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实验三数字PID控制

实验三数字PID控制

一、实验目的

1.研究PID控制器的参数对系统稳定性及过渡过程的影响。

2.研究采样周期T对系统特性的影响。

3.研究I型系统及系统的稳定误差。

二、实验仪器

1.EL-AT-III型计算机控制系统实验箱一台

2.PC计算机一台

三、实验内容

1.系统结构图如3-1图。

图3-1系统结构图

图中Gc(s)=Kp(1+Ki/s+Kds)

Gh(s)=(1-e-TS)/s

Gp1(s)=5/((0.5s+1)(0.1s+1))

Gp2(s)=1/(s(0.1s+1))

2.开环系统(被控制对象)的模拟电路图如图3-2和图3-3,其中图3-2对应GP1(s),图3-3对应Gp2(s)。

图3-2开环系统结构图1图3-3开环系统结构图2

3.被控对象GP1(s)为“0型”系统,采用PI控制或PID控制,可系统变为“I型”系统,被控对象Gp2(s)为“I型”系统,采用PI控制或PID控制可使系统变成“II型”系统。

4.当r(t)=1(t)时(实际是方波),研究其过渡过程。

5.PI调节器及PID调节器的增益

Gc(s)=Kp(1+K1/s)

=KpK1((1/k1)s+1)/s

=K(Tis+1)/s

式中K=KpKi,Ti=(1/K1)

不难看出PI调节器的增益K=KpKi,因此在改变Ki时,同时改变了闭环增益K,如果不想改变K,则应相应改变Kp。

采用PID调节器相同。

6.“II型”系统要注意稳定性。

对于Gp2(s),若采用PI调节器控制,其开环传递函数为

G(s)=Gc(s)·Gp2(s)

=K(Tis+1)/s·1/s(0.1s+1)

为使用环系统稳定,应满足Ti>0.1,即K1<10

7.PID递推算法如果PID调节器输入信号为e(t),其输送信号为u(t),则离散的递推算法如下:

u(k)=u(k-1)+q0e(k)+q1e(k-1)+q2e(k-2)

其中q0=Kp(1+KiT+(Kd/T))

q1=-Kp(1+(2Kd/T))

q2=Kp(Kd/T)

T--采样周期

四、实验步骤

1.连接被测量典型环节的模拟电路(图3-2)。

电路的输入U1接A/D、D/A卡的DA1输出,电路的输出U2接A/D、D/A卡的AD1输入。

检查无误后接通电源。

2.启动计算机,双击桌面“计算机控制实验”快捷方式,运行软件。

3.测试计算机与实验箱的通信是否正常,通信正常继续。

如通信不正常查找原因使通信正常后才可以继续进行实验。

4.在实验项目的下拉列表中选择实验三[数字PID控制],鼠标单击鼠标单击

按钮,弹出实验课题参数设置窗口。

5.输入参数Kp,Ki,Kd(参考值Kp=1,Ki=0.02,kd=1)。

6.参数设置完成点击确认后观察响应曲线。

若不满意,改变Kp,Ki,Kd的数值和

与其相对应的性能指标p、ts的数值。

7.取满意的Kp,Ki,Kd值,观查有无稳态误差。

8.断开电源,连接被测量典型环节的模拟电路(图3-3)。

电路的输入U1接A/D、D/A卡的DA1输出,电路的输出U2接A/D、D/A卡的AD1输入,将纯积分电容的两端连在模拟开关上。

检查无误后接通电源。

9.重复4-7步骤。

10.计算Kp,Ki,Kd取不同的数值时对应的p、ts的数值,测量系统的阶跃响应曲线及时域性能指标,记入表中:

实验结果

参数

δ%

Ts

阶跃响应曲线

Kp

Ki

Kd

1

0.02

1

43.8%

1.299

1

0.01

1

25.9%

1.112

1

0.01

2

31.2%

1.168

1

0.02

2

40.3%

1.954

2

0.02

4

36.7%

0.914

10.02110.011

10.01210.022

20.024

五、实验报告

1.画出所做实验的模拟电路图。

 

