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3.一般要求

3.1射线检测人员必须经过技术培训,按《特种设备无损检测人员考核与监督管理规则》考

核并取得与其工作相适应的资格证书。

3.1.1检测人员应每年检查一次视力,校正视力≮1.0。

评片人员还应辨别出400mm距离处

高0.5mm、间距0.5mm的一组印刷字母。

3.2辐射防护

射线防护应符合GB18871、GB16357的有关规定。

3.3胶片和增感屏

3.3.1胶片:

在满足灵敏度要求的情况下,一般X射线选用T3或T2型胶片。

3.3.2增感屏:

采用前屏为0.03mm、后屏为0.03~0.10mm的铅箔增感屏。

.

3.3.3胶片和增感屏在透照过程中应始终紧密接触。

3.4象质计

3.4.1底片影像质量采用Fe线型像质计测定。

其型号和规格应符合JB/T7902的规定。

象质计型号一般按下表4选定。

但对透照外径≤100mm钢管环缝时采用JB/T4730附录F的专用象质计。

3.4.2底片的象质计灵敏度选用

按透照厚度及不同的透照方法选择表1至表3中要求达到的象质丝号。

3.4.3透照厚度W:

射线照射方向上材料的公称厚度。

多层透照时,透照厚度为通过的各层材料公称厚度之和。

焊缝两侧母材厚度不同时,以薄板计。

表1 

象质计灵敏度值-单壁透照、象质计置于源側(AB级)

公称厚度(T)范围、mm

应识别丝号

丝径(mm)

3.5~5

15

0.125

>5~7

14

0.16

>7~10

13

0.20

>10~15

12

0.25

>15~25

11

0.32

>25~32

10

0.40

表2 

象质计灵敏度值-双壁双影透照、象质计置于源側(AB级)

透照厚度(W)范围、mm

3.0~4.5

>4.5~7

>7~11

>11~15

>15~22

>22~32

表3 

象质计灵敏度值-双壁单影或双壁双影透照、象质计置于胶片側(AB级)

3.5~5.5

>5.5~11

>11~17

>17~26

>26~39

表 

4

象质计型号

10/16

6/12

1/7

透照厚度W(mm)

≤16

>16~80

>80~250

3.4.4象质计的使用

象质计一般应放在工件源侧表面焊接接头的一端(在被检区长度的1/4左右位置),金属丝应横跨焊缝,细丝置于外侧。

当一张胶片上同时透照多条焊接接头时,象质计应放置在透照区最边缘焊缝处。

3.4.5透照外径≤100mm小径管焊缝时可选用通用线型象质计或JB/T4730附录F的专用象质计,金属丝应横跨焊缝放置。

3.4.6当射线源置于圆心位置对焊缝做周向曝光时,每隔90度放一个。

若透照区为抽查或返修复照,则每张底片上应有象质计显示。

若同时还透照纵焊缝,则纵缝透照区的远端也应有象质计显示。

3.4.7象质计置于胶片侧时,应在象质计上适当位置放置铅字“F”标记。

3.5散射线屏蔽

背部散射线及无用射线应采用常规方法屏蔽。

为验证背部散射线的影响,在每个暗盒背向工件侧贴一个“B”铅字标记(高13mm厚度1.6mm)。

若在底片的黑色背影上出现B的较淡影象,就说明背散射防护不良,应予重照。

但若较淡背影上出现较黑的影象,则不作为底片质量判废依据。

3.6标记

 

透照部位标记由定位标记和识别标记构成。

3.6.1定位标记

焊缝透照定位标记包括搭接标记和中心标记。

局部检测时搭接标记称为有效区段标记。

当铅质标记用数字表示时,可不用中心标记。

3.6.2识别标记

识别标记包括产品编号、焊缝编号、底片编号和透照日期。

返修部分还应有返修标记R1,R2…..(其数码表示返修次数)

