与原子力显微镜相关的历史事件Word下载.doc

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1998年，辽宁师范大学的潭忠印，马金运用原子力显微镜对凝胶的分形生长机理作出了分析，并给出了凝胶的分形维数值。

由上海光学仪器研究所研制完成的原子力显微镜试验装置于１９９８年１０月通过市级鉴定。

到1998年,原子力显微镜（AFM）和扫描隧道显微镜（STM）可直接触摸检查[WI定细胞中的单个分子。

1998年,斯坦福大学和IBM公司合作发明了一种原子力显微镜,能够把磁盘存储能力提高100倍。

刃口锋利了，接着其检测又成为一个难题，起先日本横滨大学的中山一雄教授用金丝压痕的方法；

后来发展到采用扫描电子显微镜（ＳＥＭ）其测量精度可达到５０ｎｍ随着精度的再提高，日本的刀尖评价委员会又在ＳＥＭ上增加了二次电子的发射装置，这时也只能测定到２０～４０ｎｍ１９９３年，该小组再提出采用扫描隧道显微镜（ＳＴＭ）或原子力显微镜（ＡＦＭ）来进行检测，但以后就未见报道。

1992年，Bustamante等用原子力显微镜在室温和干燥空气条件下得到可重复的质粒DNA的图像，图像重复性良好并且分辨率达到分子级水平，可以清晰地观测到三维环状DNA分子的结构，并可估算分子的宽度和高度。

１９９２年Ｂｕｓｔａｍａｎｔｅ等用原子力显微镜在室温和干燥空气条件下得到可重复的质粒ＤＮＡ的图像图像重复性良好并且分辨率达到分子级水平可以清晰地观测到三维环状ＤＮＡ分子的结构并可估算分子的宽度和高度。

从1991年Manne等人的第一个现场电化学原子力显微镜田CAFM）实验【获得成功以来，AFM己成功应用于现场电化学研究［乙在一定条件下，对AFM探针进行改进，在针尖附上某些化学元素，还可以进行纳米范围以至单个分子的化学反应研究，开辟“针尖化学”p‘新领域。

１９９１年Ｍａｎｎｅ等人使第一个现场电化学原子力显微镜（ＥＣＡＦＭ）实验获得成功目前ＡＦＭ已成功应用于现场电化学研究。

进入1990年代以后，随着对各种介观现象的研究不断深入，以及扫描隧道显微镜、原子力显微镜等表征手段的应用与普及，化学吸附自组装薄膜技术的研究取得了长足的发展。

自1990年以来，在自组装单分子膜这一研究领域已取得了重要进展，特别是扫描隧道显微镜（ＳＴＭ）和原子力显微镜（ＡＦＭ）的发明及其同系列仪器侧向力显微镜（ＬＦＭ）磁力显微镜（ＭＦＭ）等的研制并广泛用于自组装单分子膜的研究工作，研究进展迅猛且研究成果不断涌现。

1990年，Hochella等［j首次用原子力显微镜（AtomicForceMicroscope简称AMF）结合低能电子衍射观察了钠长石的表面，但图象未达原子级的分辨率，因此只观察到钠长石的表面微形貌。

1990年中国科学院化学研究所也研制成了我国第一台原子力显微镜。

1990年Quate研究小组利用微加工技术制造了与硅尖一体化的AFM悬臂梁硅尖在原子力显微镜上的应用使得AFM的制作规模化和标准化。

1989年以后,原子力显微镜被用来探测表面力和材料的纳米机械性质,并可对表面进行修饰,现场观察生物过程。

1989年3月,白春礼等人成功地研制出我国第一台原子力显微镜（AfM）并跻身于国际先进行列。

１９８８年，国外开始对ＡＦＭ进行改进，研制出了激光检测原子力显微镜（Ｉ。

１９８８年底，白春礼领导的科研小组研制出我国第一台原子力显微镜（ＡＦＭ）其性能一下子就达到了原子级分辨率，当时世界上只有少数几个国家研制的ＡＦＭ能达到原子级分辨率，白春礼小组因此获得了１９９０年度中科院科技进步一等奖。

