南京大学近代物理实验X荧光分析Word格式文档下载.docx
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另外还可能存在几率较低，主量子数相同，角量子数不同，亚壳层间电子的Coster-Kronig非辐射跃迁。
测出特征X射线能谱，即可确定所测样品中元素种类和含量。
当原子中K层电子被击出后，L层或M层的电子填补K层电子空位，同时一定几率发射特征X射线。
L→K产生的X射线叫K?
?
系，L层有三个子壳层，允许跃迁使K?
系有两条谱线K?
1和K?
2。
M→K产生的X射线叫Kβ系，M层有五个字壳层，允许跃迁使K?
有K?
1，K?
3，K?
5三条谱线。
当原子中L层电子被击出后，M→L跃迁产生的X射线叫L系。
图1是特征X射线系与电子跃迁能级示意图。
1
图1特征X射线系-跃迁能级示意图
特征X射线的能量为两壳层电子结合能之差，即
?
=?
?
?
所有元素的K，L系特征X射线能量在几千电子伏到几十千电子伏之间。
X荧光分析中激发X射线的方式一般有三种：
（1）用质子、α粒子或其他离子激发；
（2）用电子激发；
（3）用X射线或低能γ射线激发。
用质子激发特征X射线的分析技术（常记为PIXE）是几种激发方式中分析灵敏度最高的，相对灵敏度达10?
6~10?
7?
/?
，绝对灵敏度可达10?
9~10?
16?
，而且可以将质子束聚焦、扫描，对样品作微区分析。
用电子束激发（常记为EIX），目前主要用在扫描电镜与电子探针中。
与PIXE相比，电子激发引起的韧致辐射本底比质子激发大，影响分析灵敏度。
一般灵敏度比PIXE低2~3个数量级。
另外这种激发方式不能在空气中进行，只适用于薄样品。
用X射线或低能γ射线激发（记为XIX），常用X光管，放射性同位素作为激发源。
这类激发用射线不易聚焦；
分析灵敏度亦稍低，相对灵敏度一般为10?
5~10?
6?
，绝对灵敏度约为10?
7~10?
8?
，低于PIXE的灵敏度。
轻便型仪器常用放射性同位素和X光管作激发源。
可选用的同位素源主要有激发出的Fe，238Pu，109Cd，241Am，57Co，153Gd等。
其中238Pu在α衰变后发出的234U的LX射线，其能量为11.6keV~21.7keV，能谱如图2所示。
238Pu的半衰期为87.7年，用得比较多。
55
2
图2238Pu源的X射线能谱
X光管是通过加热阴极K发出的热电子在阴、阳极间高压电场加速下，轰击阳极A（常称阳极靶）产生X射线的。
图3是比较典型的X光管（钨靶）产生的X射线谱;
它由连续谱和特征谱组成。
特征谱决定于靶材，其生成机理如前述。
连续谱产生机理如图4所示。
高速电子打入阳极靶，被靶中原子核的库仑场减速，发出韧致辐射。
原子核的质量远大于电子质量，此过程中原子核的动能可忽略，因此，韧致辐射发出的光子能量hv应等于电子动能的减少，即，
图3X光管激发的X射线谱图4连续谱产生机理示意图
当电子动能减少到0时，发出的光子能量最大，相应频率最高，波长最短
由上式可知，连续谱有与加速高压成反比的短波限?
0，它与靶材和光管电流均无关。
测出短波限，也可以推算出普朗克常数h。
在频率不太高时，连续谱的强度近似为?
=常数?
Z（?
0?
），辐射的空间分布象偶极振子的辐射分布。
频率高时偏前向。
连续谱的强度分布与X光管阳极与阴极间电压?
，光管电流?
和靶元素的原子序数?
有关，其关系为?
0=?
∝?
2，连续谱最大强度对应的波长?
约为短波限?
0的1.5倍（?
≈1.5?
0）。
特征X射线强度，当X光管靶材一定后，与管电压V和管电流i的关系为I∝（V?
0）?
