MILSTD202G Method 310中文版.docx

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MILSTD202GMethod310中文版

MIL-STD-202GMETHOD310CONTACT-CHATTERMONITORING接點抖動監測

1.PURPOSE.Thistestisconductedforthepurposeofdetectingcontact-chatterinelectricalandelectroniccomponentpartshavingmovableelectricalcontacts,suchasrelays,switches,circuitbreakers,etc.,whereitisrequiredthatthecontactsdonotopenorclosemomentarily,asapplicable,forlongerthanaspecifiedtime-duration（see4.3）underenvironmentaltestconditions,suchasvibration,shock,oracceleration.Thistestmethodprovidesstandardtestproceduresformonitoringsuch"openingofclosedcontacts"or"closingofopencontacts".

1.目的:

這測試執行確定在電器和電子零件部份有作切換電器接觸時的接點抖動目的,如繼電器,開關,電流斷路器,等。

接觸的地方不能有短暫的斷開或導通。

如適用的環境試驗條件下,特定的持續長時間期間（見4.3）,如:

振動,衝擊或加速。

這檢驗方法提供標準測試程序對於監測如”閉合接點打開”或”打開接點閉合”兩種測試電路。

2.TESTCIRCUITS.

2.測試電路

2.1Selection.Inthismethodtherearetwotest-circuits:

A（see3.1）,andB（see3.2）.Theselectionofthetest-circuitdependslargelyuponthetypeofelectricalcontactstobetested.Test-circuitBispreferred,wheneverpossible,toavoidcontactcontaminationcausedbytheformationofcarbonaceousdepositsonthecontacts.Theindividualspecificationshallspecifythetest-circuitandtime-duration（see4.3）requiredinconnectionwithmonitoringofshockandvibrationtests.Thetest-circuitslistedhereinare"recommended"referencecircuits.Anycomparabletest-circuitwhichmeetsthetestrequirementsandthecalibrationproceduresasstatedherein,maybeusedforthistest.

2.1選擇.這方法有兩個測試電路:

A（見3.1）,和B（見3.2）。

測試電路的選擇取決於主要根據電氣接觸的類型來做測試。

測試電路B是首選的,盡可能,以避免接觸形成的積炭造成的接觸污染。

特定規格應註明衝擊的監測和震動測試時測試電路和持續時間的要求。

呈列於此的測試電路為建議的參考電路。

任何類似的測試電路都應符合本文中指定的測試要求和校正程序,才能被用作使用測試。

2.1.1Selectionoftest-circuitA.Test-circuitAisformonitoringtest-specimenswithasingleset

ofcontacts,fortheopeningofnormally-closedcontactsorfalseclosuresofnormally-

openedcontacts（seefigure310-1）.Test-circuitAshouldnotbespecifiedforspecimens

whosecapabilityincludeslow-levelordry-circuitratings（10milliamperesorlessand2

voltsorlessforopeningsorclosingslessthan10microseconds）;sincethecurrentthrough

theelectricalcontactsundertestfromthetest-circuitmaycausearcing,thusdamagingthe

contacts.

2.1.1測試電路A的選擇。

測試電路A是對於監測樣品-單一組連接設定,如正常導通接觸的

斷開或正常切斷接觸時不正確的導通（見圖310-1）。

測試電路A不應指定測試樣品其

功能包含低等級或微電路等級（10mA或更低和2V或切斷時間或導通時間比10µs更低

）；因為在測試情況下從測試電路電流穿過電子觸點可能造成電弧,從而損壞接觸

觸點。

2.1.2Selectionoftest-circuitB.Test-circuitBisformonitoringtest-specimenswithasingleset

ofcontacts,fortheopeningofnormally-closedcontactsandfalseclosuresofnormally-

opencontacts（seefigure310-3）.Test-circuitBshouldnotbeusedforopeningsorclosings

oflessthan10microseconds.Test-circuitBdoesnotallowcurrentinexcessof20

milliamperesoranopen-circuitvoltageinexcessof2-voltsduringmonitoring;which

insuresthattherewillbenoarcing,whichwillcausedamage,tolow-levelanddry-circuit

testspecimens.

2.1.2選擇測試電路B。

測試電路B是對於監控測試樣品-一組接點設定,如正常導通接觸

的斷開或正常切斷接觸時不正確的導通（見圖310-3）。

測試電路B不應使用於切斷或

導通時間低於10µs的開關。

測試電路B不允許測試電流超過20mA或或在監測期間

開路電壓超過2V;在測試低等級和微電流的樣品期間,應保證樣品沒有電弧和造成損害

發生。

註:

A-低於切換時間10µs,B-不應低於切斷或導通時間低於10µs。

3.TESTSYSTEMS.

