B相实验是否通过：

C相实验是否通过：

不通过时，记录异常情况

结论：

符合□不符合□

弯曲实验及随后地局部放电实验

[弯曲直径：

15（D+d）±5%]正反弯曲三次，随后地局部放电实验放电量（1.73U0下）不超过声明灵敏度（5pC或更优）地可测放电

GB/T12706.2—2008：

18.1.4.

局部放电检测仪、串联谐振实验系统、电缆弯曲实验机

1弯曲实验

电缆试样应在环境温度下围绕实验用圆柱体（例如电缆盘地筒体）弯曲至少一整圈，然后展直，再在反方向弯曲一整圈，如此作为一个循环.这样地弯曲循环共应进行三次实验用圆柱体直径应不大于——36（+D）+5%,平铝套电缆；——25（+D）+5%,铅、铅合金、皱纹金属套或金属塑料复合护层电缆；——20（+D）+5%,其他电缆，这里——导体标称直径，mm；D——电缆标称直径，mm.

2、弯曲实验结束后，电缆应立即进行局部放电实验并应符合GB/T12706.2-2008:

18.1.4要求，实验方法参考第3页局放实验方法.

GB/T3048.8，12—2007

（1）环境温度：

℃，相对湿度：

%

实验选用仪器：

仪器编号：

（2）弯曲直径：

mm，正反弯曲次数：

次

（3）实验电压：

kV，背景噪声：

pC

局部放电量：

A相pC，B相pC

C相pC

结论：

符合□不符合□

导体电阻

测量值应按GB/T3956给出地公式和系数校正到温度为20℃，长度为1km地数值，所得计算值应不超过GB/T3956规定地相应地最大值

GB/T12706.2—2008：

16.2

双臂直流电桥、通用导体电阻夹具

测试要点：

1、试样在接入测量系统前，预先清洁其连接部位地导体表面，去除附着物、污垢，连接处表面地氧化层应尽除尽；

2、在实验环境中放置足够长时间最好在密封性好地房间，选择一支精密温度计和一支数字式温湿度计.两温度计离夹具和试样不超过0.5M，且两者基本在同一高度；

3、对各测量关键配套标准电阻、直流稳流器和检流计等作好功能性检查；

4、施加电流应不大于1.0A/mm2，正反各测量一次.

实验环境要求：

1、在实验环境中放置足够长时间；

2、最好在密封性好地房间，温度：

15-35℃，湿度不大于85%；

3、准备两支精密玻璃温度计和点温计（观察施加电流后导体地温升）.

GB/T3048.4-2007

（1）环境温度：

℃

相对湿度：

%

实验选用仪器：

仪器编号：

（2）

导体直流电阻（20℃）：

A相Ω/km

B相Ω/km

C相Ω/km

结论：

符合□不符合□

tgδ测量

将导体加热达到95℃至100℃之间地一个稳定温度，在2KV下，tgδ测量值应不大于0.0080

GB/T12706.2—2008：

18.1.2

高压电桥、串联谐振实验系统、标准电容器

1试样制备

1.1应按产品标准规定选取试样地长度，但不得小于4m.

1.2试样终端部分地长度和终端地制备方法，应能保证在规定地最高测试电压下不发生沿其表面闪络放电或内部击穿.

1.3被测试样地端部切开保护环，并将保护环接地.

1.4试样测量极对地应具有一定电阻值.

1.5交联聚乙烯绝缘电力电缆可采用脱离子水终.这时终端制备（包括开保护环）应按其技术说明书地规定进行.

2实验程序

2.1除产品标准中另有规定外，应按下列方式接线：

2.1.1单芯电缆，应将导体接高压端，金属套、屏蔽或附加电极接测量极；

2.1.2分相铅套电缆，应依次将每一线芯接高压端，其他线芯相互连接并与金属套、屏蔽一起接至测量极；

2.1.3多芯电缆，应依次将每一线芯接高压端，其他线芯相互连接并接至测量极；或每一线芯接高压极，其他线芯相互连接并与金属套、屏蔽一起接至测量极.

2.2除产品标准另有规定外，实验一般均应在（20±15）℃地环境温度下进行.试样地温度与周围环境温度之差应不超过±3℃.

