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smart参数解析
S.M.A.R.T参数解析
S.M.A.R.T（SelfMonitoringAnalysisandReportingTechnology/自我监测、分析与报告技术）是为了提高硬盘数据的安全性而开发的。
它可以使硬盘实时检查自身的状态，通过一定机理及时分析出潜在的问题，报告给系统，有时甚至能给出预计的硬盘故障日期，实际就是一种预警技术。
这个功能可以比较客观的反映硬盘目前的健康状况。
提示：
该硬盘没有任何损坏。
因为SATA数据线曾经被多次拔插过，
造成SATA数据线接口处，金属弹簧触片磨损氧化、
弹性下降引起的接触不良。
使（C7）值上升。
故障表现：
电脑卡死、蓝屏、无法开机。
甚至硬盘丢失（BIOS里也没有硬盘信息）
运行一些程序时会弹出警告：
（X:
是运行程序所在分区）
无法访问X:
\。
由于I/O设备错误，无法运行此项要求。
先判断是硬盘出现坏道了，
但当把硬盘接到另一台电脑后，
硬盘一切正常使用，说明硬盘没有问题。
后来换条SATA数据线，故障解决。
（C7）值也不再增加。
后来网上查看资料，SATA数据线有弊端：
就是SATA数据线拔插次数有限，
质量差的，拔插几次就没用了。
Value/Current（当前值）当前硬盘该属性的值。
Worst（最坏值）该属性出现过的峰值。
Threshold/Warn（阈值/临界/极限值）硬盘厂商所规定的该属性峰值。
如果某个属性超过Threshold规定的极限值时，就表示你的硬盘可能出现了问题。
RawValues/Data（Raw值/数据）。
和该属性有关联的数据总值。
怎么看这类属性？
主要是看Raw和Worst的值是否还在临界值之内（>或<临界值）
一般使用软件如HDTune、CrystalDiskInfo等，一般属性中有黄色或者红色你就要注意了，硬盘可能快坏了，要是还在保修期内，就赶紧备份数据，送去检修。
下面我们来介绍各个属性（按2010年2月11日维基百科上的解释）
IDHex=英文属性名/中文属性名属性描述
01
01=ReadErrorRate/（底层）数据读取错误率
指从磁盘表面读取数据时发生的硬件读取错误的比率，Raw值对于不同的厂商有着不同的体系，单纯看做1个十进制数字是没有任何意义的。
*以上为Wiki上的英文翻译版本，此属性貌似存在分歧，有的说值高了好，有的说低了好,此处我们还是按照Wiki上的吧，反正只要Worst不小于Threshold就行了。
**这里的Raw值也可能不同，比如我笔记本上的ST硬盘就Raw为0，而台式机上1.5T的ST就为227901540。
02
02=ThroughputPerformance/吞吐性能（读写通量性能）
Raw值越高越好
整体（普通）的硬盘驱动器的吞吐性能。
如果这个属性的值一直在下降有很大的可能性是硬盘有问题了。
*一般在进行了人工OfflineS.M.A.R.T.测试以后才会有值。
03
03=Spin-UpTime/马达旋转到标准转速所需时间
Raw值越低越好
主轴旋转加速的平均时间（从零转速到完全运转（标准转速）[毫秒]）。
单位也可能为秒。
如果是0的话证明这一项没有读对，或者是这一项的数据生成错误。
不应该出现0的结果。
04
04=Start/StopCount/启动/停止计数
马达启动/停止周期的计数。
当马达启动或硬盘完全停止工作后（断开电源）启动和硬盘从睡眠模式回复到先前状态，计数都会增加。
*一般来说开机一次这个就加1，也可以看做是通电次数，这一般是个寿命参考值，本身不具有任何指标性，购买硬盘时可以参考此值。
05
05=ReallocatedSectorsCount/重新配扇区的计数
Raw值越低越好
对重新分配的扇区的计数，当硬盘发现一个读取/写入/校验错误时它将这个扇区标示为“重新分配”，并且将数据传输到一个特殊的保留区（空闲区）。
这个过程也称为是“重定向”，这个重新分配的扇区叫做“重新映射”。
这就是为什么，现在的硬盘当进行表面测试的时候是找不到“坏块”的，所有的坏块都被隐藏在重新分配的扇区中。
然而，随着重新定位的扇区增加，读取/写入速度趋向于降低。
