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半导体ICP题库

ICP考试题库

游游更健康

一,选择题。

ICP刻蚀机的分子泵正常运行时的转速大约在(

A20000

C40000

北微ICP本底真空和漏率指标为(A

A0—0.1mT<1mT/min

C0.3--0.5mT<1.0mT/min

1、

2、

3、

NMC刻蚀机当前SRF时间为(

A50H

)RPM

32000

18000

时,设备能够正常工作

B>2.5mT

D>0.5mT

C)时,要求对设备进行开腔清洁

B100H

4、

5、

6、

7、

C200H

SLRICP托盘、螺丝等清洗标准作业流程(ABC)

A:

用DI水喷淋托盘(底盘和盖子)、耐高温橡皮条(

B:

用N2吹干

C:

螺丝使用一次后清洗;托盘和橡皮条使用三次后清洗;ELEDEICP铝盘、石英盖、密封圈清洗标准作业流程

A.用DI水浸泡石英托盘20min

B.用DI水冲洗一遍

C.用N2吹干

D.用IPA擦拭密封圈

ELEDEICP卸晶片标准操作流程(ABC)

A.用专用螺丝刀把托盘的螺丝拧松,用手拧开,放回固定位置

B.用手轻轻地取出石英盖

C.用专用镊子将晶片夹放到相应的盒子里

CORIALICP卸晶片工艺步骤(ABC)

A.

B.

C.

D2000H

当天全部声波清洗

(ABCD)

<2mT/min

<2.5mT/min

用小起子将铝盖轻轻翘开

移开铝板

用真空吸笔将蚀刻片吸到相应的盒子里

二,填空题。

1.蚀刻好的晶片测得的高度是1.75um底径是2.74um那么需要进行补刻大约

2.蚀刻时一般设置氦气的压力是4Torr当实际压力超过5.2Torr会报警氦漏

3.NMC机台正常工作时分子泵的转速是32000RPM

4.在NMC工作中氮气的作用是吹扫腔体氦气的作用时冷却晶片(托盘)氧气的作用

是清洁腔室三氯化硼的作用是蚀刻晶片

5.1Torr=133Pa

6.清洗晶片时丙酮的作用是清洗

300S

7.曝光使光刻胶有选择性,正胶光照地方,应掉

8.ICP的清洁没有做好会造成晶片死区盲区

9.造成马赛克的因素有晶片的平整度,_

有机物异丙醇的作用是清洗

负胶未被光照地方,光刻胶被显影液反

丙酮

—等缺陷匀胶的均匀性

曝光台的清洁度

 

10.NMC机台连续工作_5小时需要做Dryclean

11.每周五检查冷冻机冷冻液剩余情况,低于第一个金属环时应添加异丙醇

12.当机台闲置2小时以上再生产时,应对机台进行一次预热动作

13.作业过程中,杜绝晶片放错片盒,以工艺记录本的刻号为准

14.

15.

16.

17.

18.

19.

四,问答题:

1.在检测发现有很多的废片如满天星;边不对称;刮花等,试分析一下造成这些废片的原因。

答:

造成满天星的因素可能是1晶片曝光过程中光刻板污染、显影过程中脱胶等,但是刻蚀前没有镜检,2装完片没有进行吹扫有颗粒落在晶片上,3机台长久没有做PM有颗粒掉在晶

片上。

边不对称:

1装片时没有调整好,2盖石英盖时造成晶片移位。

刮花:

1装片调整时镊子刮到晶片,2目检时遗漏了刮花缺陷,3拧螺丝时手指衣袖等

碰到晶片。

2.

在"设置托盘存在状态下”设置腔室的选项为托盘不存123,4,5的位置都设置为托盘不存在然后点击“与系统此时机械手臂上会显示有托盘,其他地方都没有托盘,

NMC机台在进行手动操作时,机台里只有一个托盘,托盘真正的位置在机械手臂上,但是系统显示托盘位置为未知状态,此时该如何操作?

