QZTT 3008无源分布系统 射频电缆检测规范.docx

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QZTT3008无源分布系统无源分布系统射频电缆检测规范射频电缆检测规范中国铁塔股份有限公司企业标准Q/ZTT30082016代替Q/ZTT1003.42014无源分布系统射频电缆检测规范PassiveDistributionSystemRadioFrequencyCableTestSpecification版本号：

V2.02016-02-15发布2016-02-15实施中国铁塔股份有限公司发布目次前言11范围22规范性引用文件23术语和定义33.1电压驻波比VoltageStanding-waveRatio（VSWR）33.2传输衰减TransmissionAttenuation33.3耦合损耗CouplingLoss33.4弯曲半径BendingRadius33.5特性阻抗CharacteristicImpedance43.6绝缘电阻InsulationResistance43.7绝缘耐压DielectricMediumVoltage-withstanding43.8护套耐压SheathVoltage-withstanding44检测项目45射频电缆检测要求65.1皱纹铜管外导体射频同轴电缆检测要求65.1.1材质及要求65.1.2电气性能115.1.4环境性能315.2漏泄同轴电缆检测要求435.2.1材质及要求435.2.2电气性能475.2.3机械物理性能525.2.4环境性能54前前言言本标准依据相关国家标准和行业标准，结合中国铁塔股份有限公司（以下均简称为“中国铁塔”）的实际情况，细化和明确了无源分布系统射频电缆的技术要求，满足多系统共享室内分布系统的应用需求，并为入网检测和无源分布系统建设提供技术依据。

本标准主要包含皱纹铜管外导体射频同轴电缆、耦合性漏泄同轴电缆和辐射型漏泄同轴电缆产品的检测项目和检测要求，适用于射频电缆产品的质量检测，适用于送检和抽检产品的检测。

本标准应和同期发布的Q/ZTT3007-2016无源分布系统射频电缆技术要求配套使用。

本标准代替Q/ZTT1003.4-2014无源分布系统射频电缆技术要求和测试方法（V1.0）-试行中测试方法相关的内容。

自本标准发布之日起，原标准同时废止。

本标准由中国铁塔通信技术研究院负责解释和监督执行。

本标准主编单位：

中国铁塔通信技术研究院。

无源分布系统射频电缆检测规范一一范围范围本标准规定了皱纹铜管外导体射频同轴电缆、耦合性漏泄同轴电缆和辐射型漏泄同轴电缆产品的检测项目和检测要求。

本标准适用于中国铁塔股份有限公司规定的射频电缆产品的质量检测，适用于送检和抽检产品的检测。

二二规范性引用文件规范性引用文件下列国家及行业标准对于本技术要求的应用必不可少。

凡是注日期的，仅注日期的版本适用于本标准。

凡是不注日期的，其最新版本适用于本标准。

GB/T11091电缆用铜带GB/T15065电线电缆用黑色聚乙烯塑料GB/T17737.1-2013射频电缆第1部分：

总规范-总则、定义、要求和试验方法GB/T18380.12电缆和光缆在火焰条件下的燃烧试验第12部分：

单根绝缘电线电缆火焰垂直蔓延试验1kW预混合型火焰试验方法GB/T18380.35电缆和光缆在火焰条件下的燃烧试验第35部分：

垂直安装的成束电线电缆火焰垂直蔓延试验C类GB/T19849电缆用无缝铜管GB/T228.1金属材料拉伸试验第1部分:

室温试验方法GB/T2951.11电缆和光缆绝缘和护套材料通用试验方法第11部分：

通用试验方法厚度和外形尺寸测量机械性能试验GB/T2951.13电缆和光缆绝缘和护套材料通用试验方法第13部分：

通用试验方法-密度测定方法-吸水试验-收缩试验GB/T4909.2裸电线试验方法第2部分：

尺寸测量GB/T6388运输包装收发货标志GB/T8806塑料管道系统塑料部件尺寸的测定JB/T10696.3电线电缆机械和理化性能试验方法弯曲实验JB/T8137电线电缆交货盘SJ/T11223铜包铝线SJ/T11365电子信息产品中有毒有害物质的检测方法YD/T1092-2013通信电缆无线通信用50泡沫聚烯烃绝缘皱纹铜管外导体射频同轴电缆YD/T1113-2015通信电缆光缆用无卤低烟阻燃材料YD/T1120-2013通信电缆物理发泡聚烯烃绝缘皱纹铜管外导体耦合型漏泄同轴电缆YD/T2491-2013通信电缆物理发泡聚乙烯绝缘纵包铜带外导体辐射型漏泄同轴电缆YD/T2740.2-2014无线通信室内信号分布系统第2部分：

