（2）主要切面类型：
1）垂直光轴切面：
圆切面。
半径为No，光波垂直该切面入射不发生双折射。
2）平行光轴切面：
椭圆切面。
长短半径分别为Ne或No，光波垂直该切面入射发生双折射，双折射率等于Ne与No的差的绝对值，为一轴晶晶体的最大双折射率。
3）斜交光轴切面：
椭圆切面。
长短半径分别为Ne’或No，双折射率等于Ne’与No的差的绝对值，介于零与最大值之间。
·二轴晶光率体：
二轴晶光率体是一个三轴不等的椭球体。
（1）有关术语解释：
光学主轴（Ng、Nm、Np轴）；主折射率（Ng、Nm、Np；且Ng＞Nm＞Np）；主轴面；两根光轴（OA）；光轴面（AP）；光轴角（2V）；锐角等分线（Bxa）；钝角等分线（Bxo）；正光性；负光性。
（2）主要切面类型：
1）垂直一根光轴切面（OA）：
圆切面。
半径为Nm，光波垂直该切面入射不发生双折射。
2）平行光轴面切面（AP）：
椭圆切面。
长半径为Ng，短半径为Np，光波垂直该切面入
3）垂直Bxa切面：
椭圆切面。
对于正光性，长半径为Nm，短半径为Np，双折射率等于Nm-Np；对于负光性，长半径为Ng，短半径为Nm，双折射率等于Ng-Nm。
4）垂直Bxo切面：
椭圆切面。
正光性和负光性的长短半径的特点与垂直Bxa切面相反。
5）斜交切面：
椭圆切面。
长短半径分别为Ng’和Np’（Ng’大小介于Ng与Nm之间；Np’大小介于Nm与Np之间），双折射率等于Ng’-Np’。
四、光性方位
指光率体在晶体中的位置，即光率体主轴（No、Ne轴或Ng、Nm、Np轴）与结晶轴（a、b、c轴）之间的相互关系。
对低级晶族（二轴晶）矿物具有重要的鉴定意义。
·高级晶族:
可不考虑其光性方位问题。
·中级晶族（一轴晶）：
结晶轴C轴与光轴Ne轴一致。
·低级晶族（二轴晶）：
分为以下三种情况。
（1）斜方晶系：
三个主轴分别平行结晶轴。
（2）单斜晶系：
晶体的b轴与三个主轴之一平行。
（3）三斜晶系：
三个主轴与三个结晶轴均斜交。
第二章偏光显微镜
（透射）偏光显微镜是岩矿综合鉴定的精密光学仪器，与一般生物显微镜的主要区别在于安装有两个偏光镜。
本章教学目的是结合实物使学生了解偏光显微镜的基本构成、必备附件、使用方法及养护规则。
一、偏光显微镜的构成
·机械系统主要部件
（1）镜座与镜臂：
支撑显微镜及连接光源、物台、镜筒。
（2）镜筒：
连接目镜和物镜的部件.
