硬件测试标准.docx

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硬件测试标准

1.

目的

此可靠性测试标准的目的是尽可能地挖掘设计，制造中的潜在性问题，在正式生产之前寻找改善

方法并解决上述问题点，为正式生产的产品在质量上做必要的保证；并检测产品是否具备设计上的

成熟性、使用上的可靠性.具体包括新产品的试验、物料的试验及例行抽检试验等等。

此指引适用于所有诺亚信高科技集团有限公司生产的移动产品。

3.1技术员：

设定仪器,完成相关测试项目，并记录测试结果.解决检测过程中的问题；并向工程师反

馈检测方法的缺陷和不足。

3.2工程师:

判断测试结果是否可接受；跟进问题的解决情况；改善检测方法。

4.1以具体的实验项目要求为准。

5.1环境可靠性试验

5.1.1咼温运行试验

试验目的：

验证手机在高温环境的适应性试验样品：

2sets试验内容：

55°C，手机配齐SIM卡/T卡，装电池开机，进行12小时测试，运行时间从到达

55C温度始算起.试验后在箱内检查，要求产品的功能、外观正常.受测前样机胶塞必须安

装归位.射频指标符合国家标准.对于翻/滑盖手机，1台开盖，1台合盖.（若屏/主板不同

判定标准：

1

供应商，则样机各选2pcs，共4pcs）。

、壳体外观检查，缝隙，镜片以及使用背胶固定的装饰件等粘贴牢固度。

、功能检查（注意屏的显示是否有黑影，坏点等异常）。

、触摸屏划写，点压准确性（如有触摸不准偏位等现象，进行屏幕校准看是否

可恢复）

、MP3FM耳机，充电，滚轮…。

、实网通话一次，看送话和受话是否正常。

5.1.2低温运行试验

试验目的：

验证手机在低温环境下的适应性。

试验样品：

2sets

试验内容：

-20C,手机配齐SIM卡/T卡，装电池开机并运行老化软件，进行12小时测试,

运行时间从到达-20C温度始算起.试验后在箱内检查，要求产品的功能、外观正常.受测前

样机胶塞必须安装归位.射频指标符合国家标准.对于翻/滑盖手机，2台开盖，1台合盖.（若屏/主板不同供应商，则样机各选2pcs,共4pCS）。

判定标准:

1

特别注意：

俄罗斯项目需要测试低温下的充电功能（电池电压是否会升高）。

、壳体外观检查，缝隙，镜片以及使用背胶固定的装饰件等粘贴牢固度。

、功能检查（注意屏的显示是否有黑影，坏点等异常）。

、触摸屏划写，点压准确性（如有触摸不准偏位等现象，进行屏幕校准看是否

可恢复）。

、MP3FM耳机，充电，滚轮…。

、实网通话一次，看送话和受话是否正常。

5.1.3高温贮存试验

试验目的：

应力释放和加速材料的老化。

试验样品：

2sets

试验内容：

80C,手机配电池关机，存储时间24小时，贮存时间从温度到达80C开始算起.在进行存储到24小时后，直接进行外观检查.受测前样机胶塞必须安装归位.再进行2小时回温后，开机进行电性能检查.对于翻/滑盖手机，2台开盖，1台合盖.（若屏/主板不同供应商，则样机各选2pCS，共4pcs）。

判定标准:

1、壳体外观检查，缝隙，LENS以及使用背胶固定的装饰件等粘贴牢固度。

3

可恢复）。

、功能检查（注意屏的显示是否有黑影，坏点等异常）。

、触摸屏划写，点压准确性（如有触摸不准偏位等现象，进行屏幕校准看是否

、MP3FM耳机，充电，滚轮…。

、实网通话一次，看送话和受话是否正常。

-40C,手机配电池关机，存储时间24小时，贮存时间从温度到达-40C开始算

试验内容：

起.在进行存储到16小时后，直接进行外观检查.受测前样机胶塞必须安装归位.再进行2小时回温后，开机进行功能、外观检查.对于翻/滑盖手机，2台开盖，1台合盖.（若屏/主板不同供应商，则样机各选2pCS，共4pcs）。

