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瀚岳标准HY004

济南瀚岳信息科技有限公司发布

2012-06-10实施

2012-05-10发布

集成电路（IC）卡读写机

Q/HY004—2012

济南瀚岳信息科技有限公司

1前言

本标准按照GB/T1.1—2009的规定要求进行编写。

本标准附录A、附录B为规范性附录。

本标准自发布之日起有效期三年，到期复审。

本标准由济南瀚岳信息科技有限公司提出。

本标准由济南瀚岳信息科技有限公司负责起草。

本标准主要起草人:

郑来明

集成电路（IC）卡读写机

11　范围

本标准规定了集成电路（IC）卡读写机的技术要求、试验方法和检验规则，以及标志、包装、运输和贮存要求。

本标准适用于集成电路（IC）卡读写机（以下简称产品）。

12　规范性引用文件

下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。

凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准。

GB191包装储运图示标志

GB/T1988信息技术信息交换用七位编码字符集

GB2312信息交换用汉字编码字符集基本集

GB/T2421—2008电工电子产品环境试验概述和指南

GB/T2423.1—2008电工电子产品环境试验第2部分：

试验方法试验A：

低温

GB/T2423.2—2008电工电子产品环境试验第2部分：

试验方法试验B：

高温

GB/T2423.3—2006电工电子产品环境试验第2部分：

试验方法试验Ca：

恒定湿热试验

GB/T2423.5—1995电工电子产品环境试验第２部分:

试验方法试验Ea和导则:

冲击

GB/T2423.6—1995电工电子产品环境试验第２部分:

试验方法试验Eb和导则:

碰撞

GB/T2423.8—1995电工电子产品环境试验第２部分：

试验方法试验Ed:

自由跌落

GB/T2423.10—2008电工电子产品环境试验第2部分:

试验方法试验Fc:

振动（正弦）

GB/T2828.1—2003计数抽样检验程序第1部分：

按接收质量限（AQL）检索的逐批检验抽样计划

GB4943—2001信息技术设备的安全

GB4943.1—2011信息技术设备安全第1部分：

通用要求

GB5007.1—2010 信息技术汉字编码字符集（基本集）24点阵字型

GB5007.2—2008信息技术汉字编码字符集（辅助集）24点阵字型宋体

GB/T5080.7—l986设备可靠性试验恒定失效率假设下的失散率与平均无故障时问的验证试验方案

GB/T5271.14—2008信息技术词汇第14部分：

可靠性、可维护性与可用性

GB/T6107—2000使用串行二进制数据交换的数据终端设备和数据电路终接设备之问的接口

GB9254—2008信息技术设备的无线电骚扰限值和测量方法

GB13000—2010信息技术通用多八位编码字符集（UCS）

GB/T16649.1—2006识别卡带触点的集成电路卡第1部分：

物理特性

GB/T16649.2—2006识别卡带触点的集成电路卡第2部分：

触点的尺寸和位置

GB/T16649.3—2006识别卡带触点的集成电路卡第3部分：

电信号和传输协议

GB/T17618—1998信息技术设备抗扰度限值和测量方法

GB/T18239—2000集成电路（IC）卡读写机通用规范

13　术语和定义

下列术语和定义适用于本标准。

13.1　集成电路（IC）卡读写机ICCreader

指各类集成电路（IC）卡读写设备。

如手持式IC卡读写机、台式IC卡读写机、内置或外置（宿主机为微机）的IC卡通用读写器等。

该类产品可在联机和脱机方式下对IC卡完成识别和各种操作。

13.2　集成电路（IC）卡ICCard

集成电路（IC）卡按通信方式，分为三类卡片：

1.接触式集成电路（IC）卡，带有电器触点的,符合GB/T16649标准.