2.当被控对象为Gp1(s时)取过渡过程为最满意时的Kp,Ki,Kd,画出校正后的Bode图,查出相稳定裕量和穿越频率c。

3.总结一种有效的选择Kp,Ki,Kd方法,以最快的速度获得满意的参数。

先通过改变Kp的值,使Kp满足要求,再改变Ki,最后是Kd,通过这样一次改变参数的方法可以很快的达到满意的效果。

参数整定(试凑法)

增大比例系数Kp,一般加快系统响应,在有静差的情况下有利于减小静差,但过大的比例系数会使系统有较大超调,并产生震荡,使稳定性变坏;

增大积分时间Ti,有利于减小超调,减小震荡,使系统更加稳定,但系统静差的消除将随之减慢;

增大微分时间Td,亦有利于加快系统响应,使超调亮减小,稳定性增加,但对系统的扰动抑制能力减弱,对扰动有较敏感的响应;另外,过大的微分系数也将使得系统的稳定性变坏。

 

实验六大林算法

一、实验目的

1.掌握大林算法的特点及适用范围。

2.了解大林算法中时间常数T对系统的影响。

二、实验仪器

1.EL-AT-III型计算机控制系统实验箱一台

2.PC计算机一台

三、实验内容

1.实验被控对象的构成:

(1)惯性环节的仿真电路及传递函数

G(S)=-2/(T1+1)

T1=0.2

(2)纯延时环节的构成与传递函数

G(s)=e-N

=采样周期N为正整数的纯

延时个数

由于纯延时环节不易用电路实现,

在软件中由计算机实现。

图6-1被控对象电路图

(3)被控对象的开环传函为:

G(S)=-2e-N/(T1+1)

2.大林算法的闭环传递函数:

Go(s)=e-N/(Ts+1)T=大林时间常数

3.大林算法的数字控制器:

D(Z)=(1-e/T)(1-e-/T1Z-1)/[k(1-e-/T1)[1-e-/TZ-1-(1-e-/T)Z-N-1]]

设k1=e-/TK2=e-/T1T1=0.2T=大林常数K=2

(K-Kk2)Uk=(1-k1)ek-(1-k1)k2ek-1+(k-kk2)k1Uk-1+(k-kk2)(1-k1)Uk-N-1

四、实验步骤

1.启动计算机,双击桌面“计算机控制实验”快捷方式,运行软件。

2.测试计算机与实验箱的通信是否正常,通信正常继续。

如通信不正常查找原因使通信正常后才可以继续进行实验。

3.量对象的模拟电路(图6-1)。

电路的输入U1接A/D、D/A卡的DA1输出,电路的输出U2接A/D、D/A卡的AD1输入。

检查无误后接通电源。

4.在实验项目的下拉列表中选择实验六[六、大林算法],鼠标单击

按钮,弹出实验课题参数设置对话框,在参数设置窗口设置延迟时间和大林常数,点击确认在观察窗口观测系统响应曲线。

测量系统响应时间Ts和超调量p。

5.复步骤4,改变参数设置,将所测的波形进行比较。

并将测量结果记入下表中:

性能指标

参数设置

阶跃响应曲线

δ%

Ts(秒)

Tp(秒)

延迟时间

大林常数

2

0.5

0

1.342

2.315

1

0.5

0

1.443

2.534

4

0.5

0

1.023

1.934

1

0.8

0

1.923

3.264

 

20.510.5

 

 

40.520.8

 

五、实验报告

1.分析开环系统下的阶跃响应曲线。

 

答:

开环系统下的阶跃响应曲线会有较大的超调量和持续的震荡,使得系统的稳定性降低,对控制系统的控制性能极为不利。

 

2.分析大林时间常数对系统稳定性的影响。

 

