关于晶体管输出达灵顿输出可控硅输出高速光耦施密特输出光耦测试方法以及测试结果判定标准.docx
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关于晶体管输出达灵顿输出可控硅输出高速光耦施密特输出光耦测试方法以及测试结果判定标准
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设备简介
使用万用表需要注意：
测电流红色表笔就要插入mA孔，
测电压红色表笔就要插入VΩHz孔，
黑笔一直插COM孔
设备：
测试座（用以搭载被测材料）
信号发生器（用以提供所需的电压与电流信号）
万用表（用以检测相关参数）
测试线若干（连接上述设备）
测试相关步骤：
1.确定被测光耦类型
2.测试线连接
3.参数设定
4.进行测试
5.判定材料是否OK
测试常识：
给电流测电压，给电压测电流
晶体管输出光耦
4N25-4N38系列（注意4N29-33系列为达灵顿输出，请参照下一篇），MOC8106，MOC8204，（H11AA1，H11AA4交流输入）
1.确定被测光耦类型
晶体管输出光耦主要测试CTR，他的内部原理图如下图所示，因此我们需要给他输入端一个电流，再测输出端的电流（需要在输出端加一个电压）
2.测试线连接
在测试线连接之前，我们要知道他的测试原理图，晶体管输出光耦测试原理图如下：
电流源电压源万用表
实际连线：
为了方便说明，前面有对各个接口进行标明：
信号发生器：
一、二、三、四、五
测试座：
1、2、3、4、5、6、7、8
万用表：
红笔、黑笔
上述连线说明：
1.二连1
2.一连2
3.六连红笔
4.黑笔连7
5.四连6
3.参数设定
信号发生器：
左通道10mA，右通道5V
万用表：
直流200mA档位
4.进行测试
放入材料，反向放置，小圆孔朝上
5.判定标准
以厂商的CTR为标准进行判定，进行简单换算就可以知道，万用表上显示是多少mA时材料是OK的，下面是4NXX系列的CTR表，因为CTR=IC（万用表上的电流）/IF*100%，所以IC=CTR*IF
IC最小值，大于此值为OK
10mA
5mA
3mA
2mA
1mA
实例：
下面是4N37的实际测量图从下图我们可以看出，在输入电流IF=10mA的情况下，输出电流IC=15.33mA>10mA，所以判定为OK，如果有兴趣可以算下他的CTR=IC/IF*100%=15.33/10*100%=153.3%
达灵顿输出光耦
4N29-4N33系列，H11B1，H11G1，H11G2，MOC8021，MOC8050
达灵顿输出光耦与晶体管输出光耦测试基本一致，具体接线图完全参照上面的晶体管输出光耦连线方式，不同的是他的测试参数设置不同，由下图我们可以看出，4N32和4N33在IF=10mA时他的IC最少能在50mA以上，CTR最小值都为500，实测他的CTR一般在2000以上。
由于我们的信号发生器最多只能输出50mA的电流，所以我对上面的条件进行修改，故判断标准也随之而变，具体输入条件个判断标准以下面的为准。
1.步骤同晶体管输出光耦
2.步骤同晶体管输出光耦
3.参数设定
信号发生器：
左通道1mA，右通道5V
万用表：
直流200mA档位
4.进行测试
5.判断标准
型号
CTR
IC最小值，大于此值为OK
4N32，4N33
500
5mA
4N29，4N30
100
1mA
4N31
50
0.5mA
实例：
下面是测试4N33的示意图，我们可以看出他的CTR=21.5/1*100%=2150>500为OK品
看电流的话也很明显看出IC=215.mA>5mA为OK
可控硅输出光耦
MOC30XX系列，比如MOC3021，MOC3023，MOC3052，MOC3063，MOC3081
1.确定被测光耦类型
双向可控硅输出光耦主要测试触发电流IFT，和VDRM，由于条件有限我们只测试纸测试在在他的IFT出是否能使光耦正常开启。
因此我们需要测试他输出端在有一定电流时的电压值。
2.测试线连接
测试原理图：
实际连线：
上述连线说明：
1.二连1
2.一连2
3.五连8
4.四连6
5.红笔连8
6.黑笔连6
3.参数设定
信号发生器：
左通道IFT（5mA或10mA或15mA），右通道10mA
