DEBUG灯常见错误代码含义如下.docx

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DEBUG灯常见错误代码含义如下

常见的错误代码含义如下：

1、“C1”内存读写测试，若是内存没有插上，或频率太高，会被BIOS以为没有内存条，那么POST就会停留在“C1”处。

2、“0D”表示显卡没有插好或没有显卡，现在，蜂鸣器也会发出嘟嘟声。

3、“2B”测试磁盘驱动器，软驱或硬盘操纵器显现问题，都会显示“2B”。

4、“FF”表示对所有配件的一切检测都通过了。

但如果是一开机就显示“FF”，这并非表示系统正常，而是主板的BIOS显现了故障。

致使的缘故可能有：

CPU没插好，CPU核心电压没调好、CPU频率太高、主板有问题等。

实战DEBUG灯——AwardBIOS篇]

DEBUG灯的利用也很简单，下面针对几种常见的故障代码和大伙儿讨论一下解决问题的方式。

需说明的是，目前市场上的主板绝大部份利用的是AWARDBIOS或AMIBIOS，由于目前DEBUG灯事实上是挪用了主板BIOS的自检进程，因此主板BIOS程序的不同，DEBUG灯显示的代码也不同，解决问题的方式也不可一概而论。

因此咱们也将分两个部份讨论。

以下的说明中将选择最常见的故障代码及解决方法，至于其他更详细的代码含义，请读者参考DEBUG灯的说明手册。

1.AwardBIOS篇错误代码：

00（FF）代码含义：

主板没有正常自检解决方法：

这种故障较麻烦，原因可能是主板或CPU没有正常工作。

一般遇到这种情况，可首先将电脑上除CPU外的所有部件全部取下，并检查主板电压、倍频和外频设置是否正确，然后再对CMOS进行放电处理，再开机检测故障是否排除。

如故障依旧，还可将CPU从主板上的插座上取下，仔细清理插座及其周围的灰尘，然后再将CPU安装好，并加以一定的压力，保证CPU与插座接触紧密，再将散热片安装妥当，然后开机测试。

如果故障依旧，则建议更换CPU测试。

另外，主板BIOS损坏也可造成这种现象，必要时可刷新主板BIOS后再试。

错误代码：

01代码含义：

处理器测试解决方法：

说明CPU本身没有通过测试，这时应检查CPU相关设备。

如对CPU进行过超频，请将CPU的频率还原至默认频率，并检查CPU电压、外频和倍频是否设置正确。

如一切正常故障依旧，则可更换CPU再试。

错误代码：

C1至C5代码含义：

内存自检解决方法：

较常见的故障现象，它一般表示系统中的内存存在故障。

要解决这类故障，可首先对内存实行除尘、清洁等工作再进行测试。

如问题依旧，可尝试用柔软的橡皮擦清洁金手指部分，直到金手指重新出现金属光泽为止，然后清理掉内存槽里的杂物，并检查内存槽内的金属弹片是否有变形、断裂或氧化生锈现象。

开机测试后如故障依旧，可更换内存再试。

如有多条内存，可使用替换法查找故障所在。

错误代码：

0D代码含义：

视频通道测试解决方法：

这也是一种较常见的故障现象，它一般表示显卡检测未通过。

这时应检查显卡与主板的连接是否正常，如发现显卡松动等现象，应及时将其重新插入插槽中。

如显卡与主板的接触没有问题，则可取下显卡清理其上的灰尘，并清洁显卡的金手指部份，再插到主板上测试。

如故障依旧，则可更换显卡测试。

一样系统启动过0D后，就已将显示信号传输至显示器，现在显示器的指示灯变绿，然后DEBUG灯继续跳至31，显示器开始显示自检信息，这时就可通过显示器上的相关信息判定电脑故障了

