RAM+Stress+TestRST内存测试软件说明.docx
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RAM+Stress+TestRST内存测试软件说明
DDR测试软件简要说明书
0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF
第1颗粒
第2颗粒
第3颗粒
第4颗粒
第5颗粒
第6颗粒
第7颗粒
第8颗粒
如以上的示范图:
闪动的
代表8颗粒的区域
横着数0-7带表第一颗区域8-F代表第二颗区域,0-7带表第三颗区域,8-F代表第四颗区域
依次带表8颗颗粒的内存条
⒈DDR8位与16位的单面测法:
注意:
DDR的颗粒排列循序是1-2-3-4-5-6-7-8
⑴.0-7（第1颗粒）区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第一颗粒已经损坏
⑵.8-F（第2颗粒）区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第二颗粒已经损坏
⑶.0-7（第3颗粒）区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第三颗粒已经损坏
⑷.8-F（第4颗粒）区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第四颗粒已经损坏
⑸.0-7（第5颗粒）区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第五颗粒已经损坏
⑹.8-F（第6颗粒）区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第六颗粒已经损坏
⑺.0-7（第7颗粒）区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第七颗粒已经损坏
⑻.8-F（第8颗粒）区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第八颗粒已经损坏
⒉如果你是128M的双面DDR内存,如以上显示界面图:
1-16M------------------------------------------------------------------------------------------------------------
16-32M-------------------------------------------------------------------------------------------------------
32-48M------------------------------------------------------------------------------------------------------------
48-64M-------------------------------------------------------------------------------------------------------------
从1M到64M的上面的4根虚线上出现乱码的话,代表这跟内存的的第一面的颗粒有问题（判断哪个颗粒的好坏按照以上的说明）
64-80M------------------------------------------------------------------------------------------------------------
80-96M-------------------------------------------------------------------------------------------------------
96-112M------------------------------------------------------------------------------------------------------------
112-128M----------------------------------------------------------------------------------------------------------
从64M到128M的上面的4根虚线上出现乱码的话,代表这跟内存的的第二面的颗粒有问题（判断哪个颗粒的好坏按照以上的说明）
注意:
在内存的PCB板上的两边标着1与92的代表第一面93与184的代表第二面,1-128M的8根虚线是用来区分两面区域的作用.
⒊SD的8位与16位的单面测法:
注意:
SD的颗粒排列循序是8-4-7-3-6-2-5-1
⑴.0-7（第1颗粒）区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第8颗粒已经损坏
⑵.8-F（第2颗粒）区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第4颗粒已经损坏
⑶.0-7（第3颗粒）区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第7颗粒已经损坏
⑷.8-F（第4颗粒）区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第3颗粒已经损坏
⑸.0-7（第5颗粒）区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第6颗粒已经损坏
⑹.8-F（第6颗粒）区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第2颗粒已经损坏
⑺.0-7（第7颗粒）区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第5颗粒已经损坏
⑻.8-F（第8颗粒）区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第1颗粒已经损坏
4.通过以上的说明SD的双面是跟DDR的是一样的但是颗粒的好坏判断要按照
他们的排列循序来判断的.
5.PCB板的短路或者虚焊的测法:
在以8根虚线上都出现乱码代表这根内存的PCB板有问题
.
6.不点亮内存的测试方法:
很多内存短路和颗粒损坏后都不能点亮,不点亮的可以用
一根好的内存去带动他.必须SD的带SD的.DDR的带DDR的.内存软件会自动跳过好的那根去检测坏的那条.
