A9空洞现象原因探讨及改善措施建议报告.docx
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A9空洞现象原因探讨及改善措施建议报告
制程改善建议报告
改善项目名称：
组件EVA空洞现象分析探讨
及改善措施的建议
实施工序：
组件生产层压处
实施日期：
2008.10
报告人：
沈渊
一.问题描述：
组件的EVA空洞现象一直是一项影响组件合格率的不合格项，统计2008年1-10月的不合格品，每月此项降级组件均有不少的数量。
图一:
1-10月降级EVA空洞数量
月份
1月
2月
3月
4月
5月
6月
7月
8月
9月
10月
EVA空洞
5
10
38
29
7
11
5
29
25
28
最近三个月EVA空洞组件数量均维持在高端水平，尤其是10月份，截止中旬共有28块组件降级，降级组件在各个中心的分布如下：
10月EVA空洞降级组件分布
组件一部
组件二部
一中心
二中心
三中心
BIPV
五中心
六中心
0
6
1
14
5
10
二．原因分析：
造成组件EVA空洞现象的主要原因分为以下三种：
1.材料原因：
a.EVA材料过期或受潮
b.钢化玻璃表面受潮
2.设备原因：
层压机加热板上某点或某区域温度过高导致EVA快速熔化
3.工艺原因：
a.工艺参数设置不准确
b.放组件到层压机内后久久不盒盖
10月份组件事业部EVA空洞共降级28PCS组件，空洞图片及主要降级明细如下：
组件一部
中心
条形码
空洞位置
设备编号
EVA材料
二中心
SF1902P0810P0294
D5
7#
Solar
二中心
SF1902P0810S0233
C5
2#（左）
Solar
二中心
SF1902P0810AH0730
D5
2#（左）
Solar
二中心
SF1902P0810AI0128
D5
2#（左）
Solar
二中心
SF1902P0810AJ0457
C5
2#（左）
Solar
三中心
SF1903P0810AI0200
D5
Solar
组件二部
中心
条形码
空洞位置
设备编号
EVA材料
BIPV
SF1604M0810H0144
C5\D5
ICOLAM
Sanvic
BIPV
SF1604M0810H0646
C4
6#
Sanvic
BIPV
SF1604P0810R0026
D3
6#
Solar
BIPV
SF1604M0810J0386
D7
6#
Solar
BIPV
SF1904P0810R0287
C3
5#
Solar
BIPV
SF1604P0810U0255
D7
Sanvic
BIPV
SF1604P0810U0048
D6
Sanvic
BIPV
SF1604P0810U0379
D7
Sanvic
BIPV
SF1604P0810M0547
D7
Sanvic
BIPV
36413068894
D4
Sanvic
BIPV
SF1604P0810AD0036
C5
Sanvic
BIPV
SF1604P0810AK0629
D4\D7
Solar
BIPV
SF1604P0810AK0669
C3
Solar
BIPV
SF1604P0810AK0134
C4
Solar
五中心
SF1605M0810I0370
D6
3#
Solar
五中心
SF1605M0810H0350
D6
2#
Solar
五中心
SF1605M0810C1188
D6
2#
Sanvic
五中心
SF1605P0810M0634
D7
3#
Sanvic
五中心
SF1605P0810M0776
D5
2#
Sanvic
六中心
SF1906P0810TF0007
D4
Solar
六中心
SF1906P0810AH0032
大面积
Solar
六中心
SF1906P0810AH0024
C4/C5
Solar
六中心
SF1906P0810AH0057
E3\F7
Solar
六中心
SF1906P0810AJ0197
C6
Solar
六中心
SF1906P0810AH0059
D5
Solar
六中心
SF1906P0810AK0031
C4
Solar
六中心
SF1906P0810BC0042
D7
Solar
六中心
SF1906P0810BB0171
C6
Solar
六中心
SF1906P0810BB0098
C6
Solar
根据以上明细可得出下面一些结论：