[实战DEBUG灯——AMIBIOS篇]错误代码：

00（或FF）代码含义：

主板没有正常自检解决方法：

（同AwardBIOS篇相同故障代码）错误代码：

01代码含义：

处理器寄存器测试解决方法：

（同AwardBIOS篇相同故障代码）错误代码：

0D至0F代码含义：

CMOS停开寄存器读/写测试解决方法：

检查CMOS芯片、电池及周围电路部分，可先更换CMOS电池，再用小棉球蘸无水酒精清洗CMOS的引脚及其电路部分，然后看开机检查问题是否解决。

错误代码：

12、13、2B、2C、2D、2E、2F、30、31、32、33、34、35、36、37、38、39、3A代码含义：

测试显卡解决方法：

该故障在AMIBIOS中较常见，可检查显卡的视频接口电路、主芯片、显存是否因灰尘过多而无法工作，必要时可更换显卡检查故障是否解决。

错误代码：

1A、1B、20、21、22代码含义：

存储器测试解决方法：

同AwardBIOS篇内存故障的解决方法。

注意事项：

如在BIOS设置中设置为不提示出错，则当遇到非致命性故障时，诊断卡不会停下来显示故障代码，解决方法是在BIOS设置中设置为提示所有错误之后再开机，然后再根据DEBUG灯所显示的代码来诊断。

机器出了故障，即使电话求助于高人，那也要想法先把问题说清楚，但对于大多数用户来说，他们都不知道该如何描述故障，是更本不通电？

通电不开机？

还是开机后报警器响个不停？

这时候我们就要靠DEBUG灯来进行诊断。

[主板/诊断卡Debug灯代码解析0x段]

适合AwardBIOSAmiBIOSPhoenixBIOS或Tandy3000BIOS00：

已显示系统的配置；即将控制INI19引导装入。

01：

处理器测试1，处理器状态核实,如果测试失败，循环是无限的。

处理器寄存器的测试即将开始，不可屏蔽中断即将停用。

CPU寄存器测试正在进行或者失败。

02：

确定诊断的类型（正常或者制造）。

如果键盘缓冲器含有数据就会失效。

停用不可屏蔽中断；通过延迟开始。

CMOS写入／读出正在进行或者失灵。

03：

清除8042键盘控制器，发出TESTKBRD命令（AAH）通电延迟已完成。

ROMBIOS检查部件正在进行或失灵。

04：

使8042键盘控制器复位，核实TESTKBRD。

键盘控制器软复位／通电测试。

可编程间隔计时器的测试正在进行或失灵。

05：

如果不断重复制造测试1至5，可获得8042控制状态。

已确定软复位／通电；即将启动ROM。

DMA初如准备正在进行或者失灵。

06：

使电路片作初始准备，停用视频、奇偶性、DMA电路片，以及清除DMA电路片，所有页面寄存器和CMOS停机字节。

已启动ROM计算ROMBIOS检查总和，以及检查键盘缓冲器是否清除。

DMA初始页面寄存器读／写测试正在进行或失灵。

07：

处理器测试2，核实CPU寄存器的工作。

ROMBIOS检查总和正常，键盘缓冲器已清除，向键盘发出BAT（基本保证测试）命令。

08：

使CMOS计时器作初始准备，正常的更新计时器的循环。

已向键盘发出BAT命令，即将写入BAT命令。

RAM更新检验正在进行或失灵。

09：

EPROM检查总和且必须等于零才通过。

核实键盘的基本保证测试，接着核实键盘命令字节。

第一个64KRAM测试正在进行。

0A：

使视频接口作初始准备。

发出键盘命令字节代码，即将写入命令字节数据。

第一个64KRAM芯片或数据线失灵，移位。

0B：

测试8254通道0。

写入键盘控制器命令字节，即将发出引脚23和24的封锁／解锁命令。

第一个64KRAM奇／偶逻辑失灵。

0C：

测试8254通道1。

键盘控制器引脚23、24已封锁／解锁；已发出NOP命令。

第一个64KRAN的地址线故障。

0D：

1、检查CPU速度是否与系统时钟相匹配。

2、检查控制芯片已编程值是否符合初设置。

3、视频通道测试，如果失败，则鸣喇叭。

已处理NOP命令；接着测试CMOS停开寄存器。

第一个64KRAM的奇偶性失灵。

0E：

测试CMOS停机字节。

CMOS停开寄存器读／写测试；将计算CMOS检查总和。

初始化输入／输出端口地址。

0F：

测试扩展的CMOS。

已计算CMOS检查总和写入诊断字节；CMOS开始初始准备。

主板/诊断卡Debug灯代码解析1x段]