电缆（含漏泄电缆）技术要求和测试方法YD/T837.3-1996铜芯聚烯烃绝缘铝塑综合护套市内通信电缆试验方法第3部分：

机械物理性能试验方法YD/T837.4-1996铜芯聚烯烃绝缘铝塑综合护套市内通信电缆试验方法第4部分：

环境性能试验方法三三术语和定义术语和定义以下术语和定义适用于本标准。

三三.1电压驻波比电压驻波比VoltageStanding-waveRatio（VSWR）电缆长度方向各点结构尺寸不均匀，引起各点区域阻抗差异，产生反射波，形成驻波。

驻波会导致传输效率下降，衰减坛大，误码率上升，图像虚影，等不良后果。

三三.2传输衰减传输衰减TransmissionAttenuation反映电磁波在电缆中传输时能量损耗大小，主要影响信号强度。

漏缆衰减主要包括内/外导体损耗、绝缘介质损耗、辐射损耗、驻波损耗。

三三.3耦合损耗耦合损耗CouplingLoss反映漏缆辐射出来信号大小的指标，主要影响信号强度。

三三.4弯曲半径弯曲半径BendingRadius反映电缆的弯曲性能。

在规定的弯曲半径下满足电缆的使用要求。

三三.5特性阻抗特性阻抗CharacteristicImpedance行波状态下的电压与电流比值，主要与电缆内导体等效外径和外导体等效内径、等效绝缘介电常数有关，标称特性阻抗主要有50、75、100。

其中移动通信中的产品标称特性阻抗一般为50。

三三.6绝缘电阻绝缘电阻InsulationResistance电缆内、外导体之间的直流绝缘电阻，反映电缆绝缘层的绝缘性能。

三三.7绝缘耐压绝缘耐压DielectricMediumVoltage-withstanding电缆内、外导体之间的交流或直流条件下介质的耐电压性能，反映电缆绝缘层的绝缘耐压性能。

三三.8护套耐压护套耐压SheathVoltage-withstanding通过浸水试验或火花试验来确定护套的耐电压性能，体现电缆护套的耐压击穿性能，一般电缆生产时都是在线监测，保证电缆任何地方在规定的护套耐压下，电缆护套不击穿。

四四检测项目检测项目表1皱纹铜管外导体射频同轴电缆检测项目明细表序号分类指标备注1材质及要求内导体2外导体3护套外观4护套最小厚度5电缆最大外径6电缆参考重量7电气性能内导体/外导体最大直流电阻8绝缘介电强度9最小绝缘电阻10特性阻抗11最大衰减常数12机械物理性能重复弯曲13最小弯曲半径14抗压强度15导体最小抗拉强度16导体最小断裂延伸17护套抗张强度18护套断裂伸长率19绝缘附着力20环境性能老化后护套断裂伸长率21老化后护套抗张强度22绝缘热收缩率23低温弯曲24温度冲击25阻燃电缆的燃烧性能26护套火花试验护套耐压性表2耦合型和辐射型漏泄同轴电缆检测项目明细表序号分类指标备注1材质及要求内导体2外导体3护套外观4护套最小厚度5电缆最大外径6电缆参考重量7电气性能内导体/外导体最大直流电阻8绝缘介电强度9最小绝缘电阻10特性阻抗11纵向衰减12耦合损耗13最大电压驻波比14机械物理性能抗压强度15重复弯曲16最小弯曲半径17抗压强度18导体最小抗拉强度19导体最小断裂延伸20护套抗张强度21护套断裂伸长率22绝缘附着力23环境性能老化后护套断裂伸长率24老化后护套抗张强度25绝缘热收缩率26低温弯曲27温度冲击28阻燃电缆的燃烧性能29护套火花试验护套耐压性五五射频电缆检测要求射频电缆检测要求五五.1皱纹铜管外导体射频同轴电缆检测要求皱纹铜管外导体射频同轴电缆检测要求五五.1.1材质及要求材质及要求五五.1.1.1内导体内导体五五.1.1.1.1铜包铝的实验方法（直径测量）铜包铝的实验方法（直径测量）测试工具：

