接管与筒体或封头角接接头超声检测方法.docx
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接管与筒体或封头角接接头超声检测方法
接管与筒体或封头角接接头超声检测方法
L.1范围
L.1.1本附录规定了接管与筒体（封头）角接接头的超声检测检测方法。
L.1.2使用本附录应满足以下条件：
a）对于插入式接管与筒体（或封头）角接接头：
1）筒体（或封头）检测面曲率半径大于等于250mm且内外径比大于等于70%；
2）接管公称直径大于等于80mm。
b）对于安放式接管与筒体（或封头）角接接头：
1）筒体（或封头）检测面曲率半径大于等于150mm；
2）接管公称直径大于等于100mm。
L.2接管与筒体（或封头）角接接头型式
接管与筒体（或封头）角接接头型式有插入式、安放式等，见图L.1。
图L.1接管与筒体（或封头）角接接头型式
L.3探头
L.3.1检测时应确保探头与工件的稳定接触。
L.3.2探头的选择
探头的选择按6.3.6的规定执行。
L.4仪器调节
L.4.1斜探头入射点、折射角（K值）
斜探头入射点、折射角（K值）的测量应选择在CSK-IA、CSK-IIA试块上进行，也可在RB-L或RB-C试块上进行。
L.4.2仪器时基线
仪器时基线的调整应选择在CSK-IA、CSK-IIA试块上进行，也可在RB-L或RB-C试块上进行。
L.4.3距离-波幅曲线
L.4.3.1距离-波幅曲线的制作应在CSK-ⅡA试块上进行，距离-波幅曲线灵敏度按表27的规定执行。
L.4.3.2检测面曲率半径大于等于50mm～250mm时，距离-波幅曲线的灵敏度修正应在RB-L或RB-C试块上进行。
此时应考虑不同检测位置，检测面曲率的变化导致声程等变化的修正，包括：
a）封头上锅筒体上的不同焊接接头；
b）同一焊接接头的不同检测位置（相对于筒体轴线偏转角的变化，接管在封头上不同位置引起的检测面曲率的变化）。
L.5检测
L.5.1插入式接管与筒体（或封头）角接接头检测
L.5.1.1当接管公称直径大于等于250mm且接管内径大于等于200mm时，角接接头检测方法、探头数量、检测面及探头移动区宽度按图N.3和表N.3进行。
L.5.1.2当接管公称直径大于等于80mm～250mm时，角接接头检测方法、探头数量、检测面及探头移动区宽度按图N.3和表L.1进行，一般按技术等级B级进行检测。
表L.1插入式接管与筒体（或封头）角接接头超声检测的具体要求
检测技术等级
工件厚度t/mm
纵向缺陷检测
横向缺陷检测
斜探头检测
直探头检测
斜探头横向扫查
不同折射角（K值）探头数量
检测面（侧）
探头移动区宽度
探头
位置
探头移动区宽度
不同折射角（K值）探头数量
检测面
A
6≤t≤15
1
A
1.25P
—
—
—
—
15＜t≤40
1
（A或B）和F
1.25P
d
—
—
—
—
B
6≤t≤15
1
（A或B）或F
1.25P
d
—
—
1
（X和Y）或
（W和Z）
15＜t≤40
1
（A或B）和F
1.25P
d
—
—
1
（X和Y）或
（W和Z）
40＜t≤100
2
（A或B）和
1.25P
a
b
2
（X和Y）或
（W和Z）
1
F
d
100＜t≤200
2
（A或B）和
0.75P
a
b
2
（X和Y）和
（W和Z）
1
F
d
C
6≤t≤15
1
（A或B）和F
1.25P
a
b
1
（X和Y）和
（W和Z）
15＜t≤40
2
（A或B）和F
1.25P
d
a
b
2
（X和Y）和
（W和Z）
40＜t≤100
2
（A或B）和F
1.25P
a
b
2
（X和Y）和
（W和Z）
t＞100
2
（A或B）和F
0.75P
d
a
b
2
（X和Y）和
（W和Z）
a尽可能使用直探头在位置C检测。
b当能使用直探头进行检测时，探头移动宽度为c。
L.5.2安放式接管与筒体（或封头）角接接头检测
L.5.2.1当接管公称直径大于等于250mm且筒体（或封头）检测面曲率半径大于等于250mm时，角接接头检测方法、探头数量、检测面及探头移动区宽度按图N.5和表N.5进行。
L.5.2.2当接管公称直径大于等于100mm～250mm且筒体（或封头）检测面曲率半径大于等于150mm时，角接接头检测方法、探头数量、检测面及探头移动区宽度按图L.2和表L.2进行，一般按技术等级B级进行检测。
L.5.3扫查方法尽可能按6.3.9的规定执行。
L.6缺陷定量
缺陷定量按6.3.13的规定执行。
L.7缺陷评定
缺陷评定按6.3.14的规定执行。
L.8质量分级
接管与筒体（或封头）角焊接接头超声检测质量分级按6.5.1的规定执行。
说明：
A、B、C、D、X、Y表示探头位置；
a、b、c、d、x——探头移动区宽度；
t——工件厚度；
1——接管；
2——筒体或封头。
图L.2安放式式接管与筒体（封头）角接接头
表L.2安放式接管与筒体（或封头）角接接头超声检测的具体要求
检测技术等级
工件厚度t/mm
纵向缺陷检测
横向缺陷检测
斜探头检测
直探头检测
斜探头横向扫查
不同折射角（K值）探头数量
检测面（侧）
探头移动区宽度
探头
位置
探头移动区宽度
不同折射角（K值）探头数量
检测面
A
6≤t≤15
1
B或A
0.5P
1.25P
—
—
—
—
15＜t≤40
1
B或A
0.5P
1.25P
—
—
B
6≤t≤15
2
B或A
0.5P
1.25P
—
—
1
X和Y
15＜t≤40
2
B或A
0.5P
1.25P
C
c
1
X和Y
40＜t≤100
2
A和（B或D）
1.25P
0.5P
C
c
2
X和Y
100＜t≤200
2
A和（B或D）
0.75P
0.5P
C
c
2
X和Y
C
6≤t≤15
3
B或A
0.5P
1.25P
C
c
1
X和Y
15＜t≤40
3
A和（B或D）
1.25P
0.5P
C
c
1
X和Y
40＜t≤100
3
A和B和D
1.25P
0.5P
C
c
2
X和Y
＞100
3
A和B和D
0.75P
0.5P
C
c
2
X和Y
注1：
如果在位置B能进行检测，则可用位置B的检测替代位置A的检测。
注2：
筒体（或封头）检测面曲率半径大于等于150mm～250mm时，可对角接接头不进行直探头检测和D面检测。
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