判定标准：

1、壳体外观检查，缝隙，镜片以及使用背胶固定的装饰件等粘贴牢固度。

、MP3FM耳机，充电，滚轮…。

、实网通话一次，看送话和受话是否正常。

5.1.5高温高湿试验

试验目的：

验证手机在高温高湿环境下的适应性，诱发临界状态的问题暴露出来0

试验样品：

2sets

、功能检查（注意屏的显示是否有黑影，坏点等异常）0

、MP3FM耳机，充电，滚轮…。

、实网通话一次，看送话和受话是否正常0

将试验样机不包装，装上所配电池，正常位置安装在适合的灰尘砂粒（灰尘量2

1/3，底部面积不超过100mm试验时，试验箱

试验内容：

千克每立方米）试验箱中.其体积综合不得超过试验箱的有效空间的有效水平面积的1/2，试验样机之间及与试验箱内壁距离应不小于内温度为（15-35C），相对湿度45%-75%试验箱内的气流速度应保持试验用灰尘均匀缓慢沉降在试验样机上，使最大风速不得超过2m/s，试验样机在该试验条件下保持8小时.

停止吹风后，待粉尘完全沉降，才能取出试验样品.备注：

测试时视整机出货状况决定是否需要封堵接口0

判定标准：

3

可恢复）0

1、壳体外观检查，缝隙，镜片以及使用背胶固定的装饰件等粘贴牢固度0

、功能检查（注意屏的显示是否有黑影，坏点等异常）0、触摸屏划写，点压准确性（如有触摸不准偏位等现象，进行屏幕校准看是否

、MP3FM耳机，充电，滚轮…。

、实网通话一次，看送话和受话是否正常0

6.

检查LCD窗口和CAM窗口是否进灰。

7.

检查按键手感，按键是否由于进灰产生不灵敏或者失效。

8.

检查所有I/O口的功能，尤其是没有保护的孔灵敏或者失效。

5.1.7盐雾试验

试验目的：

验证手机结构密闭性和抗腐蚀性能。

试验样品:

2sets

试验内容：

将试验样机装上所配电池，不包装状态下放入盐雾箱内，在35C下，用PH值为〜（酸性），浓度为（5±1）%的氯化钠（NaCI）盐溶液连续对试验样机喷雾2小时，喷雾结束后将试验样品转移到湿热箱中储存22小时，储存条件为温度（40±2）C，相对湿度为90%〜95%.按上述规定喷雾并储存，构成一个循环，进行三个循环试验。

备注：

测试时视整机出货状况决定是否需要封堵接口。

判定标准：

1、壳体外观检查，缝隙，镜片以及使用背胶固定的装饰件等粘贴牢固度。

、功能检查（注意屏的显示是否有黑影，坏点等异常）。

3

否可恢复）

、触摸屏划写，点压准确性（如有触摸不准偏位等现象，进行屏幕校准看是

、MP3FM耳机，充电，滚轮…。

、实网通话一次，看送话和受话是否正常。

5.1.8随机振动试验

试验目的：

试验样机抗振动性能

试验样品:

2sets

试验内容：

将试验样机装上所配电池，不包装.牢固地水平固定在振动台上；在对试验样机进行振动测试时，采用以下频率/幅度：

频率5〜20Hz时，随机振动ASD（加速度谱密度）为S3;频率20〜500Hz时，随机振动ASD（加速度谱密度）为S3（20HZ,其它-3dB/倍频程.将试验样机分别在X、丫、Z轴上振动，每个轴振动10分钟.在振动过程中，试验样机连接综测设备，

对试验样机进行射频性能测试。

判定标准:

、壳体外观检查，缝隙，镜片以及使用背胶固定的装饰件等粘贴牢固度。

、功能检查（注意屏的显示是否有黑影，坏点等异常）。

3

否可恢复）。

、触摸屏划写，点压准确性（如有触摸不准偏位等现象，进行屏幕校准看是

、MP3FM耳机，充电，滚轮…。

、实网通话一次，看送话和受话是否正常。

5.1.9温度冲击测试

试验目的：

验证手机结构、装饰件、焊接等在快速温变下的寿命。

试验样品:

2sets

试验内容：

将试验样机不包装，装上所配套电池，关机状态下，低温-40°C±2°C/1H，高温

80C±2C/1H，转换时间w5min,循环12次,共计24小时。

判定标准:

1

、壳体外观检查，缝隙，镜片以及使用背胶固定的装饰件等粘贴牢固度。

、功能检查（注意屏的显示是否有黑影，坏点等异常）。

3

可恢复）

、触摸屏划写，点压准确性（如有触摸不准偏位等现象，进行屏幕校准看是否

、MP3FM耳机，充电，滚轮…。

、实网通话一次，看送话和受话是否正常。

5.2机械可靠性试验

5.2.1自由跌落试验

试验目的：

验证手机的结构以及主板器件的可靠性，整机抗多次跌落的能力。

试验样品:

4sets

试验内容：

注意点：

A.普通屏，研发阶段米，大理石地面。

—（含）研发阶段1米，大理石地面。

及以上屏，研发阶段米，大理石地面。

屏,跌落高度为米标准，大理石地面。

屏以及以上,跌落高度为米标准，大理石地面。

、进行测试前，先检查手机功能正常；确认结构方面的初始状态（便于跌落后进行比对）。

2、将试验样品装上配套的电池/SIM卡/T卡，6面/4角，每个部位连续跌2次，总计20次,跌落顺序：

上顶面f下底面f左侧面f右侧面f左上角f右上角f左下角f右下角fB面fA面（屏面）。

3、对于折叠、滑盖以及旋转结构试验样机，先跌开盖状态，每个面跌落1次，再在合盖状态下每个面跌1次，四个角每个角各2次。

判定标准：

1.手机是否壳体开裂，键盘/侧键等弹出，螺丝松动，镜片脱落等现象。

2.

手机是否在轻微扭曲/弯折后，正常开机。

3.

功能是否正常。

4.

跌落完毕，检查关机漏电流/待机的电流（漏电流W1mA待机的电流W3mA。

5.

拍照后，照片的保存以及删除。

收台/使用；MP3耳机/外放效果。

8.

触摸屏校准2次；手写输入写短信后发出，发出2条。

9.测试完成后，无机械损伤和功能失效。

试验样机内部屏蔽罩及其它元器件不

能存在松脱或损坏现象，摇动试验样机应不出现任何异响。

跌落过程中，允许有

3次以下掉电及重启

5.2.2微跌落试验

试验目的：

验证手机在正常使用中轻微撞击的适应性。

试验样品:

2sets

试验内容：

将试验样机不包装，装上所配套电池，插入T卡及SIM卡。

开机播放T卡MP3状态下，跌落高度为10cm跌落面为PVC垫面，试验样机跌落方位顺序为：

A面一B面一左面—右面—上顶面—下底面，进行连续跌落每个面跌1000次总次数为6000次，且完成6000次测试时记录测试结果。

跌落后检查试验样机的外观结构及各项功能，并进行电性能测试。

判定标准：

1.手机是否壳体开裂，键盘/侧键等弹出，螺丝松动，镜片脱落等现象。

收台/使用；MP3耳机/外放效果。

试验样品:

2sets

试验内容：

将试验样机不包装，装上所配套电池，开机锁住键盘正面朝上，机身与固定支

架的轴向垂直地放在帆布上并用布带将试验样机紧固.长度为12cm的硅橡胶挤压头以（250

±10）N的力，每分钟30次垂直作用于试验样机中部的翻盖正面或键盘面。

1次为2秒，

包括1秒施力和1秒松开，一共1000次，,每200次做一次检查。

试验环境为常温.试验过程中试验样机保持开机状态.对于折叠、滑盖以及旋转结构试验样机，应在合盖状态下进行试验。

判定标准：

测试过程中手机不能关机，测试完成后手机机械电气功能正常，镜片/LCD无损

坏，黑屏，花屏等显示异常。

5.2.4

ESD式验

试验目的：

检验手机在使用中抵抗自然静电的能力。

试验样品:

2sets

试验内容：

温度15C〜35C,相对湿度30%-60%RH气压86〜106kPa.试验样机处于充电状态下，通话状态或进入照相模式进行测试，对每个选取点放电10次，每秒1次.（接触放电）放电电压设置为±6KV选取点：