3.6.3标记位置

标记一般应放置在距焊缝边缘至少5mm以外,所有标记影像不应重叠,且不应干扰有效评定范围内的影像。

3.6.4搭接标记除中心全景曝光外,一般放于射线源侧的工件表面上,但对于曲面工件环缝,且焦距大于曲率半径时,必须放于胶片侧。

3.6.5透照(余高磨平)封头拼缝时应在焊缝两侧放置定位标记,以利于焊缝定位

定位标记

3.7观片灯和评片要求

3.7.1观片灯

观片灯的亮度至少应能观察最大黑度为4.0的底片,且观片窗口的漫射光亮度可调,并备有遮光板,对不需观察或透光量过强部分屏蔽。

3.7.2评片要求

评片应在评片室进行。

评片室应整洁,安静,温度适宜,光线应暗且柔和。

3.7.3评片人员在评片前应经历一定的暗适应时间。

底片评定范围为焊缝及两恻5mm宽的区域。

3.8黑度计

采用TD-210型黑度计和仪器自带的黑度片。

黑度计误差应大小不超过0.05mm。

3.9表面要求和射线检测时机

3.9.1检测前对接焊接接头的表面应经外观检测并合格。

表面的不规则状态应不不掩盖或干扰缺陷影象,否则应对表面作适当修整。

3.9.2射线检测应在焊后进行。

对有延迟裂纹倾向的材料,至少应在焊后24小时方可检测。

4.检测技术

4.1透照布置,透照方式

容器局部检测部位应优先选择焊缝交叉部位以及开孔区将被其他元件覆盖的焊缝,拼接封头,拼接管板,拼接补强圈的对接焊缝。

应根据工件特点和技术条件的要求选择适宜的透照方式。

在可实施的情况下应选用单壁透照方式,当单壁透照不可实施时方可采用双壁透照方式。

4.1.1小径管环向对接焊接接头的透照布置及透照次数按JB/T4730.2-4.1.4和4.1.5条规定。

4.1.2周向曝光

源置于圆筒形容器环焊缝的中心,一次曝光检测整条环焊缝,焦距F为D/2+2(mm),当胶片长300mm时,L3或Leff选用260mm。

4.1.3透照方向

透照时射线束中心应垂直指向透照区中心,需要时也可选用有利于发现缺陷的方向透照。

4.1.4一次透照长度

一次透照长度应以透照厚度比K进行控制。

AB级检测技术纵向对接焊接接头K≤1.03,环向对接焊接接头K≤1.1。

整条环向对接焊接接头所需的透照次数可参照 

JB/T4730.2附录D的曲线图确定

4.1.5射线源至工件表面的最小距离F≥10d×

b2/3或按JB/T4730.2-4.3条规定选用。

4.2曝光条件

4.2.1应根据每台X光机、胶片和增感屏制作曝光曲线表,以此作为曝光范围,曝光量一般应≥15mA.min。

4.2.2射线能量的选择

X射线机允许使用的最高管电压应符合JB/T4730.2-4.2.1条的要求

4.3胶片处理

按胶片使用说明书的规定、采用手工冲洗。

4.4底片的质量 

4.4.1底片上,定位和识别标记影像应显示完整、位置正确,且不得掩盖受检焊缝的影像。

4.4.2底片评定范围内的黑度D:

2.0≤D≤4.0。

4.4.3透照小径管或其他截面厚度变化大的工件时,AB级最低黑度允许降至1.5。

4.4.4底片上的象质计灵敏度应符合有关规定。

4.4.5底片上黑度均匀部位(邻近焊缝的母材金属区)应能清晰看到所要求的金属丝影像,且长度不小于10mm。

专用像质计至少应能识别二根金属丝。

4.4.6底片有效评定区域内不得有胶片处理不当或其它妨碍底片准确评定的伪缺影像。

4.5质量分级

4.5.1根据对接焊接接头中存在缺陷的性质、数量和密集程度,其质量分为Ⅰ、Ⅱ、Ⅲ、Ⅳ级。

4.5.1.1Ⅰ级对接焊接接头内不允许存在裂纹、未熔合、和未焊透。

4.5.1.2Ⅱ级、Ⅲ级对接焊接接头内不允许存在裂纹、未焊透和未熔合。

4.5.1.3对接焊接接头中缺陷超Ⅲ级者为Ⅳ级。

4.5.2圆形缺陷的质量分级

圆形缺陷用圆形缺陷评定区进行质量分级评定,圆形缺陷评定区为一个与焊缝平行的矩形,其尺寸见表5。

圆形缺陷评定区应选在缺陷最严重的区域。

4.5.3长宽比小于等于3的气孔、夹渣、夹钨等缺陷定义为圆形缺陷,它可以是圆形、椭圆型、锥型或带尾巴等不规划形状。

4.5.4在圆形缺陷评定区内或于圆形缺陷评定区边界线相割的缺陷均应划入评定区内。

将评定区内的陷按表6换算成点数,按表7的规定评定对接焊接接头的质量级别。

表5 

缺陷评定区

母材公称厚度T

≤25

>25~100

评定区尺寸

10×

20

表6 

缺陷点数换算表

缺陷长径(mm)

≤1

>1~2

>2~3

>3~4

>4~6

>6~8

>8

缺陷点数

1

2

3

6

25

表7 

各级别允许的圆形缺陷点数

评定区(mm×

mm)

≤10

>25~50

>50~100

Ⅰ级

5

Ⅱ级

9

Ⅲ级

18

24

30

Ⅳ级

缺陷点数大于Ⅲ级者或缺陷长径大于T/2

注:

当母材公称厚度不同时,取较薄板的厚度。

4.5.5当缺陷的尺寸小于表8的规定时,分级评定时不计该缺陷点数。

质量等级为Ⅰ级的对接焊接接头和母材公称厚度T≤5mm的Ⅱ级对接焊接接头,不计点数的缺陷在圆形缺陷评定区内不得多于10个,超过时对接焊接接头质量等级应降低一级。

表8 

不计点数的缺陷尺寸

缺陷长径

≤0.5

≤0.7

4.5.6条形缺陷的质量分级

长宽比大于3的气孔、夹渣、夹钨等缺陷定义为条形缺陷,条形缺陷按表9的规定进行分级评定。

表9 

条形缺陷的分级

级别

单个条形缺陷最大长度

一组条形缺陷累计最大长度

≤T/3(最小可为4mm)且≤20

在长度为12T的任意选定条形缺陷评定区内,相邻缺陷间距不超过6L的任一组条形缺陷的累计长度应不超过T,但最小可为4

≤2T/3(最小可为6mm)且≤30

在长度为6T的任意选定条形缺陷评定区内,相邻缺陷间距不超过3L的任一组条形缺陷的累计长度应不超过T,但最小可为6

大于Ⅲ级者

注1:

L为该组条形缺陷中最长缺陷本身的长度;

T为母材公称厚度,当母材公称厚度不同时取较薄值。

注2:

条形缺陷评定区是指与焊缝方向平行的、具有一定宽度的矩形区,T≤25mm,宽度为4mm;

25mm<T≤100mm,宽度为6mm。

注3:

当两个或两个以上条形缺陷处于同一直线上、且相邻缺陷的间距小于或等于较短缺陷长度时,应作为1个缺陷处理,其间距也应计入缺陷长度之中。

4.6综合评级

4.6.1在圆形缺陷评定区内同时存在圆形缺陷和条形缺陷时,应进行综合评级。

4.6.2综合评级的级别如下确定:

对圆形缺陷和条形缺陷分别评定级别,将两者级别之和减

一作为综合评级的质量级别。

4.6.3承压设备管子及压力管道熔化焊环向对接焊接接头按JB/T4730.2/6.1~6.1.9条射线检测质量分级评定。

4.7射线检测记录、报告和资料存档

4.7.1射线检测记录

射线检测现场原始记录及检测位置图由Ⅰ、Ⅱ级检测人员按规定填写并签字认可。

4.7.2底片评定记录由Ⅱ级人员初评、复评并签字认可。

4.7.3射线检测报告 

射线检测报告应准确、完整,并经Ⅱ级以上相应责任人员签字认可。

4.7.4射线检测报告资料和底片由档案室存档,至少保存7年。

7年后,若用户需要可转交用户保管

超声波检测通用工艺规程

1.主要内容与适用范围

本规程规定了焊缝超声检测人员具备的资格、仪器、探头、试块、检测技术方法和质量分级等。

本规程适用于本公司生产的厚度为6mm~30mm钢制承压设备全熔化焊的超声检测。

不适用于铸钢及奥氏体钢焊缝,外径小于159mm的钢管对接焊缝,内径小于或等于250mm或内外径之比小于80%的纵向焊缝检测。

本规程按JB4730的要求编写,符合《容规》和GB150等要求。

检测工艺卡是本规程的补充,由Ⅱ级人员按本规程等要求编制,其检测参数规定的更具体。

JB/T4730-2005《承压设备无损检测》

JB/T9214-1999《A型脉冲反射式超声波探伤系统工作性能测试方法》

JB/T10061-1999《A型脉冲反射式超声波探伤仪通用技术条件》

JB/T10062-1999《超声探伤用探头性能测试方法》

3.检测人员

3.1检测人员必须经过培训,按《特种设备无损检测人员考核与监督管理规则》的要求。

经理论和实践考试合格,取得相应等级资格证书的人员担任。

3.1.1检测人员每年应检查一次身体,其矫正视力不低于1.0。

4.探伤仪、探头和试块

4.1探伤仪

采用A型脉冲反射式超声波探伤仪器,其工作频率范围为0.5MHz~10MHz,仪器至少在荧光屏满刻度的80%范围内呈线性显示。

仪器应具有80dB以上的可调衰减器,步进级每档不大于2Db,其精度为任意相邻12dB的误差在±

1dB以内,最大累计误差不超过1dB.。

水平线性误差不大于1%,垂直线性误差不大于5%。

4.2探头

4.2.1晶片面积一般不应超过500mm2,且任意一边长原则上不大于25mm。

4.2.2单斜探头声束轴线水平偏离角不应大于2度,主声束垂直方向不应有明显的双峰。

4.3仪器和探头的系统性能

4.3.1在达到所检工件的最大检测声程时,其灵敏度余量应≥10dB。

4.3.2直探头的远场分辨力应大于或等于30dB,斜探头的远场分辨力应大于或等于6dB。

4.3.3仪器和探头的系统性能应按JB/T9214和JB/T10062的规定进行测试。

4.4超声检测的一般方法

4.4.1扫查覆盖率

检测时探头的每次扫查覆盖率应大于探头直径的15%。

4.4.2探头的移动速度

探头的扫查速度不应超过150mm/S。

当采用自动报警装置扫查时,不受此限。

4.4.3扫查灵敏度

扫查灵敏度不得低于基准灵敏度。

4.4.4采用机油、浆糊、甘油和水等透声性好,且不损伤检测表面的耦合剂。

4.4.5检测准备

4.4.5.1所确定检测面应保证工件被检部分均能得到充分检查。

4.4.5.2焊缝的表面质量应经外观检查合格。

所有影响超声检测的锈蚀、飞溅和污物等都应予以清除,其表面粗糙度应符合检测要求,否则应做适当的处理。

4.5系统校准和复核

4.5.1校准应在标准试块上进行,校准中应使超声主声束垂直对准反射体的反射面,以获得稳定和最大的反射信号。

4.5.2仪器校准

每隔三个月至少应对仪器的水平线性和垂直线性进行一次测定。

测定方法按JB/T10061的规定

4.5.3新购探头测定

新探头开始使用前应对探头进行前沿距离、K值、主声束偏离、灵敏度余量和分辨力等主要参数的测定。

测定方法按JB/T10062的有关规定进行,并满足其要求。

4.6仪器和探头系统的复核

每次检测前均应对扫描线、灵敏度进行复核,遇到下属情况应随时对其进行重新核查:

4.6.1校准后的探头、耦合剂和仪器调节旋钮发生改变时;

4.6.2检测人员怀疑扫描量程或灵敏度有变化时;

4.6.3连续工作4小时以上时;

