实验六NPN器件设计与特性模拟实验.docx

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实验六NPN器件设计与特性模拟实验

实验六NPN器件TCAD模拟实验

一、实验调查

掌握NPN器件的特性,转移特性曲线,IV特性曲线,放大倍数等

二、实验目的

1.熟悉SilvacoTCAD的仿真模拟环境;

2、掌握NPN器件设计流程

2.掌握器件特性的仿真流程

3.掌握使用Tonyplot观察仿真仿真结果

三、实验要求

1、实验前必须仔细调查实验调查的内容

2、根据程序完成NPN器件的设计仿真

四、实验指导

器件结构设计步骤:

1、创建一个初始网格结构

2、初始化硅衬底

3、进行Boron离子注入

4、进行Boron扩散

5、淀积多晶硅栅

6、进行Polysilicon掺杂

7、刻蚀多晶硅

8、多晶硅氧化

9、退火

10、进行二次Boron离子注入

11、形成侧氧

12、进行三次Boron离子注入与退火

13、镜像得到完整NPN结构

14、形成发射级和基极接触

15、定义电极

16、保存ATHENA结构文件

图一NPN三极管

 

器件仿真步骤:

1、结构说明

2、材料模型说明

3、数学计算方法的说明

4、解析条件说明

5、结果分析

图二NPN三极管转移特性

图三NPN三极管IV特性

五、实验仿真程序

结构仿真程序:

goathena

#PolysiliconEmitterBipolar(NPN)

linexloc=0.00spac=0.03

linexloc=0.2spac=0.02

linexloc=0.24spac=0.015

linexloc=0.3spac=0.015

linexloc=0.8spac=0.15

#

lineyloc=0.00spac=0.01

lineyloc=0.12spac=0.01

lineyloc=0.3spac=0.02

lineyloc=0.5spac=0.06

lineyloc=1spac=0.35

#InitialSiliconStructure

initsiliconc.arsenic=2e16orientation=100

#

structoutfile=init_bjt.str

#ImplantBoron

implantborondose=2.5e13energy=18crystal

#DiffuseBoron

diffustime=60temp=920nitro

#

structoutfile=implant1_bjt.str

#DepositPolysilicon

depositpolysiliconthick=0.3divisions=6

#

structoutfile=poly_bjt.str

#ImplanttoDopePolysilicon

implantarsenicdose=7.5e15energy=50crystal

#

structoutfile=dopepoly_bjt.str

#PatternPolysilicon

etchpolysiliconrightp1.x=0.2

#

structoutfile=etchpoly_bjt.str

#PolysiliconOxidation

methodfermicompress

diffustime=25temp=920dryo2press=1.00

#

structoutfile=polyox_bjt.str

#AnnealingProcess

diffustime=50temp=900nitropress=1.00

#

structoutfile=anneal_bjt.str

#SecondBoronImplantation

implantborondose=2.5e13energy=18crystal

#

structoutfile=implant2_bjt.str

#DepositSpacer

depositoxidethick=0.4divisions=10

#

structoutfile=depositspacer_bjt.str

#etchtheSpacerBack

etchoxidedrythick=0.50

#

structoutfile=etchspacer_bjt.str

#FormingP+BaseRegion

implantborondose=1e15energy=30crystal

#

structoutfile=implant3_bjt.str

#SecondAnnealingProcess

diffustime=60temp=900nitropress=1.00

#

structoutfile=anneal2_bjt.str

#

structmirrorleft

#

structoutfile=full_bjt.str

#PutdownAluminumandEtchtoformtheEmitter/BaseContacts

depositaluminumthick=0.05divisions=2

#

structoutfile=deposit_Al_bjt.str

#etchtheLeftHandSideShadedRegion

etchaluminumstartx=-0.16y=-0.35

etchcontx=-0.16y=0.1

etchcontx=-0.6y=0.1

etchdonex=-0.6y=-0.35

#

structoutfile=etchleft_bjt.str

#etchtheRightHandSideShadedRegion

etchaluminumrightp1.x=0.15

#

structoutfile=etchfight_bjt.str

#

electrodename=emitterx=0.00

#

electrodename=basex=-0.65

#

electrodename=collectorbackside

#

structoutfile=bjt.str

性能仿真程序:

goatlas

#

meshinfile=bjt.str

#

materialnumber=2taun0=5e-06taup0=5e-06

#

modelsaugerconsrhconmobfldmobb.electrons=2b.holes=1evsatmod=0\

hvsatmod=0boltzmanbgnprinttemperature=300

#

contactname=emittern.polysurf.rec

#

methodnewtonitlimit=25trapatrap=0.5maxtrap=4autonrnrcriterion=0.1\

tol.time=0.005dt.min=1e-25

solveinit

solvevcollector=0.025

solvevcollector=0.1

solvename=collectorvcollector=0.25vfinal=2vstep=0.25

solvevbase=0.025

solvevbase=0.1

solvevbase=0.2

logoutf=bjt_0.log

solvename=basevbase=0.3vfinal=1vstep=0.05

tonyplotbjt_0.log

logoff

solveinit

#Rampingbasevoltage

solvevbase=0.025

solvevbase=0.05

solvevbase=0.1vstep=0.1vfinal=0.7name=base

#SwitchtoCurrentBoundaryConditions

contactname=basecurrent

#rampbasecurrentandsavethesolutions

solveibase=1.e-6

saveoutf=bjt_1.strmaster

solveibase=2.e-6

saveoutf=bjt_2.strmaster

solveibase=3.e-6

saveoutf=bjt_3.strmaster

solveibase=4.e-6

saveoutf=bjt_4.strmaster

solveibase=5.e-6

saveoutf=bjt_5.strmaster

#LoadineachinitialguessfileandrampVce

loadinf=bjt_1.strmaster

logoutf=bjt_1.log

solvevcollector=0.0vstep=0.1vfinal=5.0name=collector

loadinf=bjt_2.strmaster

logoutf=bjt_2.log

solvevcollector=0.0vstep=0.1vfinal=5.0name=collector

loadinf=bjt_3.strmaster

logoutf=bjt_3.log

solvevcollector=0.0vstep=0.1vfinal=5.0name=collector

loadinf=bjt_4.strmaster

logoutf=bjt_4.log

solvevcollector=0.0vstep=0.1vfinal=5.0name=collector

loadinf=bjt_5.strmaster

logoutf=bjt_5.log

solvevcollector=0.0vstep=0.1vfinal=5.0name=collector

#PlotFamilyofIc/Vcecurve

tonyplot-overlaybjt_1.logbjt_2.logbjt_3.logbjt_4.log\

bjt_5.log-setbjt_1.set

quit

六、实验任务

1、完成实验指导4和仿真程序5的内容;

修改基区注入离子的浓度

基区离子的浓度

放大倍数

 

七、实验结果分析与体会

 

附录:

NPN三极管器件仿真操作

启动Deckbuild,同时调用ATHENA工具包,在终端输入命令deckbuild–an&

实验三:

用ATHENA创建一个多晶硅发射级NPN三极管

1、创建一个初始网格结构

目的,创建一个0.8um*1.0um模拟区域及一个非均匀网格

在工具栏右键点击Commands→选MeshDefine...输入坐标及间距

goathena

#PolysiliconEmitterBipolar(NPN)

linexloc=0.00spac=0.03

linexloc=0.2spac=0.02

linexloc=0.24spac=0.015

linexloc=0.3spac=0.015

linexloc=0.8spac=0.15

#

lineyloc=0.00spac=0.01

lineyloc=0.12spac=0.01

lineyloc=0.3spac=0.02

lineyloc=0.5spac=0.06

lineyloc=1.0spac=0.35

2、初始化硅衬底(如图一)

