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全文翻译《材料科学与工程基础》第5章固体中的缺陷
第5章固体中的缺陷
为什么要学习固体中的缺陷
某些材料的性质受到存在于材料中的缺陷的极大影响。
因此、知道存在于材料中缺陷的类型，以及它们在影响材料性质中的作用是很重要的。
例如、纯金属的力学性质经过合金化以后（即加入杂质原子）会发生很大变化——例如、标准银合金（含银92.5％，含铜7.5％）比纯银更硬更强（8.10节）。
而且，在我们的计算机、计算器和家用功能的集成微电子设备是通过在半导体材料上引入高度可控的杂质浓度和定域化掺杂获得的（12.11节）。
学过这一章后，你应当掌握以下内容：
∙描述空位和自间隙晶体缺陷。
∙已知相关常数，计算某特定温度下材料中的平衡空位数。
∙两种类型的固溶体的书面定义和图示表达。
∙陶瓷化合物中几种不同的点缺陷。
∙已知合金中组元的质量和原子量，计算每种元素的质量百分浓度和原子百分浓度。
∙对于刃型、螺型和混合型位错中的每一种：
∙描述和画出位错；
∙注意位错线的位置；
∙指出位错线延伸的方向。
∙描述（a）晶界和（b）孪生晶界附近的原子结构
5.1引言
对于晶体固体材料，我们默认在材料内部原子级水平上排列完全有序。
然而这种理想固体是不存在的；所有固体都存在大量的各种缺陷。
事实上材料的许多性质都很深地受到材料中缺陷程度的影响；这种影响不总是有害的，人们常常通过有意识的引入缺陷和控制缺陷的量来获得特殊性质的材料，详细情况在下面的章节中要介绍。
“晶体缺陷”意味着在原子大小范围晶格不规则。
晶体缺陷的分类通常按照缺陷区的几何形状和大小。
这一章要讨论几种不同的缺陷，包括点缺陷（尺寸与一两个原子大小相近），线缺陷（一维缺陷），以及面缺陷，即界面，是二维缺陷。
也要讨论如果在某一方向上缺陷区的尺寸可以与晶体或晶粒的线度相比拟，而在其它方向上的尺寸相对于晶体或晶粒线度可以忽略不计，那么这种缺陷就称为线缺陷或位错，这是本章要着重讨论的缺陷…
（3）面缺陷如果在共面的各方向上缺陷区的尺寸可与晶体或晶粒的线度相比固体中的杂质，因为杂质原子也可能以点缺陷的形式存在。
{最后，简要叙述显微测量缺陷的技术和材料的结构。
}
点缺陷
5.2金属中的点缺陷
最简单的点缺陷是空位,即空的晶格位。
通常在一个原子原来占据的地方变成了空位（图5.1）。
所有晶体固体都含有空位，事实上，不可能阻止材料中没有空位这种缺陷。
空位存在的必然性可以用热力学原理来解释；实质上、空位的存在增加了晶体中的熵（无序性）。
一定量的材料中的平衡空位数Nv随温度而增加，具有如下关系：
（5.1）
式中，N是总的原子数，
是形成空位所需要的能量，T是绝对温度，k是气体常数或波尔兹曼常数，取值取决于
的单位。
的单位为焦耳时，k为1.38*10-23J/atom-K,当
的单位为电子伏特时，k为8.62*10-5eV/atom-K。
因此，空位数随温度成指数增加。
对大多数金属，空位分数
在略低于熔点的时候是10-4数量级，也就是说，在10000个位置中有一个是空的。
正如以上讨论指出的，其他材料的空位数也有类似于公式5.1的关系。
自间隙是晶体中的一个原子挤入到原来并没有原子占据的很小的间隙位置中去的情况。
这种情况也表示在图5.1中。
对于金属材料，自间隙会引起周围晶格的较大变形，因为原子比间隙的空间要大得多。