答:

随着大林常数的增大,系统响应的调节时间Ts和达到峰值的时间Tp都增大了,但是对超调量影响不大,所以使得系统的稳定性减弱。

六、大林算法软件流程图

图中ek为误差,ek1为上一次的误差,uk是控制量,uk1是上一次的控制量ukn1是上N+1次的控制量

 

 

 

实验七炉温控制实验

一、实验目的

1.了解温度控制系统的特点。

2.研究采样周期T对系统特性的影响。

3.研究大时间常数系统PID控制器的参数的整定方法。

二、实验仪器

1.EL-AT-III型计算机控制系统实验箱一台

2.PC计算机一台

3.炉温控制实验对象一台

三、炉温控制的基本原理

1.

系统结构图示于图7-1。

图7-1系统结构图

图中Gc(s)=Kp(1+Ki/s+Kds)

Gh(s)=(1-e-TS)/s

Gp(s)=1/(Ts+1)

2.系统的基本工作原理

整个炉温控制系统由两大部分组成,第一部分由计算机和A/D&D/A卡组成,主要完成温度采集、PID运算、产生控制可控硅的触发脉冲,第二部分由传感器信号放大,同步脉冲形成,以及触发脉冲放大等组成。

炉温控制的基本原理是:

改变可控硅的导通角即改变电热炉加热丝两端的有效电压,有效电压的可在0~140V内变化。

可控硅的导通角为0~5CH。

温度传感是通过一只热敏电阻及其放大电路组成的,温度越高其输出电压越小。

外部LED灯的亮灭表示可控硅的导通与闭合的占空比时间,如果炉温温度低于设定值则可控硅导通,系统加热,否则系统停止加热,炉温自然冷却到设定值。

第二部分电路原理图见附录一。

3.PID递推算法:

如果PID调节器输入信号为e(t),其输送信号为u(t),则离散的递推算法如下:

Uk=Kpek+Kiek2+Kd(ek-ek-1),其中ek2是误差累积和。

四、实验内容:

1.设定炉子的温度在一恒定值。

2.调整P、I、D各参数观察对其有何影响。

五、实验步骤

1.启动计算机,双击桌面“计算机控制实验”快捷方式,运行软件。

2.测试计算机与实验箱的通信是否正常,通信正常继续。

如通信不正常查找原因使通信正常后才可以继续进行实验。

3.20芯的扁平电缆连接实验箱和炉温控制对象,检查无误后,接通实验箱和炉温控制的电源。

闭环控制

6.在实验项目的下拉列表中选择实验七[七、炉温控制]鼠标单击

按钮,弹出实验课题参数设置对话框,选择PID,在参数设置窗口设置炉温控制对象的给定温度以及Ki、Kp、Kd值,点击确认在观察窗口观测系统响应曲线。

测量系统响应时间Ts和超调量p。

7.重复步骤6,改变PID参数,观测波形的变化,记入下表中:

性能指标

参数

阶跃响应曲线

δ%

Tp(秒)

Ts(秒)

Kp

Ki

Kd

1

0.02

1

81%

81

528

4

0.02

1

78%

79

371

1

0.02

4

21%

78

180

六、实验报告

1.记录过渡过程为最满意时的Kp,Ki,Kd并画出其响应曲线。

Kp=1;Ki=0.02;Kd=4

2.分析此情况下的超调量、响应时间及稳态误差。

21%,78s,3.2%

10.21

40.21

10.24

10.14

七、温度控制软件流程图

图中ek为误差,ek1为上一次的误差,ek2为误差的累积和,uk是控制量,可控硅导通角控制量=0~5bH,=0导通角最大,=5b导通角为零。

 

实验九步进电机控制实验

一、实验目的

1.了解步进电机的工作原理。

2.掌握步进电机的驱动及编程方法。

二、实验仪器

1.EL-AT-III型计算机控制系统实验箱一

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