目的,得到均匀掺杂砷浓度为2×1016atom/cm3、(100)方向的硅衬底

打开ATHENAMeshInitialize菜单:

右键点击Commands→MeshInitialize。

输入下面选项

Material:

silicon

Orientation:

100

Impurity:

Arsenic

Concentration:

2.0x1016atom/cm3

Dimensionality:

Auto

Comment:

InitialSiliconStructure

3、进行Boron离子注入(如图二)图一

目的:

本征基区离子注入

选“Commands→Process→Implant...”打开ATHENAImplant菜单,选择或输入以下:

impurity:

Boron

Dose:

2.5×1013

Energy:

18

Model:

DaulPearson

Tilt:

7

Rotation:

30

MaterialType:

Crystalline

Comment:

ImplantBoron

(二)

4、进行Boron扩散(如图三)

目的:

Boron离子扩散形成区

选“Commands→Process→Diffuse...”打开ATHENADiffuse菜单,选择或输入以下:

Time:

60

Temperature:

920

Ambient:

Nitrogen

GasPressure:

1

Comment:

DiffuseBoron

图三

5、淀积多晶硅栅并保存结构

目的:

淀积形成多晶硅栅薄膜,(如图四)

首先打开ATHENADeposit菜单——依次选“Process→Deposit→Deposit...”即可,选择或输入以下:

Type:

conformal(默认选项)

Material:

Polysilicon

Thickness:

0.3

Totalnumberofgridlayers:

6

Comment:

DepositPolysilicon

图(四)

依次选“Commands→FileI/O→Save”输入文件名

poly_bjt.str

保存结构如图(图五)

图(五)

6、进行Polysilicon掺杂并保存结构(如图六)

目的:

多晶硅发射级掺杂

选“Commands→Process→Implant...”打开ATHENAImplant菜单,选择或输入以下:

impurity:

Arsenic

Dose:

7.5×1015

Energy:

50

Model:

DaulPearson

Tilt:

7

Rotation:

30

MaterialType:

Crystalline图(六)

Comment:

ImplanttoDopePolysilicon

结构文件保存为dopepoly_bjt.str

7、刻蚀多晶硅并保存结构文件

目的:

刻蚀不需要区域的多晶硅材料(我们将刻蚀x=0.2um以右的区域)如图七

依次选择“Commands→Process→

Etch→Etch...”打开ATHENAEtch菜单,选择输入以下:

EtchMethod:

Geometrical(默认选项)

Geometricaltype:

Right

Material:

Polysilicon

Etchlocation(um):

0.2

Comment:

PatternPolysilicon

结构文件保存为etchpoly_bjt.str

图七

8、多晶硅氧化并保存结构文件

目的:

形成掩蔽层如图八

首先打开ATHENADiffuse菜单:

依次选择“Commands→Process→Diffuse...”即可,选择和输入以下:

Time:

25

Temperature:

920

Ambient:

DryO2

Gaspressure:

1

HCL(uncheck)

DiffusionModels:

Fermi

OxidationModels:

Compressible

Comment:

PolysiliconOxidation

图八

结构文件保存为polyox_bjt.str

9、退火并保存结构文件(图九)

目的:

使Arsenic离子扩散形成发射区

打开ATHENADiffuse菜单,“Commands→Process→Diffuse...”即可,选择或输入以下:

Time:

50

Temperature:

900

Ambient:

Nitrogen

GasPressure:

1

Comment:

AnnealingProcess

图九

结构文件保存为anneal_bjt.str

10、进行二次Boron离子注入(如图10)

目的:

形成本征基区与P+接触的连接区域

选“Commands→Process→Implant...”打开ATHENAImplant菜单,选择或输入以下:

impurity:

Boron

Dose:

2.5×1013

Energy:

18

Model:

DaulPearson

Tilt:

7

Rotation:

30

MaterialType:

Crystalline

Comment:

SecondBoronImplantation

结构文件保存为implant2_bjt.str图10

11、形成侧氧

A、淀积侧氧(图11)