因此这种情况并不多见，它仅仅以很小的浓度，即远低于空位的浓度出现。
例5.1
5.3陶瓷中的点缺陷
原子点缺陷
陶瓷化合物也存在点缺陷。
象金属一样，空位和间隙都是可能的；可是由于陶瓷材料至少含有两类离子，每种离子都可能形成缺陷，例如在NaCl中，Na离子间隙和空位以及Cl离子间隙和空位都可能存在。
知道阴离子间隙的精确浓度不太可能。
阴离子相对较大，要填入到较小的间隙中需要额外的应力排开周围的离子。
图5.2画出了阴离子和阳离子空位，以及阳离子间隙。
陶瓷中缺陷的表示通常通过指定原子的类型和点缺陷浓度。
由于原子以带电的离子出现，当考虑缺陷结构的时候，必须考虑电中性的要求。
电中性是材料中离子所带的正负电荷总数相等。
因此、陶瓷中的缺陷不会单独发生。
一种缺陷类型是阳离子空位和阴离子间隙对。
这种缺陷叫做弗兰克尔缺陷（图5.3）。
可以认为是阳离子离开它的晶格位置进入间隙位置形成的。
电荷没有发生变化，因为阳离子在间隙中仍然带正电。
另一种类型的点缺陷是AX型化合物中发现的阳离子空位－阴离子空位对，叫做肖特基缺陷，也画在图5.3中。
认为这种缺陷是把材料内部的一个阳离子和一个阴离子移动到材料的外表面形成的。
因为阳离子和阴离子有相等的电荷，有一个阴离子空位便存在一个阳离子空位，整个材料维持电中性的要求。
无论肖特基缺陷和弗兰克尔缺陷都不会改变阳离子与阴离子的比值。
如果没有其他缺陷存在，这时材料为化学计量关系，化学计量是化合物中的阴阳离子精确按照化学式的比例关系取值。
如NaCl化学计量为：
阴阳离子比为1:
1，如果偏离这一比值，我们就把这种化合物称为非化学计量的。
非化学计量在某些陶瓷材料中是存在的，若材料中含有某种具有两种价态的离子时。
氧化铁就是这样一种材料，因为铁可以二价和三价形式存在；这两种价态的任意一种离子的数量取决于温度和氧气压力。
由于Fe3+的形成引入多余的一个正电荷，破坏了原材料的电中性，必须由某种缺陷形式进行弥补。
当每形成两个Fe3+就可能形成一个Fe2＋空位（或移去两个正电荷）（图5.4）。
晶体这时不再是化学计量的，因为有多余的一个氧离子，但是晶体保持电中性。
这种现象在铁氧化物中非常普遍，事实上，它的化学式常写成Fe1-xO（这里x是小于1的可变的分数。
5.4固体中的杂质
金属中的杂质
自然界只由一种原子组成的纯金属是不存在的，杂质即外来原子总是有，一些以点缺陷的形式存在。
事实上，即使采用相当复杂的技术，也很难把金属提纯到99.9999%以上，就是在这样高的纯度下，在一立方米材料中也含有1022-1023的杂质原子。
工程上应用的大多数金属都不是高纯的，而是合金，人们有意加入一些杂质原子以改善金属的力学性质和耐腐蚀特性。
例如Sterling银是含银92.5%，含铜7.5%的银合金。
在通常情况下，高纯银耐腐蚀性好，但是很软。
加入铜合金化以后大大改善了银的力学强度，也没有损害它的耐腐蚀性能。
杂质原子加入到金属中会导致固溶体和二次相的形成，这取决于杂质种类、它们的浓度和合金的温度。
这里只讨论固溶体，新相放在第10章讨论。
一些有关杂质和固熔体的概念要说明。
至于合金，通常用溶质和溶剂来表示量的关系，溶剂是大量存在的元素或化合物，溶剂原子也叫做主体原子。
溶质则是以微量或少量存在的元素或化合物。
固溶体
固溶体是外来的溶质原子加入到溶剂材料中，晶体结构不变，没有新结构产生的一类物质。
