硬件检验测试及其方案计划定义技术.docx
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硬件检验测试及其方案计划定义技术
课程大纲
硬件测试技术
Ó²¼þ²âÊÔ¸ÅÊö
²âÊÔÇ°×¼±¸
Ó²¼þ²âÊÔµÄÖÖÀàÓë²Ù×÷
Ó²¼þ²âÊԵļ¶±ð
¿É¿¿ÐÔ²âÊÔ
²âÊÔÎÊÌâ½â¾ö
²âÊÔЧ¹ûÆÀ¹À
Ó²¼þ²âÊԲο¼µÄͨÐż¼Êõ±ê×¼
²âÊԹ淶Öƶ¨
²âÊÔÈËÔ±µÄÅàÑø
2005年9月
2005年9月
硬件测试概述
1¡¢Ó²¼þ²âÊԵĸÅÄî
测试是为了发现错误而执行操作的过程
测试是为了证明设计有错，而不是证明设计无错误
一个好的测试用例是在于它能发现至今未发现的错误
一个成功的测试是发现了“至今未发现的错误”的测试
硬件测试概述
2¡¢Ó²¼þ²âÊÔµÄÄ¿µÄ
测试的目的决定了如何去组织测试。
如果测试的目的是为了尽
可能多地找出错误，那么测试就应该直接针对设计比较复杂的部分或
是以前出错比较多的位置。
如果测试目的是为了给最终用户提供具有
一定可信度的质量评价，那么测试就应该直接针对在实际应用中会经
常用到的商业假设。
综合评估，决定产品的测试方向！
2005年9月
2005年9月
硬件测试概述
3¡¢Ó²¼þ²âÊÔµÄÄ¿±ê——²úÆ·µÄÁãȱÏÝ
关注点：
产品规格功能的实现，性能指标，可靠性，可测试性，易
用性等。
实现的保障：
产品的零缺陷构筑于最底层的设计，源于每一个函
数、每一行代码、每一部分单元电路及每一个电信号。
测试就是要排
除每一处故障和每一处隐患，从而构建一个零缺陷的产品。
MTBF²»ÊǼÆËã³öÀ´µÄ£¬¶øÊÇÉè¼Æ³öÀ´µÄ¡£
硬件测试概述
4¡¢Ó²¼þ²âÊÔµÄÒâÒå
测试并不仅仅是为了要找出错误。
通过分析错误产生的原因和错误
的分布特征，可以帮助项目管理者发现当前设计过程的缺陷，以便改
进。
同时，这种分析也能帮助我们设计出有针对性地检测方法，改善
测试的有效性。
没有发现错误的测试也是有价值的，完整的测试是评定测试质量的
一种方法。
2005年9月
2005年9月
硬件测试概述
5¡¢Ä¿Ç°Òµ½çÓ²¼þ²âÊԵĿªÕ¹×´¿ö
随着质量的进一步要求，硬件测试工作在产品研发阶
段的投入比例已经向测试倾斜，许多知名的国际企业，硬
件测试人员的数量要远大于开发人员。
而且对于硬件测试
人员的技术水平要求也要大于开发人员。
硬件测试概述
6¡¢Ó²¼þ²âÊÔÔÚÆóÒµ¼ÛÖµÁ´ÖеĵØλ
——²É¹º——Ñз¢——²âÊÔ——Éú²ú——ÏúÊÛ——
²âÊÔÊÇÿÏî³É¹¦²úÆ·µÄ±Ø¾ »·½Ú
2005年9月
2005年9月
硬件测试概述
7¡¢Ó²¼þ²âÊÔ¶Ô¹«Ë¾ÐÎÏóºÍ¹«Ë¾·¢Õ¹µÄÖØÒªÐÔ
Ó²¼þ²âÊÔÊÇÆÀ¹À²úÆ·ÖÊÁ¿µÄÖØÒª·½·¨
²úÆ·ÖÊÁ¿Êǹ«Ë¾µÄÐÅÓþºÍÆ·ÅÆÏóÕ÷
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硬件测试概述
8¡¢Ó²¼þ²âÊÔµÄÒ»°ãÁ÷³ÌºÍ¸÷½×¶ÎµãµÄÊä³öÎļþ
2005年9月
2005年9月
课程大纲
Ó²¼þ²âÊÔ¸ÅÊö
²âÊÔÇ°×¼±¸
Ó²¼þ²âÊÔµÄÖÖÀàÓë²Ù×÷
Ó²¼þ²âÊԵļ¶±ð
¿É¿¿ÐÔ²âÊÔ
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²âÊÔЧ¹ûÆÀ¹À
Ó²¼þ²âÊԲο¼µÄͨÐż¼Êõ±ê×¼
