半导体芯片制造中级工试题文档格式.docx

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半导体芯片制造中级工试题文档格式.docx

C.物理的溅射刻蚀和化学的反应刻蚀相结合

4、单项选择题器件的横向尺寸控制几乎全由()来实现。

A.掩膜版

B.扩散

C.光刻

5、填空题钎焊密封工艺主要工艺条件有钎焊气氛控制、温度控制

和密封腔体内()控制。

6、单项选择题pn结的击穿电压和反向漏电流既是晶体管的重要直

流参数,也是评价()的重要标志。

A.扩散层质量

B.设计

7、单项选择题溅射法是由()轰击靶材表面,使靶原子从靶表面

飞溅出来淀积在衬底上形成薄膜。

A.电子

B.中性粒子

C.带能离子

8、单项选择题金属封装主要采用金属和玻璃密封工艺,金属作封

装底盘、管帽和引线,()做绝缘和密封。

A.塑料

B.玻璃

C.金属

9、判断题没有经济收入或交纳党费有困难的党员,由本人提出申请,经党支部委员会同意,可以少交或免交。

10、填空题气中的一个小尘埃将影响整个芯片的()性、()

率,并影响其电学性能和()性,所以半导体芯片制造工艺需在超净厂房内进行。

胶粘剂3大类。

半导体器件的粘封工艺一般选用()。

A.热塑性树脂

B.热固性或橡胶型胶粘剂

12、填空题外延层的迁移率低的因素有原材料纯度();

反应室漏气;

外延层的晶体();

系统沾污等;

载气纯度不够;

外延层晶体缺陷多;

生长工艺条件不适宜。

14、问答题什么叫晶体缺陷?

15、问答题简述你所在工艺的工艺质量要求?

你如何检查你的工艺质量?

16、问答题简述在芯片制造中对金属电极材料有什么要求?

17、单项选择题双极晶体管的高频参数是()

A.hFEVces

B.BVce

C.ftfm

温度、合模压力、注射压力、注射速度和成型时间

A.准备工具

B.准备模塑料

C.模塑料预热

19、填空题外壳设计包括电性能设计、热性能设计和结构设计三

部分,而()设计也包含在这三部分中间。

20、单项选择题超声热压焊的主要应用对象是超小型镀金外壳与

镀金管帽的焊接,焊接处依靠()封接,因而外壳零件的平整度和镀金层厚度是实现可靠性封接的关键因素。

A.管帽变形

B.镀金层的变形

C.底座变形

21、填空题如果热压楔形键合小于引线直径1.5倍或大于3.0

倍,其长度小于1.5倍或大于6.0倍,判引线键合()。

22、单项选择题禁带宽度的大小决定着电子从价带跳到导带的难

易,一般半导体材料的禁带宽度越宽,所制作的半导体器件中的载流

子()外界因素(如高温和辐射等)的干扰而产生变化。

A.越不容易受

B.越容易受

C.基本不受

23、填空题最常用的金属膜制备方法有()加热蒸发、()蒸

发、()。

24、填空题厚膜混合集成电路的基片种类很多,目前常用的有:

氧化铝陶瓷,(),氮化铝(A1N陶瓷

量比)的硝化纤维素溶解于98%(质量比)的醋酸异戊酯或松油醇中

制得,再将20%的运载剂与()的玻璃料均匀混合,配成印刷浆料。

A.80%〜90%

B.10%〜20%C.40%-50%

26、填空题硅片减薄腐蚀液为氢氟酸和硝酸系腐蚀液。

神化像片

用()系、氢氧化氨系蚀腐蚀液。

27、单项选择题厚膜元件烧结时,浆料中的固体颗粒由接触到结

合、自由表面的收缩、空隙的排除、晶体缺陷的消除等都会使系统的自由能(),从而使系统转变为热力学中更稳定的状态。

A.降低

B.升高

C.保持不变

有一定的距离,称为间隙,通常为()。

A.小于0.1mmB.0.5〜2.0mmC.大于2.0mm

A.基区宽度

B.外延层厚度

C.表面界面状态

31、单项选择题变容二极管的电容量随()变化

A.正偏电流

B.反偏电压

C.结温

32、填空题禁带宽度的大小决定着()的难易,一般半导体材料

的禁带宽度越宽,所制作的半导体器件中的载流子就越不易受到外界因素,如高温和辐射等的干扰而产生变化。

33、填空题铝丝与铝金属化层之间用加热、加压的方法不能获得

牢固的焊接,甚至根本无法实现焊接的原因是铝的表面在空气中极易生成一层(),它们阻挡了铝原子之间的紧密接触,达不到原子之间引力范围的间距。

()、()淀积、PECV旋积。

35、问答题引线焊接有哪些质量要求?

36、填空题半导体集成电路生产中,元件之间隔离有()()

()隔离等三种基本方法.

37、问答题粘封工艺中,常用的材料有哪几类?

38、问答题有哪几种常用的化学气相淀积薄膜的方法?

39、填空题金丝球焊的优点是无方向性,键合强度一般()同类

电极系统的楔刀焊接。

40、填空题钎焊包括合金烧结、共晶焊;

聚合物焊又可分为

()、()等。

41、单项选择题恒定表面源扩散的杂质分布在数学上称为()分

布。

A.高斯

B.余误差

C.指数

学组成分类。

比较通用的则是根据其化学组成可分为()半导体、

()半导体、固溶半导体三大类。

43、单项选择题金属封装主要用于混合集成电路封装,外壳零件

一般有底盘、管帽、引线和玻璃绝缘子组成。

底盘、管帽和引线的材

料常常是()。

A.合金A-42

B.4J29可伐

C.4J34可伐

44、单项选择题平行缝焊的工艺参数有焊接电流、焊接速度、焊轮压力和焊轮椎顶角。

焊轮压力影响盖板和焊环之间高阻点的()

压力太大,电阻值下降,对形成焊点不利,焊轮压力太小,则造成接触不良,不但形不成良好点。

A.电流值

B.电阻值

C.电压值

45、单项选择题外壳设计包括()设计、热性能设计和结构设计

三部分,而可靠性设计也包含在这三部分中间。

A.电性能

B.电阻

C.电感

46、问答题洁净区工作人员应注意些什么?

47、填空题离子注入杂质浓度分布中最重要的二个射程参数是

()和()

延、金属有机化学气相外延、()外延、原子束外延、固相外延等。

49、问答题单晶片切割的质量要求有哪些?

50、单项选择题在突缘电阻焊工艺中,要获得良好的焊接质量,必须确定的基本规范包括()

A.焊接电流、焊接电压和电极压力B.焊接电流、焊接时间和电极压力C.焊接电流、焊接电压和焊接时间为()扩散和()扩散两种。

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