，其中V0为激发电势，它对应于激发某线系所需的最低能量。
当V是V0的2~3倍时，n≈2，当V&
gt;
3V0时，n≈1。
XIX技术中，人射光子除与样品中原子发生光电作用产生内壳层空位外，还可以发生相干散射和非相干散射（康普顿散射），这些散射光子进入探测器，形成XIX分析中的散射本底。
另外，样品中激发出的光电子又会产生轫致辐射，但这产生的本底比散射光子本底小得多，且巨能量也较低，一般在3?
以下。
所以XIX能谱特征是：
特征X射线峰叠加在散射光子峰之间的平坦的连续本底谱上。
如图5能谱示意图所示。
a峰是相干散射光子峰，b是康普顿散射光子峰，c是特征X射线峰，d
是3
散射光子在探测器中的康普顿边缘。
测量特征X射线常用Si（Li）探测器，它的能量分辨率高，适用于多元素同时分析，也可选用Ge（Li）或高纯Ge探测器，但均价格昂贵。
另外还有电致冷Si?
PIN，CdTe，HgIz等探测器在某些特定仪器中使用。
图5光子激发的特征X射线能谱示意图（假定样品基体由轻元素组成）
在X荧光分析中，对于轻元素（一般指Z&
lt;
45的元素）通常测其KX射线，对于重元素（Z&
45的元素），因其KX射线能量较高且比LX射线强度弱，常测其LX射线，这样测量的特征X射线能量一般在20?
正比计数管在此能量范围，探测效率较高，其能量分辨率虽比Si（Li）探测器差，但远好于NaI（Tl）闪烁探测器，质量好的正比管5.89keV处分辨率优于14%，能满足一般实验的需要。
用正比计数管作探测器的X荧光分析系统如图6所示。
为防止探测系统中脉冲叠加，除适当选择放射源强度外，前置放大器和主放大器要有抗堆积措施。
多道分析器适宜作多元素同时分析，数据可由计算机获取和处理。
图6XIX装置示意图
三、实验仪器
XIXX荧光分析仪、分别含各种元素的材料若干。
四、实验步骤
1、X荧光分析仪的能量、效率刻度
仪器在实测样品前需要作能量和效率标定。
常用的方法有两种：
（1）用标准X射线源进行校刻。
即用一组射线能量和强度已知的源，探测器对其张一固定立体角，
在固定时间内测出对应能量的X射线峰和计数，作出能量效率校正曲线。
常用的校刻标准源及其?
X射线能量是54Mn5.41keV、55Fe5.90keV、57Co6.4keV、65Zn8.05keV、85Sr13.39、88Y14.16keV、57
Co（14.4keV）4
。
（2）用标准样品进行校刻。
可以选一组特征X射线峰相隔较远，峰不重叠的元素，以不同的相对含量制成一组样品，在与测试样品相同的几何条件下，测出各元素的特征X射线峰所在的道址和相应的计数。
由特征X射线能量数据表查出标样中各元素特征X射线的能量，作出能量一道址曲线和相对含量—特征峰强度曲线。
本实验采用的是方法二。
2、莫塞莱定律的应用
1913年，莫塞莱（H.G.J.Moseley）从实验结果发现元素的同系特征X射线的频率?
与原子序数Z有如下关系：
（Z?
σ）
其中Z?
σ是多电子原子中，“指定电子”受到原子核与其余电子合作用的“有效核电荷”，σ是实验得出的经验常数，称为屏蔽常数。
图7是K系、L系特征X射线的Moseley图。
图7Moseley图
对于多电子原子、特征X射线能量等于跃迁电子初、终态壳层能量差，即
11E=?
2（?
用数种单元素样品，测出它们的特征X射线能量，画出Moseley图，从实验上得出对应线系的屏蔽常数?
，推算出里德堡常数R。
由元素特征X射线相应谱线在Moseley图上的位置，可以识别出该元素，即定出它的原子序数Z。
这是历史上第一个直接测定元素原子序数的方法，这也是特征X射线谱，被称为元素标示谱的原因。
五、数据处理
1.X荧光分析仪的能量、效率标定
本实验采用实验内容中第二种校刻方法。
由于K?