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2005年9月
测试前准备
1¡¢Õý¹æ¼ìÊÓ
硬件设计审查
原理图检视
PCB¼ìÊÓ
发现硬件设计原理缺陷
发现成本浪费问题
发现降额不规范设计
发现布局和布线的缺陷
发现EMC等专项设计缺陷
2005年9月
测试前准备
2¡¢Õý¹æ¼ìÊÓµÄÁ÷³Ì
检视专家的确定
评审专家预检视
检视问题反馈整理
检视会议召开
检视问题确认，解决
检视问题跟踪
测试前准备
3¡¢FMEA£¨¹ÊÕÏģʽӰÏì·ÖÎö£©
·ÖÎöϵͳÖÐÿһ²úÆ·ËùÓпÉÄܲúÉúµÄ¹ÊÕÏģʽ¼°Æä
¶ÔϵͳÔì³ÉµÄËùÓпÉÄÜÓ°Ï죬²¢°´Ã¿Ò»¸ö¹ÊÕÏģʽµÄÑÏÖØ
³Ì¶È¡¢¼ì²âÄÑÒ׳̶ÈÒÔ¼°·¢ÉúƵ¶ÈÓèÒÔ·ÖÀàµÄÒ»ÖÖ¹éÄÉ·Ö
Îö·½·¨¡£
2005年9月
2005年9月
测试前准备
FMEAµÄÒâÒå
能帮助设计者和决策者从各种方案中选择满足可靠性要求的最佳方
案；
保证所有元器件的各种故障模式及影响都经过周密考虑；
能找出对系统故障有重大影响的元器件和故障模式，并分析其影响
程度；
有助于在设计评审中对有关措施（如冗余措施）、检测设备等作客
观的评价；
测试前准备
FMEAµÄÒâÒ壨Ðø£©
能为进一步定量分析提供基础；
能为进一步更改产品设计提供资料；
能为产品可测试方案提供基础材料；
能为技术支援人员提供维修指南；
为基于故障模式的测试提供依据。
2005年9月
2005年9月
测试前准备
FMEAµÄ²ã´Î
信号级：
对接口信号或某些特殊器件的分析
器件级：
对系统内功能模块的可靠性分析
系统级：
对系统的整体可靠性分析
测试前准备
ÑÏ¿á¶È
在某些系统中，最终影响的严重程度等级又称为严酷度（有时也
称为严重度，系指故障模式所产生后果的严重程度）类别。
严重程度等级（严酷度类别）定义应考虑到故障所造成的最坏的
潜在后果来确定。
严酷度的定义是FMEA的前提和基础，有了共识的严酷度才可以保
证FMEA的顺利开展和问题的落实。
2005年9月
2005年9月
测试前准备
¹¦ÄܺͿɿ¿ÐÔ¿òͼ
测试前准备
2005年9月
2005年9月
测试前准备
»·¾³¶¨Òå
测试前准备
·çÏÕ·ÖÎö
风险分析的目的是按每一故障模式的严重程度及该故障模式发生
的概率所产生的综合影响对系统中的产品划等分类，以便全面评价系
统中各种可能出现的产品故障的影响，它是一种相对定量的分析方
法，通常借助图形工具（如矩阵图）来辅助分析。
风险分析常用的方法有两种，即风险优先数（RiskPriority
Number，RPN）法和危害性分析（CriticalityAnalysis）法
前者主要用于汽车等民用工业领域，后者主要用于航空、航天等
军用领域。
在进行风险分析时可根据具体情况选择一种方法。
2005年9月
2005年9月
测试前准备
F
M
E
A
·Ö
Îö
²½
Öè
ºÍ
Òª
µã
确定范围
确定功能
失效模式
潜在影响
严酷度
分类
潜在原因
发生频度
控制措施
探测率
RPN
整改措施
如何定义严酷度分类：
对操作者危害最高
失效概率：
每小时，每班次，每天，每星期。
。
。
潜在影响：
停机：
损坏，装备与调整，试机损失
报废：
缺陷部件，工具类
安全：
找原因：
1以前FMEA分析
2失效日志
3接口矩阵（物理干涉，能量传递，物
流，信息转移）
4保证书
5专题研究报告
6测试报告
7现场服务报告
测试前准备
FMEA·ÖÎö±í¸ñ
编
号
器件所属失
名称功能效
单元率