2.非接触式集成电路（IC）卡,又称射频卡，由IC芯片、感应天线组成，封装在一个标准的PVC卡片内，芯片及天线无任何外露部分。

3.双界面集成电路（IC）卡。

是指集成接触式与非接触式两种通信方式的集成电路（IC）卡。

13.3　管理IC卡ICCfordownloadmessage

管理IC卡简称管理卡，指系统管理人员用于向IC卡读写机加载各种管理信息用的IC卡。

13.4　汇总IC卡ICCforuploaddata

汇总IC卡简称汇总卡，指系统管理人员或用户从IC卡读写机中汇总信息用的IC卡。

13.5　用户IC卡UserICC

用户IC卡简称用户卡，指系用户通过IC卡读写机进行数据改写、数据交换用的IC卡。

14　要求

14.1　功能

14.1.1　相互确认时间

接触式IC卡：

从IC卡到位至读写机与卡完成相互确认的时间不应超过1s。

非接触式IC卡：

从IC卡到位至读写机与卡完成相互确认的时间不应超过100ms。

14.1.2　键盘

台式和手持式产品应按功能要求设置必要的工作键，每个键均由程序进行定义。

14.1.3　卡座

对适用于接触式IC卡的读写机，其卡座的触点位置和尺寸应符合GB/T16649．1和GB/T16649.2的要求。

14.1.4　电源

由直流电源供电时，当电压在5V±5%范围内时，产品工作应正常。

当由交流变换器供电时，交流电压在220V±10%范围内时，产品工作应正常。

产品应有掉电、过流、过压、短路、极性反接保护措施。

当电压恢复正常时，能自动恢复正常工作状态。

14.1.5　存储器

产品中的信息存储器容量大小可按用户需求配置。

存储信息应能保存十年以上。

14.1.6　通信及通信方式

应有符合GB/T6107的通信接口，经此接口与计算机相连，由计算机经此接口完成读写机下载、控制、数据读写等操作和管理信息以及回收信息。

14.1.7　脱机工作能力

具有脱机工作能力的产品，在脱机工作方式下，IC卡读取的信息存于机内存储器中，也能将有关信息写入IC卡中。

管理信息的加载和信息的回收可以采用管理卡和汇总卡，也可以采用其他方式。

14.2　外观与结构要求

外形应美观大方；表面涂覆层应均匀，不应起泡、龟裂、脱落和不应有明显的破损、划痕、变形和污染等。

零部件连接应紧固无松动。

开关、按键应操作灵活可靠。

电路板不能有断板、断线、焊盘脱落、板裂、虚焊等质量问题。

商标、名称、型号、许可证编号和文字说明要清晰、端正。

14.3　环境要求

14.3.1　气候环境条件

适用的气候条件如表1所示。

满足序号1，但不满足序号2的。

一般适应在室内环境。

满足序号2的可使用在室外环境。

表1气候环境条件

序号

环境温度℃

相对湿度%

大气压kPa

工作

贮存

工作

贮存

-5～45

-40～60

20～90

20～93（40℃）

86～106

-20～55

-40～60

20～90

20～93（40℃）

86～106

14.3.2　机械环境条件

机械环境条件见表2～表5。

表2振动适应性

初始和最后振动响应检查

定频耐久试验

扫频耐久试验

频率范围Hz

扫频速度oct/min

驱动振幅mm

持续时间min

频率范围Hz

驱动振幅mm

扫频速度oct/min

循环次数

5～35

≤1

0．15

0.15

10±0.5

5～35～5

0.15

≤1

注：

表中驱动振幅为峰值。

表3冲击适应性

峰值加速度

m/s²

脉冲持续时间

冲击波形

150

半正弦波形

表4碰撞适应性

峰值加速度

m/s²

脉冲持续时问

碰撞次数

碰撞波形

1000

半正弦波

表5运输包装件跌落适应性

包装件质量

跌落高度

<10

1200

10～20

900

14.4　安全

应符合GB4943中信息技术设备的安全规定。

14.5　可靠性及寿命

MTBF的m1值不应低于5000h（卡座和按键除外）。

卡座和按键使用寿命应不低于1.0×105次。

14.6　电磁兼容性

14.6.1　无线电骚扰

无线电骚扰限值应符合GB9254-2008中相应级别（A级或B级）的规定。