也许用液体溶液来说明是有助于理解。
如果两种互相溶解的液体（例如水和酒精）混合，就会产生分子混合的完全均匀的一种液体。
与溶液类似，固溶体中的杂质原子也随机均匀的分散在固体中。
固溶体中的杂质点缺陷有两种形式：
即置换型和间隙型固溶体。
置换型固溶体是杂质原子取代溶剂原子形成的（图5.5）。
溶质原子能否取代溶剂原子形成置换型固溶体具有以下规则：
1.原子大小因素
只有原子半径相近，即溶质和溶剂原子半径的差值不超过15%，才可能形成置换型固溶体，否则会产生额外的晶格缺陷或生成新相。
2.晶体结构
溶质和溶剂原子的金属晶体结构必须相同。
3.电负性
更为电负性的原子与更为电正性的原子很可能形成金属间化合物而不是置换型固溶体。
4.价态
其他因素相同，具有较高化合价的金属会溶解其他较高化合价的金属而不是较低化合价的金属。
置换型固溶体的一个典型例子是铜和镍形成的固溶体。
这两种元素可以任意比例完全互溶。
上面提到的规则也完全符合。
铜和镍的原子半径分别为0.128和0.125nm，金属铜和镍都为面心立方结构，它们的电负性分别为1.9和1.8（图2.7）；最后，铜的最常见化合价为+1（有时也可为+2），镍的化合价为+2。
间隙型固溶体杂质原子填充在主体原子的空隙中（见图5.5）。
对于金属材料具有相当高的致密度，间隙空间很小。
因此间隙杂质原子的半径应比主体原子半径小。
通常允许的间隙杂质原子浓度是较低的（小于10%）。
即便是很小的间隙原子通常半径也大于间隙空位，因此它们会对相邻的主体原子施加晶格应力。
（题5.9）
碳加入到铁当中会形成间隙型固溶体；碳的最大浓度为2%。
碳的原子半径远小于铁，为0.071nm，而铁为0.124nm。
陶瓷中的杂质
象金属材料一样，杂质原子可在陶瓷材料中形成固溶体。
间隙型和取代型两种固溶体都是可能的，对间隙型固溶体杂质离子的半径必须小于阴离子半径，对于置换型固溶体置换离子的电性质与被置换离子的电性质要相同，如果杂质原子是阳离子，它最可能占据阳离子空位。
为了得到置换型固溶体，杂质离子的半径和电荷应与被置换的离子或空位尽量一致。
例如钙和氧离子很可能分别取代钠离子和氯离子。
图5.6中画出了阳离子和阴离子置换型和间隙型杂质。
为了使置换型杂质原子获得一定的固溶度，离子大小和电荷应当与被置换的主体离子尽可能一致。
如果杂质离子与被置换的主体离子电荷不同，晶体必须补偿这种差异以满足固体电中性的要求。
正如上面讨论的，一种补偿方式是形成晶格缺陷——即上面谈到的离子型的间隙或空位。
聚合物中的点缺陷
应当注意由于聚合物的链状结构和结晶形态，聚合物中的缺陷与陶瓷和金属中的形式是不相同的。
聚合物结晶区材料中的点缺陷类似于金属，包括空位和间隙原子或离子。
链末端认为是一种缺陷，因为它们在化学上与单元链有所不同，空位也与链末端有关。
杂质原子/离子或原子团/离子团可以作为中间杂质参与分子结构中，它们也可以主链和短支链形式进入聚合物的分子结构。
5.6成份的表示
常常有必要按照合金的元素组成表示成分（或浓度）。
两种表示浓度最普通的形式是质量百分浓度和原子百分浓度。
质量百分浓度（wt%）是某种金属元素的质量除以合金的总质量。
如含有元素1和元素2的质量百分浓度表达式为：
（5.3）
式中m1、m2分别表示两种元素的质量。
元素2的浓度可以按照类似的方法计算。
原子百分浓度（at%）的计算是某种金属元素的摩尔数除以合金的总摩尔数。