试验样机在操作过程中正常被人体接触的导体部分，测试部位至少包括：

充电接口、金属天线等、及金属装饰件等.（空气放电）放电电压设置为：

±10KV选取点，试验样机在操作过程中正常被人体接触的非导体部分，例如：

前后壳接缝、LCD显示屏、按键面板、I/O口及其它所有的露孔接缝处。

判定标准：

ESD测试时应能继续保持工作状态，出现的异常现象，如屏幕显示不正常、通话

音杂等，应该在试验完毕后能恢复；试验完毕后试验样机通话、充电等功能应正常，试验

样机中存储数据应不会产生丢失。

试验后各项功能正常。

5.2.5

扭曲试验

试验目的：

检查手机抗扭曲能力

试验样品:

2sets

试验内容：

将试验样机不包装，装上所配套电池，开机状态下固定扭曲试验机上，两端各挟持15mm以2N-m扭矩，顺时针扭曲和逆时针扭曲各一次交错进行，频率为15〜30/次,

共扭曲1000次.试验环境为常温.对于折叠、滑盖以及旋转结构试验样机，应在合盖状态下进行试验。

5.2.6

判定标准：

测试过程中手机不能关机，测试完成后手机机械电气功能正常。

内容：

弹簧锤撞击试验

目的:

检查手机触摸屏抗撞击能力。

试验要求:

撞击能量为，用弹簧锤撞击锤对触摸屏中心位置和四角各进行一次测试。

判定标准:

触摸屏表面不能有破裂，各项电性能符合要求。

数量:

2sets

5.3部件机械可靠性试验

5.3.1触摸屏点击试验

试验目的：

屏的手写寿命

试验内容：

将试验样机不包装，装上所配套的电池，关机状态下，用尼龙笔，力量250g，频率3次/秒，点击次数10万，每1W次做一次检查。

打点位置：

动作区范围内的中央部位.

判定标准：

触摸屏表面不能有破裂，各项功能正常。

5.3.2

触摸屏划线试验

试验目的：

屏的手写寿命。

试验样品:

2sets

试验内容：

将试验样机不包装，装上所配套电池，关机状态下，用尼龙笔，力量250g,划

一三角形，触控屏右侧和底部预留5mm速度150mm/sec，重复测试10万次.直线划动位置：

动作区范围内的中央部位。

判定标准：

触摸屏表面不能有划痕可接受，不能有破裂，各项功能正常。

5.3.3

翻/滑盖寿命试验

试验目的：

验证手机壳体材质，滑轨，FPC的寿命.以及滑盖组件结构的配合寿命

试验样品:

2set

试验内容:

翻盖寿命试验将试验样机不包装，装上所配电池，开机装态下，把试验样机滑（旋）盖打开再合上为一次开合，操作频率要求35次开合/分，共需要开合10万次.试验

结束后，拆机检查FPC不能有明显划痕和刮伤。

滑盖寿命试验A类要求：

将试验样机不包装，装上所配套电池，开机状态下，把试验样机滑盖打开再合上为一次开合，操作频率要求45次开合/分，共需要开合10万次。

B类要求：

将试验样机不包装，装上所配套电池，关机状态下，把试验样机滑（旋）盖打开再合上为一次开合，操作频率要求35次开合/分，共需要开合10万次。

判定标准：

5000，1万，2万，3万，4万，5万，8万，10万次各检查手感良好，滑盖/翻

盖可以平稳开合，滑轨无明显松动，变紧，滑动/转动时无明显异音等，以及与测试前状态不一致的结构问题，电气功能正常，打开手机后观察FPC没有明显磨损，转轴的外观结构及灵敏度、LCD显示的情况、按键音是否正常、能否正常呼叫、其它地方的外观是否完好。

5.3.4

按键寿命（含侧键）试验

试验目的：

验证手机按键的使用寿命及长期按键对周围器件的影响

试验样品:

2sets

试验内容：

开机状态下测试，导航键和确认取消键：

10万次.侧键：

5万次，10N的力度，速度60-100次/分，打在DOME中央。

判定标准：

dome不能失效.按键手感不能明显变差。

5.3.5

数据线接口插拔寿命试验

试验目的：

验证手机长期插拔充电器，耳机，数据线对相关器件的影响。

试验内容：

开机状态下，将试验样机的数据线和数据线的插头进行反复插拔，插拔频率为

20次/分，连续进行3000次循环，1次循环为1次插入和拔出.试验环境为常温。

判定标准：

试验后数据线I/O口无任何的变形、损伤，数据线功能正常。

5.3.6

耳机口插拔寿命试验

试验目的：

验证手机长期插拔耳机对相关器件的影响。

试验样品:

2sets

试验内容：

开机状态下，将试验样机的耳机座和耳机的插头进行反复插拔，插拔频率为次/分，连续进行3000次循环，1次循环为1次插入和拔出.试验环境为常温。

20

判定标准：

试验后耳机座无任何的变形、损伤，数据线功能正常。

5.3.7

充电器插拔寿命试验

试验目的：

验证手机长期插拔充电器对相关器件的影响。

试验样品:

2sets

试验内容：

充电器不接电源，开机状态下，将试验样机的I/O口和充电器的插头进行反复插拔，插拔频率为20次/分，连续进行3000次循环，1次循环为1次插入和拔出.试验环境为常温。

判定标准：

试验后I/O口无任何的变形、损伤，试验机充电功能正常。

5.3.8

储存卡插拔试验

试验目的：

验证手机长期插拔储存卡对相关器件的影响。

试验样品:

2sets

试验内容：

开机状态下，将T卡插入拔出进行反复插拔，插拔频率为20次/分，连续进行1000次循环，1次循环为1次插入和拔出.试验环境为常温。

判定标准：

T卡镀金部位是否有被明显磨损和功能正常，结构稳固。

5.3.9

SIM卡插拔试验

试验目的：

验证手机长期插拔SIM卡对相关器件的影响

试验样品:

2sets

试验内容：

将SIM卡和试验样机SIM卡座进行反复装拆，插拔频率为20次/分，连续进行1000次循环，1次循环为1次插入和拔出.试验环境为常温。

判定标准：

检查SIM卡触片、SIM卡推扭开关正常，SIM卡镀金部分是否会被明显磨损和功能正常，结构稳固，手机读卡功能使用正常，开机必须能够辨识

SIM卡。

5.3.10

触摸笔拉拔试验

试验目的：

验证触摸笔的使用寿命

试验样品:

2sets

试验内容：

将触摸笔和试验样机进行反复插拔，插拔频率为20次/分，连续进行5000次循环，1次循环为1次装入和取出.试验环境为常温。

5.3.11

判定标准：

触摸笔不能明显松动，甩动手机，触摸笔不能脱落。

电池/电池后盖拆装耐久性试验

试验目的：

验证手机在正常使用中，电池及后盖频繁拆装后，对相关器件的影响。

试验样品:

2sets

试验内容：

将电池、电池盖和试验样机进行反复装拆，插拔频率为20次/分，电池连续进行1000次循环，电池盖连续进行1000次循环，1次循环为1次装入和取出.试验环境为常温。

判定标准：

电池盖无变形，卡勾无破裂，电池盖无松动。

以20cm微跌掉电池盖的次数小于

等于2次做为是否通过插拔测试通过的依据。

试验样品:

2sets

5.3.13

力（逐渐增大），从水平方向拉吊绳孔，当拉力达到50N时立即释放。

扬声器寿命试验

试验目的：

验证样机扬声器寿命性能。

试验样品:

2sets

判定标准：

扬声器能正常发音且应无破音，手机各项功能正常。

导入新物料时，必测此项.