2.3按产品标准要求在规定地实验温度下测量tanδ值时，可采用各种方法测量试样温度，但测量值与标准规定之差不超过±3℃.

2.4测量时应从较低值（不应超过产品所规定地测试电压值地40%）开始将电压缓慢平稳地升至规定地实验电压（电压偏差应不超过规定值地±3%），然后进行电桥平衡（检流计灵敏度应从最低值开始）.测量结束后，将检流计灵敏度调至最低值，并应迅速降压至低于所规定地实验电压地40%，然后在切断电源.

3实验结果及计算

3.1按实验所采用测量电桥地型式，直接读数或计算试样地tanδ值.

3.2按实验所采用测量电桥地型式，直接读数或计算试样地电容值.

GB/T3048.11-2007

（1）环境温度：

℃

相对湿度：

%

实验选用仪器：

仪器编号：

（2）

导体温度：

℃

实验电压：

kV

tanδ：

A相

B相

C相

结论：

符合□不符合□

热循环实验及随后地局部放电实验

加热循环20次后，随后地局部放电实验：

1.73U0下，无超过声明实验灵敏度（5pC或更优）地可检测到地放电.

GB/T12706.2—2008：

18.1.4

局部放电检测仪、串联谐振实验系统、热循环实验系统

1、热循环实验

应按11.3.4规定地弯曲直径将试样变成U形.试样应加热至导体达到95℃至100℃之间地一个稳定温度.加热应至少8ｈ.在每个加热期内,导体温度应保持在限定地温度范围内至少2ｈ.随后应自然冷却至少3h，使导体温度不超过环境温度10K.加热和冷却循环应进行20次.

2、热循环实验结束后，电缆应立即进行局部放电实验，实验方法参考第3页局放实验方法.

GB/T3048.12-2007

（1）环境温度：

℃，相对湿度：

%

实验选用仪器：

仪器编号：

（2）热循环实验：

导体温度：

℃

循环次数：

次

（3）局部放电实验：

实验电压：

kV

背景噪声：

pC

局部放电量：

A相pC，B相pC

C相pC

结论：

符合□不符合□

冲击电压实验及随后地工频电压实验

冲击电压实验（95～100℃,

依据电缆电压等级确定施加电压,正负极性各10次）不击穿、随后工频电压实验（依据电缆电压等级确定施加电压,15min,室温）不击穿.

GB/T12706.2—2008：

18.1.7

冲击电压发生器成套设备

1试样制备

2实验程序

2.1接线方式，对电力电缆绝缘型护套和电缆附件试样进行实验时，试样地所有线芯都应与金属套（屏蔽）和铠装（若有）相连接并与冲击电压发生器输出端，而附加特殊电极（如水槽或石墨涂层）接地.

2.2冲击电压发生器地校准.通常对每个试样都要校核冲击波形.但是具有相同设计和相同尺寸地电缆试样，在同一条件下作实验，只需校核一次.

2.3耐受水平冲击电压实验.

2.3.1在试样处于相应产品标准规定地实验压力和温度条件下，连续施加10次正极性相应规定地耐受冲击电压值.

2.3.2在施加10次正极性相应规定值地耐受冲击电压后，立即按2.2规定进行负极性冲击电压值和波形地校准，然后在试样上连续施加10次负极性相同规定值地耐受冲击电压值.

2.3.3在连续施加正和负极性相应规定地耐受冲击电压值时，至少应分别摄录第1次和第10次冲击电压示波图.

3实验结果及评定

最后一次冲击电压波形图无畸变或未呈现截波，通过实验.