具有某特定质量的元素的摩尔数nm1可按下式计算：
（5.4）
式中m1’和A1分别为元素1的质量和原子量。
含有元素1和元素2的合金中元素1的原子百分浓度表达式为：
（5.5）
以类似方法可以得到元素2的原子百分浓度。
原子百分浓度也可用原子数而不是摩尔数来计算，因为所有物质的每摩尔的原子数是相同的。
其他形式的缺陷
5.7位错-线缺陷
位错是线缺陷即一维缺陷，在位错线附近原子发生错排。
图5.7是一种形式的位错：
一个多余的部分原子面，即半原子面，晶体内半原子面的边缘。
这种位错是刃型位错；线缺陷的中心就是半原子面终端的线形区域。
有时把它叫做位错线，图5.7中的刃型位错是垂直于书平面的。
在位错线的附近会发生局部的晶格变形。
在图5.7位错线上部的原子受到挤压，原子键距缩短，而在下半部，受到张应力原子间距增大，当在晶体中多余了半个垂直插入的原子面导致晶面略有弯曲。
离位错线越远，变形程度越小，直到恢复规则排列。
有时用符号┴表示图5.7中的刃型位错，该符号也指出了位错线的位置。
多余的半原子面在晶体下方也可以形成刃型位错，它的符号是┬。
另一种类型的位错叫螺型位错，它是由于受到剪切应力而形成的，如图5.8a所示，晶体的上面靠前的区域相对下面部分滑移了一个原子距离。
螺形位错也是沿图5.8b中的位错线AB产生的线缺陷。
螺型位错的名称来自于位错线周围的原子是按螺旋形错排的。
有时用符号ح表示螺型位错。
在晶体材料中发现的大多数位错既不是纯的刃型位错，也不是纯的螺旋位错，而是两种位错的组合，也叫做混合型位错。
这三种形式的位错画在图5.9中，来自两个面的晶格变形是混合形的，刃型位错和螺型位错的程度可变。
与位错有关的晶格变形的方向和大小用柏格斯矢量b来表示。
图5.7和5.8分布画出了刃型位错和螺型位错的柏格斯矢量。
而且、位错的性质（即刃型、螺型或混合型）是由位错线和柏格斯矢量的相对方向确定的。
对于刃型位错是垂直的（图5.7），而对于螺型位错则是平行的（图5.8）；对于混合型位错既不垂直也不平行。
并且，晶体内的位错尽管改变方向和性质（例如从刃型变为螺型到混合型），柏格斯矢量沿着位错线所有点保持不变。
例如，，图5.9中曲线型位错的所有位置具有相同的柏格斯矢量。
对于金属材料，位错产生的柏格斯矢量方向在线密度最高的方向，大小等于原子间的距离。
晶体材料中的位错可以用电子显微镜观测。
图5.10就是一个高放大倍数的扫描电镜照片，图中黑色的线就是位错线。
实际上所有晶体材料在固化的时候、在塑性变形时、在迅速冷却形成热应力情况下都会诱导产生位错缺陷。
这些材料由于塑性变形引起的位错在第8章讨论。
在聚合物材料中也观测到了位错，可是、聚合物中位错结构的性质以及聚合物塑性变形形成位错的机理仍然存在一些争论。
5.8面缺陷
面缺陷是具有二维方向的界面和能够把材料分成两种不同晶体结构、不同晶体取向的区域。
面缺陷包括外表面、晶粒界、孪生晶界、堆垛层错和相界。
外表面
最明显的一种界面是沿晶体结构终端的外表面。
表面原子与最近邻原子连接不服从最大原子配位数原理，因此表面原子比内部原子有较高的能量。
没有得到饱和的表面原子的键能变成了表面能，它的单位以单位面积的能量表示（J/m2或erg/cm2）。
为了减小表面能，材料将尽可能减小它的总表面积，例如液体会形成最小的表面积——变成球形。
当然，固体材料因为比较硬，不可能变成球形。
