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材料表征梳理

材料表征梳理

1.电子显微镜的类型

透射电子显微镜(TEM):

透射电镜是投射成像,图像是二维的,靠欠焦形成一定的图像反差。

分辨率可以达到两个埃(0.2nm)的水平

扫描电子显微镜(SEM):

扫描电镜是反射成像,图像是三维的,有很好的立体感,但分辨率低于透射电镜,目前指标分辨率可以达到3nm。

主要是利用样品表面产生的二次电子成像来对物质的表面结构进行研究,是探索微观世界的有力工具。

2.二次电子机理

扫描电镜是用聚焦电子束在试样表面逐点扫描成像。

试样为块状或粉末颗粒,成像信号可以是二次电子、背散射电子或吸收电子。

其中二次电子是最主要的成像信号。

由电子枪发射的能量为5~35keV的电子,以其交叉斑作为电子源,经二级聚光镜及物镜的缩小形成具有一定能量、一定束流强度和束斑直径的微细电子束,在扫描线圈驱动下,于试样表面按一定时间、空间顺序作栅网式扫描。

聚焦电子束与试样相互作用,产生二次电子发射(以及其它物理信号),二次电子发射量随试样表面形貌而变化。

二次电子信号被探测器收集转换成电讯号,经视频放大后输入到显像管栅极,调制与入射电子束同步扫描的显像管亮度,得到反映试样表面形貌的二次电子像。

3.试扼要叙述下列分析技术在聚合物研究方面的应用(10分)

SEM:

材料的表面形貌,形貌特征。

配合EDX可以获得材料的元素组成信息

TEM:

材料的表面形貌,结晶性。

配合EDX可以获得材料的元素组成

FTIR:

主要用于测试高分子有机材料,确定不同高分子键的存在,确定材料的结构。

如单键,双键等等

a)SEM;

特点:

图像景深大,富有立体感。

试样制备比TEM简单。

可做综合分析:

SEM装上波长色散X射线谱仪(WDX波谱仪)或能量色散X射线谱仪(EDX能谱仪)后,在观察扫描形貌图像的同时,可对试样微区进行元素分析。

b)FTIR;傅里叶变换红外光谱

研究聚合物物理过程:

聚合物结晶熔融(HDPE升温过程中的熔融、ipp升温过程中的熔融、PVA升温过程中的熔融)

聚合物玻璃化转变(PS的玻璃化转变)

聚合物的结晶(iPS的结晶、聚偏二氟乙烯的拉伸结晶)

聚合物的取向(液晶聚氨酯升温过程中的取向)

研究聚合物化学过程

聚合物的氧化降解机理(SEBS的热氧化)

聚合物的化学反应(环氧树脂的)

c)AFM;

原子力显微镜的样本可以是生理状态的各种物质,在大气条件或溶液中都能进行,因而只需要很少或不需对样品作前期处理,这样就使AFM能观察任何活的生命样品及动态过程。

测试样品的硬度和弹性等;AFM还能产生和测量电化学反应。

AFM还具有对标本的分子或原子进行加工的力行为,例如:

可搬移原子,切割染色体,在细胞膜上打孔等等。

原子力显微镜(AFM)已被用来研究膜的孔径和孔径分布、膜孔的结构、表面粗糙度、表面接点结构、膜的表面整体形态、膜污染机制和膜材料的选择等7个方面。

原子力显微镜作为一种崭新的、有效的物理观测工具,在聚合物膜研究方面仍具有应用潜力。

d)DSC

DSC是在程序控制温度下,测量输入到样品和参比样的热流差随温度(时间)变化的一种技术。

该热流差能反映样品随温度或时间变化所发生的焓变:

当样品吸收能量时,焓变为吸热;当样品释放能量时,焓变为放热。

在DSC曲线中,对诸如熔融、结晶、固-固相转变和化学反应等的热效应呈峰形;对诸如玻璃化转变等的比热容变化,则呈台阶形。

4.简答题:

(20分)

1)AFM和FTIR测试中会出现哪些假象?