14.6.2　抗扰度

抗扰度限值应符合GB/T17618中的相应规定。

（分级别，静电，详细定义一下，符合哪一级要求）

14.7　数据安全

14.7.1　IC卡读写机一般存在两类数据：

通用数据和敏感数据。

a）通用数据：

包括时间、读写机识别号及应用记录等。

外界可以对这些数据进行访问，但不允许进行XX的修改。

b）敏感数据：

包括密钥、应用的内部参数等。

不允许外界XX对这类数据进行访问或修改。

14.7.2　数据传输

数据传输时，必须采用由系统规定的加密算法对敏感数据进行加密传输。

15　试验方法

15.1　试验条件

本标准中除气候环境试验和可靠性试验以外，其他试验均在正常大气条件下进行，即：

温度：

15℃～35℃；

相对湿度：

45%～75%；

大气压：

86kPa～106kPa。

15.2　外观检查

目测检查产品的外观质量，应符合4.2条规定。

15.3　功能试验

通过预先加载进读写机存储器中的检查程序进行以下各项测试，测试用卡必须符合GB/T16649.1、GB/T16649.2、GB/T16649.3的相关规定。

15.3.1　相互确认时间测试

手动插入本系统发行的IC卡，用检查程序测试，从卡到达读写位置至读写机与卡完成相互确认的时间，应符合4.1.1条之规定。

15.3.2　字符及其输出检查

手动插入本系统发行的IC卡，通过预先加载进读写机存储器中的检查程序，并配合键盘操作，输出功能应符合4.1.2条之规定。

15.3.3　键盘检查

插入合法IC卡，使读写机工作，然后按动各个工作键，检查是否实现相应的功能。

通过运行检查程序，检查每个键是否可由程序定义。

15.3.4　电源适应能力检查

a）直流电源供电

调节供电电压使其偏离5V±5%，产品应工作正常。

调节供电电压使其偏离标称值±10%，恢复正常值后，产品应工作正常。

b）经电源变换器由交流电源供电时，按表6的各种组合对产品进行试验。

每种组合运行一遍检查程序，受试产品应能正常工作。

表6 交流电源（标准220V）适应能力

标称值组合

电压V

频率Hz

220

198

242

c）将电源反接，再恢复正常，产品应工作正常。

在加电工作状态，向卡座内插入金属片，拔出后，产品应工作正常。

15.3.5　存储器检查

存储容量检查可在存储器的首地址和末地址分别写入常数，然后读出，检查是否与写入常数一致；保存信息检查应在加载信息后，断掉工作电源，1min后，重新加电，信息不丢失。

15.3.6　通信功能检查

将产品通信接口联接计算机，借助计算机系统软件的支持，在计算机上给该机加载信息，检查该机接收情况，应正确无误；然后在计算机上给该机发送回收数据命令回收该机的数据，并检查回收数据情况应正确无误。

15.3.7　脱机工作能力检查

让产品脱机工作，然后用管理卡或其他方式加载信息，检查加载的信息并进行相应的操作应正确无误；再用汇总卡或其他方式从该机回收信息，然后将回收的信息从计算机上读出检查应正确无误。

15.4　安全检查

按GB4943的规定进行。

15.5　可靠性及寿命试验

15.5.1　试验条件

试验条件按GB/T18239相应规定执行。

应符合4.5之规定。

15.5.2　试验方案

可靠性试验按GB/T5080.7进行，试验方案用序贯试验方案4:

7。

在整个试验过程中应运行检查程序，故障的判据和计入方法按附录A（故障分类及判据）的规定，只统计关联故障数。

15.5.3　试验时间

试验时间按GB/T—18239标准执行。

试验时间应持续到总试验时间及总故障数均能按选定的试验方案做出接收或拒收判决截止。

多台受试样品试验时，每台受试样品的试验时间不得少于所有受试样品的平均试验时间的一半。

卡座和按键的可靠性及寿命试验按本标准进行。

15.6　电磁兼容性试验

15.6.1　无线电骚扰试验

按GB9254中无线电骚扰限值的含义、划定的测量方法及评估统计方法进行。

信息技术设备（ITE）就无线电骚扰限值分为A级和B级两类，对于满足A级限值但不满足B级限值的产品，应在产品使用说明中给GB9254—2008的4.2条中所示的声明。