GB/T3048.13-2007；GB/T3048.8-2007

（1）环境温度：

℃，相对湿度：

%

实验选用仪器：

仪器编号：

（2）冲击电压实验：

导体温度：

℃

实验电压：

kV，实验波形：

A相实验是否通过：

B相实验是否通过：

B相实验是否通过：

（3）工频电压实验：

导体温度：

℃

实验电压：

kV，实验时间：

h

A相实验是否通过：

B相实验是否通过：

B相实验是否通过：

结论：

符合□不符合□

半导电屏蔽电阻率

（90±2）℃下，老化前和老化后地电阻率应不超过：

导体屏蔽，1000Ω·m，绝缘屏蔽，500Ω·m

GB/T12706.2—2008：

18.1.9

电缆半导电屏蔽层电阻测试仪、电热鼓风干燥箱

1试样制备

每个试样应从一段150ｍｍ长地成品电缆试样上制备.应将电缆绝缘芯样品沿纵向对半切开，将导体以及隔离层（如果有）除去即制成导体屏蔽试样.应将电缆绝缘芯外所有包覆层除去即制成绝缘屏蔽试样.

2实验步骤应将四只涂银电极Ａ，Ｂ，Ｃ和Ｄ置于半导电层表面.两个电位电极Ｂ和Ｃ应间距50ｍｍ,而两个电流电极Ａ,Ｄ应分别放在电位电极外侧间隔至少25ｍｍ.应采用合适地夹子连接电极.在连接导体屏蔽电极时，应确保夹子与试样表面地绝缘屏蔽层相互绝缘.连接好地试样应放入已预热到规定温度地烘箱中，在至少30ｍin后测量电极间电阻，测试线路地功率应不超过100ｍＷ.测量电阻后，应在环境温度下，测量图B1b所示试样导体屏蔽和绝缘地外径及导体屏蔽层和绝缘屏蔽层地厚度.每项测量6个数值，然后取其平均值.

B3实验结构地计算

B3.1导体屏蔽电阻率应按下式计算：

式中：

ρc——体积电阻率，Ω·ｍ；Rc——电阻测量值，Ω；Lc——电位电极间距离，ｍ；Dc——导体屏蔽地外径，ｍ；Tc——导体屏蔽层平均厚度，ｍ.

B3.2绝缘屏蔽电阻率应按下式计算：

式中：

ρi——体积电阻率，Ω·ｍ；Ri——电阻测量值，Ω；Li——电位电极间距离，ｍ；Di——导体屏蔽地外径，ｍ；Ti——导体屏蔽层平均厚度，ｍ

GB/T11017.1—2002附录B

（1）环境温度：

℃

相对湿度：

%

实验选用仪器：

仪器编号：

（2）

老化前：

——导体屏蔽电阻率：

Ω·m

——绝缘屏蔽电阻率：

Ω·m

老化后：

——导体屏蔽电阻率：

Ω·m

——绝缘屏蔽电阻率：

Ω·m

结论：

符合□不符合□

绝缘老化前后机械性能实验

老化前抗张强度不小于12.5N/mm2，老化前断裂伸长率不小于200%，老化前后抗张强度及断裂伸长率地变化率均不超过±25%

GB/T12706.2—2008：

19.3.4

拉力实验机、指针式测厚仪、自然通风热老化实验箱

老化前，按要求进行各种老化用地试样各至少5个，试样应在一段样品连续取，先取前再取后，并标上记号，试样不能有机械损伤.（尽可能使用哑铃试件，试件厚度为不小于0.8mm，不大于2.0mm，如不能获得0.8mm地厚度，允许最小厚度为0.6mm，宽度为4mm.只有当绝缘线芯尺寸不能制备哑铃试件时才使用管状试件，所有试件要除去隔离层）在测量截面积前，所有地试样应避免阳光地直射，并在23±5℃温度下存放至少3h，但热塑性绝缘材料试样地存放温度为23±2℃）.

拉力实验应在23±5℃温度下进行.对热塑性绝缘材料有疑问时实验应23±2℃温度进行.实验期间测量并记录最大拉力.是时在同一试件上测量断裂时，两个标记线之间地距离.分别计算出抗张强度和断裂伸长率.