Raw值通常代表一系列已经发现和重映射的坏扇区，因此，这个属性值越高，硬盘就有越多的扇区被重定位，所以这个值是越小越好。
*理想情况下这个值应该为0，如果不为0也不要太惊慌，而是应该比较密切的关注这个值的变化情况：
如果连续几周没有变化，那你应该可以放心的继续使用比较长的一段时间；如果这个值持续攀升，那么请尽快备份所有数据，并考虑购买新硬盘。
06
06=ReadChannelMargin/读取通道边界
读取数据时通道的边界，这个属性的功能并不明确
07
07=SeekErrorRate/寻道错误率
磁头寻道错误的比率，如果机械定位系统中有局部的故障，那么寻道错误率会增加，这种故障是多种因素造成的。
Raw值对于不同的厂商有着不同的体系，单纯看做1个十进制数字是没有任何意义的
08
08=SeekTimePerformance/寻道时间性能
Raw值越高越好
磁头寻道操作的平均性能，如果这个属性的值持续下降，这是机械子系统有问题的标志
09
09=Power-OnHours（POH）/累计通电时间
Raw值越低越好
通电时间计数，Raw值显示在通电状态下的总小时数（或者是分钟，秒，取决于制造商）
磁盘加电时间。
初始值的字段显示为此装置总开机时间的累计。
*参考磁盘厂家给的该款硬盘的MTBF（平均故障间隔时间）可以估计故障概率。
但是也有可能超过MTBF而不会出现故障，因为统计数据对于个体来说是不精确的，是一个寿命参考值，本身不具任何指标性。
**购买硬盘时可以看此值，新的硬盘一般为0或者几十以内，过分大的可能就是被人用过了。
10
0A=SpinRetryCount或Spin-upRetryCount/旋转重试计数或马达重试计数
Raw值越低越好
马达重试启动尝试的的总数，这个属性存储马达尝试启动的到全速运转（第一次尝试失败的情况）的总数，这个属性的值的上升，是硬盘机械子系统有问题的标志
*理想情况应该为0，在某些情况下可能人为造成这个值的非故障升高，比如电压供给不足。
11
0B=RecalibrationRetries/校准重试
Calibration_Retry_Count/校准重试计数
Raw值越低越好
这个属性指被要求重新校验的次数（第一次尝试失败的情况下）。
这个属性的值的上升，是硬盘机械子系统有问题的标志
12
0C=PowerCycleCount/通电周期计数
这个属性是指这个硬盘电源开/关周期的总数。
这是个寿命参考值，本身不具任何指标性。
13
0D=SoftReadErrorRate/软件读出误码率（可校正读出误码率）
Raw值越低越好
报告给操作系统的未修正的读取错误。
高值暗示有扇区不稳定。
183
B7=SATADownshiftErrorCount/SATA降档错误计数
西部数据和三星的属性。
184
B8=End-to-Enderror/端对端错误
Raw值越低越好
这个属性是HP的SMARTIV技术的一部分，它表示传输通过高速缓存内存数据缓冲区后主机和硬盘驱动器间的校验数据不匹配。
185
B9=HeadStability/头稳定性
西部数据的属性。
186
BA=InducedOp-VibrationDetection/感应运算振动检测
西部数据的属性。
187
BB=ReportedUncorrectableErrors/反馈无法校正的错误
Raw值越低越好
不能使用硬件ECC恢复的错误总数。
188
BC=CommandTimeout/命令超时
Raw值越低越好
因为HDD超时导致放弃操作的数量，通常情况下，这个属性值应该等于0，如果这个只远远高于0，那么，很可能电源供应有很严重的问题，或者数据线被氧化。
189
BD=HighFlyWrites/高飞写入
Raw值越低越好
HDD生产商实现一个飞行高度监视器来尝试对于检测到记录头正在飞出它的正常操作范围时的写入操作提供额外的保护，如果发生不安全的飞行高度条件，写入进程停止工作，信息将被重写或者重定向到磁盘上一个安全的区域。
这个显示在硬盘生命周期内检测到的这些错误的总数。
这个特性实现在大多数现代的希捷驱动器和一些西部数据的驱动器中，西部数据驱动器开始于WD企业级WDE18300和WDE9180Ultra2SCSI硬盘驱动器，它将被包含在未来所有西部数据企业级产品中。