千分尺/游标卡尺。

试样制备：

从样品上面截取1根试样，长度大于1米。

测试过程：

对于直径0.1mm的试件，千分尺测试应力在0.1-1N，测试头直径在2-8mm；对于测试投直径在0.1mm,千分尺测试应力在1-3N，测试头直径在5-8mm。

在测量的时候需要在垂至于试样轴线的同一截面上，在相互垂直的了两个方向分别测量；至少在试样的两端和中部共计测量3处。

计算方式：

在对试样的各点测量完成之后，需要计算外径的平均值，这个作为最终的测量结果，体现在测试报告中。

（1）式中：

Di第i次侧测量数值，mm；n测量次数。

五五.1.1.1.2光滑铜管内导体实验方法光滑铜管内导体实验方法a）铜管外径以分度0.01mm的千分尺，在内导体上沿圆周大约均匀分布的4个位置进行测量；b）管壁厚度使用千分尺，在选定的被测截面上移动测量量具直至找处最大和最小壁厚，并记录测试值。

每个被选定的测试截面上，沿环向均匀间隔至少6个点进行壁厚测量。

由测量值计算算术平均值，按表3的规定修约并记录结果作为平均壁厚。

表3管壁厚度要求壁厚单个结果要求的准确度算术平均值修约值101030300.030.050.10.050.10.1c）导体的断裂伸长率和抗拉强度按如下规定进行试验；试样获取：

从铜管原材料轴上截取一段完好的样品，并将这段样品截成3或5条长度符合表4的试样；表4试样获取要求L0/mmLC/mmL0+D0/2仲裁试验：

L0+2D050100上表中：

S0试样原始横截面积；L0试样原始标距；D0试样原始管外径；Lc试样平行长度。

试样要求：

试样表面需要完好，没有被氧化或腐蚀；金属镀层或包覆没有破损或剥落；在测试之前需要测试记录试样的外径和管壁厚度（选取不同的5个点，计算平均外径、管壁厚度参照b的规定测量），计算出试样的截面积S0（单位：

mm2）。

（2）式中：

S0铜管截面积，单位mm2；m试样的质量，单位克，g；Lt试样总长度，单位毫米，mm；试样材料密度，单位克每立方厘米，gcm3。

管段试样尺寸见表2，应在试样两端加以塞头。

塞头至最近的标距标记的距离不小于D0/4，只要材料足够仲裁试验时次距离为D0。

试样使用拉伸试验机加紧固定后拉伸，拉伸时的应力速率应满足表5的要求。

表5拉伸应力速率要求材料弹性模量E/MPa应力速率R/（MPas-1）最小最大150000220150000660注：

铜材的弹性模量150000Mpa（3）式中：

Lu试样拉伸后长度，单位mm；L0试样拉伸前长度，单位mm。

（4）式中：

F试样拉伸断裂时承受的最大力，单位牛顿，N。

注：

在取样过程中导体不能受到任何外界的拉力，否则会影响最终的测试数据；在试件上面上标距的情况下，断口应在标距之内或应在试验机夹头钳口之间，并且断口应距标距线或夹头钳口不小于25mm。

如果试件的伸长率小于规定值，而该试件的断口又发生在离标距线或夹头钳口25mm之内，那么该组数据可不计，需另取试件重做。

d）椭圆度以分度0.01mm的千分尺在内导体圆周上的不同位置反复测量相互垂直的两个外径；当两个外径值的差值最大时，记录这两个外径值并按公式（5）计算椭圆度。

（5）式中：

D1在铜管横截面上测得的较大外径值，单位为毫米（mm）；D2在与D1同一横截面上测得的较小外径值，单位为毫米（mm）。

五五.1.1.1.3螺旋形皱纹铜管内导体的试验方法螺旋形皱纹铜管内导体的试验方法截取约15倍标称轧纹节距长的一段电缆并将其校直，以适当的方法去除电缆的护套、外导体、绝缘并避免损伤内导体。