10：

测试DMA通道0。

CMOS已作初始预备，CMOS状态寄放器即将为日期和时刻作初始预备。

第一个64KRAM第0位故障。

11：

测试DMA通道1。

CMOS状态寄放器已作初始预备，即将停用DMA和中断操纵器。

第一个64DKRAM第1位故障。

12：

测试DMA页面寄放器。

停用DMA操纵器1和中断操纵器1和2；即将视频显示器并使端口B作初始预备。

第一个64DKRAM第2位故障。

13：

测试8741键盘操纵器接口。

视频显示器已停用，端口B已作初始预备；即将开始电路片初始化／存储器自动检测。

第一个64DKRAM第3位故障。

14：

测试存储器更新触发电路。

电路片初始化／存储器处自动检测终止；8254计时器测试即将开始。

第一个64DKRAM第4位故障。

15：

测试开头64K的系统存储器。

第2通道计时器测试了一半；8254第2通道计时器即将完成测试。

第一个64DKRAM第5位故障。

16：

成立8259所用的中断矢量表。

第2通道计时器测试终止；8254第1通道计时器即将完成测试。

第一个64DKRAM第6位故障。

17调准视频输入／输出工作，假设装有视频BIOS那么启用。

第1通道计时器测试终止；8254第0通道计时器即将完成测试。

第一个64DKRAM第7位故障。

18：

测试视频存储器，若是安装选用的视频BIOS通过，由可绕过。

第0通道计时器测试终止；即将开始更新存储器。

第一个64DKRAM第8位故障。

19：

测试第1通道的中断操纵器（8259）屏蔽位。

已开始更新存储器，接着将完成存储器的更新。

第一个64DKRAM第9位故障。

1A：

测试第2通道的中断操纵器（8259）屏蔽位。

正在触发存储器更新线路，即将检查15微秒通／断时刻。

第一个64DKRAM第10位故障。

1B：

测试CMOS电池电平。

完成存储器更新时刻30微秒测试；即将开始大体的64K存储器测试。

第一个64DKRAM第11位故障。

1C：

测试CMOS检查总和第一个64DKRAM第12位故障。

1D：

调定CMOS配置。

.第一个64DKRAM第13位故障。

1E：

测定系统存储器的大小，而且把它和CMOS值比较。

第一个64DKRAM第14位故障。

1F：

测试64K存储器至最高640K。

.第一个64DKRAM第15位故障。

[主板/诊断卡Debug灯代码解析2x段]

20：

测量固定的8259中断位。

开始大体的64K存储器测试；即将测试地址线。

从属DMA寄放器测试正在进行或失灵。

21：

维持不可屏蔽中断（NMI）位（奇偶性或输入／输出通道的检查）。

通过地址线测试；即将触发奇偶性。

主DMA寄存器测试正在进行或失灵。

22：

测试8259的中断功能。

结束触发奇偶性；将开始串行数据读／写测试。

主中断屏蔽寄存器测试正在进行或失灵。

23：

测试保护方式8086虚拟方式和8086页面方式。

基本的64K串行数据读／写测试正常；即将开始中断矢量初始化之前的任何调节。

从属中断屏蔽存器测试正在进行或失灵。

24：

测定1MB以上的扩展存储器。

矢量初始化之前的任何调节完成，即将开始中断矢量的初始准备。

设置ES段地址寄存器注册表到内存高端。

25：

测试除头一个64K之后的所有存储器。

完成中断矢量初始准备；将为旋转式断续开始读出8042的输入／输出端口。

装入中断矢量正在进行或失灵。

26：

测试保护方式的例外情况。

读出8042的输入／输出端口；即将为旋转式断续开始使全局数据作初始准备。

开启A20地址线；使之参入寻址。

27：

确定超高速缓冲存储器的控制或屏蔽RAM。

全1数据初始准备结束；接着将进行中断矢量之后的任何初始准备。

键盘控制器测试正在进行或失灵。

28：

确定超高速缓冲存储器的控制或者特别的8042键盘控制器。

完成中断矢量之后的初始准备；即将调定单色方式。

CMOS电源故障／检查总和计算正在进行。

29：

已调定单色方式，即将调定彩色方式。

CMOS配置有效性的检查正在进行。

2A：

使键盘控制器作初始准备。

已调定彩色方式，即将进行ROM测试前的触发奇偶性。

置空64K基本内存。

2B：

使磁碟驱动器和控制器作初始准备。

触发奇偶性结束；即将控制任选的视频ROM检查前所需的任何调节。

屏幕存储器测试正在进