失效失效局部对功对系严
模式比例影响能单统的酷
元的最终度
影响影响
已有
的检
测方
法
已有建议备
的补改进注
偿措措施
施
2005年9月
2005年9月
测试前准备
4¡¢¹ÊÕÏ´¦Àí
¹ÊÕϼì²â
¹ÊÕ϶¨Î»
¹ÊÕϸôÀë
¹ÊÕϻָ´
测试前准备
¹ÊÕϼì²â
故障检测是指明确到故障已经发生的过程，是故障处理流程的前
提。
这里提到的检测一般是指系统在故障发生后的自动的检测，一般
不需要人进行操作。
在进行故障检测的时候需要结合软、硬件故障检测方法。
某些故障可能需要多次检测确认，避免进行误告警和误操作
2005年9月
2005年9月
测试前准备
¹ÊÕ϶¨Î»
故障定位是指将故障定位到现场最小可更换单元的过程，是故障
维修的基础。
故障定位的目的是为了便于维修工程人员进行现场的故障维修和
返修件的故障处理。
测试前准备
¹ÊÕϸôÀë
故障隔离一般是将故障限定到可更换单元内部的过程。
故障隔离
的目标是将故障能够限定在越小的功能单元。
故障隔离是为了将故障的影响范围限制在尽可能小的范围之内。
故障是无法避免的，如何将故障产生的影响降到最低，是故障隔
离所要考虑的关键。
2005年9月
2005年9月
测试前准备
¹ÊÕϻָ´
故障恢复是将系统的功能状态恢复到故障发生前状态的过程，是
客户最关心的也是系统稳定运行的关键步骤。
常用的故障恢复手段有复位、冗余倒换、重发等。
故障恢复尽量需要做到自动进行，以降低对用户的影响。
测试前准备
5¡¢²âÊԼƻ®
描述该测试计划所应达到的目标如下（可依据项目的实际要求做
适当调整）：
所有测试需求都已被标识出来；
测试的工作量已被正确估计并合理地分配了人力、物力资源；
测试的进度安排是基于工作量估计的、适用的；
测试启动、停止的准则已被标识；
测试输出的工作产品是已标识的、受控的和适用的。
2005年9月
2005年9月
测试前准备
²âÊԼƻ®µÄÄÚÈÝ
测试计划一般应该包含一下的内容：
测试对象，明确版本，范围，任务划分
角色和职责
测试和不被测试的特性原因
测试通过与否的标准
测试任务安排
测试结束的交付件
工作量评估
测试前准备
6¡¢²âÊÔÓÃÀý
测试用例更多的是需要描述测试方法，测试步骤，测试的预期效
果，需要达到的指标。
需要更加详细的对每一条测试项目进行描述。
测试用例是直接用来指导测试的，所以对测试项目的描述需要更
具体，更便于参考操作。
2005年9月
2005年9月
测试前准备
²âÊÔÓÃÀýµÄÒ»°ã¸ñʽ
测试用例编号
测试项目（模块或单元）
测试子项目（子项目描述）
测试级别（必测、选测、可测）
测试条件（环境、仪器等相关要求）
测试步骤和方法（具体细致的操作方法）
应达到的指标和预期效果
备注
测试前准备
7¡¢²âÊÔÐèÇóµÄÀ´Ô´
一切测试的需求都来自于产品设计的规格，规格来自于用户的需求。
因此我们的测试是针对产品规格的测试。
具体可以从以下几方面进行
考虑：
产品设计功能
根据功能的实现，分别对实现该功能的各个环节进行测试，从硬件、
单板软件、高层软件到用户界面，只有各个环节都畅通无阻，才能保
证该功能的正常实现。
可靠性
备份、倒换、插拔、互助、自愈等
2005年9月
2005年9月
测试前准备
²âÊÔÐèÇóµÄÀ´Ô´£¨Ðø£©
指标性能需求
指标包括电接口指标、光接口指标、时钟指标、传输指标和指标容
差，
指标一般都有相关的标准可查。
性能一般可从容量、处理能力、容限
等方面去考虑，一般是测试异常输入条件下的单元、模块、系统处理
情况。
性能测试的异常条件主要是指边界条件、异常条件及故障相关
性。
组网
组网需求：
电信网组网、异种厂商的互联