（3）物镜转换器：
用于安装、选择不同倍数的物镜。
（4）载物台：
放置薄片用的可3600转动的圆形平台
（5）焦准设备（升降系统）：
分粗调和微调，作用是调节焦距，使物象清晰。
（6）聚光镜架：
连接聚光镜、下偏光镜、上锁光圈等的部件。
（7）上、下锁光圈：
控制光的通过量。
·光学系统主要部件
（1）光源：
分为自然光源和人工光源，目前多数显微镜采用人工光源。
（2）下偏光镜：
在聚光镜架底部，作用是把自然光转变为偏光。
其振动方向一般为东西向。
（3）聚光镜：
在聚光镜架上部，作用是把偏光转变为锥光，使显微镜处于偏光系统。
（4）物镜：
由多组透镜组成，连接在物镜转换器上，是决定放大倍数及成像质量的重要部件。
按放大倍数分为三类：
高倍镜（40倍和100倍）、中倍镜（10倍和20倍）、低倍镜（2.5´和4四倍）。
（5）目镜：
由眼透镜和场透镜组成。
目镜中附有十字丝，倍数有10倍和8倍两种。
（6）上偏光镜：
位于目镜和物镜间，振动方向与下偏光振动方向垂直，可自由推入或拉出。
（7）勃氏镜：
位于目镜和上偏光镜间，可自由的推入或拉出，与聚光镜和高倍镜配合使用。
二、偏光显微镜的调节与校正
·选择并装配物镜和目镜：
按需要选择物镜和目镜，在安装目镜时注意其内十字丝的方向。
·调节照明：
打开光源灯，调节变压器旋扭，直到亮度适度为止。
·焦准：
将薄片置于物台上，在教师指导下，用粗调或微调调焦至物象清晰。
在此过程中，千万注意，物镜前透镜不要与薄片接触，以免打碎薄片或损坏镜头。
·物镜中心的校正：
物台旋转轴、物镜中轴、镜筒中轴、目镜中轴必须保持在一条直线上，偏光显微镜才能正常使用，目前有关物镜中心的校正将由指导教师来完成。
·下偏光镜的检查：
下偏光镜的振动为东西向。
当黑云母的解理平行下偏光镜的振动方向时颜色最深，据此可以检查、调节下偏光镜的振动方向。
·上偏光镜的检查：
移去薄片，视域黑暗，说明上偏光振动方向与下偏光振动方向互相垂直。
否则，需要进行调节，调节工作由指导教师来完成。
三、偏光显微镜的养护
偏光显微镜价格昂贵并且是我们日常教学和科研中必备的光学仪器。
要想保证偏光显微镜的良好使用状态，延长偏光显微镜的使用寿命，就必须精心养护，有关偏光显微镜的使用规定及养护原则请参见实验室管理规定及教科书第49页。
第三章单偏光系统下晶体的光学性质
单偏光系统是指在只使用下偏光镜（起偏镜）的情况下，观察和测定矿物光学性质的系统。
在单偏光系统下，自光源发出的光波通过下偏光镜后变成振动方向平行下偏光镜振动方向的偏光，然后通过薄片到达目镜，将产生一系列光学现象。
本章主要讲授矿物的外表特征（形态、解理等）、与矿物吸收性有关的光学性质（颜色、多色性、吸收性等）、与矿物折射率有关的光学性质（突起、闪突起、糙面、边缘、贝克线、色散线等）。
其中难点是突起及其判断标志。
一、矿物的形态
（1）控制因素：
矿物成分、内部结构、物化条件、晶出顺序。
（2）观察内容：
矿物自形程度、矿物单体形态、矿物集合体形态。
·矿物自形程度：
自形晶、半自形晶、它形晶。
·矿物单体形态：
粒状、针状、板（条）状、柱状、片状。
·矿物集合体形态：
纤维状、放射状、球粒状、网状、交生状、雏晶状。
（3）观察方法：
同一矿物不同切面特点不同（图3-1），因此需要综合不同切面的特征，才
能正确判断出矿物的单体形态。
图3-1同一单体不同切面形态示意图
二、解理及解理夹角
（1）解理的表现形式：