15.6.2　抗扰度试验

试验方法按GB/T—17618相应规定进行。

（具体，静电，通讯口，参考生产许可证的试验项目）

15.7　环境试验

15.7.1　一般要求

环境试验方法的总则、名词术语应符合GB/T2421.1、GB/T2422的有关规定。

15.7.2　低温试验

5.7.2.1工作温度下限试验

按GB/T2423.1中“试验Aｅ”进行实验。

（允许用非保温性物品将产品包裹或密封，以防产品结霜、凝水。

）按表1要求的工作温度下限值加电工作2h后，运行检查程序，产品应正常工作。

5.7.2.2贮运温度下限试验

将产品放在恒温箱中，按表1要求将温度下降到贮运温度下限，恒温6h，然后恢复到常温，恢复时间2h，运行检查程序，产品应正常工作。

15.7.3　高温试验

5.7.3.1工作温度上限试验。

按GB/T2423.2中“试验Ｂｅ”进行实验。

按表1要求的工作温度上限值加电工作2h后，运行检查程序，产品应正常工作。

5.7.3.2贮运温度上限试验

将产品放在恒温箱中，把温度升高到表1要求的贮运温度的上限，恒温6h，然后恢复到常温，恢复时间2h，运行检查程序，产品应正常工作。

15.7.4　恒定湿热试验

5.7.4.1 工作条件下恒定湿热试验

按照GB/T2423.3中“试验Ca”进行。

按表1规定的工作条件下的温度、湿度上限加电运行检查程序2h，产品应工作正常。

5.7.4.2贮运条件下恒定湿热试验

按照GB/T2423.3中“试验Ca”进行。

按表1规定的贮运条件下的温度、湿度上限，在不工作的条件下存放6h，然后恢复到通常工作条件，恢复时间2h，再加电运行检查程序，产品应工作正常。

15.7.5　振动试验

按GB/T2423.10中“试验Fc”进行。

按表2规定条件下进行。

实验结束后，加电运行检查程序，产品应工作正常。

15.7.6　冲击试验

按GB/T2423.5中“试验Ea”进行。

按表3规定条件下进行。

实验结束后，加电运行检查程序，产品应工作正常。

15.7.7　碰撞试验

按GB/T2423.6中“试验Eb”进行。

按表4规定条件下进行。

实验结束后，加电运行检查程序，产品应工作正常。

15.7.8　包装跌落

按GB/T2423.8中“试验Ed”进行。

在产品包装完好的情况下，按表5规定条件下进行。

实验结束后，加电运行检查程序，产品应工作正常。

16　检验规则

16.1　检验分类

产品检验分为型式检验和出厂检验。

检验项目按表7的规定。

表7检验项目

序号

检验项目

检验类别

要求

检验方法

型式检验

出厂检验

外观

○

按4.2

按5.2

功能

○

○*

按4.1

按5.3

安全性

○

按4.4

按5.4

电源适应能力

○

按4.1.4

按5.3.4

可靠性

○

按4.5

按5.5

无线电骚扰

○

按4.6.1

按5.6.1

抗扰度

○

按4.6.2

按5.6

低温试验

○

按4.3.1

按5.7.2

高温试验

○

按4.3.1

按5.7.3

恒定湿热试验

○

按4.3.1

按5.7.4

振动

○

按4.3.2

按5.7.5

冲击

○

按4.3.2

按5.7.6

碰撞

○

按4.3.2

按5.7.7

运输包装件跌落

○

按4.3.2

按5.7.8

“○”表示应检验的项目；

“--”表示不检验的项目；

“*”过流过压等破坏性测试在出厂检验时不做；

“**”在出厂检验中安全只做抗电强度及接触电流试验（交流供电产品）。

16.2　型式检验

16.2.1　

产品定型或连续生产一年以上应进行型式检验。

批量生产后在结构、工艺、电路、主要零部件等方面有较大改动时应进行型式检验。

16.2.2　

型式检验样品应在出厂检验合格的产品中随机抽取。

可靠性检验的受试样品数按表8规定。

其余项目的受试样品数为2台。

16.2.3　

型式检验项目，除可靠性检验外，其余检验项目的故障处理方法如下：

检验中出现故障或任一项通不过时，应查明故障原因，提出故障分析报告。

经修复后应重新做该项试验，之后按顺序做以下各项检验。

如再次出现故障或某项通不过，在查明原因，提出故障分析报告，再经修复后，则应重新进行各项检验，在重新进行检验中又出现某一项通不过检验时，则判为不过通。

表8可靠性检验的样品数

批量或连续生产台数

最佳样品数

最大样品数

1～3

全部

4～16

17～62

53～96

97～200

200以上

16.2.4　

型式检验由产品制造单位质量部门或上级主管部门指定或委托的质量检验部门负责进行。

16.2.5　

检验后要提交型式检验报告。

16.3　出厂检验

16.3.1　

产品出厂时需全数经出厂检验。

检验中出现任一项不合格时，返修后重新进行检验，如再次出现任一项不合格时，该台产品被判为不合格品。

合格品由专职检验员在合格证上签章后方可出厂。

