千分尺计量检定规程.docx
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千分尺计量检定规程
千分尺计量检定规程
1.0目的
规范千分尺校验的操作，确保千分尺的测量精度处于受控状态，检验结果真实、可靠，以确保产品品质。
2.0范围
本规程适用于千分尺计量检定。
3.0校验设备
外校合格的标准量块。
4.0环境条件
温度（20±5）℃，湿度45%～75%RH。
校准前被检测量设备在规定温度下恒温不少于2h。
5.0技术要求和检定方法
5.1外观
5.1.1要求
Ø千分尺及其校对用的量杆不应有碰伤、锈蚀、带磁或其他缺陷，刻线应清晰、均匀。
Ø千分尺应附有调整零位的工具测量上限大于25mm的千分尺应附有校对用的量杆。
Ø千分尺上应标有分度值、测量范围、制造厂名（或厂标）及出厂编号。
Ø使用中的和修理后的千分尺及其校对用的量杆不应有影响使用准确度的外观缺陷。
5.1.2检定方法：
目力观察。
5.2各部分相互作用
5.2.1要求
Ø微分筒转动和测微螺杆的移动应平稳无卡住现象。
Ø可调或可换测砧的调整或装卸应顺畅，作用要可靠，锁紧装置的作用应切实有效。
Ø带有表盘的千分尺，表针移动应灵活，无卡滞现象。
5.2.2检定方法
试验和目力观察
5.3测微螺杆的轴向串动和径向摆动。
5.3.1要求：
测微螺杆的轴向串动和径向摆动均不大于0.01mm。
5.3.2检定方法
Ø测微螺杆的轴向串动，用杠杆千分表检定，检定时，使杠杆千分表与测微螺杆测微量面接触，沿测微螺杆轴向方向分别往返加力3N~5N。
Ø测微螺杆的径向摆动示用杠杆千分表检定，检定时，将测微螺杆伸出尺架10mm后，使杠杆千分表接触测微螺杆端部，再往杠杆千分表测量方向加力2N~3N，然后以相反方向加力2N~3N，这一检定应在相互垂直的两个径向方向检定。
5.4测砧与测微螺杆工作面相对偏移
5.4.1要求
千分尺测砧与测微螺杆工作面的相对偏移量应不大于JJG21-2008标准中的规定。
5.4.2检定方法
在平板上用杠杆百分表检定，对于测量范围大于300mm的千分尺用百分表检定，检定时借助千斤顶将千分尺放置在平板上，根据JJG21-2008要求，调整千斤顶使千分尺的测微螺杆与平板工作面平行，然后用百分表测出测砧与测微螺杆在这方位上的偏移量x，然后将尺架侧转90°按上述方法测出测砧与测微螺杆在另一方位上的偏移量y，测砧与测微螺杆工作面的相对偏移量Δ按下式要求的
Δ=√x2+y2
此项检定也可用其它专用检具检定。
5.5测力
5.5.1要求
千分尺的测力（指工作面与球面接触时所作用的力）应在6N~10N范围内。
5.5.2检定方法
用分度值不大于0.2N的专用测力计检定，检定时，使工作面与测力计的球工作面接触后进行。
5.6刻线宽度及宽度差
5.6.1要求
固定套管纵刻线和微分筒上的刻线宽度为0.15~0.20mm，刻线宽度差应不大于0.03mm，刻线盘的刻线宽度为0.20~0.30mm，刻线宽度差应不大于0.05mm。
5.6.2检定方法
在工具显微镜上检定，微分筒或刻线盘上的刻线宽度至少任意抽检三条刻线。
5.7指针与刻线盘相对位置
5.7.1要求
板厚千分尺刻度盘上的指针末端应盖住刻线盘短刻线长度的30~80%，指针末端上表面至刻度盘表面的距离应不大于0.7mm，指针末端与刻度盘刻线的宽度应一致，差值应不大于0.05mm。
5.7.2检定方法
指针末端与刻度盘短刻线的相对位置可用目力估计，指针末端上表面至刻度盘表面的距离应用塞尺进行检定，上述检定应在刻度盘上均匀分布的三个位置上进行，指针末端与刻度盘的刻线的宽度差在工具显微镜上检定。
5.8微分简锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离。
5.8.1要求
微分筒锥面的端面棱边至固定套管刻线面的距离应不大于0.4mm。
5.8.2检定方法