190
BE=AirflowTemperature（WDC）/气流温度（西部数据）
Raw值越低越好
西部数据硬盘上的气流温度（和[C2]的Temperature数值一样，但是在有些型号上臂当前值会少50.此值已经废弃了）。
190
BE=TemperatureDifferencefrom100/从100开始的温差
Raw值越高越好
值和（100–温度°C）相同,允许制造商对于符合的最高温度设置一个最小限制（可能是希捷专有？
）。
191
BF=G-senseErrorRate/加速度错误率或震动侦测错误率
Raw值越低越好
因外来的冲击和震动导致的错误数。
192
C0=Power-offRetractCount/断电磁头缩回计数
EmergencyRetractCycleCount（Fujitsu）/紧急回缩周期计数（富士通）
Raw值越低越好
磁头被载离媒体的次数计数。
磁头能在没完全断电的前缩回。
*这个属性所显示的数字表示这块磁盘自动关机（突然断电）的次数。
193
C1=LoadCycleCount/磁头伸出周期计数
Load/UnloadCycleCount（Fujitsu）/磁头升降周期计数（富士通）
Raw值越低越好
从磁头零区域加载/卸载（升降）周期的次数。
通常的便携式电脑（2.5英寸）加载（伸出）周期的寿命为200,000到600,000,一些便携式电脑的驱动器被设计成当5秒内没有任何活动时就卸载（缩回）磁头。
许多Linux安装程序后台1分钟内只写入文件系统几次。
因此，每小时可能有100或更多次的磁头加载（伸出）周期，并且可能在1年之内就超出磁头伸出周期额定值。
*这是一个寿命参考值，本身不具任何指标性。
194
C2=Temperature/温度
Raw值越低越好
当前的内部温度。
*具体温度极限参考硬盘厂家各款硬盘的技术指标。
195
C3=HardwareECCRecovered/硬件ECC校正
Raw值对于不同的厂商有着不同的体系，单纯看做1个十进制数字是没有任何意义的。
196
C4=ReallocationEventCount/重新分配事件计数
Raw值越低越好
重新映射操作的计数。
这个属性的Raw值显示了总的尝试从重新分配扇区转移数据到空闲空间的次数。
不管成功与否都会被记录。
*这个计数就包含了上次读操作有错误的不稳定扇区。
如果下次这些扇区读操作无错误，这个值可能减少。
197
C5=CurrentPendingSectorCount/目前待映射扇区数
Raw值越低越好
“不稳定”扇区总数（因为读取错误，等待重新映射）。
如果一个不稳定的扇区随后能成功写入或读取，这个值将降低，这个扇区将不被重新映射。
一个读写错误的扇区不会被重新映射（因为以后它有可能又能读写）；取而代之的是，驱动器固件将记住此扇区需要被重新映射。
并且会在当其被写入时重新映射。
*这里有个问题，即当被固件记录后，有些文章写到只有在写入出错的时候它才会被重新映射，而Wiki上的原文是“andremapsitthenexttimeit'swritten.”故这里标记一下。
198
C6=UncorrectableSectorCount/无法校正扇区数
Off-LineScanUncorrectableSectorCount（Fujitsu）/脱机无法校正扇区数（富士通）
Raw值越低越好
读写错误不能被校正的扇区总数。
这个属性值的升高意味着盘片表面有缺陷或者是机械子系统有问题。
*这些扇区目前已经不能读取，如果有文件使用这些扇区，则操作系统会返回读取错误；当下一次写操作发生时硬盘会对扇区自动重定位；同时，重定位扇区计数（ReallocatedSectorCount）增加，这个值减少。
199
C7=UltraDMACRCErrorCount/UltraDMACRC错误计数
Raw值越低越好
在数据传输错通过接口电缆时被ICRC（接口循环冗余校验）所确定的错误总数。
*如果这个值不为0，而且继续增加，则表示硬盘控制器-数据线-硬盘接口有错误发生。
可以检查一下接口和数据线。
200
C8=Multi-ZoneErrorRate（WesternDigital）/多区域错误率（西部数据）
Raw值越低越好
200
