关于晶体管输出达灵顿输出可控硅输出高速光耦施密特输出光耦测试方法以及测试结果判定标准.docx

1、关于晶体管输出达灵顿输出可控硅输出高速光耦施密特输出光耦测试方法以及测试结果判定标准关于晶体管输出，达灵顿输出，可控硅输出，高速光耦，施密特输出光耦测试方法以及测试结果判定标准设备简介使用万用表需要注意：测电流红色表笔就要插入mA孔， 测电压红色表笔就要插入VHz孔， 黑笔一直插COM孔设备： 测试座 （用以搭载被测材料）信号发生器 （用以提供所需的电压与电流信号） 万用表 （用以检测相关参数） 测试线若干 （连接上述设备）测试相关步骤：1. 确定被测光耦类型2. 测试线连接3. 参数设定4. 进行测试5. 判定材料是否OK 测试常识：给电流测电压，给电压测电流晶体管输出光耦 4N25-4N3

2、8系列（注意4N29-33系列为达灵顿输出，请参照下一篇），MOC8106，MOC8204，（H11AA1，H11AA4交流输入）1. 确定被测光耦类型晶体管输出光耦主要测试CTR，他的内部原理图如下图所示，因此我们需要给他输入端一个电流，再测输出端的电流（需要在输出端加一个电压）2. 测试线连接在测试线连接之前，我们要知道他的测试原理图，晶体管输出光耦测试原理图如下： 电流源 电压源 万用表实际连线：为了方便说明，前面有对各个接口进行标明：信号发生器：一、二、三、四、五测试座：1、2、3、4、5、6、7、8万用表：红笔、黑笔上述连线说明：1. 二 连 12. 一 连 23. 六 连 红笔4.

3、 黑笔 连 75. 四 连 63.参数设定信号发生器：左通道 10mA，右通道 5V万用表：直流200mA 档位4.进行测试放入材料，反向放置，小圆孔朝上5.判定标准以厂商的CTR为标准进行判定，进行简单换算就可以知道，万用表上显示是多少mA时材料是OK的，下面是4NXX系列的CTR表，因为CTR=IC（万用表上的电流）/IF*100%，所以IC=CTR*IFIC 最小值，大于此值为OK10 mA5 mA3 mA2 mA1 mA实例：下面是4N37的实际测量图从下图我们可以看出，在输入电流IF=10mA的情况下，输出电流IC=15.33mA 10mA，所以判定为OK， 如果有兴趣可以算下他的C

4、TR=IC/IF*100%=15.33/10*100%= 153.3 %达灵顿输出光耦4N29-4N33系列，H11B1，H11G1，H11G2，MOC8021， MOC8050 达灵顿输出光耦与晶体管输出光耦测试基本一致，具体接线图完全参照上面的晶体管输出光耦连线方式，不同的是他的测试参数设置不同，由下图我们可以看出，4N32和4N33在IF=10mA时他的IC最少能在50mA以上，CTR最小值都为500，实测他的CTR一般在2000以上。由于我们的信号发生器最多只能输出50mA的电流，所以我对上面的条件进行修改，故判断标准也随之而变，具体输入条件个判断标准以下面的为准。1. 步骤同晶体管输

5、出光耦2. 步骤同晶体管输出光耦3. 参数设定信号发生器：左通道 1 mA，右通道5V万用表：直流200mA档位4.进行测试5.判断标准 型号CTRIC 最小值，大于此值为OK4N32，4N335005 mA4N29，4N301001 mA4N31500.5 mA实例：下面是测试4N33的示意图，我们可以看出 他的CTR=21.5/1*100%=2150 500为OK 品看电流的话也很明显看出 IC=215.mA 5mA为OK可控硅输出光耦MOC30XX系列，比如MOC3021，MOC3023，MOC3052，MOC3063，MOC30811. 确定被测光耦类型 双向可控硅输出光耦主要测试触发

6、电流IFT，和VDRM，由于条件有限我们只测试纸测试在在他的IFT出是否能使光耦正常开启。因此我们需要测试他输出端在有一定电流时的电压值。2. 测试线连接测试原理图：实际连线：上述连线说明：1. 二 连 12. 一 连 23. 五 连 84. 四 连 65. 红笔 连 86. 黑笔 连 63. 参数设定信号发生器：左通道 IFT （5mA或10mA或15mA），右通道10mA万用表：直流20V档位4. 进行测试放入材料5. 判定标准可控硅输出光耦是看输出端电压的变化，在IFT下，为导通，故电压较低为1-2V左右。型号左通道输入 IFT万用表上面 电压MOC30X115 mA 小于3VMOC30