制成试样后，结构尺寸的测量按下面方法进行：

波峰外径以分度0.02mm的游标卡尺在导体皱纹的波峰上沿圆周大约均匀分布的4个位置进行测量，测量时应用游标卡尺对导体皱纹波峰外径的最大点进行测量，应尽可能包含最大值和最小值，计算其平均值；皱纹节距以分度0.02mm的游标卡尺测量至少5个连续的节距长度，计算其平均值；螺旋形皱纹内导体的波谷外径用不易伸缩的适当材料制成的细线（直径不大于0.25mm）；沿内导体皱纹的波谷缠绕至少6个皱纹节距，将细线适当拉紧并在细线上以适当方法做出两点标记。

此两点标记应在一条电缆轴线的平行线与细线的交叉点做出；标记点间应包含至少5个皱纹节距。

测量细线拉直后两点标记间的长度并按公式（6）计算波谷外径。

（6）式中：

L标记间的直线长度，单位为毫米（mm）；n标记间的节距数；测试用细线直径，单位为毫米（mm）；P实测皱纹节距平均值，单位为毫米（mm）。

环形皱纹内导体的波谷外径以分度0.02mm的游标卡尺在内导体皱纹的波谷上沿圆周大约均匀分布的4个位置进行测量，测量时应以游标卡尺对内导体皱纹波谷外径的最小点进行测量，应尽可能包含最大值和最小值，计算其平均值；轧纹前管壁厚度参照4.1.1.1.2中b的规定进行测量。

外导体截取约15倍标称轧纹节距长的一段电缆并将其校直，以适当的方法去除电缆的护套并避免损伤外导体。

制成试样后，结构尺寸的测量参照4.1.1.1.3的规定进行。

护套外观护套外观应用正常或矫正视力检查。

五五.1.1.2护套最小厚度护套最小厚度护套的最小厚度按照如下规定进行测量。

e）测量装置读数显微镜或放大倍数至少10倍的投影仪，两种装置读数均应至0.01mm。

档测量护套厚度小于0.5mm时，则小数点后第三位数为估读数。

f）试样制备去除护套内外所有元件（若有的话），用一适当的工具（锋利的刀片）沿与导体轴线相垂直的平面窃取薄片。

如果护套上有压印标记凹痕，则会使该处厚度变薄，则试样应该取含该标记的一段。

g）测量步骤将试样件置于测量装置工作面上，切割面与光轴垂直。

试样内侧为圆形时，应按照图1径向测量6点。

图1图2若试件内原表面实质上是不规整或不光滑的，则应按照图2在护套最薄处径向测量6点。

在任何情况下，第一次测量应在护套最薄处进行。

如果护套试样剥壳压印标记凹痕，则该处厚度不应用来计算平均厚度。

但在任何情况下，压印标记凹痕处的护套厚度应符合相关标准中的护套最小值要求。

读数应到小数点后两位（以mm计）。

h）测量结果的评定测量结果按照相关电缆产品技术要求的规定进行评定。

进行机械性能试验时，每个试件的厚度平均值应按照该试件上测量的所有值计算。

五五.1.1.3电缆最大外径电缆最大外径i）电缆的外径不超过25mm时，用测微计、投影仪或类似的仪器在互相垂直的两个方向上分别测量。

例行试验允许用刻度千分尺或游标卡尺测量，测量时应减小接触压力；j）电缆外径超过25mm时，应用测量带测量器圆周长，然后计算直径。

也可使用能直接读数的测量带测量；k）电缆应使用测微计、投影仪或类似的仪器沿着横截面的长轴或短轴进行测量。

除非有关电缆的产品标准中另有规定；尺寸为25mm及以下者，读数应到小数点后两位（以mm计），尺寸为25mm以上者，读数应到小数点后一位。

测量结果应按照相关电缆产品标准中的试验要求进行评定。

五五.1.1.4电缆参考重量电缆参考重量采用计量称进行测量。

五五.1.2电气性能电气性能五五.1.2.1内导体内导体/外导体最大直流电阻外导体最大直流电阻五五.1.2.1.1试验设备试验设备试验设备的测量不准确度应在被测值的0.5%以内。