答:

点击手动模式再点击托盘同步,在,机械手臂为托盘存在托盘记录同步”点击“与设备信号同步”这样就可以进行接下来的操作了。

3.

2.5um,要刻出高度约为1.55um的产品,

什么叫做选择比?

如果晶片上光刻胶的厚度是那么理想的选择比应该是多少?

要刻出高度为1.55um

答:

选择比就是蚀刻蓝宝石衬底的速度与蚀刻光刻胶的速度的比值。

的晶片理想的选择比应该是0.62以上

选择比=1.55/2.5=0.62

4.下图是一张简化的NMC机台的工艺配方,描述一下各个参数的含义。

参数

Stable

1

Etch1

Stable

2

Etch2

Stabl

e3

Etch

3

flow

Pressure(mTorr)

3

3

3

3

1.5

1.5

0

SRFPower(W)

0

1900

0

1400

0

1900

0

BRFPower

0

200

0

200

0

700

0

HeliumPressure(Torr)

4

4

4

4

4

4

4

GasBCL3(300sccm)

80

80

80

80

40

40

0

Time(sec)

20

600

10

600

10

450

60

PenvIvPositionDelayTime

0

0

0

0

0

0

1000

SRFReflectPower(W)

50

50

50

50

50

50

50

BRFReflectPower(W)

50

50

50

50

50

50

50

C5SetPoint

40

40

40

40

40

40

40

答:

Pressure(mTonj工艺腔室压力,SRFPower(W)上电极加载功率,BRFPower

下电极加载功率,HeliumPressure(Torr)氦气压力,GasBCL3(300sccm)三氯化硼流量,

Time(sec)蚀刻时间,PenvlvPositionDelayTimePV摆阀位置,SRFReflectPower(W)上电极

反射功率,BRFReflectPower(W)下电极反射功率,C5SetPoint等离子体密度。

5.

简述CORIALICP作业流程图

到晶片表面。

7.简述CORIALICP清洗托盘作业流程图

DIW浸泡石英托盘

9.简述

A.用

B.用

C.用

D.用

CORIALICP托盘清洗标准作业流程

DI水浸泡石英托盘20min;

DI水冲洗一遍;

N2吹干;

IPA擦拭;

E.用真空硅脂涂抹真空密封圈。

10.简述CORIALICP清洗反应室方法及步骤

A.进入状态,选择

B.点击显示步骤,再点击

C.等待结束,反应室处于破真空状态,拧掉反应炉室上反应室;

D.拆下石英细管,先用无尘布蘸上DIW擦洗反应室内壁和石英窗口,再用无尘布蘸上

IPA擦洗。

注意检查下电极上的弹簧圈是否有损坏,如有损坏,请及时更换,最后清洁完后,按照图示安装石英细管;

E.用真空硅脂涂抹真空密封橡皮条,再放置好;

F.在状态,选择,将清零,自动加1;

G.结束后,盖上反应室,拧上螺丝,注意先不用拧紧,点击

mode,,等机台进入vacuumready状态,拧紧反应室上的螺丝.。

简述ELEDEICP作业流程图

”>;

4颗锁紧螺丝,打开

11.

检查N2、BC3、02、He压力,

PCW压力,Chiller温度等

I

系统开机,启动上下位机控制程序

t

打开传输腔室

―r~

放置石英托盘

―r~

抽真空

~T

蚀刻作业

~r

蚀刻结束,卸下晶片

12.

A.

B.

C.

D.

简述ELEDEICP装晶片标准操作流程

用无尘布蘸IPA擦拭铝托盘表面(包括O-ring);用专用镊子将晶片按照一定顺序夹放到托盘的各个位置上(如上图)密封圈为准(除平边),如左下图(不含石英盖)所示;放置石英盖时不能移动晶片,对准定位销将石英盖轻放至托盘上,以边缘均匀盖住密封圈为准(除平边),如右下图(含石英盖)所示;

拧上螺丝(注意不拧紧,避免衣袖、手套碰到晶片表面);

,以边缘均匀盖住

 

E.

F.