目的:

形成侧氧化层

首先打开ATHENADeposit菜单:

依次选择“Commands→Process→Deposit→Deposit...”即可,选择和输入以下:

Material:

Oxide

Thickness:

0.4

Totalnumberofgridlayer:

10

Comment:

DepositSpacer

结构文件保存为depositspacer_bjt.str

图11

B、刻蚀侧氧(图12)

目的:

刻蚀得到侧氧化区域

依次选择“Commands→Process→Etch→Etch...”打开ATHENAEtch菜单,选择输入以下:

Geometricaltype:

Drythickness

Material:

Oxide

Thickness:

0.5

Comment:

EtchtheSpacerBack

结构文件保存为etchspacer_bjt.str

图12

12、进行三次Boron离子注入与退火(如图13,14)

目的:

形成基区接触

A、进行三次Boron离子注入

选“Commands→Process→Implant...”打开ATHENAImplant菜单,选择或输入以下:

impurity:

Boron

Dose:

1.0×1015

Energy:

30

Model:

DaulPearson

Tilt:

7

Rotation:

30

MaterialType:

Crystalline

Comment:

FormingP+BaseRegion

结构文件保存为implant3_bjt.str

图13

B、第二次退火

打开ATHENADiffuse菜单,“Commands→Process→Diffuse...”即可,选择或输入以下:

Time:

60

Temperature:

900

Ambient:

Nitrogen

GasPressure:

1

Comment:

SecondAnnealingProcess

结构文件保存为anneal2_bjt.str

图14

13、镜像得到完整NPN结构(图15)

目的:

为了得到完整结构,前面得到的只是HalfNPN结构。

依次选“Commands→Structure→Mirror”打开ATHENAMirror菜单.

在弹出的窗口中选Left.

单击WRITE及Cont.

结构文件保存为full_bjt.str

14、形成发射级和基极接触

A、淀积金属AL

首先打开ATHENADeposit菜单:

依次选择“Commands→Process→Deposit→Deposit...”即可,选择和输入以下:

Material:

Aluminum

Thickness:

0.05

Totalnumberofgridlayer:

2

Comment:

DepositAl

结构文件保存为Deposit_Al_bjt.str

B、刻蚀Al

①、刻蚀Al形成基极

依次选择“Commands→Process→Etch→Etch...”打开ATHENAEtch菜单,选择输入以下:

Geometricaltype:

Anyshape

Material:

Aluminum

Arbitrarypoints

etchoxidestartx=-0.16y=-0.35

etchcontx=-0.16y=0.1

etchcontx=-0.6y=0.1

etchdonex=-0.6y=-0.35

Comment:

EtchAl

结构文件保存为etchleft_bjt.str

②、刻蚀Al形成发射级

Geometricaltype:

Right

Material:

Aluminum

Etchlocation:

0.15

结构文件保存为etchright_bjt.str

15、定义电极

依次选“Commands→Structure→Electrode...”打开ATHENAElectrode菜单,选择或输入以下:

ElectrodeType:

SpecifiedPositon

Name:

emitter

XPosition:

0.0

点击WRITE。

重复同样的操作,定义基极、集电极

ElectrodeType:

SpecifiedPositon

Name:

base

XPosition:

-0.65

点击WRITE。

ElectrodeType:

Backside

Name:

collector

点击WRITE。

最后保存结构文件bjt.str

Chapter4:

用ATLAS仿真NPN三极管

使用ATLAS模拟NPN器件,得到三极管的特征曲线

1、Ib=1uA、2uA、3uA、4uA、5uA时Vc-Ic关系曲线。

1、结构说明

2、材料模型说明

3、数学计算方法的说明

4、解析条件说明

5、结果分析

1.添加结构文件

goatlas

#

meshinfile=bjt.str

2、材料模型说明

A、设置载流子的寿命

a、选择Commands→Models→Material

b、选择Re

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