AFM:

针尖成像(AFM中大多数假象源于针尖成像)、钝的或污染的针尖产生假象(这种假象的特征是整幅图像都有同样的特征)、双针尖或多针尖假象(这种假象是由于一个探针末端带有两个或多个尖点所致)、样品上污物引起的假象、激光干涉的假象(条纹状,一般为1.5-2.5μm)、参数不当造成的假象(反馈参数不当所造成的,一般在敲击模式中出现,表现为“拖尾”)

FTIR:

气氛、正弦叠加(由干涉引起,经常出现于聚合物薄膜、也出现于液体池中)、污染(KBr的纯度、硅油或硅树脂,往往来源于真空设备或干燥器)

2)试简述红外光谱中判断氢键形成的基本依据?

聚合物的氢键

氢键的分类(根据离解能的大小D0(298K)):

强氢键。

F......H......F,D0>40kJ/mol;

中强氢键。

H2O......HF,D0=10-40kJ/mol;

弱氢键。

Ar.....HCl,D0<10kJ/mol;

能形成氢键的原子:

O、N、F、Cl等

氢键在红外上的表现特征

形成氢键时与氢键相关的官能团(X-H)的波数会移动(VS伸缩振动的峰向低波数移动、Vb弯曲振动的峰同时向高波数移动)

形成氢键时与氢键相关官能团(X-H)的峰往往十分宽化,包括VS和Vb

形成氢键时与氢键相关官能团(X-H)峰的强度会明显增加,包括VS和Vb

5论述题(20分)

聚合物的结构决定其性能,结构又可分为分子结构和聚集态结构。

以工程塑料为例(POM,PA66,PA6,PET,PBT,PPO,PPS,PC,PMMA等其中之一)详细阐述怎样表征聚合物的分子结构和聚集态结构,并说明这些结构上的表征结果与工程塑料的哪些性能有直接的关系。

1)聚合物的化学结构表征方式

对于聚合物的化学结构分析最常采用的分析手段为核磁、红外。

另外色谱、能谱、热分析也是研究聚合物结构的重要手段,如可利用裂解-气质联用仪对聚合物单体和聚合物进行定性和定量分析;也可以根据X射线光电子能谱(XPS)较好的表征聚合物的表面能和表面微相结构,得到表面元素的组成信息,以及距离表面不同深度的组成信息;也可采用热分析TGA和DSC分析聚合物的晶型转变、分解等变化,从而更加全面的剖析聚合物的结构和性能等等。

核磁共振技术主要可对聚合物作以下几种形式上的表征:

混及三元共聚物的定性定量分析、异构体的鉴别、端基表征、官能团鉴别、均聚物立规性分析、序列分布及等规度的分析等,对该聚合物的碳氢化学位移进行了归属,确定了该聚合物的成分及其结构。

红外光谱对聚合物的表征有较为广泛的应用:

(1)定性分析:

可以帮助确定部分乃至全部分子类型及结构;

(2)定量分析方面,红外光谱用于异构体的分析;(3)辅助解析:

红外谱图能对聚合物甚至是复杂的共混聚合物的剖析提供一个有效的辅助检测手段。

2)聚合物的聚集态结构表征方式

主要通过电镜分析形貌、介电谱分析高分子排列状态、核磁分析高分子的取向排列、X射线衍射分析聚合物空间结构等等。

对聚合物形貌结构的分析手段主要有扫描电镜(SEM)、透射

电镜(TEM)、原子力显微镜(AFM)等,而其中AFM因具有分辨率

高、样品不需要复杂的预处理以及可在液体(水、氯化钠溶液)介

质中直接对物质的表面形貌、表面微结构、物理性质等信息观测

等优点。

通过介电谱得到弛豫数据、弛豫响应的变化可以检测带有相反电荷的聚合物和表面活性剂的相互作用过程。

粒径观察的方法有:

电镜观察法、X-射线衍射线宽法、激光光散射法、扫描探针显微技术等,这些检测方法同样可以应用于聚合物粒径的分析。

用红外光谱检测聚甲醛是均聚还是共聚结构,用DSC检测它的结晶情况。

电子显微镜

人们终于发现:

是显微镜所使用的光源限制了光学显微镜的放大倍数和分辨率的进一步发展。

因为,可见光的波长在390nm到790nm纳米之间。

电子显微镜的产生

随着人们对电磁波的认识,人们了解到:

在一定的电压下电子束的波长可以达到零点几个纳米,使用电子束做为光源,显微镜的分辨率就可能提高几个数量级。

由于电磁透镜能把电子束象光一样地聚焦成像,所以使用电子束做为光源的显微镜就应运而生了。

这就是电子显微镜。

上个世纪三十年代,由德国科学家M·克诺尔与E·鲁斯卡在柏林工学院制造出了世界上第一台透射式电子显微镜。

由于使用了电子束做为显微镜的光源,电子显微镜的分辨率大大超过了光学显微镜,达到了零点几个纳米的水平。

1935法国的卡诺尔提出扫描电镜的设计思想和工作原理。

1942剑桥大学的马伦首次制成世界第一台扫描电镜。

电子显微镜的类型

透射电子显微镜(TEM):

透射电镜是透射成像,图像是二维的,靠欠焦形成一定的图像反差。

分辨率可以达到两个埃(0.2nm)的水平。

扫描电子显微镜(SEM)扫描电镜是反射成像,图像是三维的,有很好的立体感,但分辨率低于透射电镜,目前指标分辨率可以达到3nm。

主要是利用样品表面产生的二次电子成像来对物质的表面结构进行研究,是探索微观世界的有力工具。

光学显微镜、TEM、SEM成像原理差异:

TEM精美图集及应用

金颗粒、三氧化二铁颗粒、高分子球碳棒、不同温度下TiO2晶粒生长的情况、分子网、纳米球、纳米管、Au单晶膜

SEM精美图集及应用

家庭灰尘、硅晶片、表面弹道分析(同一把枪枝其在子弹上的击发点,就算是击发过数千次,也会相同产生相同的弹道刮痕)、锈钉表面、眼睫毛、蝴蝶卵、人类头发上的一个虱子、放大160倍后的蚊子、卷烟纸、血红细、胞肺癌细胞、人类卵子、花粉、氨纶纤维、高分子互穿网络、高分子互穿网络、战斗机阻尼伞面料、战斗机阻尼伞面料、塑料表面的微孔、ABS/PC合金相结构-垂直方向、ABS/PC

合金相结构-平行方向、尼龙6脆断面、发泡SBS断面、玻纤增强POM、PBS/淀粉共混物

SEM的新发展及优势

图像景深大,富有立体感。

可直接观察起伏较大的粗糙表面(如金属和陶瓷的断口等);试样制备比TEM简单。

只要将块状或粉末的、导电的或不导电的试样稍加处理,就可直接放到SEM中进行观察。

一般来说,比透射电子显微镜(TEM)

的制样简单,且可使图像更近于试样的真实状态;可做综合分析。

SEM装上波长色散X射线谱仪(WDX)(简称波谱仪)或能量色散X射线谱仪(EDX)(简称能谱仪)后,在观察扫描形貌图像的同时,可对试样微区进行元素分析。

在近20多年的时间内,扫描电子显微镜发展迅速,又综合了X射线分光谱仪、电子探针以及其它许多技术而发展成为分析型的扫描电子显微镜,

红外光谱在聚合物领域中的应用

红外光谱简介

红外光谱是分子吸收了特定波长的红外光辐射后导致其振动能级的跃迁所形成。

分子振动是指分子中化学键的偶极振动。

伸缩振动:

弯曲振动:

红外吸收峰的位置取决于各化学键的振动频率。

键的振动频率与组成化学键的子的质量和化学键的性质有关。

红外光的波长范围

透射谱、吸收谱

定性鉴别

鉴别聚合物的基本品种,聚合物使用的添加剂和主要填料等。

大部分得到的样品均为聚合物,助剂和填料的混合物。

这为每种成份的分析带来了一定的困难。

因此混合物样品一般均要进行溶解,萃取和焚烧来进行分离和纯化。

定量分析

定量分析的基础是朗伯比耳定律。

多组分体系可以采用联立方程法和化学计量法。

PP-g-MAH接枝率的测定

接枝共聚物和各自均聚物所得红外光谱相同。

采用PP和MAH的共混物求得工作曲线。

结构分析

构象谱带PET中-O-CH2-CH2-O-中,反式构象的特征峰是840和970cm-1。

立构规整谱带

结晶谱带

聚合物中不同的晶型会有不同的特征蜂,如PA的α和β晶型。

PVC键接方式的测定

PVC与Zn反应,头-头结构生成不饱和双键,头-尾结构不反应。

根据C=C的特征蜂(1620-1645cm-1),可以确定头-头结构含量。

iPP立构规整性的测定

iPP有两个规整性谱带:

975cm-1和998cm-1

998cm-1与结晶有关,常用作计算结晶度。

975cm-1用来测定iPP的等规度。

1460cm-1不受iPP等规度影响,用作内标。

K可以采用等规度为100%的样品测得(正庚烷萃取)。

双烯聚合物立构性的测定

以聚丁二烯为例。

将15mg样品溶于10mlCS2中,用厚度为1mm的溶液读取

738cm-1,967cm-1和910cm-1的吸光度。

由于各谱带有一定程度的干扰,因此需采用联立方程法。

共聚物或共混物的组成测定

每一组份需选择一条尖锐的特征谱带。

乙丙共聚物,聚乙烯:

720cm-1,聚丙烯:

1150cm-1EVA,聚乙烯:

720cm-1

,聚醋酸乙烯酯:

1740cm-1ABS,聚苯乙烯:

1600cm-1,丙烯腈:

2240cm-1

丁二烯:

967cm-1

共聚物序列和序列分布测定

仅适用于无规共聚物,嵌段共聚物不适用。

以乙丙共聚物为例,-(CH2)n-的n的长度不同,其摇摆振动的特征吸收峰位不同。

n=1:

770cm-1;

n=2:

752cm-1;

n=3:

733cm-1;

n=4:

730cm-1;

聚合物结晶度的测定

需要选择合适的晶带和非晶带。

必须采用其它方法如X-Ray预先测定标准样品的结晶度。

聚氯丁二烯,结晶谱带:

953cm-1,内标:

2940cm-1

PET,非晶谱带:

898cm-1,内标:

795cm-1

聚合物取向度的测定

利用红外光谱的二向色性。

将红外偏振光的矢量分别平行或垂直于样品的拉伸方向,测得吸光度A║和A┴。

二向色性比:

利用已知取向度的标准样品得出其与R的工作曲线。

以聚丙烯腈纤维为例,以腈基为分析谱带:

2245cm-1

衰减全反射(ATR)

能够测定透射法所不能测定的极薄薄膜的红外光谱。

可以测定以不透明材料为基底的高分子涂层。

静态红外光谱中的假象

气氛(CO2、H2O)、正弦叠加(由干涉引起,经常出现于聚合物薄膜;由干涉引起,也出现于液体池中)、污染(KBr的纯度;硅油或硅树脂,往往来源于真空设备或干燥器)

研究聚合物物理过程

聚合物结晶熔融

HDPE升温过程中的熔融、iPP升温过程中的熔融、PVA升温过程中的熔融。

聚合物玻璃化转变

PS的玻璃化转变、PS的玻璃化转变、PMMA的玻璃化转变、PMMA的玻璃化转变

聚合物的氢键

氢键的分类(根据离解能的大小D0(298K)):

强氢键。

F......H......F,D0>40kJ/mol;

中强氢键。

H2O......HF,D0=10-40kJ/mol;

弱氢键。

Ar.....HCl,D0<10kJ/mol;

能形成氢键的原子:

O、N、F、Cl等

氢键在红外上的表现特征

形成氢键时与氢键相关的官能团(X-H)的波数会移动(VS伸缩振动的峰向低波数移动、Vb弯曲振动的峰同时向高波数移动)

形成氢键时与氢键相关官能团(X-H)的峰往往十分宽化,包括VS和Vb

形成氢键时与氢键相关官能团(X-H)峰的强度会明显增加,包括VS和Vb

聚合物的结晶

iPS的结晶、聚偏二氟乙烯的拉伸结晶

聚合物的取向

液晶聚氨酯升温过程中的取向

聚合物与小分子的互相作用

水分子在环氧树脂中的扩散、水分子在环氧树脂中的扩散

聚合物的其它转变

PA6的Brill转变

研究聚合物化学过程

聚合物的氧化降解机理

SEBS的热氧化、SEBS的热氧化、SEBS的臭氧化

聚合物的化学反应

环氧树脂的固化、氰基丙烯酸酯的聚合、氰基丙烯酸酯的聚合

目前实验方法存在的一些问题

特别是聚合物薄膜透射红外光谱

带原位池的红外显微镜是较好的解决办法

二维相关红外光谱的应用

二维光谱的思想30年前源于核磁共振(NMR)领域。

1986年,Noda首先报导了基于扰动的二维红外光谱。

1993年,Noda将其延伸为广义二维相关光谱,具有

更一般化的应用条件,在算法上也显得更加简单。

WebofScienceSCI(ISI)上可以检索到的关于二维相关光谱学的文章已达到好几百篇,包括了其在各个领域的应用。

大量的实验数据已经证明二维相关光谱是一种强大的表征方法。

聚合物中的应用

PS/丁酮+甲苯溶液的挥发、PS/丁酮+甲苯溶液的挥发、PS/PE共混物、PS/PE共混物

聚合物的热致转变

结晶熔化、玻璃化转变、热焓松弛、有序-有序转变(OOT)、有序-无序转变(ODT)