C8=WriteErrorRate（Fujitsu）/写入错误率（富士通）
Raw值越低越好
当写入一个扇区时错误的总数。
*一般不为零也不要紧，但是如果持续快速升高，暗示盘体/磁头机械有问题。
201
C9=SoftReadErrorRate/软读出误码率（可校正读出误码率）
Raw值越低越好
202
CA=DataAddressMarkerrors/数据地址标记错误
Raw值越低越好
数据地址标记错误（或供应商特有）
203
CB=RunOutCancel/ECC错误发生率
ECCErrors（Maxtor）/ECC错误（迈拓）
Raw值越低越好
ECC错误的数量。
204
CC=SoftECCCorrection/软件ECC校正
Raw值越低越好
因软件ECC导致的错误总数。
205
CD=ThermalAsperityRate（TAR）/过温率
Raw值越低越好
因温度过高导致的错误数量。
*温度过高的频率，代表主轴马达可能受损，或是散热不良。
206
CE=FlyingHeight/飞行高度
磁头离盘片表面的高度。
太低将增加头部撞击机率，太高将增加读取错误机率。
207
CF=SpinHighCurrent/旋上高电流
Raw值越低越好
当前用来使驱动器马达旋转所用的电涌（电流）量。
*也有资料写：
主轴马达旋转时所使用的电流量，耗电量变大意味着轴承可能磨损。
208
D0=SpinBuzz
因电力不足所启动马达所需的重试次数。
209
D1=OfflineSeekPerformance/离线寻轨性能
驱动器内部测试时的寻道性能。
211
D3=VibrationDuringWrite/写入时震动
写入时震动。
212
D4=ShockDuringWrite/写入时受冲击
写入时受冲击。
220
DC=DiskShift/磁盘移位
Raw值越低越好
盘片对于轴心的位移距离（通常是由于冲击或者热涨冷缩）,衡量单位未知。
*通常由强烈的撞击或坠落造成。
221
DD=G-SenseErrorRate/加速度错误率（震动侦测错误率）
Raw值越低越好
因外来的冲击和震动导致的错误数。
222
DE=LoadedHours/作业时间
数据加载操作时所花费的时间。
（磁头电枢的运动）
223
DF=Load/UnloadRetryCount/磁头升降重试次数
磁头改变位置的次数。
224
E0=LoadFriction/加载摩擦
Raw值越低越好
在运行时因机械部分的摩擦而产生的阻力。
225
E1=Load/UnloadCycleCount/磁头升降周期计数
Raw值越低越好
加载（伸出）周期总数。
226
E2=Load'In'-time/载入时间
加载磁头的总时间（不计在停放区所花费的时间）。
227
E3=TorqueAmplificationCount/扭矩放大计数
Raw值越低越好
尝试弥补盘片速度变化的次数。
228
E4=Power-OffRetractCycle/断电磁头缩回周期
Raw值越低越好
磁头电枢因为断电自动缩回的次数。
230
E6=GMRHeadAmplitude/巨磁电阻头振幅
“颠簸”（重复前进/后退磁头动作的距离）的振幅。
231
E7=Temperature/温度
Raw值越低越好
驱动器温度。
240
F0=HeadFlyingHours/磁头飞行小时
磁头在定位的时间。
*这是一个寿命参考值，但本身不具任何指标性。
240
F0=TransferErrorRate（Fujitsu）/传输错误率（富士通）
数据传输时连接被重置的次数的计数。
241
F1=TotalLBAsWritten/总LBAs写入
总LBAs写入。
242
F2=TotalLBAsRead/总LBAs读取
总LBAs读取。
有些S.M.A.R.T.工具报告它的Raw值是一个复数，实际是因为它是48位而不是32位的。
250
FA=ReadErrorRetryRate/读取错误重试率
Raw值越低越好
从磁盘读取时出现错误的次数。
254
FE=FreeFallProtection/自由落体保护
Raw值越低越好
检测到“自由落体”的次数。
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