整机测试可靠性检验标准.docx

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整机测试可靠性检验标准

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批准

薛正云

编号

页数

第1页/共12页

文件名称

整机测试可靠性检验标准

编号

页码

第2页/共12页

文件名称

整机测试可靠性检验标准

章节内容页次

目录1

文件版本信息2

1目的3

2样品提交3

3测试项目3

3.1冷热冲击试验4

3.2高低温循环试验4

3.3低温储存试验4

3.4低温工作试验5

3.5高温高湿试验5

3.6高温储存试验5

3.7高温工作试验6

3.8翻盖寿命试验6

3.9耳机插拔试验6

3.10I/0接口插拔试验6

3.11附着力测试7

3.12按键寿命试验7

3.13电池插拔试验7

3.14天线抗扭试验7

3.15扬声器寿命测试8

3.16ESD（静电放电）测试8

3.17耐摩擦试验8

3.18自由跌落试验9

3.19振动试验9

3.20化学剂腐蚀试验9

3.21盐雾试验9

3.22灰尘测试10

3.23抗压测试10

4测试流程及对应样品编号10~11

5功能及参数11

编号

页码

第3页/共12页

文件名称

整机测试可靠性检验标准

文件版本信息

版次

日期

修订页次

备注

第一版（试行）

组

样品编号

1，2，3

4，5，6

7，8，9

10，11，12，13

14，15，16

17，18，19

20，21，22，23

24，25，26

27，28，29

30，31，32

33，34，35

36，37，38

39，40，41

42，43，44

编号

页码

第4页/共12页

文件名称

整机测试可靠性检验标准

1.目的本测试计划定义手机加速老化测试以及持续加速老化测试的方法及允许标准。

2.样品提交

提交样品之前须对样品进行包括RF在内的各项性能进行检测，确保样品各项功能正常。

每个样品进行可靠性测试前将分配一个跟踪码，跟踪码在测试批准后即产生。

可靠性测试提交样品量：

50pcs。

2.1测试样品标示

首先对样品进行编号为1~50，其中45~50号为备用样品。

测试产品被分为14个组，即A~N组，每组包含的产品编号如下表。

编号时可以允许采用多种方法进行标示如涂笔法或标签。

标签以及胶层必须能抵抗所有的ALT测试的环境，涂笔法应采用不透明的油性的标记笔，标签以及胶层必须能抵抗所有的老化测试的环境并能识别。

且胶不允许覆盖在电池上、镜片上以确保测试过程中产生的间缝暴露出来。

项目

试验条件

试验后要求

低

温

储

存

试

验

1．T=-40±2℃；

2．试验时间为36hrs。

3．试验中手机带电池断电状态

1.回到室温1h后检测，手机能开机，

手机各项功能正常；

2.结构件应无开裂或碎裂；

3.元器件无脱落现象；

4.LCD显示正常，不能有缺线，缺笔画等现象。

项目

试验条件

试验后要求

高

低

温

循

环

试

验

1.低温设为-40℃，高温设为+75℃，

温度变化速率为2℃/min；

2.1h为一个周期，共测试48hrs；

3.试验中手机不带电池断电状态

1.回到室温1h后检测，手机能开机，

手机各项功能正常；

2.结构件应无开裂或碎裂；

3.元器件无脱落现象；

4.LCD显示正常，不能有缺线，缺笔画等现象。

项目

试验条件

试验后要求

冷

热

冲

击

试

验

1.手机翻盖打开，放入高低温试验

箱里；

2.低温设为-40℃，高温设为+85℃，切换速度为4min；

3.各保持1h，重复12个循环；

4．试验中手机不带电池断电状态

1.回到室温1h后检测，手机能开机，

手机各项功能正常；

2.结构件应无开裂或碎裂；

3.元器件无脱落或松动现象；

4.LCD显示正常，不能有缺线，缺笔画等现象。

编号

页码

第5页/共12页

文件名称

整机测试可靠性检验标准

3测试项目：

3.1冷热冲击试验

3.2高低温循环试验

3.3低温储存试验

项目

试验条件

试验后要求

高温储存试验

1.T=80±2℃，

2.试验时间为72hrs。

3．试验中手机带电池断电状态

1.回到室温1h后检测，手机能开机，

手机各项功能正常；

2.结构件应无开裂或碎裂；

3.元器件无脱落现象；