16.3.2　

功能检查及外观结构检查按GB/T2828.1进行抽样检验。

抽样方案、合格质量水平与检查水平应在产品标准中具体规定。

（需要详细定义一下，找标准看下）

16.3.3　

出厂检验由本公司质量检验部门负责进行。

17　标志、包装、运输、贮存

17.1　标志

产品的标志为本公司注册商标。

另外，每个产品还应附有标牌，上面应标示以下内容：

a）生产厂家的名称；

b）生产厂家的地址；

c）产品名称、型号和产品编号；

d）许可证编号。

17.2　包装

包装箱外应标有本公司名称、地址、产品名称和型号、出厂日期。

包装箱内应有装箱清单、产品出厂检验合格证、产品说明书、备附件及有关的随机资料。

17.3　运输

运输标志应符合GB191的规定。

包装后产品应方便运输，并应避免雨雪或接触有害化学物质，搬运中防止机械损伤。

17.4　贮存

该类产品贮存时应放在原包装箱内，贮存存放产品的包装箱应垫离地面至少15cm，距离墙壁、热源、冷源、窗口、通气口至少50cm。

高度不能超过2m。

层叠不能超过5层。

贮存期一般为6个月，若在生产厂存放期已超过6个月，则应在出厂前重新进行出厂检验。

产品仓库的环境温度为-10℃～40℃，相对湿度30%～80%。

库房内不允许有各种有害气体、易燃、易爆物品及有腐蚀性的化学物品，并应远离强电磁场。

附录A

故障分类及判据

A1故障定义

按GB/T5271.14规定的故障定义，出现以下情况之一均为故障。

a）受试样品在规定条件下，出现了一个或几个性能参数不能保持在规定值的上下限之间。

b）受试样品在规定条件下，出现了机械零件、结构件的损坏或卡死，或出现了元器件的失效或断裂，而使受试样品不能完成其规定的功能。

A2故障分类

故障类型分为关联性故障（简称关联故障）和非关联性故障（简称非关联故障）。

关联故障是受试样品预期会出现的故障，通常是产品本身条件引起的，它是在解释试验结果或计算可靠性特征值时必须要计入的故障。

非关联故障是样品出现非预期故障，这类故障不是受试样品本身条件引起的，而是试验要求之外引起的。

非关联故障在解释试验结果或计算可靠性特征值时不计入。

但应在试验中记录，以便于分析和判断。

A3关联故障判据

a）必须经更换元器件、零部件或设备才能排除的故障。

b）损耗件（如电池）在其寿命期内发生的故障。

c）需要对接插件、电缆等进行修整，消除短路和接触不良，方可排除的故障。

d）出现造成测试和维护人员的不安全或造成受试样品和设备严重损坏而必须立即中止试验的故障。

一旦出现此类故障，应立即做出拒收判定。

e）程序的偶然停运或运行失常，但无须做任何维修和调整，再经启动就能恢复正常，这种偶然的跳动故障，凡累积数达三次者（指同一类试品），计一次关联故障，不足二次者均做非关联故障处理。

f）不是同一因素引起而同时发生两个以上的关联故障，则应如数计入。

如果是同因素引起的，则只计一次。

g）承担确认试验的检测单位，根据故障情况和分析结果，有资格认定某种故障为关联故障。

A4非关联故障判据

a）从属性故障

由于受试样品某一元器件、零部件失效或出现设备故障而直接引起受试样品另一相关元器件或零部件的失效所造成的故障，或者由于试验条件变化已超出规定范围（如突然断电，电网电压和频率的变化，温湿度变化，严重的机械环境变化和干扰等）而造成的故障。

b）误用性故障

由于操作人员的过失而造成的故障，如安装不当，施加了超过规定的应力条件；或者允许调整的部件没有得到正确的调节而造成的故障。

c）诱发性故障

在维修期间，因为维修人员的过失而造成的故障。

A5承担试验检测的单位，根据失效分析的产品标准及相关标准可以做出关联故障或非关联故障的判定。

附录B

产品检查程序的规定

B1编制原则

本规定提出的检查程序是指由本公司提供的用以严格检查IC卡读写机产品各个硬件部件的综合性自检程序。

该程序应提供易于暴露各硬件部件出现故障的测试方法。

程序功能清楚，调用方便，使用灵活，便于人工控制和选择，对被检查部分的工作状态和检查结果能给出清晰的指示。

B2检查内容

包括以下列检查内容：

——字符及其输出检查；

——键盘榆查；

——电源适应力检查；

——存储器检查；

——可靠性试验；

——其他接口的功能性检查。

B3检查步骤

检查步骤按本标准中规定进行。

在做电源适应能力检查和环境条件检查中，都要运行检查程序检查B2规定的内容。

附录C

产品命名规则

HY—XXXX

H系列

SAM卡数

0-4

1：

接触式读卡器

2：

射频读卡器

3：

双界面读卡器

4：

多合一读卡器

R：

串口通讯

U：

USB通讯

T：

TCP/IP通讯

W：

韦根通讯

S：

485通讯

瀚岳

举例：

设备HY-U22H，表示USB通讯，单射频界面，2个SAM卡槽，该产品为H系列产品。

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