通常的表征手段

特点

通过测量宏观或介观尺度的物理量变化来直接或间接地表征聚合物热致转变。

问题

很难将温度场下聚合物聚集态结构和相结构的特征和形成过程与聚合物的分子链结构,尤其是与基团或分子链段的运动直接进行关联。

红外光谱的优势

红外光谱每一个吸收峰代表的是聚合物中微观或亚微观(基团)级别的偶极振动。

若能运用红外光谱这种方法来表征聚合物的热致转变,将可以直接通过微观或亚微观(基团)级别的运动来解释各种转变的过程。

红外光谱的应用

升温原位红外光谱有成功的例子

PS的玻璃化转变

明确了PS中参与玻璃化转变的具体基团

存在的问题

复杂的聚合物体系(如共聚物),各基团的红外光谱的吸收峰会相互叠加、相互影响。

升温原位红外光谱不能准确地将细微的结构变化及分子链间相互作用进行明确归属。

苯乙烯系热塑性弹性体SEBS

聚苯乙烯-氢化聚丁二烯-聚苯乙烯三嵌段共聚物

分子结构

相结构

SEBS可以形成各种形态的相结构

随着硬段体积含量地增加,硬段可从球状,柱状,Gyroid(网状)变化到层状相结构。

相结构的形成及转变属于大分子自组装领域

相结构的演变规律与其嵌段数,分子拓扑结构(线形还是星形)无关。

红外光谱和原位红外光谱

仅仅只是聚苯乙烯和对应二烯聚合物红外光谱的简单叠加。

长期以来传统意义的红外光谱只是用来简单的鉴别SEBS及计算单体含量,除此之外,并无它用。

科学家们也利用了升温原位红外光谱去研究SEBS,但研究对象仅仅局限于它们的氧化及降解行为。

SEBS的升温原位红外光谱

二维相关红外的计算

计算平台:

均采用自己开发的二维相关光谱学软件进行计算。

所有二维相关红外和移动窗口二维相关红外谱图均由2DCS4.0进行直接绘制。

二维相关分析:

首先进行归一化处理。

扣除5%的噪音。

对于移动窗口二维相关红外,计算时窗口的大小均为11(2m+1=11)。

问题:

广义二维相关光谱分析技术在某些领域中的应用还是受到限制。

很多体系在某个扰动范围内经历多个变化或转变过程,解释这些体系的二维相关谱图很

困难,甚至没有意义。

2000年,Thomas和Richardson提出了移动窗口二维相关光谱技术。

这一技术可以方便地用来研究某一体系在某个扰动范围内经历的多个变化或精细的转变过程。

软段的结晶熔化、硬段的玻璃化转变、硬段中心主链的完全粘流、硬段的热焓松弛

与DSC进行比较

当温度升到80ºC以上,DSC曲线几乎只是一条倾斜的直线,S段的玻璃化转变温度都无法分辨出来。

有序-有序转变(OOT)(100-220ºC)、点阵无序转变(LDT)、有序-无序转变(ODT)

 

聚合物热分析

概述:

热分析是在程序控制温度下,测量样品的性质随温度或时间变化的一组技术。

这里所说的温度程序可包括一系列的程序段,在这些程序段中可对样品进

行线性速率的加热、冷却或在某一温度下进行恒温。

在这些实验中,实验的气氛也常常扮演着很重要的作用,最常使用的气体是惰性和氧化气体。

Differentialscanningcalorimetry(DSC)

Thermogravimetricanalysis(TGA)

Thermomechanicalanalysis(TMA)

Dynamicmechanicalanalysis(DMA)

热分析可以进行联用,如TGA/DTA,TGA/DSC,TGA/MS,TGA/FTIR等。

Differentialscanningcalorimetry(DSC):