2，L?
1和L?
2，?
2的能量非常接近，为统一标准均取K?
1、L?
1或?
1线系能量。
对已知材料进行测量，记录已知材料谱线峰值对应的道址，查表得出对应的线系和能量，所得数据如表1：
5
表1
选取表1中前五种已知元素的数据来进行定标，作出散点图如图8所示：
图8
用origin软件对散点图进行线性拟合，所得结果如图9所示：
6
图9
从图9可以看出：
（1）线性相关系数R=99.97%，非常接近1，说明拟合度很好，本次测量的误差较小；
（2）直线的斜率为0.0429，截距为0.3693，故能量E与道址N之间的关系表达式为
E?
（0.0429N?
0.3693）keV
2.利用莫塞莱定律确定屏蔽常数以及里德堡常数
莫塞莱发现元素的同系特征X射线频率?
与原子序数Z关系为：
常数?
Z?
其中σ为屏蔽常数，Z为原子序数。
特征X射线能量等于跃迁电子初末态壳层能量差：
E?
Rhc?
2?
11?
n2?
fni?
即：
7
=A?
对于K?
线系，nf?
1，ni?
2可利用Fe、Cu、Zn、Y、Mo的能量和原子序数（表2）拟合直线来求出A和?
。
表2
拟合得到的图线如图10所示：
图10
拟合得到的公式为
8
12
1.30461Z?
1.93312?
10J=1.30461（Z?
1.48176）?
10J
9
因此屏蔽常数?
1.48，里德伯常数R=1.1424?
10m。
3.推断未知材料的元素组分
7?
1
（0.0429N?
0.3693）
keV和莫塞莱关系式由能量-道址关系式E?
1.30461（Z?
10J可以计算出其他物品X荧光分析谱线峰值的能量和主要原子
序数，如表3所示：
六、误差分析
本实验的误差主要来源于以下几个方面：
1．实验所用样品纯度不够高。
实验所用的铁块或者铜片并不是纯的铁或铜，或多或少会掺有一些杂质，所以对测量结果有一定的影响。
2．取样点不够多。
实验中峰值的出现是许多测量数据累加的结果，所以如果取样点比较少，则会造成峰值参数不够准确，在实验过程中如果耐心地等计算机取样，则可以减小这一误差。
3．道址不够精密。
我们所用的仪器道址有几百个，而且是离散的点，如果能够把道址的数量增多，那么就能减小离散取样所造成的误差。
4．道址的读数有一定的主观随意性。
实验中发现在峰值处对道址的读数可以有很多选择，因为数据点比较密集，所以我们用肉眼很难分辨哪一个数据更接近峰值，所以对道址的读数的随意选择就造成了一定的误差。
5．实验过程中并未记录一些峰值较小的峰的数据，这是因为较小的峰的测量误差本身较大，若要进行能量-道址曲线拟合会产生较大的误差，所以实验中只考虑了图形上的主峰。
七、思考题
1.测量样品与标准样品计数率相差很大，对测量有何影响？
答：
测量样品与标准样品计数率相差很大对实验没有影响。
因为无论是定标还是样品中成分测量都是关于多道分析仪道址与能量的关系，与计数率无关。
只有在未知样品中不同元素相对含量的计算
9
中才用到计数率，但与标准样品中计数率无关。
2.液体样品可以用X荧光分析测其成分吗？
用何方法，要注意什么？
液体样品可以用X荧光分析测其成分。
可以选用适当的容器盛放液体，为了减小容器对测量的影响，必须选取适当的材料，比如轻元素或有机材料，因为轻元素的各个能级间的跃迁能量较小，可以忽略其激发的特征X谱线。
也可以首先测定容器的成分，记录特征峰的位置，然后将样品置于容器中测量分析其成分，得到容器和液体样品共同的测量结果。
将两者进行比较即可确定液体的成分，但是要注意容器的厚度要小，否则会影响测量。
参考文献
[1]黄润生，沙振舜，唐涛等，近代物理实验（第二版），南京大学出版社，2008.
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