1988年4月12日，中国第一台计算机控制的STM研制成功；

随后，AFM—原子力显微镜研制成功；

低温STM研制成功；

超高真空STM研制成功；

BEEM—弹道电子发射显微镜的研制已通过国家鉴定，达国际先进水平…白春礼用STM在世界上首次观察到DNA三链特殊结构，并研究了DNA三螺旋结构，为国外科学界所注意，多次应邀在国际会议上做报告。

1987年，美国斯坦福大学物理系的奎特教授研制成功现在所广泛采用的激光偏转检测原子力显微镜和可以批量制备的微探针，使原子力显微镜的稳定性大大提高。

原子力显微镜（ＡＦＭ）是由德裔物理学家Ｇ．Ｂｉｎｎｉｇ等于１９８６年发明，是扫描探针显微镜家族的重要成员之一，其横向分辨率为２ｎｍ～３ｎｍ，纵向分辨率为０．５ｎｍ，既可以观察导体，也可以观察非导体。

1986年，诺贝尔奖金获得者宾尼等人提出的原子力显微镜概念不但可以测量绝缘体表面形貌，达到接近原子分辨程度，还可以测量表面原子间的作用力，测量表面的弹性、塑性、硬度、动着力和摩擦力等性质。

1986年Binning又发明了原子力显微镜（AFM厂“为人们观察微观世界提供了更有力的工具。

1986年诞生的原子力显微镜（AFM）由于其高分辨率（小于Inm）己被广泛地应用于生命科学领域的研究，特别是在生物大分子的观察方面，具有其独特的优势和应用前景。

1986年，原子力显微镜（AFM）作为一种新的成像技术被研制成功，并逐渐用于生物样品的纳米观测及可控性操作中。

接着1986年制造出了原子力显微镜（AFM）从而极大推动了纳米尺度下的材料的测试技术,同时也为在纳米尺度下的力学实验提供了一个有利的武器。

1986年世界上第一台原子力显微镜问世,经过近二十年的发展,己经在科研和生产中得到了广泛的应用。

１９８６年，原子力显微镜（ＡＦＭ）问世，从而为电化显微技术研究开辟了新的途径。

1986年问世的原子力显微镜（AFM）则改变了这一点。

１９８６年Ｇ．宾尼希等发明了原子力显微镜。

１９８６年，Binnig等人又发明了原子力显微镜（AFM）对SPM的发展起了重要作用。

1986年宾尼格、奎特和格伯依此设想研制出原子力显微镜ＡＦＭ）

1　引　言1986年世界上第一台原子力显微镜AFM问世得到了科技界的普遍重视。

1986年,微悬臂梁开始用作原子力显微镜（AFM）的探针。

1986年Binnig通过改进STM研制出第一台原子力显微镜。

1986年，Binnig等人在STM的基础上又发明了原子力显微镜（AFM）这就扩展了STM的使用范围。

1982年出现了扫描隧道显微镜（STM）紧接着又派生出原子力显微镜（AFM）前者为导体使用，后者为非导体使用。

1982年自IBM发明第一台扫描隧道显微镜STM以来又有以下检测与操纵设备问世原子力显微镜AFM电化学显微镜ECM磁力显微镜MFM电容力显微镜CFM电场力显微镜EFM扫描近场显微镜SNOM等等。

1981年，扫描隧道显微镜（STM）问世后，相继出现了扫描探针显微镜家族，如原子力显微镜（AFM）磁力显微镜（MFM）和静电力显微镜（EFM）等，使研制扫描光学显微镜有了充分的技术基础。

1981年相继发明了扫描隧道显微镜（STM）原子力显微镜（舒M）等微观表征和操纵仪器,对纳米科技的发展起了积极的促进作用,为我们揭示了一个可直接探测的原子、分子世界,对“介观物理”的研究和发展产生了积极的促进作用。

1981年获得诺贝尔奖的扫描隧道显微镜和1986年获得诺贝尔奖的原子力显微镜首先由美国Digital仪器公司于1989年商品化。

1981年，IBM公司苏黎士研究所的科学家开发成功扫描型隧道显微镜，使得对一个个原子和分子的观察和操作成为可能，为纳米技术的发展提供了强有力的武器；

此后，原子力显微镜等的发明对研究纳米技术更是锦上添花。