分为热流型和功率补偿型。

第一台功率补偿型的由Perkin–Elmer公司的Gray和O’Neil在1963年发明。

热流型DSC由DTA技术演变而来。

自从1960年代以来,DSC技术被逐渐重视,到目前为止每年有100,000篇以上的论文包含有DSC数据。

DSC是在程序控制温度下,测量输入到样品和参比样的热流差随温度(时间)变化的一种技术。

该热流差能反映样品随温度或时间变化所发生的焓变:

当样品吸收能量时,焓变为吸热;当样品释放能量时,焓变为放热。

在DSC曲线中,对诸如熔融、结晶、固-固相转变和化学反应等的热效应呈峰形;对诸如玻璃化转变等的比热容变化,则呈台阶形。

热流型DSC(Netzsch和TA公司)、功率补偿型DSC(Perkin–Elmer公司)

一些实验参数

升(降)温速率(HeatingRate)

实验过程中最常用的升温速率为10ºC/min。

当要进行物质纯度检验时推荐升温速率1ºC/min。

对于一般的DSC升温速率范围为0.1-100ºC/min。

而有些DSC,如Perkin-ElmerHyperDSC的升温速率最大可以达到500ºC/min。

降温方式

液氮冷却;氮气冷却;机械冷却。

样品重量(SampleMass)

样品重量一般在3-10mg,太少可能造成灵敏度过低,太多会造成样品内的热滞后使测试精确度降低。

如果要测定样品的热熔,建议样品质量在20–40mg。

如果要进行物质纯度检验,建议样品质量在2–3mg。

气氛(PurgeGas)

DSC样品池一般需要高纯和干燥气氛进行吹扫。

气体可以是高纯氮气,高纯氧气和干燥空气。

防止水凝结在样品仓内、带走样品在高温下的分解产物(可能造成染)、在温度升高时,防止样品仓内气氛扰动(突然膨胀)、防止降解产物在样品仓中的积、防止样品的高温降解(特别是聚合物)。

样品容器

标准坩埚、密封坩埚、高压坩埚(可以产生20MPa压力)

聚合物中的应用

玻璃化转变

结晶

熔化

聚合物的多重熔点:

熔化过程中的重结晶、多重晶型(如PVDF和PP)、升温过程中的晶型转变、当聚合物在远低于熔点的某一温度退火时,在升温过程中高于退火温度5-10K的地方出现小熔融峰、多重等温结晶(热分级)。

DSC热分级方法:

基于可结晶链段在熔融重结晶或重组织时具有温度依赖性的相分离过程;通过热分级,尺寸不同的链段会形成不同厚度的片晶,在随后的DSC加热曲线上出现具有不同熔点的多重熔融峰;无需将级分进行物理分离即可进行微观结构的研究;可表征分子间和分子内的链结构非均匀性情况。

速度快,费用低!

多重等温结晶法(SIC法)、连续成核退火法(SSA法)

用热分级研究LLDPE官能化位置(SSA)。

根据LLDPE官能化以后,最高熔融温度处熔融峰高度和面积的大幅减小可以推断

LLDPE的支化反应主要发生在大分子主链线性较好的部分,而不是支化度较大的部分。

共聚物的熔点(EVA的熔化和结晶)、聚合物纤维(凝胶纺丝的HDPE纤维、iPP

纤维、PEN纤维、Kevlar纤维)、聚合物薄膜、热固性树脂固化、热塑性树脂接枝反应

ThermogravimetricAnalysis(TG)

热重分析是在程序控制温度下,在设定气氛下测量样品的质量随温度度或时间变化的一种技术。

质量的变化可采用高灵敏度的天平来记录。

样品在加热过程中产生的气相组分可通过联用技术如TGA-MS、TGA-FTIR进行逸出气体分析。

热重分析能提供下列结果:

易挥发性成分(水分、溶剂)、聚合物、碳黑或碳纤维组分、灰分或填充组分的组分分析;聚合物样品的高温分解的机理、过程和动力学。

聚合物的典型TGA曲线:

热天平(thermobalance)

影响热重测定的因素

升温速率(HeatingRate):

升温速度越快,温度滞后越大,Tf越高,反应温度区间也越宽。

建议聚合物试样为5-10K/min,无机,金属试样为10-20K/min。

气氛

常见的气氛有空气、O2、N2、He、H2、CO2和水蒸气等。

气氛不同反应机理的不同。

气氛与样品发生反应,则TG曲线形状受到影响。

要考虑气氛与热电偶、试样容器或仪器的元

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