晶粒界
另一种面缺陷，即晶粒界面，在3.17节曾介绍过一个晶体分裂成两个小晶粒，或是在不同位向的多晶材料里会产生晶粒界。
图5.11从原子的大小规模画出了晶粒界的形态。
在晶粒界范围，约为几个原子距离大小，晶界的厚度只有3—4个原子距，晶界是取向不同的相邻晶粒之间的界面。
在相邻晶粒之间存在不同程度晶向错位是可能的（图5.11）。
当这种错位如果很小，只有几度，我们称它为小（或低）角度晶界。
这些晶面可以用位错排列来描述。
当位错线以图5.12的形式排列是就可形成一种简单的小角度晶界。
这种形式的晶界也叫倾侧边界；相邻晶粒的错排角度θ也表示在图中。
当错排的角度平行晶界的时候就会形成孪生晶界，它可以用螺型位错排列来描述。
在晶界附近的原子成键更不规则（如键角较长），因此、存在一种晶面能或上面描述的晶粒晶面能。
能量的大小是错排程度的函数，大于大角度晶界的能量。
由于存在晶界能，晶界化学性质比晶体内部的晶粒更活泼。
而且由于晶界的高能量状态，杂质原子常常在晶界附近聚积。
大颗粒即粗颗粒材料的总晶界能小于细颗粒材料的晶界能，因为前者具有较小的总表面积。
在高温下的粒子长大会减小总的界面能，8.14节将介绍这一现象。
尽管沿着晶界原子发生错排和成键缺乏规则，多晶材料仍然是很强的；通过晶界的粘附力是存在的。
而且多晶材料的密度实际上与同种单晶材料的密度相当。
孪生晶界
孪生晶界是粒子界面的一种特殊形式，通过这一界面存在特殊的镜面对称晶格，也就是说在该界面的两边，原子的位置互为镜面对称（图5.13）。
在该区域的材料界面通常称为孪生面。
孪生是由施加剪切应力原子发生错排引起的（机械力孪生），也可能是在退火热处理时发生变型引起的（退火孪生）。
孪生发生在特定的晶面和晶向上，两者均取决于晶体结构。
退火孪生主要发生在具有面心立方结构的金属中，而机械力孪生则发生在体心和密排六方金属上。
其它形式的面缺陷
其它形式的面缺陷包括堆垛层错、相界和铁氧体磁畴壁。
堆垛层错发生在面心立方金属中，当原子的面密堆积次序（节3.15）ABCABCABC――被打乱时。
相界存在与多相材料中（10.3节），通过相界的时候材料的物理和化学性质会发生突然的改变。
有关聚合物材料，认为链－折叠层的表面（图4.14）以及两个相邻的结晶区的界面是面缺陷。
这一节讨论的每一种缺陷都存在界面能，它的大小取决于界面的形式以及材料的种类。
通常外表面的界面能最大，磁畴壁界面能最小。
5.9块或体缺陷
体缺陷存在与所有固体材料中，比上面谈到的缺陷都大。
这种缺陷包括空洞、裂纹、外来嵌镶块、和其它相等缺陷。
体缺陷通常在材料的加工和制造过程中产生。
其中一些缺陷和它们对材料性质的影响在后面的章节中要讨论。
5.10原子振动
固体材料中的每个原子都会在它的晶格位置附近作不停的迅速运动。
从感觉上这种振动也可以认为是一种缺陷形式。
任何时间，并非所有的原子都做同样频率、同样大小和同等能量的振动。
在给定的温度下，存在原子振动的平均能量分布。
任何特定的原子的振动能量将随时间而作随机的改变。
随温度增加，平均能量也增加，事实上固体的温度是原子和分子平均振动能的量度。
室温下，原子振动频率大致为每秒1013，而振动距离是几千分之一纳米。
固体中的许多性质和过程是固体中原子的振动运动的表现。
例如，当原子的振动大到足以破坏大量的原子键的时候，固体就会融化。
{17章将要详细讨论原子振动及它对材料性质的影响。