在薄片中，解理表现为沿一定方向平行排列的细缝（解理缝）。
缝中
为树胶所充填，因矿物的折射率与树胶不同而使解理缝得以显现。
（2）解理等级的划分：
薄片中的解理按其完善程度可以分为三级。
·极完全解理：
解理缝很细、很密集、很清楚，且贯穿整个晶体，例如黑云母的解理。
·完全解理：
解理缝清楚，疏密中等，不完全贯穿晶体，例如角闪石的解理。
·不完全解理：
解理缝宽而稀疏，不清楚，断续通过晶体，例如橄榄石的解理。
（3）影响解理缝清晰程度的因素：
主要应考虑以下三方面。
·矿物解理的完善程度：
解理缝清晰程度解理的完善程度成正向关系。
·切片的方向：
切片的法线方向与解里面平行时解理最清楚。
随着两者夹角增大，解理缝变得不清楚。
增大到一定角度时，解理缝就看不见了，这个角度称解理可见临界角。
·矿物折射率：
矿物折射率与加拿大树胶折射率的差值.决定着解理缝的可见临界角。
（4）解理等级和组数的判定：
综合观察多种切片才能得出正确的结论（图3-2A）。
（5）解理缝与裂纹的区别：
解理缝较细密、平直，且缝的间距大致相等，以此区别于裂纹。
（6）解理夹角的测定：
·切片方向的选择：
选择同时垂直两组解理面的切片（图A），特征是两组解理缝最细最清楚，当解理缝平行目镜十字丝时，微微升降镜筒，两组解理缝不左右移动。
·解理夹角的测定步骤：
将选择好的切片置于视域心。
转动物台，使一组解理缝平行目镜十字丝纵丝，读取此时物台刻度盘上的度数a（图B）；再转动物台，使另一组解理缝平行目镜十字丝纵丝，读取此时物台刻度盘上的度数b（图C），a与b的差就是所测解理夹角。
图3-2切片的选择及解理夹角的测定步骤示意图
三、与矿物吸收性有关的光学性质（颜色、多色性、吸收性）
（1）颜色：
指在单偏光镜下，白光透过晶体后所呈现出来的颜色，它是矿物对不同色光选
择性吸收的结果。
注意，薄片中的颜色不同于手标本的颜色。
（2）多色性和吸收性：
在单偏光镜下，某些非均质体矿物的颜色随物台转动而发生变化，
这种现象称为多色性，颜色深浅的变化成为吸收性。
·成因：
非均质体矿物非垂直光轴切片，各方向的光学性质不同，对光波的选择性吸收及吸收总强度也随方向而变化，只是多数非均质体矿物这种变化不明显而已。
·表达方式：
多色性公式和吸收性公式
多色性公式：
Ne=浅紫色No=深蓝色;Ng=Nm=Np=
吸收性公式：
Ne>No（正吸收）或Ng>Nm>Np（反吸收）等.
·影响因素：
矿物本身性质,切片方向,薄片厚度。
四、与矿物折射率有关的光学性质（边缘、贝克线、糙面、突起、闪突起）
（1）突起：
在薄片中观察，不同矿物的表面有高低不平的感觉，这种现象称突起。
·原因：
不同矿物折射率与树胶折射率的差值不同，像点的位置就会高低不一样。
·分类：
矿物的折射率大于树胶的折射率时，称正突起，矿物的折射率小于树胶的折射率时，称负突起。
具体划分为六个等级（表3-1）
表3-1突起等级分类及各级突起主要特征
突起等级
折射率
糙面及边缘特征
实例
负高突起
<1.48
糙面及边缘显著，提升镜筒，贝克线移向树胶。
萤石
负低突起
1.48—1.54
表面光滑，边缘不清楚，提升镜筒,贝克线移向树胶。
正长石
正低突起
1.54—1.60
表面光滑，边缘不清楚，提升镜筒，贝克线移向矿物。
石英
正中突起
1.60—1.66
表面略显粗糙,，边缘清楚显著，
透闪石
正高突起
1.66—1.78
糙面显著，边缘宽而明显，
辉石
极高突起
>1.78
糙面极其显著，边缘很宽。