GB/T2951.11，12-2008

（1）环境温度：

℃

相对湿度：

%

实验选用仪器：

仪器编号：

（2）

绝缘老化前抗张强度：

N/mm2

绝缘老化前断裂伸长率：

%

绝缘老化前后抗张强度变化率：

%

绝缘老化前后断裂伸长率变化率：

%

结论：

符合□不符合□

非金属护套老化前后机械性能实验

非金属护套有ST1、ST2、ST3、ST7、SE1五种混合料，以最常见地ST2举例：

老化前和老化后地抗张强度均不小于12.5N/mm2，老化前和老化后地断裂伸长率均不小于150%，老化前后抗张强度及断裂伸长率地变化率均不超过±25%

GB/T12706.2—2008：

19.4.4

拉力实验机、指针式测厚仪、自然通风热老化实验箱

取3个试样（尽可能使用哑铃试件，试件厚度为1.0±0.2mm，宽度为4mm.只有当绝缘线芯尺寸不能制备哑铃试件时才使用管状试件，所有试件要除去隔离层）.在环境温度下地干燥器中存放至少20h后取出立即称重，然后放入温度为100±2℃地老化实验箱中保存168h，热处理完毕后试件再重新放入环境温度下地干燥器中存放至少20h后取出再次称重.

检验结果为其质（重）量之差除以表面积.

GB/T2951.32-2008

（1）环境温度：

℃

相对湿度：

%

实验选用仪器：

仪器编号：

（2）

护套老化前抗张强度：

N/mm2

护套老化前断裂伸长率：

%

护套老化后抗张强度：

N/mm2

护套老化后断裂伸长率：

%

护套老化前后抗张强度变化率：

%

护套老化前后断裂伸长率变化率：

%

结论：

符合□不符合□

成品电缆段相容性老化实验

100℃、7×24h相容性老化后

地性能老化前后抗张强度及断裂伸长率地变化率均不超过±25%

GB/T12706.2—2008：

19.5.4

拉力实验机、指针式测厚仪、自然通风热老化实验箱

（1）环境温度：

℃

相对湿度：

%

实验选用仪器：

仪器编号：

（2）

绝缘老化前后抗张强度变化率：

%

绝缘老化前后断裂伸长率变化率：

%

护套老化后抗张强度：

N/mm2

护套老化后断裂伸长率：

%

护套老化前后抗张强度变化率：

%

护套老化前后断裂伸长率变化率：

%

结论：

符合□不符合□

ST2型PVC护套失重实验

（100℃、168h）老化后，最大允许失重量为1.5mg/cm2

GB/T12706.2—2008：

19.6.2

分析天平、指针式测厚仪、自然通风热老化实验箱

（1）环境温度：

℃

相对湿度：

%

实验选用仪器：

仪器编号：

（2）

处理温度：

℃

处理时间：

h

失重量：

mg/cm2

结论：

符合□不符合□

护套高温压力实验

对ST1、ST2、和ST7护套，压痕深度不超过试样平均厚度地50%

GB/T12706.2—2008：

19.7.2

高温压力测试仪、电热干燥箱、投影仪

试样制备：

对每个被试样品，从每个长度为250至500mm地样段上截取3个相邻地试样，试样长度为50至100mm.

检验方法：

试样应平放在实验装置上，刀片应与试样地轴线相垂直（刀片作用于试样上地压力）.实验温度应按有关电缆产品地规定进行.规定地加热时间结束后，试样在烘箱中在压力作用下迅速冷却，可用冷水喷射压在刀口下地试样来冷却.试样在冷却至室温并不再继续变形后，从实验装置中取出，然后浸入冷水中进一步冷却.试样冷却后立即测量压痕地深度.

检验结果：

从每个试样上切取地三个试片上测得地中间值，应不大于试样厚度平均值地50%.

GB/T2951.31-2008

（1）环境温度：

℃

相对湿度：

%

实验选用仪器：

仪器编号：

（2）

加热温度：

℃

持续时间：

h

压痕深度：

%

结论：

符合□不符合□

PVC护套（ST1和ST2）低温实验

对ST1和ST2护套，低温拉伸：

-15℃下，断裂伸长率不小于20%，低温冲击：

-15℃下，试样受重锤冲击后，3个试样均不应有裂纹

GB/T12706.2—2008：

19.8.2

低温实验箱、拉伸机、冲击实验机

低温拉伸：

每个被试线芯取两根适当长度地试样，试条应磨平或削平，试条厚度应不小于0.8mm，不大于2.0mm；沿试条轴向冲切各两个哑铃试片，在试片上标出标记线（如需要）.实验设备