试验九激励频率对差动变压器特性的影响.docx
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试验九激励频率对差动变压器特性的影响
前言
YC-2000D-I型创新传感器实验装置主要用于各大、中专院校及职业院校开设的“传感器原理与技术”、“自动化检测技术”、“非电量电测技术”、“工业自动化仪表与控制”、“机械量电测”等课程的实验教学。
实验台上采用的大部分传感器虽然是教学传感器（透明结构便于教学），但其结构与线路是工业应用的基础，希望通过实验帮助广大学生加强对书本知识的理解，并在实验的进行过程中，通过信号的拾取、转换、分析、掌握作为一个科技工作者应具有的基本的操作技能与动手能力。
YC-2000D-I型创新传感器实验装置为适应不同类别，不同层次的专业需要，最新推出的模块化的新产品。
其优点在于：
1、能适应不同专业的需要，不同专业可有不同的菜单，可以根据用户的特殊要求制作模块。
2、能适应不断发展的趋势，可以不断补充新型的传感器模块。
3、指导教师和学生可以开发与组织新实验，本公司可以提供空白的模块。
4、可以利用主控台的共用平台用于学生课程设计、毕业设计和自制装置。
本实验指南，由于编写时间仓促，水平有限，难免有疏漏廖误之处，热切期望实验指导老师与学生们，能提出宝贵意见，谢谢！
目录
YC-2000D-I型创新传感器实验装置。
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示范实验举例。
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实验一应变片单臂电桥性能实验。
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实验二应变片半桥性能实验。
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实验三应变片全桥性能实验。
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*实验四应变片单臂、半桥、全桥性能比较。
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实验五应变片直流全桥的应用—电子秤实验。
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实验六应变片的温度影响实验。
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实验七移相器、相敏检波器实验。
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实验八差动变压器的性能实验。
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实验九激励频率对差动变压器特性的影响。
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实验十差动变压器零点残余电压补偿实验。
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实验十一差动变压器测位移实验。
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实验十二差动变压器的应用—振动测量实验。
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实验十三线性霍尔传感器位移特性实验。
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实验十四线性霍尔传感器交流激励时的位移性能实验。
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实验十五光纤位移传感器测位移特性实验。
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实验十六光纤温度传感系统特性实验。
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实验十七光纤压力传感系统特性实验。
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备注：
1、带＊号实验为思考实验；学生也可以参考示范实验例子组建开发其它实验项目。
2、同类型传感器实验方法及接线方式都很类似。
YC-2000D-I型创新传感器实验装置
说 明 书
一、实验台的组成
YC-2000D-I型创新传感器实验装置由主机箱、传感器、实验电路（实验模板）、转动源、振动源、温度源、数据采集卡及处理软件、实验桌等组成。
1、主机箱：
提供高稳定的±15V、＋5V、±2V～±10V（步进可调）、＋1.6V～＋24V（连续可调）直流稳压电源；音频信号源（音频振荡器）1KHz～10KHz（连续可调）；低频信号源（低频振荡器）1Hz～30Hz（连续可调）；传感器信号调理电路；计算机通信口；主机箱上装有电压、频率等相关数显表。
其中，直流稳压电源具有过载保护功能，在排除接线错误后重新开机恢复正常工作。
主机箱左侧面装有供电电源插板及漏电保护开关。
2、振动源（动态应变振动梁与振动台）：
振动频率3Hz～30Hz可调（谐振频率9Hz～12Hz左右）；
3、温度源：
常温～150℃。
4、传感器：
基本型有箔式应变片（350Ω）传感器（秤重200g）、差动变压器（±4mm）、霍尔式位移传感器（±1mm）、光纤位移传感器（1mm）、集成温度（AD590）传感器（室温～120℃）、Pt100铂电阻（室温～150℃）等。
5、调理电路（实验模板）：
基本型有电桥及调平衡网络、差动放大器、移相器、相敏检波器、低通滤波器等。