测试前准备
²âÊÔÐèÇóµÄÀ´Ô´£¨Ðø£©
应用环境
应用环境一般可从以下几个方面考虑：
高温、低温、高低温交变、盐雾、湿热、防尘
接地、电源、震动、冲击、存储、运输
电磁兼容性
断电恢复性
2005年9月
2005年9月
课程大纲
Ó²¼þ²âÊÔ¸ÅÊö
²âÊÔÇ°×¼±¸
Ó²¼þ²âÊÔµÄÖÖÀàÓë²Ù×÷
Ó²¼þ²âÊԵļ¶±ð
¿É¿¿ÐÔ²âÊÔ
²âÊÔÎÊÌâ½â¾ö
²âÊÔЧ¹ûÆÀ¹À
Ó²¼þ²âÊԲο¼µÄͨÐż¼Êõ±ê×¼
²âÊԹ淶Öƶ¨
²âÊÔÈËÔ±µÄÅàÑø
2005年9月
硬件测试的种类与操作
1¡¢²âÊÔÉè¼Æ
测试并不是简单意义上的一些测试操作，在测试前需要有详细的设
计，周密的策划，测试是一项高难度的工作。
测试设计概念的范围很广，大致可以分为以下几类：
设计测试平台，用此测试平台能进行通用项目的测试，或是进行能
用此测试平台作一类测试。
设计测试工具，设计测试软件。
设计测试装备。
设计测试用例，测试方法。
2005年9月
硬件测试的种类与操作
²âÊÔÉè¼ÆµÄºÃ´¦
良好的测试设计和有效测试工具可减少重复低效的劳动
有效地开发利用测试工具可使测试更深入、更全面
有些复杂的测试只能依靠测试工具进行自动测试
在测试中经常进行测试设计是提升技术水平的有效手段
ÎÒÃÇÔÚ×ö²âÊÔ¹¤×÷ʱ£¬²»ÄÜÒòÑ Êؾɣ¬ÐèҪʱ¿Ì¿¼ÂÇÈçºÎ¸Ä½øÎÒÃǵÄ
²âÊÔЧ¹û£¬Ìá¸ßÎÒÃǵIJâÊÔЧÂÊ£¬ÔÚ²âÊÔµãÉϽøÐÐÉîÈëÑо¿£¬¿ª·¢²â
ÊÔ¹¤¾ß£¬×îÖÕʹÎÒÃǵÄËùÓеãµÄ²âÊÔ´ïµ½×Ô¶¯»¯¡£
硬件测试的种类与操作
Á¼ºÃµÄ²âÊÔÉè¼ÆͬÑùÒ²ÊǽÚÔ¼²âÊԳɱ¾µÄÊÖ¶Î
现在的测试工作中，经常会遇到一些无法在实验室模拟的情况，可能
在实际现场也无法模拟，并且如果要模拟所花的代价很大，如满配
置、最大负荷的情况，而这些项目的测试通过与否是检验系统性能的
重要手段。
这个测试任务便给我们提出了编写测试软件模拟大负荷情
况的要求。
不但实现和自动化，而且大幅度的节约了成本。
2005年9月
2005年9月
硬件测试的种类与操作
2¡¢»ù´¡Ö¸±ê²âÊÔ
ÐźÅÖÊÁ¿²âÊÔ
基本的信号质量测试是通过测试单板上的各种信号质量，根据信
号种类的不同，用不同的指标来衡量信号质量的好坏，并对信号质量
的分析，发现系统设计中的不足。
开发人员根据已有的信号质量和时序调试和测试方面的规范和指
导书，在单板调试阶段完成对单板信号质量的全面测试并完整记录结
果。
测试仪器——示波器
硬件测试的种类与操作
ʱÐò²âÊÔ
对板内信号时序进行调试，验证信号实际时序关系是否可靠，是
否满足器件要求和设计要求；分析设计余量，评价单板工作可靠性。
开发人员根据已有的信号质量和时序调试和测试方面的规范和指
导书，在单板调试阶段完成对单板时序（包括逻辑外部时序）的全面
调试和测试。
测试仪器——示波器，逻辑分析仪
2005年9月
2005年9月
硬件测试的种类与操作
3¡¢¹¦ÄܲâÊÔ
功能测试是根据硬件详细设计报告中提及的功能规格进行测试，
验证设计是否满足要求。
功能测试是系统功能实现的基本，是需要严格保证测试通过率
的。
如被测对象与其规格说明、总体/详细设计文档之间存在任何差
异的均需要详细描述。
一般包含，电源、CPU、逻辑、复位、倒换、监控、时钟、业务
等。
硬件测试的种类与操作
4¡¢ÐÔÄܲâÊÔ——ÈÝÏÞ²âÊÔ
指使系统正常工作的输入允许变化范围。
容限测试的目的是通过
测试明确知道我们的设备到底在什么样的条件范围下能够正常工作，