7、X210 mA 小于3VMOC30X35 mA 小于3V备注：上面X可为1、2、3、4、5、6、8实例：下面是对MOC3021进行测试，在IFT=15mA时，输出端的电压为1.13V 3V，为OK1M高速光耦测试&高速达灵顿系列1Mbps：6N136、HCPL4503 达灵顿：6N138、6N1391.确定光耦类型此系列依然属于晶体管输出系列，只是他把受光元件与三极管分立开来，因此需要为其提供一个VCC偏置电压。 2. 测试线连接因为依然属于晶体管输出系列，故输出电流受输入电流控制，此处先介绍测试CTR的方法，其测试原理图如下。如果想测他开启的输出的低电平VOL可参照后续介绍的6N137测试方

8、法。连线原理图：连线实物图：连线说明：1. 二 连 22. 一 连 33. 六 连 84. 四 连 55. 六 连 红笔6. 黑笔 连 63. 参数设定6N135、6N136设定信号发生器：左通道 10mA，右通道5V万用表：直流20mA档6N138、6N139设定信号发生器：左通道 2mA，右通道5V万用表：直流200mA档4. 进行测试放入材料，反向放置，小圆孔朝上5. 判定标准 型号CTR最小值CTR最大值 IC允许最小值（显示）IC允许最大值6N1357500.7 mA5 mA6N13619501.9 mA5 mAHCPL450319501.9 mA5 mA6N138300无6 mA无

9、上限6N139500无10 mA无上限备注：此表后面的IC判定标准依照测试条件变化而变化，具体算法为IC=CTR*IF/100%测试实例：此为6N136的测试实例，测试条件输入端IF=10mA，输出端VCC=VO=5V，由下图我们可以看出，IC=2.68mA，在1.9mA-5mA的范围内，故判断为OK。10M高速光耦测试：代表型号：6N1371. 确定被测光耦类型6N137属于输出端属于逻辑门，故测试他在触发后输出的低电平VOL是否为OK2. 测试线连接测试原理图由下图可以看出，测试6N137需要用到2个电流源和一个电压源，此处我并没有在8脚跟5脚处接一个0.1uF的去耦电容，后续如果想测试他

10、的IFT时这个电容是必须要加上的。测试连线实物图：连线说明：1. 二 连 22. 一 连 33. 六 连 84. 四 连 55. 五 连 66. 红笔 连 67. 黑笔 连 53. 参数设定信号发生器：左通道 10mA， 右通道电压输出5V，电流输出10mA万用表：直流2V档位4. 进行测试放入材料5. 判定标准由下图我们可以看出，电压小于0.6V即为 OK 测试实例：以6N137为例，测试条件输入端IF=10mA，输出端IO=10mA，VCC=5V，我们可以看到，实际测试值VOL为0.3V 小于0.6V，故判断为OK施密特触发器输出光耦H11L1、2、3，H11N1、2 系列1. 确定被测光

11、耦类型此光耦的特别点在于他的输入电流阈值开启与关闭时不一样，此处我们主要确认他的输入与输出关系，测试他的输出低电平VOL，故不对输入进行过多测试，有兴趣的可以试着微调输入电流，便可准确看出他的IFon和IFoff。2. 测试线连接接线原理图：接线实物图：接线说明：1. 二 连 12. 一 连 23. 六 连 84. 四 连 75. 五 连 66. 红笔 连 67. 黑笔 连 73. 参数设定信号发生器：左通道 IFon（具体输入请参照5.判定标准）， 右通道电压输出5V，电流输出5mA万用表：直流2V档位4. 进行测试放入材料5. 判定标准在测试时输入电流IFon为下表中的Max.值，万用表上显示电压VOL小于0.4V为OK测试实例：下图为采用H11L2进行测试，输入端IF=10mA，输出端IO=5mA，VCC=5V，测试显示VOL=0.17V 小于0.4V，故判定为OK潮光光耦网（）整理编辑