3.測試系統

3.1Test-circuitA.Thetestcircuitshallbethethyratroncircuitshownonfigure310-1oran

approvedequivalentcircuit.ThevaluesforR1,C1,andthesuppressorgrid-cathodevoltage,

controlledbyR7,principallycontrolsthefiringofthethyratronandaresochosenthatthe

thyratronwillfirewhenthedurationofthecontact-openingexceedsthetime-duration

specifiedintheindividualspecification（see4.3and5）.Forthelongertime-durations,suchas

above1millisecond,itmaybenecessarytochangethevaluesofR2,R5,andR6.

3.1測試電路A。

測試電路應如圖310-1所示的閘流管電路或適當等效電路。

R1,C1和抑制

柵極電壓值由R7來作控制,主要是在控制閘流管的觸發和當接觸斷開超過在特定規

格指定的時間期間,閘流管將改變觸發（見4.3章和5章）。

對於較長的持續時間,如1ms

以上,它需要改變R2,R5和R6的阻值。

a.Tomonitornormally-closedcontacts,thenormally-closedcontactsareconnectedtoBP1and

BP2,withswitchS1inthe"normally-closedposition".Thegridofthethyratronisplacedat

groundpotential.Thecathodeofthethyratronisatapositivepotential（dependingonthe

settingofR7）,thusprovidingsufficientnegativebiastocutthethyratron"off".Anycontact

chatter（openingofclosedcontacts）willcausethegridofthethyratrontoriseexponentially

to+150voltsataratedeterminedbythepreselectedtimeconstantofR1andC1.Aslongas

thecontactsremainopen,thegridpotentialwillcontinuetorise.Ifthecontactsremain

"open"forlongerthanthespecifiedinterval,thegridpotentialrisestothepointatwhichthe

thyratronconductsandionizes,thuslightingDS1.Since,inathyratron,thegridlosescontrol

ofconductionassoonasthetubeconducts,thecontactsbeingmonitoredcanrecloseatany

timethereafterwithoutaffectingthemonitoringcircuit.Thus,lampDS1willremain"on"until

thethyratronismanuallyresetbyoperationofswitchS2.

a.監測正常導通接觸,正常導通位置應是正常導通接點連接到BP1和BP2和SwitchS1。

閘流

管的柵極因放置於接地位置。

而閘流管（SCR）的陰極（cathode）正確電位（取決在R7的設定）,

從而提供了充足的負偏差,以切斷閘流管的為”切斷”。

任何的接觸抖動（導通接觸點的

斷開）將造成閘流管的柵極,透過預選的R1和C1的時間常數決定的速率成倍上升到+150

V。

只要接觸保持斷開，柵極電位將繼續上升。

如果觸點繼續斷開大於指定的時間間隔,柵極電位將爬升點到閘流管傳導和電離,從而點燃DS1。

至從在閘流量管的柵極失去傳導控制立刻由管做傳導，被監視的接觸，可以在任何重合閘,此後的時間不影響監控電路。

因此，DS1的燈泡將保持“導通”直到閘流管手動重新設置開關S2的操作。

b.Tomonitornormally-opencontactsforfalseclosures,itisnecessarytooperateswitchS1to

the"normally-openposition",sothattheconnectionbetweenthe+150voltsandthetime-

constantchargingcircuitis"open".WhenopencontactsareconnectedtoBP1andBP2and

theconnectionismade,thesecontacts"close".Atcontactclosure,voltageisappliedtothe

chargingcircuit,startingabuild-upinthesamemannerasdescribedin（a）fornormally-

closedcontacts.Attheconclusionofthetest,iflampDS1is"off",thentherehasbeenano-

chatterintervalexceedingthespecifiedduration;ifthelampis"on",thentherewasatleast

one-intervalwhenthespecifiedtime-durationwasexceeded.Afteranindicationoffailure,

thethyratroncircuitshallberestartedbyoperationofswitchS2.

b.對於監測正常斷開接觸時不正確的導通,它是需要操作開關S1到常開位置,這樣的連接

介於150V和時間常數充電電路是斷開之間。

當斷開觸點連接到BP1和BP2和連接之後,

那些連接觸點將”導通”。

在接觸導通時,電壓是適用於充電電路,以同樣的方式開始建

立描述為正常閉觸點。

在測試結速之後,如果燈DS1是關閉,之後它會有一個非抖動時

間間隔超過特定時間間隔;如果燈是”斷開”,當特定時間持續時間超過時它至少有一

個時間間隔。

故障指示後,閘流管電路開關S2的操作應重新啟動。

3.1.1Calibrationprocedurefortest-circuitA.Thecalibration-circuitshownonfigure310-2may

beusedtocalibratethemonitoring-circuitshownonfigure310-1byusingthefollowing

procedure:

3.1.1測試電路A-校正程序。

如圖310-2所示的校正電路能被用於校正監測電路如圖310-1

所示，通過使用以下步驟：

a.Maketheproperconnectionsofthemonitoring-circuittothecalibration-circuitasshown,and

setswitchS1topositionA.

a.設為監控電路的正確連接校準電路如圖所示，設置開關S1位置A。

b.Calibratetheoscilloscopetriggeringinputasfollows:

b.校正示波器觸發輸入如以下:

（1）SetswitchS4topositionA,sothatthetriggerinputisconnectedtotheY-axisinputofthe

oscilloscope.