薄弱环节到底在哪里。
能否发现和验证器件降额的问题，系统工作允许范围内的临界点
上的性能。
2005年9月
2005年9月
硬件测试的种类与操作
5¡¢ÈÝ´í²âÊÔ——FIT
指通过冗余设计等手段避免、减小某些故障对系统造成的影响以
及在外部异常条件恢复后系统能够自动恢复正常的能力。
容错测试的
目的是要检验系统对异常情况是否有足够的保护，是否会由于某些异
常条件造成故障不能自动恢复的严重后果。
容错测试的一般方法就是采用故障插入的方式，模拟一些在产品
使用过程中可能会产生的故障因素，进而考察产品的可靠性及故障处
理能力的一种测试方法。
硬件测试的种类与操作
5¡¢ÈÝ´í²âÊÔ——FIT
容错测试项目的来源主要是通过FMEA获得，是验证FMEA分析结果
的一种手段。
而且某些通过FMEA分析无法准确获得结论的项目也要通
过FIT来进行模拟。
容错测试还包括的另外一个主要内容就是操作方面的，主要模
拟在用户使用不当的时候系统的容忍错误的能力。
2005年9月
2005年9月
硬件测试的种类与操作
5¡¢ÈÝ´í²âÊÔ——FIT
容错测试一般允许出现一些功能异常，但是不能出现功能丧失或
故障扩散等严重的安全隐患。
常用的故障插入测试方法有时钟拉偏、误码插入、电源加扰
等，，常用测试工具有些是专用的，有些是内部开发的。
通过容错测试，还可以确定在产品的实际应用过程中哪些错是易
产生的，哪些错是可以避免的，以尽量减少损失。
硬件测试的种类与操作
6¡¢³¤Ê±¼äÑéÖ¤²âÊÔ
由于电子类产品很多是需要长时间运行的，所以进行长时间的验证
测试是很有必要的
某些器件应用不当的设计，更容易在长时间的运行中，才会显露出
来。
系统的散热能力也只有在长时间的大功率运行时才容易暴露。
长时间的运行才容易发生某些被忽略的偶然因素，容易发现某些潜
在问题。
2005年9月
2005年9月
硬件测试的种类与操作
6¡¢³¤Ê±¼äÑéÖ¤²âÊÔ
长时间测试不仅对于系统而言，在进行单元测试和集成测试时，
对于每一个功能模块均需要进行长时间的功能验证。
长时间的验证具体的时间把握同产品的实际使用情况相关，对于
通信产品系统，一般建议测试时间要达到一星期。
对于每一个功能模
块的时间要求一般要达到两天。
硬件测试的种类与操作
7¡¢Ò»ÖÂÐÔ²âÊÔ
Ò»ÖÂÐÔ²âÊÔÊÇÖ¸½«²»Í¬Åú´ÎµÄ²úÆ··Ö±ðÈ¡Ñù£¬½øÐвâÊÔÑéÖ¤£¬¿¼
²ì²úÆ·¹¦ÄܺÍÐÔÄÜ·½ÃæµÄÒ»ÖÂÐԵIJâÊÔ
为了验证不同生产批次的产品质量和不同批次器件的质量，是否
具有较高的一致性，是否能够满足产品的功能和使用条件要求。
2005年9月
2005年9月
硬件测试的种类与操作
7¡¢Ò»ÖÂÐÔ²âÊÔ
测试要点
测试至少要包含3次活以上不同器件批次和生产批次的产品
测试项目要包含所有的功能测试项目，和重要的信号质量和时序等
项目
重点需要验证长时间的稳定性是否一致
如果具备条件，需要验证在环境条件变化时（如高温环境），各样
品的一致性能。
硬件测试的种类与操作
8¡¢¿É¿¿ÐÔÊýÔ¤¼Æ
这里的可靠性数据一般包含MTBF（平均故障间隔时间）、
MTTR£¨Æ½¾ùÐÞ¸´Ê±¼ä£©¡¢Ê§Ð§ÂÊ¡¢¿ÉÓöȡ¢·µÐÞÂʵȡ£
可靠性数据预计的基础是FMEA分析，通过分析获得。
2005年9月
2005年9月
硬件测试的种类与操作
¿ÉÓöȣ¨A-availability£©£º
产品在一未知时刻，需要执行任务时，处于可工作或可使用状
态的概率。
硬件测试的种类与操作
ƽ¾ù²ðж¼ä¸ôʱ¼ä£¨MTBR-meantimebetweenremovals）