在工具显微镜上检定，也可用0.4mm的塞尺置于固定套管刻线表面上用比较法检定，检定时在微分筒转动一周内不少于三个位置进行。
5.9微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置
5.9.1要求
当测量下限调整正确后，微分筒上的零刻线与固定套管纵刻线对准时，微分筒的端面与固定套管毫米刻线右边缘应相切，若不相切，压线不大于0.05mm，离线不大于0.1mm。
5.9.2检定方法
当测量下限调整正确后，使微分筒锥面的端面与固定套管任意毫米刻线的右边缘相切时，读取微分筒的零刻线与固定套管纵刻线的偏移量。
5.10工作面的表面粗糙度
5.10.1要求
外径千分尺和校对量杆的工作面的表面粗糙度Ra应不大于0.05μm，壁厚、板厚千分尺工作面的表面粗糙度Ra应不大于0.1μm。
5.10.2检定方法
用表面粗糙度比较样块用比较法检定。
5.11工作面的平面度
5.11.1要求
零级外径千分尺工作面的平面度不大于0.6μm，一级外径千分尺工作面的平面度不大于1μm，壁厚千分尺测微螺杆工作面的平面度应不大于1.2μm，板厚千分尺工作面的平面度应不大于1μm。
5.11.2检定方法
用二级平晶用技术光波干涉法检定，对于使用中的可用1级刀口尺用光隙法检定，工作面直径为6.5mm的，距离边缘0.2mm范围内不计，对于8mm的，距离边缘0.5mm范围内不计。
5.12工作面的平行度
5.12.1要求
当外径千分尺锁紧装置紧固与松开时，千分尺两工作面的平行度应不大于JJG21-2008规定。
5.12.2检定方法
测量上限至100mm的千分尺两工作面的平行度用平行平晶检定，也可用量块检定，零级外径千分尺用4等量块检定，1级外径千分尺，板厚千分尺用5等量块检定，测量上限大于100mm的千分尺两工作面的平行度按JJG21-2008规定所示钢球检具检定。
两工作面的平行度也可用其他相应准确度的仪器检定。
使用平行平晶检定时，依次将4块厚度差为1/4螺距的平行平晶放入两工作面间转动微分筒，使两工作面与平行平晶接触，并轻轻转动平晶，使两工作面出现的干涉条纹数减至最少时，分别读取两工作面上的干涉条纹数，取两工作面上的干涉条纹数目之和与所用光的波长值的计算结果作为两工作面的平行度，利用平行平晶组中每一块平晶按上述程序分别进行检定，取其中最大一组平行度值作为受检千分尺的两工作面平行度检定结果。
使用量块检定时，依次按尺寸约为上下限的中间尺寸，间隔为微分筒1/4转的四组量块进行，每组量块以其同一部位与放入工作面间的4个位置上按微分筒分别读数，并求出其差值，以四组差值中最大值作为被检千分尺两工作面的平行度。
6.0示值误差
6.1要求
Ø外径千分尺的示值误差应不超过JJG21-2008的规定。
Ø测量上限大于150mm的外径千分尺可以只检定测微头的示值误差，用5等或相应等的专用量块借助相应准确度的专用检具按0~25mm的千分尺受检点检定，按JJG21-2008图所示。
Ø测微头各点相对于零点的示值误差不超±3μm。
6.2校对用的量杆
6.2.1要求
校对用的量杆尺寸偏差和两工作面的平行度应不超过JJG21-2008的规定。
6.2.2检定方法
量杆的尺寸及工作面的平行度在光学计或测长机上采用4等量块用比较法检定，对于平工作面的量杆采用球面测帽在JJG21-2008的5点上进行检定，各点尺寸偏差均不超过JJG21-2008的规定，5点中的最大值与最小值之差即为量杆两工作面的平行度。
对于球工作面的量杆，应用直径为8mm的平面测帽进行检定。
5.8校准记录
填写并完成测量仪器内部校验报告。
校准完后需填写校准记录由实验室或档案室保存至少3年。
6.0校准周期
校准周期一般不超过一年，凡在使用过程中经过修理或示值调整的均需重新校准。
7.0参考文件
JJG21-2008千分尺检定规程
JJF1071国家计量校准规范编写规则
JJF1001通用计量术语及定义