万用表：
直流20V档位
4.进行测试
放入材料
5.判定标准
可控硅输出光耦是看输出端电压的变化，在IFT下，为导通，故电压较低为1-2V左右。
型号
左通道输入IFT
万用表上面电压
MOC30X1
15mA
小于3V
MOC30X2
10mA
小于3V
MOC30X3
5mA
小于3V
备注：
上面X可为1、2、3、4、5、6、8
实例：
下面是对MOC3021进行测试，在IFT=15mA时，输出端的电压为1.13V<3V，为OK
1M高速光耦测试&高速达灵顿系列
1Mbps：
6N136、HCPL4503达灵顿：
6N138、6N139
1.确定光耦类型
此系列依然属于晶体管输出系列，只是他把受光元件与三极管分立开来，因此需要为其提供一个VCC偏置电压。
2.测试线连接
因为依然属于晶体管输出系列，故输出电流受输入电流控制，此处先介绍测试CTR的方法，其测试原理图如下。
如果想测他开启的输出的低电平VOL可参照后续介绍的6N137测试方法。
连线原理图：
连线实物图：
连线说明：
1.二连2
2.一连3
3.六连8
4.四连5
5.六连红笔
6.黑笔连6
3.参数设定
6N135、6N136设定
信号发生器：
左通道10mA，右通道5V
万用表：
直流20mA档
6N138、6N139设定
信号发生器：
左通道2mA，右通道5V
万用表：
直流200mA档
4.进行测试
放入材料，反向放置，小圆孔朝上
5.判定标准
型号
CTR最小值
CTR最大值
IC允许最小值（显示）
IC允许最大值
6N135
7
50
0.7mA
5mA
6N136
19
50
1.9mA
5mA
HCPL4503
19
50
1.9mA
5mA
6N138
300
无
6mA
无上限
6N139
500
无
10mA
无上限
备注：
此表后面的IC判定标准依照测试条件变化而变化，具体算法为IC=CTR*IF/100%
测试实例：
此为6N136的测试实例，测试条件输入端IF=10mA，输出端VCC=VO=5V，
由下图我们可以看出，IC=2.68mA，在1.9mA-5mA的范围内，故判断为OK。
10M高速光耦测试：
代表型号：
6N137
1.确定被测光耦类型
6N137属于输出端属于逻辑门，故测试他在触发后输出的低电平VOL是否为OK
2.测试线连接
测试原理图
由下图可以看出，测试6N137需要用到2个电流源和一个电压源，此处我并没有在8脚跟5脚处接一个0.1uF的去耦电容，后续如果想测试他的IFT时这个电容是必须要加上的。
测试连线实物图：
连线说明：
1.二连2
2.一连3
3.六连8
4.四连5
5.五连6
6.红笔连6
7.黑笔连5
3.参数设定
信号发生器：
左通道10mA，右通道电压输出5V，电流输出10mA
万用表：
直流2V档位
4.进行测试
放入材料
5.判定标准
由下图我们可以看出，电压小于0.6V即为OK
测试实例：
以6N137为例，测试条件输入端IF=10mA，输出端IO=10mA，VCC=5V，
我们可以看到，实际测试值VOL为0.3V小于0.6V，故判断为OK
施密特触发器输出光耦
H11L1、2、3，H11N1、2系列
1.确定被测光耦类型
此光耦的特别点在于他的输入电流阈值开启与关闭时不一样，此处我们主要确认他的输入与输出关系，测试他的输出低电平VOL，故不对输入进行过多测试，有兴趣的可以试着微调输入电流，便可准确看出他的IFon和IFoff。
2.测试线连接
接线原理图：
接线实物图：
接线说明：
1.二连1
2.一连2
3.六连8
4.四连7
5.五连6
6.红笔连6
7.黑笔连7
3.参数设定
信号发生器：
左通道IFon（具体输入请参照5.判定标准），右通道电压输出5V，电流输出5mA
万用表：
直流2V档位
4.进行测试
放入材料
5.判定标准
在测试时输入电流IFon为下表中的Max.值，万用表上显示电压VOL小于0.4V为OK
测试实例：
下图为采用H11L2进行测试，输入端IF=10mA，输出端IO=5mA，VCC=5V，测试显示VOL=0.17V小于0.4V，故判定为OK
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