7.使用方法:
直接把软盘插入软驱,在主板的CMOS里设置软驱起动,起动后本软件会自动引导到测试界面进行检测
RAMStressTest（RST）内存测试软件使用指南
近日比较关注内存的检测问题，找到了名为“RAMStressTest”的软件（简称“R.S.T.）。
但是下载下来，只有区区的2M多，并且是nero格式的文件，这么小的文件能检测内存吗？
于是在Google上查找相关说明，经过跋山涉水，终于找到一片，但是很不幸，在一家被挡在墙外的网站上，也就只好半转载、半理解得写出了这一篇使用说明。
先看软件介绍。
这个可以从网络上搜索。
例如，它是一个独立开发的系统，没有依附任何操作系统，相容于x86系列，只要BIOS认的到的容量都能测。
也有人写道，是什么专业测试软件，很贵（500美元）等等，其实只需要知道能测试内存好坏就可以了。
而且，该软件不但可以测试内存好坏，还可以测试内存上的芯片……，对，就是芯片（chip）。
当发现内存错误时，软件会明确发生错误的内存芯片位置，发出警告音。
在Dos系统下，它还可以打印检测报告。
彪悍。
但能检测的单条内存容量最大为2G。
据说，测试DDR2内存也不灵，而且目前最新版本是4.4.2，以后改为硬件了（看这里），囧。
软件为光盘镜像文件，用刻录机做成成启动光盘，使用非常简易，电脑只要设定为软、光盘启动，插入制作好的盘即可自动运行。
程序执行后，第一选项是测试物理内存中基本内存地址（BaseMemory，由主板自带的，据说是DOS时代的遗物，为了运行DOS系统而产生的，通常小于640K，具体的看这里。
），第二项是扩展内存地址（ExtendedMemory，一般就是知内存槽里插的内存了，科学的解释还得看这里。
），第三项是测试你CPU的L2cache。
基本内存与扩展内存，其实以内存模块来说是一样的，差别是在于内存寻址的区段不同，基本内存的地址为0~640KBytes，扩展内存的地址为1024KBytes以上的内存地址，中间的641~1024KBytes，则被以前设计IBM兼容PC（x86）的架构保留成为I/O地址，至今的计算机多多少少仍继承的的内存架构（I/O与内存共享地址）。
具体使用步骤，还是看别人现成的吧。
注，下列图片引自史莱姆论坛（.tw/）
这张图是我自己补的，为了说明测试时候的情况。
测试时，下方的白色区域，会有一行红色的闪动数字和字母：
0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF
哪一行出现了字母，比如图5/7中，就说明哪一颗芯片出错了。
其中，从1M到64M的4条虚线上出现的话，说明内存的的第一面的颗粒有问题；从64M到128M的4条虚线出现的话，说明这根内存的的第二面的颗粒有问题。
在内存的PCB板上的两边标着1与92的代表第一面，93与184的代表第二面。
我只使用该软件检测了DDR一代双面的内存，DDR一代单面内存、SD内存没有检测，PCB板也没有检测。
所以不知道网上说的对不对，但是也照搬过来了。
上面提到的闪动的字母和数字依次代表内存条的8颗颗粒。
从左到右横着数：
0-7代表第1颗粒区域、8-F代表第2颗粒、0-7代表第3颗粒、8-F代表第4颗粒、0-7代表第5颗粒、8-F代表第6颗粒、0-7代表第7颗粒、8-F代表第8颗粒。
DDR8位与16位的单面测法:
⑴.0-7
（1）区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第1颗粒已经损坏
⑵.8-F
（2）区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第2颗粒已经损坏
⑶.0-7（3）区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第3颗粒已经损坏
⑷.8-F（4）区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第4颗粒已经损坏
⑸.0-7（5）区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第5颗粒已经损坏
⑹.8-F（6）区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第6颗粒已经损坏
⑺.0-7（7）区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第7颗粒已经损坏
⑻.8-F（8）区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第8颗粒已经损坏
注意DDR的颗粒排列循序是1-2-3-4-5-6-7-8
SD的8位与16位的单面测法:
⑴.0-7
（1）区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第8颗粒已经损坏
⑵.8-F
（2）区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第4颗粒已经损坏
⑶.0-7（3）区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第7颗粒已经损坏
⑷.8-F（4）区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第3颗粒已经损坏
⑸.0-7（5）区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第6颗粒已经损坏
⑹.8-F（6）区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第2颗粒已经损坏
⑺.0-7（7）区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第5颗粒已经损坏
⑻.8-F（8）区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第1颗粒已经损坏
（注：
PCB板上从1到84为第一面，颗粒的排列顺序从1到84为8-7-6-5-4-3-2-1，切记注意）
板的短路或者虚焊的测法:
如果在8根虚线上都出现乱码，说明这根内存的PCB板有问题。
PCB
RAMStressTest（RST）内存测试软件说明