如果只是修改线长，泡棉尺寸，其余无变化，可以不用测试。

5.3.14振动器寿命试验

试验目的：

验证样机马达寿命性能。

试验内容：

进入菜单选择马达启动，保持连续震动72小时。

判定标准：

马达能正常工作且应无明显振动强弱变化，手机各项功能正常。

5.3.18

LCDLens硬度试验

试验目的：

验证LCD镜片的耐磨性。

5.3.15

听筒寿命试验

试验目的：

验证听筒寿命。

试验样品:

2sets

试验内容：

调节硬件和软件放大倍数，要求有效功率略大于额定功率10%以上（在拨打彩铃

或用力吹气时，峰峰值不超过.进入菜单选择听筒开启，保持连续受话96小时。

判定标准：

听筒能正常工作且应无明显受话强弱变化，手机各项功能正常；导入新物料时，必测此项.如果只是修改线长，泡棉尺寸，其余无变化，可以不用测试。

5.3.16

麦克风寿命试验

试验目的：

验证样机麦克风寿命性能。

试验样品:

2sets

试验内容：

调节硬件和软件放大倍数，要求有效功率略大于额定功率10%以上（在拨打彩铃

或用力吹气时，峰峰值不超过.进入菜单选择麦克风开启，保持连续送话48小时。

判定标准：

麦克风能正常工作且应无明显振动强弱变化，手机各项功能正常；导入新物料时，必测此项.如果只是修改线长，泡棉尺寸，其余无变化，可以不用测试。

试验样品:

2sets

试验内容：

屏的压力测试.测试最靠近边缘的9个点及中间一个点，要求承受压力要大于，使用直径为10mm勺圆柱形压头，在测头与屏接触面垫泡棉，压边缘屏的位置，但不要压边框。

判定标准：

屏不能破裂,失效。

试验样品:

2sets

试验内容：

用三菱试验铅笔芯，以1kgf压力。

笔尖要磨平的，要放在砂纸上以90度角磨平的。

需按照屏镜片具体材质,具体制定.PET:

1H、普通喷漆:

2H、胶类使用Level3。

判定标准：

测试部位不应出现的明显划痕。

插孔保护塞拉拔力测试

试验目的：

验证胶塞的牢固程度

5.3.20

5.3.22

次。

试验样品:

2sets

试验内容：

的拉力，保持10秒，共进行2次。

判定标准：

塞子不能拉脱/拉断,测试结束后能收缩回原始状态。

插孔保护塞反复拆装试验

试验目的：

验证胶塞多次拆装后,是否配合良好。

试验样品:

2sets

试验内容：

1000次

判定标准：

测试结束后,与原始状态一致。

试验样品:

2sets

试验内容：

A壳显示窗lens为背胶粘贴形式.拆机后,将A壳lens（透镜/镜片）用电子拉力计往外顶,要求将lens（透镜/镜片）顶脱胶的力不能小于。

判定标准：

LENS占性牢固,不能脱落。

按键帽拉拔力试验

试验目的：

验证按键的可靠性,是否容易脱落。

试验样品:

2sets

试验内容：

使用普通透明胶带，将其粘在按键上，从垂直90度方向迅速拉起，重复操作3

判定标准：

键帽不脱落，不损伤。

5.3.23

5.3.24

镶件拉力试验

试验目的：

验证试验样机镶件的抗拉性。

试验样品:

2sets

试验内容：

将螺钉拧入镶件，用拉力计钩住螺钉头，将试验样机固定，用拉力计测出将镶

件拔出的拉力.试验样机的每处镶件均需测试，要求镶件的破坏拉力大于7Kgf。

镶件扭矩试验

试验目的：

验证试验样机镶件的抗扭力性能

试验内容：

把螺丝枪扭矩设为？

cm将试验样机前后盖合上，用螺丝枪将螺钉拧入到底，然后再松开螺钉，开启试验样机盖，检查镶件是否旋出塑料柱.试验样机的每处镶件均需测试。

判定标准：

要求镶件不能脱出塑料柱。

5.4

结构壳可靠性试验

5.4.2

5.4.3

试验内容：

用专用的NORMANRCA磨测试仪（型号：

7-IBB—647）及专用的纸带（11/16inchwidex6或8inchdiameter），施加175g的载荷，带动纸带在样本表面磨擦.普通喷漆部位要求300次，橡胶漆部位要求40次，橡胶漆LOGdO次，真空溅镀部位要求200次，印刷、图案（在表面）部位要求200次.试验时尽量选取容易发生脱漆的边角位进行磨擦.试验环境为常温.该试验只针对试验样机外表面喷漆或印刷部位。

判定标准：

试验后喷油部位不露出基材颜色，印刷部位文案仍然清晰。

硬度试验

试验目的：

验证手机机壳表面涂附层的硬