使用桥式电路或带有电压表的电流源。

依据电阻值的大小，可采用二端法或四端法测量。

五五.1.2.1.2试样制备试样制备剥开试样两端，外导体两端的制备应确保电流在外导体的所有构件中流动。

试样应在15-35的常温下预置足够长的时间，以使试样温度稳定。

五五.1.2.1.3程序程序当使用带有电压表的电流源时，应测量试样两端的电位差及电流。

为了避免试验时产生显的温升，电流密度应不超过1A/mm3,测量试样长度，其误差不超过1%。

五五.1.2.1.4结果表示结果表示电阻实测值应对长度进行校正，并用/km表示。

该值应用下式换算成标准温度（20）时的值：

（7）式中：

Rm电阻实测值，；试样长度，km；温度系数，K-1（对于铜，=3.9310-3/K）；t测量时的温度，。

五五.1.2.1.5要求：

要求：

导体电阻值应符合有关电缆规范的规定。

绝缘介电强度五五.1.2.1.6试验设备试验设备l）交流或直流电源：

交流电压的频率应为40Hz-60Hz，其波形应为正弦波；m）千伏表（kV）。

五五.1.2.1.7试样制备试样制备试验应在通过连续性试验的电缆成品上进行。

导体应剥出足够长，以防击穿或局部放电。

该处绝缘也应作适当的清洁处理。

五五.1.2.1.8程序程序电缆内、体之间或导体之间的绝缘应承受交流或直流电压1min。

电压值应符合有关电缆规范的规定。

试验电压的升压速度应不超过2kV/s。

五五.1.2.1.9要求要求介质不应有击穿。

最小绝缘电阻五五.1.2.1.10试验设备试验设备n）直流电源，最大电压500V；o）兆欧表，量程大于或等于2x105M。

五五.1.2.1.11试样制备试样制备试验应在经过15-35的温度预置并通过导体连续性检验的电缆成品上进行，试样最短长度以100米为好，导体两端应剥去绝缘。

五五.1.2.1.12程序程序对于同轴电缆，绝缘电阻应在内、外导体之间测量对于对称电缆，绝缘电阻应在线对的导体之间测量，如有屏蔽，则还应在连接在一起的导体和屏蔽之间测量。

如有关电缆规范未作规定，则试验电压应为80V-500V，最短加压时间为1分钟。

五五.1.2.1.13结果表示结果表示绝缘电阻应用M.km表示。

当试验长度不为1km时，实测值应作如下校正：

（8）式中:

Rm绝缘电阻实测值，M；电缆长度，km。

五五.1.2.1.14要求要求绝缘电阻的校正值应符合有关电缆规范的规定。

特性阻抗五五.1.2.1.15平均特性阻抗平均特性阻抗p）定义是平均特性阻抗在高频时的渐近值。

它可从测量电气长度和电容来获得。

（9）式中：

试样在200MHz附近的电气长度;c自由空间的传播速度；C试样的电容；一大约在200MHz频率下试样相位变化360所对应的频率变化。

q）试验设备准确度等于或优于千分之一的电容表或电容电桥，其频率为800Hz-1000Hz。

测量电气长度的试验设备应能适应相位计法或谐振法的测量要求。

如无其他规定，设备的频率覆盖范围应为30MHz-300MHz，能在各种情况下进行试验，可以使用把所示试验电路各部分组合在一起的其他设备，如网络分析仪。

r）程序试样的电容应如下方法进行测量：

将屏蔽与电容电桥的接地端相接，则电容应用下式确定：

（10）式中:

一导体b接屏蔽时，导体a与导体b之间的电容；一导体a接屏蔽时，导体b与导体a之间的电容；一导体a和导体b接在一起时，与屏蔽之间的电容。

为避免杂散电容的影响，可用同一电缆的两个不同长度试样测量值的差来确定电容。

试样的频率变化应按如下规定进行测量：

插人试样，将信号发生器调谐到200MHz附近的某一频率（频率f1），此时，相位计应正好指示出某一规定值。

增加频率，使相位改变nX360（频率f2）。

对于单端连接的试样，频率差f从下式获得：

（11）对于两端连接的试样，f则从下式得到：

（12）s）结果表示平均特性阻抗应用下式确定：

（13）式中：

一单位为MHz；C单位为nF。

要求平均特性阻抗实测值与标称值的偏差应符合有关电缆规范的规定。

五五.1.2.1.16时域特性阻抗时域特性阻抗t）定义试样的特性阻抗由下式给定：

（14）式中:

Z试样的特性阻抗；Z0标准线的特性阻抗；r标准线末端与试样之间台阶的反射系数；rs试验系统与标准线特性阻杭的差异（如存在的话）产生的反射系数。

对于阶跃函数，上升时间tr定义为阶跃幅度的10%与90%之间的时间差。

u）试验设备试验设备通常按图3配置。

为确定试样两端的特性阻抗，应优选特性阻抗等于试样的标称特性阻抗的标准线。

时域反射计（TDR）；2标准线（自选件）；3试样；4终端负载图3阶跃函数试验设备配置图v）程序用于测量试样的阶跃函数，应具有符合有关电缆规范规定的上升时间。

测量阶跃反射系数，用式（14）计算特性阻抗。

w）要求时域特性阻抗应符合有关电缆规范的规定。

最大衰减常数五五.1.2.1.17原理原理本试验旨在测定射频同轴电缆在优选频率大于或等于10MHz时的衰减常数。

如果试样的复数特性阻抗Z1的幅值近似等于其标称值Z2，则也可在较低频率下测定。

五五.1.2.1.18定义定义衰减常数定义为：

（15）式中:

P1当负载阻抗及信号源的阻抗等于试样的标称特性阻抗时，信号源的输出功率;P2当试样插入试验系统时测得的输出功率;试样的物理长度m。

如果在很低的频率下，Z和Z的偏差不能忽略，则试样的长度应如下选取:

（16）式中:

a标称衰减常数，dB/100m；试样的物理长度，m。

五五.1.2.1.19试样制备试样制备试样长度应使测量误差不超过试样衰减的2%。

试样长度的测量误差应不超过1%。

因此，衰减的总误差应不超过3%。

如果采用谐振法，试样的速比为已知，且其误差不超过标称值的1%，试样长度可由相邻谐振频率之差f来确定。

除了谐振法的试验电路A之外，试样的每一端都应安装连接器。

连接器应与试验设备的端口直接相匹配，否则应采用试验转接器。

在很高频率下，应考虑这些转接器的插人损耗。

五五.1.2.1.20试验方法试验方法试样既可以在匹配条件下测量，也可以用谐振电路测量，这取决于其衰减值。

当在谐振电路法中试样的特性阻抗显得不重要时，如果它与其他程序中试验设备的阻抗不相同，则应采用匹配变压器。

谐振法优选适用于具有任何特性阻抗的低损耗短段试样。

x）衰减器替代法（插人损耗3dB）试样的衰减用步进衰减器替代，其剩余值指示于测试接收机的度盘上。

1）配置图试验设备通常按图4和图5所示两种配置图之一来进行配置。

电路A：

1-信号发生器；2衰减器，6dB；3同轴开关，隔离度20dB；4衰减装置，0dB50dB，1dB一档；5试样；6插入单元；7指示器，分辨率0.1dB；8终端负载图4替代法电路A配置图电路B：

1信号发生器；2衰减器，6dB；4衰减装置，0dB50dB；5试样；6插入单元；7指示器，分辨率0.1dB；8终端负载a,b试验端口图5替代法电路B配置图2）程序对于试验电路A，在试验频率下将试样接人试验电路，调整信号发生器电平，使其指示比满刻度偏转低1dB（读数a1，dB）。

然后将衰减装置接人试验电路并进行调整，使偏转读数（a2,dB）与原始读数的偏差为最小，此时衰减装置的调定值aa。

对于试验电路B，试验程序与试验电路A时相同，但衰减装置调为零。

然后移去试样，将试验端口。

和b连接在一起。

再按试验电路A那样调