4.LCD显示正常，不能有缺线，缺笔画等现象。

项目

试验条件

试验后要求

高温高湿试验

1.手机翻盖打开放入高温高湿试验

箱里；

2.温度设为+65℃，湿度设为93%，共测试72hrs。

3.试验中手机不带电池断电状态。

1.回到室温1h后检测，手机能开机，

手机各项功能正常；

2.结构件应无开裂或碎裂；

3.元器件无脱落现象；

4.LCD显示正常，不能有缺线，缺笔画等现象。

项目

试验条件

试验后要求

低温工作试验

1．T=-20±2℃；

2．试验时间为36hrs；

3．试验中手机处于待机状态。

1.在测试条件环境中，手机应能正常

工作；

2.结构件应无开裂或碎裂；

3.元器件无脱落现象；

4.LCD显示正常，不能有缺线，缺笔画等现象。

编号

页码

第6页/共12页

文件名称

整机测试可靠性检验标准

3.4低温工作试验

3.5高温高湿试验

3.6高温储存试验

项目

试验条件

试验后要求

耳

机

插

拔

试

验

1．将耳机垂直插入耳机孔后，再

垂直拔出，如此反复5000次；

2．每秒插拔一次。

1．耳机口无接触不良现象；

2．耳机功能正常使用。

项目

试验条件

试验后要求

翻

盖

寿

命

试

验

在开机状态下，以每分钟40次的速

度开合翻盖，累计10万次，每1

万次后检测手机一次。

1．手机各项功能测试正常；

2．翻盖时手感须与试验前基本一致；

3．翻盖功能相关部位配合间隙不大于试验前的1.5倍。

项目

试验条件

试验后要求

高温工作试验

1.T=50±2℃；

2.试验时间为72hrs；

3.试验中手机处于待机状态。

1.在测试条件环境中，手机能正常工

作；

2.结构件应无开裂或碎裂；

3.元器件无脱落现象；

4.LCD显示正常，不能有缺线，缺笔画等现象。

编号

页码

第7页/共12页

文件名称

整机测试可靠性检验标准

3.7高温工作试验

3.8翻盖寿命试验

3.9耳机插拔试验

3.10I/0接口插拔试验

项目

试验条件

试验后要求

天线抗扭试验

1.对手机天线施加5kg的拉力，

1000次；

2.对手机天线四个方向各施加2kg

的折弯力，各1000次；

3.扭力为35N/cm，循环次数1000

次，施力周期为1cycle/2sec。

4.内置天线手机该项省略。

1．天线与相关联结构件无破损，断裂；

2．手机能寻找网络，能打电话，各项射频基本参数符合标准。

项目

试验条件

试验后要求

电

池

插

拔

试

验

将电池与手机配合，装入——取出

——装入，如此反复5000次，每秒一次

1．电池卡扣弹性正常；

2．电池无松动、晃动等现象；

3．手机开机功能正常。

项目

试验条件

试验后要求

按

键

寿

命

试

验

以120次/分钟的速度，1N的力度

均匀按键，累计按键10万次，每1

万次检测手机一次。

1.按键结构件及相关联接构件不得断

裂；

2.按键和开关应有正确的外观和声音，并且反馈一致的动作和触觉。

项目

试验条件

试验后要求

附着力测试

在涂装表面任选一平整区域，用尖

锐刀片划1×1㎜的小格100个，再将3M610#胶纸用手压平完全粘附后，从斜45°角方向瞬间拉起撕脱，检查油漆面及胶带纸面。

脱漆面积<5%为合格；脱漆面积≥5%为

不合格。

编号

页码

第8页/共12页

文件名称

整机测试可靠性检验标准

3.11附着力测试

3.12按键寿命试验

3.13电池插拔试验

3.14天线抗扭试验

项目

试验条件

试验后要求

耐摩擦试验

1.铅笔摩擦，用1H的铅笔，压力

500g，行程10mm，来回500次

不能有明显划痕，不露底色。

2.酒精摩擦，以无纺布或无尘布沾

浓度95%以上的酒精，压力500g，接触面积30mm2，来回500次

1．不能有明显的色差及光泽差异，不

露底色。

2．无纺布或无尘布上应没有油漆颜色粘附。

3.纸带摩擦,压力175g，摩擦500

次，频率1次/秒

不露底色

项目

试验条件

试验后要求

扬

声

器

寿

命

测

试

从手机菜单里选择一首平均分贝

最大的一首音乐，音量调到最大连续播放24小时。

1．扬声器能正常发音且应无破音。

2．手机各项功能正常。

编号

页码

第9页/共12页

文件名称

整机测试可靠性检验标准

3.15扬声器寿命测试

3.16ESD（静电放电）测试

3.17耐摩擦试验

项目