石榴石
（2）闪突起：
在单偏光镜下，旋转物台，双折射率很大的矿片，突起高低会发生明显的变
化。
这种现象称闪突起。
方解石、白云母等矿物的闪突起是其重要的鉴定特征。
（3）贝克线和边缘：
折射率不同的矿物接触时，由于光的折射和反射作用，使其接触处的
光线聚散不一。
光线集中的一侧产生一条亮线，称贝克线（光带）；光线缺少的一侧产生一
条黑暗的轮廓，称边缘。
它们可以用来判断相邻两矿物折射率相对大小（突起高低）。
（4）糙面：
矿物表面的光滑程度不同，有些矿物的表面显得较为粗糙，这种现象称糙面。
第四章正交偏光系统下晶体的光学性质
正交偏光系统指在同时使用上、下两个偏光镜的情况下，观察和测定矿物光学性质的系统。
在正交偏光系统下，通过下偏光镜的偏光，进入薄片，通过上偏光镜后到达目镜，将产生一系列光学现象。
本章讲授和实验观察的主要内容包括消光现象及消光位、干涉现象及干涉色、补色法则和补色器及正交偏光间主要光学性质的观测和测定。
注意，在不放任何矿片时，通过下偏光镜的光波其振动方向与上偏光镜的振动方向互相垂直，光波不能通过，视域黑暗，以此可以检查上、下两个偏光镜的振动方向是否互相垂直。
一、正交偏光镜间矿片的消光现象及消光位
·消光现象：
矿片在正交偏光镜间呈现黑暗的现象。
按其特点分为全消光和四次消光。
·全消光：
旋转物台一周，均质体或非均质体垂直光轴切片的消光现象（黑暗）不改变。
·四次消光：
旋转物台一周，非均质体晶体非垂直光轴切片的光率体椭圆半径有四次与下偏光镜平行的机会，故出现四次黑暗（消光）现象。
·消光位：
非均质体非垂直光轴切片在正交偏光镜间处于消光现象时的位置。
注意，矿片处于消光位时矿片光率体椭圆半径分别与上、下偏光镜的振动方向平行。
二、正交偏光镜间矿片的干涉现象
（1）干涉作用：
非均质体晶体非垂直光轴的矿片，其光率体椭圆半径与上、下偏光镜振动
方向斜交（即矿片不在消光）时，透过晶体分解的两束光波，频率相等，具有固定的光程
差且在同一平面内振动（上偏光镜振动面），因此必然发生干涉作用。
（2）控制因素：
光程差（R）。
如果光源为单色光，当光程差等于该单色光半波长的偶数倍
时干涉的结果是互相抵消而变黑暗；当光程差等于单色光半波长的奇数倍时，干涉的结果
是互相迭加使亮度增强；如果光程差介于二者之间，干涉的结果介于黑暗与最亮之间。
·光程差R=d·△。
其中，d为矿片厚度；△为矿物的双折射率。
·45︒位置：
矿片的光率体椭圆半径与上、下偏光镜成450角（矿片最明亮）时的位置。
（3）干涉色及其成因
·如果光源为单色光，随着光程差的逐渐增大，将依次出现明亮相间的干涉条带。
改变光
程差的方法是利用石英楔。
·如果光源为白光,干涉结果就是一系列复杂彩色条带的组合。
即干涉色。
（4）干涉色级序及各级序特征
用白光做光源，在正交偏光镜间缓慢推入石英楔，随着石英楔的慢慢推入，光程差连续地增大，视域内出现的干涉色由低到高有规律的变化，这种规律性变化叫做干涉色色序。
通常可以划分为四-五个级序（干涉色色谱表）。
当光程差非常大时，将出现一种与珍珠表面类似的亮白色，称高级白干涉色。
三、补色法则和补色器：
（1）补色法则：
在正交偏光镜间的450位置，放置两个互相重迭的非均质体矿片（垂直光轴
方向切片除外），光通过这两个矿片后，它们总的光程差增减的法则。
·同名半径平行,干涉色级序升高。
·异名半径平行,干涉色级序降低。
若R1=R2,,视域内变黑暗,这种现象称消色.