系统寿命单位总数与从该系统上拆下的产品总次数之比。
ƽ¾ùÐÞ¸´Ê±¼ä£¨MTTR-meantimetorepair£©£º
是在规定的时间内，修复性维修所造成的累积工作时间除以在同
一时间内所完成的修复维修活动总数得到的结果。
拆卸时间＋定位时间＋修理时间＋安装时间
ƽ¾ù¹ÊÕϼä¸ôʱ¼ä£¨MTBF-meantimebetweenfailure£©£º
指相邻失效间隔工作时间的平均值。
ƽ¾ùʧЧǰʱ¼ä£¨MTTF-meantimetofailure£©£º
表示观察到下次失效的期望的时间。
2005年9月
2005年9月
硬件测试的种类与操作
¿É¿¿¶È
R£¨t£©£º
硬件测试的种类与操作
¿ÉÓöÈA（Availability）
产品工作时间与总时间之比。
若不考虑产品的储存时间和闲置时
间，则：
A=MTBF/（MTBF＋MTTR）
在规定的条件下，规定的时间内，完成规定功能的概率。
ʧЧÂÊ£¨λ£©
ʧЧÂÊ£½1/MTBF
µ¥Î»Fits
1Fits＝1×10£91/h
可用度A
可靠性
维修性
2005年9月
2005年9月
硬件测试的种类与操作
·µÐÞÂÊ
年返修率＝1/MTBF×8760
硬件测试的种类与操作
Á·Ï°
系统M的器件使用情况如下表，请计算M的MTBF，A和年返修率
注：
MTTR=1小时
器件种类
电阻
电容
电感
接插件
集成电路
其他
器件数量
150
200
25
3
5
10
单个器件失效率（单位：
Fits）
2
2
6
50
400
100
2005年9月
2005年9月
硬件测试的种类与操作
器件种类
电阻
电容
电感
接插件
集成电路
其他
总计
器件数量
150
200
25
3
5
10
单个器件失效率（单
位：
Fits）
2
2
6
50
400
100
失效率总和
300
400
150
150
2000
1000
4000
课程大纲
Ó²¼þ²âÊÔ¸ÅÊö
²âÊÔÇ°×¼±¸
Ó²¼þ²âÊÔµÄÖÖÀàÓë²Ù×÷
Ó²¼þ²âÊԵļ¶±ð
¿É¿¿ÐÔ²âÊÔ
²âÊÔÎÊÌâ½â¾ö
²âÊÔЧ¹ûÆÀ¹À
Ó²¼þ²âÊԲο¼µÄͨÐż¼Êõ±ê×¼
²âÊԹ淶Öƶ¨
²âÊÔÈËÔ±µÄÅàÑø
2005年9月
MTBF=1/4000×109=250000Сʱ£½28.54Äê
A£½250000/£¨250000£«1£©£½99.9996%
返修率＝1/250000×8760＝3.5％
2005年9月
硬件测试的级别
1¡¢ºÚºÐ²âÊÔÓë°×ºÐ²âÊÔ
黑盒测试注重于测试功能性需求，将测试对象看成一黑盒，对外
只有输入、输出。
设计黑盒测试用例只对于表现在外接口的各种输入，对不同的输入，
测试其表现出来的输出，从而达到测试功能的目的。
白盒测试主要测试模块内部的逻辑细节，各个独立的逻辑路径，
黑盒测试不管多么全面，都可能忽略这些错误。
设计白盒测试用例需要构造到信号、逻辑或消息级。
硬件测试的级别
¾ßÌå²âÊÔʱ½áºÏʹÓÃ
白盒测试与黑盒测试各有优势，设计测试用例时应结合使用
举例：
对于开关电的测试，一般采用黑盒测试，设计的测试用例为：
快速
上、下电，频繁上、下电等；
对于时钟电路、锁相环等的测试，就需要设计白盒测试用例，如锁相
范围、静态相差、固有抖动、抖动容限等。
2005年9月
2005年9月
硬件测试的级别
2¡¢²âÊԵļ¶±ð
硬件测试按照系统的复杂程度，一般分为：
单元测试——针对独立功能单元的测试
集成测试——针对具有一定集成度的功能子系统的测试
系统测试——针对完整的系统整体的测试
硬件测试的级别
升级会员 