G.

H.

13.

I.

2,

3,

4,

5,

14.

用力矩螺丝刀拧内中外圈螺丝,每隔2个拧一次,分2次拧紧,1次检查;

检查一遍晶片是否放好,并用专用吹扫工具吹扫一遍;

用无尘布蘸IPA擦拭铝托盘底部,注意不可将IPA沾到晶片上;

将装载托盘轻放至片盒上。

简述ELEDEICP蚀刻作业操作

打开传输腔室门,将片盒轻放在卡板上,刚好卡住定位销,切忌左右移动片盒;

点击<配方>,打开<工艺配方>,检查所选配方的工艺参数;

点击<片盒配方>,打开所选的片盒配方;若没有要选择的配方,则新建一个;点击<主界面>,查看片盒配方详细信息,确认无误,点击<开始工艺>;待工艺结束后,打开传输腔室门,取出片盒及托盘,卸下晶片;

简述ELEDEICP清洗石英盖、铝盘、螺丝作业流程图

 

15.简述ELEDEICP清洗反应室作业流程图

16.简述ELEDEICP螺丝清洗标准作业流程

A.把螺丝装在小烧杯里,倒入IPA覆盖为宜,超声波振动10min;

B.用N2把螺丝吹干

17.简述ELEDEICP清洗反应室方法及步骤

A.

B.

C.

D.

E.

F.

G

H.

I.

J.

K.

L.

关闭反应室

进入[维护/工艺模块],在[腔室操作]中点击[吹扫],至少吹扫100次;吹扫完毕后,点击[吹大气],进行腔室破真空动作;按照正确的流程打开反应室;

移走反应室零部件(石英盖、密封圈、内衬、压环等);

先用浸有DI水的无尘布擦拭反应室内壁,再用IPA擦拭,直到擦拭的无尘布上看不

到残余物的颜色为止;

按照步骤E擦拭反应室其余每个地方,特别是真空测量孔;手动把升降针升起,用浸有IPA的无尘布擦拭三针;

用浸有IPA的无尘布擦拭卡盘、聚焦环表面;

按照步骤E擦拭其他的部件(内衬、压环等);

安装反应室零部件(石英盖、密封圈、内衬、压环等);

关闭反应室;

恢复反应室状态

18.简述SLRICP作业流程图

抽设备真空

破解预抽室真空”

放置托盘心

裝载托盘*

刻蚀作业存

刻蚀结束,卸下晶片初

19.简述SLRICP装晶片标准操作流程

A:

用打圈圈的方式使橡皮条均匀分布在底盘的各个小槽上;

B:

判断托盘的方向,以中间的区域为标准,若定位横边往下的,则托盘两边的两个小孔分别为左右两孔;

C:

用专用镊子将晶片夹放到托盘的各个位置上,并对准位置;

D:

把螺丝放在盖子的小孔里;

E:

以盖子边缘的一个小孔为左边,对应托盘的左边位置,小心地放在底盘上;

F:

用内六角起子对角地拧螺丝,分两次拧。

第一次拧的程度为7成紧,第二次力度相对

均匀地稍微拧紧;

G:

用专用吹扫工具吹扫已装好片的托盘一遍。

20.

21.

简述SLRICP清洗托盘、螺丝作业流程图

DI水喷淋屮

超声波清洗4

4

N2吹干

N1吹干』

简述SLRICP清洗反应室作业流程图

 

22.

简述SLRICP反应室清洗步骤

 

A:

打开反应室(同时按住2个上升开关——向右推开腔体)

B:

用DI水清洗反应室(包括底座、腔壁、夹具)

C:

用吸尘器吸走遗留的尘埃和水分子

D:

用异丙醇清洗反应室

E:

用真空硅脂涂抹真空密封橡皮条,再用无尘布擦均匀

F:

放置真空密封橡皮条(对角放置——压平整)

G:

关闭反应室(向左推腔体回原位——►同时按住2个下降开关)

23.简述本工站的详细工作流程、操作规范及注意事项。

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