（1）設定開關S4至位置A,所以觸發輸入是連接到示波器Y軸輸入。

（2）Setthetime-basecontroloftheoscilloscopeforapproximately20-percentofthetime-

durationforwhichthecalibrationisbeingmade.

（2）設定示波器的時間基準控制大約為校正設定的持續時間20%。

（3）SettheY-amplitudeoftheoscilloscopefor1-voltpercentimeter.

（3）示波器的Y-振幅為1V/cm。

（4）Setthetriggeringcouplingtoacsensitivity.

（4）設定觸發偶合至AC感應。

（5）OpentheswitchS3andadjustthetriggeringlevelandstabilitycontrolsothatthetraceon

Theoscilloscopewilltriggerat0.5-voltorless.Thecloserthetrigger-levelistozero,the

greatertheaccuracyofcalibration.

（5）打開開關S3和調整觸發水平和穩定的控制，以便示波器軌跡將觸發在0.5V或以下。

當觸發水平越接近0，其校正的精度須越大。

c.SetswitchS4topositionB,sothattheY-axisinputoftheoscilloscopeisconnectedthrough

capacitorC4totheplateofthethyratroninthetestcircuit.

C.設定開關S4至位置B,其示波器的Y軸是在測試電路中是透過電容C4到閘流管的陽極作

連接。

d.CloseswitchS3.

d.關閉開關s3。

e.SettheY-amplitudeoftheoscilloscopeforausabledisplay,andthetime-baseasinpreceding

（b）

（2）.

e.對於可用的顯示範圍設定示波器的Y-振幅,和時間基準如前面（b）的第

（2）。

f.Depressmonitor-circuitresetswitchS2offigure310-1tosetthecircuitinthe"ready"position,

i.e.,withthecircuitbeingcalibratedandlampDS1extinguished.

f.減少監控電路重新設定圖310-1的開關S2去設定電路到”準備”位置,即校準電路和燈DS1

的熄滅。

g.OpenswitchS3;theobservedtraceoftheoscilloscopeshouldmoveacrossthescreenata

positiveamplitudeuntilitisdeflecteddownwardbythenegativepulsecreatedwhenthe

thyratronfires.Thetimeintervalbetweenthestartofthetraceandthenegativepulseisthe

detectiontime.AdjustR7offigure310-1tothetime-durationspecifiedintheindividual

specification.

g.打開開關S3:

觀察示波器軌跡應橫相移動在正極振幅直到閘流管點燃陰極脈衝產生偏移下

降。

軌跡的開始和負脈衝之間的時間間隔是檢測時間。

調整圖310-1的R7至持續時間規

定在特定規格內。

（圖表310-1）

ResistorsCapacitors

R1-35K1/2W,1%（seenote1）C1-.0022μF,600VDCW（seenote1）

R2-27K1/2W,5%

R3-47K1W,5%

R4-200K1/2W,5%

R5-70K1W,5%R6-2.4K1W,5%R7-5K1WR8-5001/2W,5%

Miscellaneous

DS1-NE-51

S1–DPDT

S2-SPSTNC125V1amp（push）

V1-JAN-5727/2D21W

NOTES:

（註）

1.Thesevaluesaretobechosentoobtainthedesiredtime-durationfortheapplicabletest

condition（see4.3）.Theseparticularvaluesareapplicableto10microsecondstime-duration

only.

1.對於適合測試條件（見4.3）這些值是被挑選而獲得想要的持續時間。

那些特定的值緊適用

於10µS的持續時間。

FIGURE310-1.Test-circuitA;monitorcircuitforcontact-openingandclosing.

圖310-1。

測試電路A;接點斷開和導通的監測電路。

（圖表310-2）

NOTE:

Theoscilloscopeshallhaveanaccuracyof±3percentorbetterontimebaseandhave

provisionforexternaltriggering.

註:

示波器應有±3%的精確度或好的時間基準和有外部觸發的提供。

FIGURE310-2.Calibrationcircuitfortest-circuitA.

圖310-2。

測試電路A的