RamStressTest是美国Ultra-X公司旗下的一个专业记忆体测试程式，是专门给系统生产厂商出机前用的测试程式，他其实是从其他的产品独立出来的一项测试，该公司专作系统测试的软硬体，方便生产厂商将产品做详细测试，至于R.S.T.在目前记忆体生产业使用非常普遍，因为经过他的测试几乎就能应付大部分的记忆体问题，所以是非常好用的一个测试工具！
闪动的一排测试数字代表内存8颗粒的测试情况。
从左至右，0-7代表第一区域，8-F代表第二区域;0-7代表第三区域,8-F代表第四区域;……依次代表内存条的8颗颗粒。
⒈DDR8位与16位的单面测法:
⑴.0-7
（1）区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第1颗粒已经损坏
⑵.8-F
（2）区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第2颗粒已经损坏
⑶.0-7（3）区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第3颗粒已经损坏
⑷.8-F（4）区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第4颗粒已经损坏
⑸.0-7（5）区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第5颗粒已经损坏
⑹.8-F（6）区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第6颗粒已经损坏
⑺.0-7（7）区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第7颗粒已经损坏
⑻.8-F（8）区域如果出现乱码,代表这根DDR内存条的第8颗粒已经损坏
注意DR的颗粒排列循序是1-2-3-4-5-6-7-8
⒉如果你是128M的双面DDR内存,如以上显示界面图:
1-16M------------------------------------------------------------------------------------------------------------
16-32M-------------------------------------------------------------------------------------------------------
32-48M------------------------------------------------------------------------------------------------------------
48-64M-------------------------------------------------------------------------------------------------------------
从1M到64M的上面的4根虚线上出现乱码的话,说明这根内存的的第一面的颗粒有问题（判断哪个颗粒的好坏按照以上的说明）
64-80M------------------------------------------------------------------------------------------------------------
80-96M-------------------------------------------------------------------------------------------------------
96-112M------------------------------------------------------------------------------------------------------------
112-128M----------------------------------------------------------------------------------------------------------
从64M到128M的上面的4根虚线上出现乱码的话,说明这根内存的的第二面的颗粒有问题（判断哪个颗粒的好坏按照以上的说明）
注意:
在内存的PCB板上的两边标着1与92的代表第一面，93与184的代表第二面。
1-128M的8根虚线是用来区分两面区域的作用.
⒊SD的8位与16位的单面测法:
⑴.0-7
（1）区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第8颗粒已经损坏
⑵.8-F
（2）区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第4颗粒已经损坏
⑶.0-7（3）区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第7颗粒已经损坏
⑷.8-F（4）区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第3颗粒已经损坏
⑸.0-7（5）区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第6颗粒已经损坏
⑹.8-F（6）区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第2颗粒已经损坏
⑺.0-7（7）区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第5颗粒已经损坏
⑻.8-F（8）区域如果出现乱码,代表这根SDR内存条的第1颗粒已经损坏
（注：
PCB板上从1到84为第一面，颗粒的排列顺序从1到84为8-7-6-5-4-3-2-1，切记注意）
4.通过以上的介绍，说明SD的双面是跟DDR的是一样的。
但是颗粒的好坏判断要按照
它们的排列循序来判断。
5.PCB板的短路或者虚焊的测法:
如果在8根虚线上都出现乱码，说明这根内存的PCB板有问题
6.点不亮的内存的测试方法:
很多内存短路或者颗粒损坏后都不能点亮，点不亮的可以用一根好的内存去带动它。
必须SD的带SD的，DDR的带DDR的。
本软件会自动跳过好的那根去检测坏的那根。
7.使用方法:
直接把光盘插入光驱,在主板的CMOS里设置光驱起动,启动后本软件会自动引导到测试界面进行检测
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