}
显微测量
5.11概述
有必要检验影响材料性质的材料结构要素和缺陷。
有些结构要素具有宏观尺度，大到足以用肉眼看到。
例如、多晶材料的形状、大小即平均粒径是重要的结构参数。
在铝制的街灯柱和垃圾箱上铝的宏观颗粒清晰可见。
在图5.14中铅锭的截面图表面可以清晰看到相对较大的不同组织的颗粒。
可是、在大多数材料中，材料中的颗粒具有微观尺度，即粒径为微米数量级。
其细节必须借助某种显微镜才能观测。
粒径和形状仅仅是微结构特征中的两个。
另外的结构要素将在以后的章节中讨论。
光学、电子和扫描探针显微镜常被用于显微分析中。
这些仪器有助于研究所有材料的微结构特征。
这些仪器有些与图像分析设备相连，构成图像微结构分析技术。
此外、一些微结构图像还可以用计算机处理和放大。
在材料的研究和分析中微观检测是极其有用的工具。
微结构分析的几种重要的应用如下：
了解材料的性质与结构（或缺陷）之间的关系，一旦建立材料的结构与性质的关系预测材料的性质，设计具有新的组合性质的合金材料，确定材料是否应当进行必要的热处理，查明材料力学断裂的方式。
5.12显微技术（CD－ROM）
5.13晶粒度测定
当考虑多晶材料的性质的时候经常要测量材料的粒径。
测量粒径有许多种技术，粒径的表示方法也有平均体积粒径、平均直径和平均面积粒径。
粒径可以用下面描述的截距法估计。
在光学显微图片上画出所有同样长度的直线，数出每条直线与晶界相交时截取的线段数，以及量出其线长，算出平均值。
平均粒径是由显微图片上晶界分割线段数的多少而决定的。
也许最常用的是美国试验及材料学会（简称ASTM）修订的晶粒测试方法。
ASTM已经制备了几种具有不同平均粒径的标准比较图。
每个图用数字表示，从1到10代表晶粒粒径级别（或晶粒度号数），数值越大，晶粒越小。
样品必须制成可以识别晶粒结构的放大100倍的图片。
然后与标准图进行比较，用最接近标准图的晶粒度号数来表示样品的粒径。
因此、相对简单和方便的直观测量晶粒度号数是可能的。
晶粒度号数广泛用于各种钢材的说明书中。
各种晶粒度号数图的基本原理如下。
用n表示晶粒度号数，N为放大100倍的显微镜下1ft2（645.16mm2）内的平均晶粒数，两个参数服从以下表达式：
N=2n-1（5.16）
本章总结
所有固体材料都存在大量的缺陷，即偏离完整晶体的结构形式。
缺陷的几种形式可以按照它们的几何形状和大小进行分类。
点缺陷的大小为一两个原子距离，包括空位（空的空间格子），自间隙（主体原子占据间隙位置）和杂质原子。
至于陶瓷中的原子点缺陷类型，对每种阳离子或阴离子间隙型和空位型都可能发生。
这些缺陷常以肖特基和弗兰克尔缺陷成对出现，以确保材料的电中性。
当杂质原子加入到固体中时可以形成固溶体，这时原来的晶体结构不发生变化，没有新相生成。
对于置换型固溶体，杂质原子取代主体原子的位置，只有当杂质原子与主体原子的原子半径、电负性差不多以及两种元素具有相同的晶体结构和价态时才会有相当的溶解度。
间隙固溶体则是由相对较小的杂质原子进入主体原子的原子间的间隙位置形成的。
对于陶瓷材料，杂质原子的加入可以生成置换型和间隙型固溶体。
由于杂质原子的加入引起的任何电荷不平衡，可以通过主相原子产生的空位和间隙得到补偿。
合金的成分可以按照重量百分浓度或原子百分浓度来表示。
重量百分浓度是每种合金成分的重量除以合金的总重量得到的。