试验条件

试验后要求

盐雾试验

关闭手机用PH值为6.5—7.25%氯

化钠的盐溶液，连续喷雾24小时。

期满后在箱内恢复到正常大气条件，稳定后保持1小时，再拿出放入55度的高温箱内烘干，2小时后取出检测。

LCD应正常显示，无严重进水现象，手

机各项功能正常。

项目

化

试验条件

试验后要求

学剂腐蚀试验

将手机外壳涂一层PH值约为3的

果酸性化妆品，24小时后擦除干净，放置1小时后检测。

不能有明显的色差及光泽差异，不露

底色。

项目

试验条件

试验后要求

振动试验

1手机处于开机状态；以5~100Hz

的频率每分钟递进递减交变一次；振幅为6mm；

5~15Hz加速度0.1m/s2/Hz

15~100Hz加速度2.2m/s2/Hz

2.X，Y，Z三方向各测试1小时。

1.结构件、外观应无明显变形，无断

裂，无缺损；

2.PCB板元件不应有脱落和损坏；

3.手机各项功能正常，能正常使用。

项目

试验条件

试验后要求

自由跌落试验

1在开机状态下将手机从100cm

高度自由跌落于测试平台上，6个面，每个面100次；

2.在开机状态下将手机从180cm高度自由跌落于测试平台上，6个面，每个面5次；

3．先做100cm跌落试验后做180cm

跌落试验。

1．结构件无断裂及严重损伤，零部件

无脱落；

2．手机能开机且各项功能正常。

编号

页码

第10页/共12页

文件名称

整机测试可靠性检验标准

3.18自由跌落试验

3.19振动试验

3.20化学剂腐蚀试验

3.21盐雾试验

组

样品编号

实验名称

备注

1，2，3

冷热冲击试验

√

4，5，6

高低温循环试验

7，8，9

低温存储

√

10，11，12，13

低温工作

√

14，15，16

高温高湿试验

17，18，19

高温存储

√

20，21，22，23

高温工作

√

24，25，26

翻盖寿命试验

√

按从上向下的顺序测试

√

I/O、耳机插拔试

验

附着力测试

项目

试验条件

试验后要求

抗压测试

手机电源开启，对手机施加200N

的压力并维持1秒，再松开1秒，连续测试1000次。

结构件无损坏，外观无破损，龟裂情

况。

LCD无破损，无缺笔画，手机各项功能正常，能正常使用。

项目

试验条件

试验后要求

灰尘测试

手机处于关机状态，将手机翻盖

打开以不同位置放置在沙尘尺寸

<60μm，砂尘浓度为10±3g/m3的防尘测试箱中1小时后取出测试。

1．测麦克风、耳机、受话筒、LC

按键、外观受污染程度；

2.手机各项功能正常，能正常使用。

编号

页码

第11页/共12页

文件名称

整机测试可靠性检验标准

3.22灰尘测试

3.23抗压测试

4．ALT测试流程及对应样品编号

27，28，29

按键寿命测试

按从上向下的顺序测试

电池插拔测试

天线抗扭测试

30，31，32

扬声器寿命测试

按从上向下的顺序测试

ESD（静电放电）

测试

耐摩擦试验

33，34，35

自由跌落试验

√

36，37，38

振动试验

按从上向下的顺序测试

化学剂腐蚀试验

39，40，41

盐雾试验

按从上向下的顺序测试

灰尘测试

42，43，44

抗压测试

编号

页码

第12页/共12页

文件名称

整机测试可靠性检验标准

√

5.功能及参数

5.1基本功能

1）检查塑料外壳和镜片的变形及裂纹。

2）将手机插入SIM卡并开机，检查手机是否开机，画面是否正常。

3）开机完成，进入待机状态后，检查手机是否有网络，进入工程测试模式检测按键、扬声器、听筒、马达等功能是否正常。

4）试拨一电话，检查手机是否可以通话。

5.2射频基本功能测试包括：

（每频段测试3个信道）：

1）射频载波功率

测量1，62，124三个信道，各测量5，10，19三个功率等级。

2）PowerVsTime、相位误差、频率误差

测量1，62，124三个信道，测量的功率等级为5。

3）接收误码率

测量1，62，124三个信道，测量等级为2，可以仅测量残余误比特率（RBER）。

4）调制频谱、开关频谱

测量1，62，124三个信道，测量的功率等级为5。

-------------------------------全文完-------------------------------

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