GBT/T8170数值修约规则与极限数值的表示和判定
8.0记录表格
内校合格证
千分尺校验记录
内校合格证
内校合格证
仪器编号
校准日期
复效日期
校准人
千分尺校验记录
送样单位
分度值
0.01（mm）
制造厂
出厂编号
检定地点
本院
测量范围
0～25（mm）
检定温度
（℃）
相对湿度
（%）
检定前样品有效性检查
检定后样品有效性检查
检定用仪器使用前状态
检定用仪器使用后状态
本次检定所依据规程JJG21-2008《千分尺》
序号
检定项目
检定结果
1
外观
2
各部分相互作用
3
测微螺杆的轴向窜动和径向摆动
（mm）
4
测砧与测微螺杆测量面的相对偏移
（mm）
5
测力
（N）
6
刻线宽度及宽度差
（mm）
7
指针与刻度盘相对位置
（mm）
8
微分筒锥面的端面棱边至固定套筒刻线面的距离
（mm）
9
微分筒锥面的端面与固定套筒毫米刻线的相对位置
压线：
（mm）离线：
（mm）
10
测量面的平面度
固定测砧：
（μm）
活动测砧：
（μm）
11
数显外径千分尺的示值重复性
（μm）
12
数显外径千分尺的示值任意位置时数值漂移
（μm）
13
两测量面的平行度
（μm）
14
示
值
误
差
受检点
（mm）
千分尺读数误差
（μm）
量块误差
（μm）
受检点误差
（μm）
A
A+5.12
-0.12
A+10.24
-0.47
A+15.36
-0.40
A+21.50
-0.02
A+25.00
+0.07
15
数显千分尺细分误差
受检点
mm
0.04
0.08
0.12
0.16
0.20
0.24
0.28
0.32
0.36
0.40
0.44
0.48
误差
μm
16
校对用量杆
标称尺寸：
mm
实际尺寸：
mm
变动量：
μm
结论
主要设备名称
量块
主要设备编号
640047A、780027A
检定：
核验：
检定日期：
200年月日
注：
表中A表示千分尺测量下限
千分尺检定/校准记录
样品名称
□外径千分尺□壁厚千分尺□测管千分尺
□公法线千分尺□杠杆千分尺□深度千分尺□
规格型号
mm
出厂编号
原准确度等级/允许误差
样品生产厂
样品来源
□送检□现场□其它
唯一性标识
样品状态
检校前
□正常□异常
检校后
□正常□异常
检定/校准技术依据
□JJG21-2008千分尺□
环境温度
℃
环境湿度
%RH
其它
检定/校准类别
□检定□校准□
送检日期
年月日
主标准器名称
量块
型号
□20块□8块
编号
□□
准确度等级
□5等□4等
测量范围
□（5.12～100）㎜□（125～500）㎜
仪器设备使用记录
使用前
□正常□异常
使用后
□正常□异常
检定/校准地点
□计量室#□现场检定
主标准器证书编号
□长字□长字
1外观和各部分相互作用：
□合格□不合格
2测微螺杆的轴向串动和径向摆动：
3测砧与测微螺杆测量面的相对位移：
4微分筒锥面的端面与固定套管毫米刻线的相对位置：
5数显外径千分尺任意位置时数值漂移：
6测力：
7工作面的平面度：
8两工作面的平行度：
9示值误差：
测量范围（mm）
受检点尺寸（㎜）
□0～25
5.12
10.24
15.36
21.5
25
□25～50
30.12
35.24
40.36
46.5
50
□50～75
55.12
60.24
65.36
71.5
75
□75～100
80.12
85.24
90.36
96.5
100
□大于100
A+5.12
A+10.24
A+15.36
A+21.5
A+25
□测量上限大于150mm
5.12
10.24
15.36
21.5
25
示值误差（μm）
注：
表中A为千分尺的测量下限
7校对用的量杆：
实测值（mm）：
工作面的平行度（μm）：
检定/校准日期：
年月日下次检定/校准日期：
年月日
根据检定结果准予该计量器具使用。
检定/校准员：
核验员：
升级会员 