原子百分浓度是每种组分的摩尔数除以合金中所有元素的总摩尔数得到的。
位错是一维晶体缺陷形式，有两种纯的线缺陷，一种是刃型位错，另一种是螺型位错。
刃型位错可认为是沿着一个额外的半原子面的边沿的一种晶格缺陷。
而螺型位错则是沿着一螺线型通道的一种晶格缺陷。
混合型位错是纯的刃型位错和螺型位错组合。
与位错有关的晶格缺陷的大小和方向可以用伯格斯矢量说明。
伯格斯矢量和位错线的方向分别是：
对于刃型位错垂直于位错线，对于螺型位错，平行于位错线。
对混合型位错，既不平行也不垂直。
其他缺陷包括面缺陷（外表面，晶界（小角度和大角度晶界），孪生晶界等），体缺陷（裂纹、孔洞等）,和原子振动。
每种缺陷形式对材料的性质都会带来影响。
材料的许多重要缺陷和结构尺寸很小，只有通过显微镜才能看到。
通常结合光学图像设备，光学和电子显微镜都要用到。
对显微镜而言有透射和反射两种形式；采用什么手段观测样品取决于待测样品的性质和缺陷的结构大小。
多晶材料的粒度通常采用显微测量技术测定。
常采用两种方法，一种是截面法，一种是标准图谱比较法。
第6章扩散
为什么要学习扩散
所有类型的材料通常要经过热处理来改善它们的性质。
发生在热处理中的现象总是要涉及到扩散。
通常需要增加扩散速度，偶尔也需要减少扩散速度。
热处理温度和时间，以及冷却速度可以通过扩散数学和相应的扩散常数来预测。
这一页显示的钢齿轮就是硬化的例子（9.14节）；也就是通过在钢的外表面层扩散过量的碳或氮可以大大提高钢的硬度和抗断裂的能力。
学过这一章后，你应当掌握以下内容：
∙命名和描述固体材料中扩散的两种原子机制。
∙稳态扩散和非稳态扩散的的区别。
∙（a）写出菲克第一和第二定律的数学表达式和式中各参数的定义。
（b）注意每个方程适用于那种扩散类型。
∙写出菲克第二定律在半无限远固体中（即扩散物质在表面的浓度为常数）解的形式，式中各参数的定义。
∙已知一些扩散常数，计算某些材料在特定温度下的扩散系数，
∙注意金属和离子型固体材料扩散机理的不同。
6.1引言
在处理材料的许多反应和过程中常常十分有赖于物质的传质，即固体中的传质（通常在微观尺度），或来自液体、气体、以及其他固体相材料的物质传递。
扩散是材料中原子的运动引起的物质迁移的现象。
本章将讨论扩散的原子机理，即扩散机制，以及温度和扩散条件对扩散速度的影响。
扩散现象可以用扩散偶来说明，扩散偶是用两根不同的金属棒的两个端面紧密联结在一起形成的。
如图5.1所示是金属铜和镍形成的扩散偶，其中也画出了原子的位置和通过界面的成分。
扩散偶被加热到一很高温度保温一段时间（温度低于两种金属的熔点），然后冷却到室温。
样品的化学分析结果如图5.2所示，即在两个端头是纯铜和纯镍，被中间的合金区分开，两种金属的浓度与位置的关系如图5.2c所示。
该结果指出铜原子已经迁移或扩散到了金属镍中，镍也扩散到了金属铜中。
象这种由一种金属原子扩散到另一种金属原子中去的过程叫做互扩散，或杂质扩散。
互扩散可以通过显微成分分析不同时间浓度的变化进行观测，正如铜-镍扩散偶的例子。
原子从高浓度向低浓度有一个净的迁移。
扩散现象也可发生在纯金属中，只是这时交换位置的原子都是同类型原子；这种扩散叫做自扩散。
当然，自扩散观察不到金属浓度的变化。
6.2扩散机理
从原子的尺度看，扩散是原子从一个
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