4.6.4工作结束时。

4.7工作结束前仪器和探头系统的复核

4.7.1每次检测结束前,应对扫描量程进行复核。

如果任意一点在扫描上的偏移超过扫描读数的10%,则扫描量程应予以修正,并对上一次复核以来所有的检测部位进行复检。

4.7.2每次检测结束前,应对扫查灵敏度进行复核。

对距离一波幅曲线的校核应不少于3点。

如曲线上任何一点幅度下降2dB,则应对上一次以来所有的检测结果进行复核,如幅度上升2dB,则应对所有的记录信号进行重新评定。

4.8超声检测技术等级选择

超声检测技术等级分为A、B、C三个等级。

一般选择B级或按设计图样规定。

4.9试块

4.9.1试块应采用与被检工件相同或相近似声学性能的材料制成,该材料用直探头检测时,不得有大于φ2mm平底孔当量直径的缺陷。

4.9.2采用标准试块为CSK-ⅠA、CSK-ⅡA、CSK-ⅢA。

其形状和尺寸应分别符合标准要求。

4.9.3检测曲面工件进行检测,如检测面曲率半径R小于或等于W2/4时(W为探头接触面宽度,环焊缝检测时为探头宽度,纵焊缝检测时为探头长度),应采用与检测面曲率相同的对比试块。

5.检测面

5.1当检测母材厚度小于46mm承压设备焊缝时,一般采用一种K值探头,利用一次反射法在焊缝的单面双侧对整个焊接接头进行检测。

5.2检测区域的宽度是焊缝本身,再加上焊缝两侧各相当于母材厚度的30%的一段区域,这个区域最小为5mm,最大为10mm。

5.3探头移动区应清除焊接飞溅、铁屑、油垢及其它杂质。

检测表面应平整,便于探头的扫查,其表面粗糙度Ra值应小于6.3μm,一般应进行打磨。

5.4采用一次反射法检测时,探头移动区应不小于1.25P;

P=2TK 

式中;

P—跨距,mm 

T—母材厚度,mm 

K—探头K值

5.5采用直射法检测时,探头移动区应不小于0.75P。

5.6探头K值(角度)

斜探头的K值(角度)选取可参照表1的规定。

条件允许时,应量采用较大K值探头。

表1 

推荐采用的斜探头K值

板厚T,mm

K值

6~25

3.0~2.0

>

25~46

2.5~1.5

6.距离—波幅曲线的绘制

6.1距离—波幅曲线按所用探头和仪器在试块上实测的数据绘制而成,该曲线族由评定线、定量线、和判废线组成。

评定线与定量线之间(包括评定线)为Ⅰ区,定量线与判废线之间(包适定量线)为Ⅱ区,判废线及其以上区域为Ⅲ区。

6.2距离—波幅曲线的灵敏度选择

6.2.1壁厚为6~46mm的焊缝,其距离—波幅曲线灵敏度按表2的规定。

6.2.2检测横向缺陷时,应将各线灵敏度均提高6dB

6.2.3检测面曲率半径R小于或等于W2/4时,距离—波幅曲线的绘制应在与检测面曲率相同的对比试块上进行。

6.2.4工件的表面耦合损失和材质衰减应与试块相同。

6.2.5扫查灵敏度不低于最大声程处的评定线灵敏度。

表2 

距离—波幅曲线的灵敏度

试块型式

板厚mm

评定线

定量线

判废线

CSK-ⅡA

6~46

φ2χ40-18dB

φ2χ40-12dB

φ2χ40-4dB

CSK-ⅢA

8~15

φ1χ6-12dB

φ1χ6-6dB

φ1χ6+2dB

15~46

φ1χ6-9dB

φ1χ6-3dB

φ1χ6+5dB

7.检测方法

7.1平板对接焊缝的检测

7.1.1为检测纵向缺陷,用一种K值探头采用直射波法和一次反射波法在焊缝的单面双侧进行检测。

斜探头应垂直于焊缝中心线放置在检测面上,作锯齿型扫查,探头前后移动的范围应保证扫查到全部焊缝截面,在保持探头垂直焊缝作前后移动的同时,还应作10°

~15°

左右转动.

7.1.2应进行横向缺陷的检测。

检测时,可在焊缝两侧边缘使探头与焊缝中心成10°

~20°

作斜平行扫查。

如焊缝余高磨平,可将探头放在焊缝及热影响区上作两个方向的平行扫查。

7.1.3为确定缺陷的位置、方向和形状,观察缺陷动态波形的区分缺陷信号或伪缺陷信号,可采用前后、左右、转角、环绕等四种探头基本扫查方式。

7.2曲面工件(直径小于或等于500mm)对接焊缝的检测

7.2.1检测面为曲面时,可尽量按平板对接焊缝的检测方法

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