（2）补色器：
主要掌握石膏试板（λ）、云母试板（λ/4）和石英楔（1-3级）的特点及应用。
第五章锥光系统下晶体的光学性质
本章主要内容包括锥光系统的构成及其产生的光学现象--干涉图；不同轴性、不同切面类型干涉图的特点、成因及应用。
难点是波向图的构成及其对干涉图成因的解释；重点是不同切面干涉图的特点和应用。
一、锥光系统的构成及特点
·锥光系统的构成：
在正交偏光系统的基础上，加入聚光镜并将其提升到最高位置，换用高倍物镜，推入勃氏镜或去掉目镜，便构成了锥光系统。
·聚光镜的作用：
把透过下偏光镜的平行偏光转变成锥形偏光。
其特点是除中央一条光波垂直入射矿片外，其余光波均倾斜入射矿片，且愈向外倾角愈大，通过矿片的距离愈长。
·高倍物镜的作用：
能接纳较大范围的倾斜光波，使观察到的干涉图更完整。
·勃氏镜的作用：
勃氏镜与目镜联合组成一个宽角度望远镜式的放大系统，可看到放大的干涉图图象；去掉目镜，能直接观察镜筒内干涉图实象，其图形虽小，却很清晰。
二、干涉图
·均质体：
光学性质各方向一致。
任何方向的入射光都不发生双折射，不会产生干涉图。
·非均质体：
光学性质随方向而异。
在锥光系统中，观察到的是锥形偏光束中各个不同方向的入射光波，通过晶体到达上偏光镜后产生的消光现象和干涉现象的总和，它们构成一种特殊的图形，称为干涉图。
注意，干涉图并不是物体本身的映象。
三、一轴晶干涉图主要类型
（一）垂直光轴切面干涉图
·垂直光轴切面干涉图的特点
干涉图由一个黑十字和同心环状干
涉色圈组成，旋转物台360º，干
涉图不变化（图5-1）注意黑十字
交点位于视域中心，是光轴的出露
点，两条黑带分别平行上下偏光镜
的振动方向，干涉色色圈从中心向
外越来越密且干涉色级序升高。
·垂直光轴切面干涉干涉图的成因
一轴晶垂直光轴切面干涉图的成因可用一轴晶垂直光轴切面波向图解释（图5-1右）。
·垂直光轴切面干涉图的应用
根据干涉图的特点及波向图可以确定轴性、切片类型和光性符号（图5-2）。
（二）小角度斜交光轴切片的干涉图
光轴出露点不在视域中心，但仍在视域之内，由不完整的黑十字和干涉色色环组成。
四个象限的位置仍能分辨，光轴的出露点围绕十字丝交点作圆周运动，黑臂作上下、左右平行移动。
其应用同垂直光轴切面干涉图
（三）平行光轴切面干涉图
·当矿片处于0︒位时：
视域中为一粗大而模糊的黑十字，几乎占满视域，只在四个象限边缘出现干涉色（图5-3左）。
·稍转物台（12º-15º）：
黑十字从中心分裂，并沿光轴方向迅速逸出视域，因变化迅速，故称闪图。
·当矿片处于45º位时：
视域最亮。
如果矿物的双折率较小，则只出现一级灰干涉色。
如果矿物的双折率较大，则在两个相对的象限内出现对称的双曲线形干涉色色带，在光轴所在的两个象限内，干涉色由中心向两边逐渐降低，其它两个象限内，干涉色由中心向两边逐渐生高。
·成因：
可用平行光轴切面波向图解释（图5-3右）。
·应用：
当轴性已知时，可以确定切片类型和光性符号
三、二轴晶干涉图主要类型
（一）垂直锐角等分线切面干涉图
（1）垂直Bxa切面干涉图的特点（图5-4）
·在0º位置时：
由一个黑十字及“∞”字形干涉色色环组成。
黑十字交点在视域中心，为Bxa出露点。
黑十字的两条臂粗细不等，在光轴面迹线方向黑臂较细，且在两光轴出露点处最细；在Nm方向黑臂较粗。
“∞”字形色环以两个光轴为中心，干涉色向外逐渐升高，当矿片双折射率很低时，四个象限只有一级灰白干涉色，无干涉色色环。
图5-4垂直锐角等分线切面不同位置的干涉图
·转动物台：
黑十字逐渐分裂为一对双曲线形的黑臂。
·在45º位置时：
双曲线形的弯曲黑臂顶点相距最远，顶点的距离与光轴角的大小成正比，双曲线的顶点即光轴的出露点，其连线方向为光轴面迹线，中点为Bxa出露点。
·在90º位置时：
黑臂完全复原为黑十字，只是光轴面及Nm方向互换了位置。
（2）垂直Bxa切面干涉图的成因解释
·拜-弗定律：
光波沿任意方向射入二轴晶矿物中，垂直此入射光波的光率体椭圆半径，必定是入射光波与两个光轴所构成的两平面夹角的两个平分面与光率体椭圆切面的二条交线方向。
·应用到垂直锐角等分线切面上:
：
垂直任一入射光波的光率体椭圆半径，必定是入射光波出露点与两个光轴出露点联线所构成的两个夹角的角平分线方向。
据此可以绘出垂直锐角等分线切面光率体椭圆半径分布的波向图。
（3）在45º位时光率体要素分布和Bxa/Bxo的投影方位（图5-5）
（4）垂直Bxa切面干涉图的应用
·确定轴性及切片类型（2V小于45º）
·测定光性符号：
·测定光轴角大小.