6、数据采集处理软件，另附。
二、电路原理
实验电路原理已印刷在面板上（实验模板上），实验接线图参见文中的具体实验内容。
三、使用方法
1、开机前将电压表显示选择旋钮打到2V档；步进可调直流稳压电源旋钮打到±2V档；其余旋钮都打到中间位置。
2、将AC 220V电源线插头插入市电插座中，合上电源开关，数显表显示0000，表示实验台已接通电源。
3、做每个实验前应先阅读实验指南，每个实验均应在断开电源的状态下按实验线路接好连接线（实验中用到可调直流电源时，应在该电源调到实验值后再接到实验线路中），检查无误后方可接通电源。
4、数据采集卡及处理软件使用方法另附说明。
四、仪器维护及故障排除
1、维护
⑴ 防止硬物撞击、划伤实验台面；防止传感器跌落地面。
⑵ 实验完毕要将传感器、配件及连线全部整理放置好。
2、故障排除
⑴ 开机后数显表都无显示，应查AC 220V电源有否接通；主机箱侧面AC 220V插座中的保险丝是否烧断。
如都正常，则更换主机箱中主机电源。
⑵ 振动源不工作，检查主机箱面板上的低频振荡器有无输出，如无输出，更换信号板；如有输出，更换振动源的振荡线圈。
⑶ 温度源不工作，检查温度源电源开关有否打开；温度源的保险丝是否烧断；调节仪设置是否准确。
如都正常，则更换温度源。
五、注意事项
1、在实验前务必详细阅读实验指南。
2、严禁用酒精、有机溶剂或其它具有腐蚀性溶液擦洗主机箱及面板。
3、请勿将主机箱的电源、信号源输出端与地（⊥）短接，因短接时间长易造成电路故障。
4、请勿将主机箱的±电源引入实验电路时接错。
5、在更换接线时，应断开电源，只有在确保接线无误后方可接通电源。
6、实验完毕后，请将传感器及附件放回原处。
7、如果实验台长期未通电使用，在实验前先通电十分钟预热，再检查按一次漏电保护按钮是否有效。
8、实验接线时，要握住手柄插拔实验线，不能拉扯实验线。
六、随机附件详见装箱清单。
示范实验举例
实验一应变片单臂电桥性能实验
一、实验目的：
了解电阻应变片的工作原理与应用并掌握应变片测量电路。
二、基本原理：
电阻应变式传感器是在弹性元件上通过特定工艺粘贴电阻应变片来组成。
一种利用电阻材料的应变效应将工程结构件的内部变形转换为电阻变化的传感器。
此类传感器主要是通过一定的机械装置将被测量转化成弹性元件的变形，然后由电阻应变片将弹性元件的变形转换成电阻的变化，再通过测量电路将电阻的变化转换成电压或电流变化信号输出。
它可用于能转化成变形的各种非电物理量的检测，如力、压力、加速度、力矩、重量等，在机械加工、计量、建筑测量等行业应用十分广泛。
1、应变片的电阻应变效应
所谓电阻应变效应是指具有规则外形的金属导体或半导体材料在外力作用下产生应变而其电阻值也会产生相应地改变，这一物理现象称为“电阻应变效应”。
以圆柱形导体为例：
设其长为：
L、半径为r、材料的电阻率为ρ时，根据电阻的定义式得
（1—1）
当导体因某种原因产生应变时，其长度L、截面积A和电阻率ρ的变化为dL、dA、dρ相应的电阻变化为dR。
对式（1—1）全微分得电阻变化率dR/R为：
（1—2）
式中：
dL/L为导体的轴向应变量εL;dr/r为导体的横向应变量εr
由材料力学得：
εL=-μεr （1—3）
式中：
μ为材料的泊松比，大多数金属材料的泊松比为0.3～0.5左右；负号表示两者的变化方向相反。
将式（1—3）代入式（1—2）得：
（1—4）
式（1—4）说明电阻应变效应主要取决于它的几何应变（几何效应）和本身特有的导电性能（压阻效应）。
2、应变灵敏度
它是指电阻应变片在单位应变作用下所产生的电阻的相对变化量。
（1）、金属导体的应变灵敏度K：
主要取决于其几何效应；可取
（1—5）
其灵敏度系数为：
K=
金属导体在受到应变作用时将产生电阻的变化，拉伸时电阻增大，压缩时电阻减小，且与其轴向应变成正比。
金属导体的电阻应变灵敏度一般在2左右。
（2）、半导体的应变灵敏度：
主要取决于其压阻效应；dR/R<≈dρ⁄ρ。
半导体材料之所以具有较大的电阻变化率，是因为它有远比金属导体显著得多的压阻效应。
在半导体受力变形时会暂时改变晶体结构的对称性，因而改变了半导体的导电机理，使得它的电阻率发生变化，这种物理现象称之为半导体的压阻效应。
不同材质的半导体材料在不同受力条件下产生的压阻效应不同，可以是正（使电阻增大）的或负（使电阻减小）的压阻效应。
也就是说，同样是拉伸变形，不同材质的半导体将得到完全相反的电阻变化效果。
半导体材料的电阻应变效应主要体现为压阻效应，其灵敏度系数较大，一般在100到200左右。
3、贴片式应变片应用
在贴片式工艺的传感器上普遍应用金属箔式应变片，贴片式半导体应变片（温漂、稳定性、线性度不好而且易损坏）很少应用。
一般半导体应变采用N型单晶硅为传感器的弹性元件，在它上面直接蒸镀扩散出半导体电阻应变薄膜（扩散出敏感栅），制成扩散型压阻式（压阻效应）传感器。
＊本实验以金属箔式应变片为研究对象。
4、箔式应变片的基本结构
金属箔式应变片是在用苯酚、环氧树脂等绝缘材料的基板上，粘贴直径为0.025mm左右
的金属丝或金属箔制成，如图1—1所示。
（a）丝式应变片 （b）箔式应变片
图1—1应变片结构图
金属箔式应变片就是通过光刻、腐蚀等工艺制成的应变敏感元件，与丝式应变片工作原理相同。
电阻丝在外力作用下发生机械变形时，其电阻值发生变化，这就是电阻应变效应，描述电阻应变效应的关系式为：
ΔR／R＝Kε式中：
ΔR／R为电阻丝电阻相对变化，K为应变灵敏系数,ε=ΔL/L为电阻丝长度相对变化。
5、测量电路
为了将电阻应变式传感器的电阻变化转换成电压或电流信号，在应用中一般采用电桥电路作为其测量电路。
电桥电路具有结构简单、灵敏度高、测量范围宽、线性度好且易实现温度补偿等优点。
能较好地满足各种应变测量要求，因此在应变测量中得到了广泛的应用。
电桥电路按其工作方式分
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