（二）垂直一个光轴切面的干涉图
（1）垂直一个光轴切面干涉图特点
·总体特征：
相当于垂直Bxa切面干涉图的一半。
光轴出露点位于视域中心。
·在0º位置时：
光轴与上下偏光振动方向平行，出现一条直的黑臂及卵形干涉色色环，黑臂最细的地方为光轴出露点.
·转动物台：
黑臂逐渐发生弯曲。
·至45º位置时，黑臂弯曲最大。
黑臂弯曲的顶点位于视域中心，为光轴的出露点，凸向Bxa的出露方位.
·当物台转动角度大于45º时：
黑臂又渐趋平直，到90º时，黑臂完全恢复平直，只是方向恰与最初位置正交。
继续转动物台上述变化重复出现。
（2）垂直一个光轴切面干涉图的应用
·确定轴性及切片类型（适用于2V小于80º）;
·测定光性符号。
·测定光轴角大小：
根据垂直光轴切片干涉图中黑带弯曲程度目估2V大小。
·测量Nm颜色
（三）斜交光轴切面干涉图
相当于垂直Bxa或垂直光轴切面干涉图的某一部分，图象类型繁多，它们的黑十字和黑臂及干涉色色环都不完整，旋转物台时，黑臂常呈弯曲状扫过视域。
其中有两种类型的干涉图非常有用，即近于垂直光轴和近于垂直Bxa切面的干涉图，它们与垂直光轴和垂直Bxa切面干涉图的应用大体相同。
（四）平行光轴面切面干涉图
·干涉图特征与一轴晶平行光轴的干涉图相似，也称瞬变干涉图或闪图。
·当切面的Bxa与Bxo分别平行上下偏光的振动方向时：
视域出现一个粗大模糊的黑十字，几乎充满视域.
·转动物台小角度（7º-10º）：
黑十字迅速分裂为两个双曲线形状黑臂逸出视域，黑臂逸出方向为Bxa方向.
·转到45º位置时：
视域最亮，并出现干涉色若矿片双折射率较大或矿片较厚时，可以看到对称的干涉色带，从中心向外缘，沿Bxa方向上的两个象限，干涉色降低，沿Bxo方向的两个象限干涉色升高.
·干涉图应用：
主要用以确定切面类型，但当轴性已知时，可用来测定光性正负。
（五）垂直钝角等分线（Bxo）切面干涉图
·干涉图特征与垂直Bxa切面干涉图形相似。
只是黑十字显得更大而模糊，光轴出露点不在视域之内。
视域中心为Bxo的出露点
·垂直Bxo切面干涉图应用：
只有在切片类型能够确定时，才能用来测定光性符号。
第六章透明矿物薄片系统鉴定
在单偏光、正交偏光、锥光系统下观察测定未知透明矿物的一系列光学性质和光学常数，对照《光性矿物鉴定表》，准确定出矿物名称的过程（必要时配合其它测试方法）。
本章将前面所学知识有机地结合起来
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