1.从时间的跨度和两种EVA均有空洞的现象看，应该不是材料受潮的原因，根据之前的统计经验，EVA空洞一般主要发生在Sanvic材料做成的组件上，而这次Solar和Sanvic均各自占一半左右的降级数量。
2.把问题的焦点放在设备上，根据之前工艺经常用点温计测试的结果和他们得出的结论看，层压机加热板的温度均匀性和稳定性似乎又都在范围内，不应是造成EVA空洞的原因。
但根据EVA空洞的位置分布，大都集中在组件C\D两串中间位置，也就是C5\D5位置居多，例如组件二中心的5块降级组件均在2号机左半室D5位置，是不是在层压过程中设备中间位置（也就是产生EVA空洞的位置）的温度均匀性发生了什么变化？
之前从没有对层压过程的温度变化进行过实时的温度曲线测试，为此特对一部的奥瑞特层压机和二部的申科层压机进行层压过程的温度测试。
三．测试过程：
1.测试设备：
热电偶温度测试仪
2.测试方法：
使用热电偶在层压机中间几个位置（产生EVA空洞较大概率的位置）进行测试，实时监控加热板温度从抽真空开始到层压结束时的温度变化。
3.测试步骤：
a.热电偶测试点定位
b.热电偶测试点随不沾布进入层压机
c.层压过程温度变化（实拍温度值）：
进入层压机前
开始抽真空
开始层压
层压结束前
整个过程做成温度曲线图如下：
线路
抽真空阶段
CH03
88
94.3
104.3
108
115
120.5
123.8
CH04
74.9
85.2
96
100.3
108.1
114.5
118.4
CH05
63.2
70
82.5
87.6
97.4
105.6
111
CH07
93.2
102
111.1
114.5
120.5
124.8
127.3
CH09
89.7
92.7
102.4
106.3
113.4
119
122.6
CH10
74
83.2
95.2
100.2
109.3
116
120.2
CH11
87.7
96.8
106
109.8
116.4
121.6
124
CH12
71.4
78
89.5
93.7
101.7
108.5
112.8
层压阶段
127.9
129
130.4
132.1
134.9
137.3
139
140
141.8
142.5
142.9
123
124.2
126.1
134.5
136.9
138.4
139.4
140
141.2
141.8
142.3
117.7
119.5
122.4
134.6
137.4
139
140
140.6
141.7
142.2
142.8
130.1
130.9
131.9
128.6
131.3
134.3
136.5
137.8
139.9
140.8
141.3
126.7
127.8
129.4
134.5
132.8
135.6
137.5
138.4
140.1
140.6
141.2
124.1
126
127.4
136.1
138.3
139.5
140.3
140.6
141.5
141.9
142.4
128.9
129.9
131.1
132.3
134.8
136.9
138.4
139.2
141.1
141.6
142.3
118.2
119.8
122.6
132.6
135.5
137.4
138.6
139.2
140.6
142.1
144
四．实验结论：
1.抽真空阶段各测试点温度上升速率快且各点之间温差较大，尤其是经常产生EVA空洞的各点温度比其它点高且上升快，各点之间温差最大有十几摄氏度。
2.层压阶段各点温度上升速率放缓，到层压快结束时各点温度差缩小，此现象应该可以解释为什么工艺员测层压机温度时温度均匀性在范围内的原因。
3.通过其它几台设备的温度测试实验，均得出以上结论。
五．建议措施：
a.针对组件一部二中心2号层压机的状况，可以初步解释为左层压室发生EVA空洞的那点温度上升过快且比其它点高（实验测得和其相邻5CM的加热点温度差有3--5℃），观察其放组件习惯，都是先放左室再放右室，在左室组件等待合盖的那时间可能因为那点温度过快过高导致EVA熔化遂容易产生空洞。
后建议让员工改变方式，先放右室，到目前为止2号机还没产生任何EVA空洞组件。
b.根据此次试验，为减少EVA空洞组件的产生，建议采取以下一些措施：
1.继续做好车间湿度控制，特别是EVA，钢化玻璃等材料的防潮要求。
2.建议工艺对组件事业部现有各台层压机进行层压过程温度变化的测试，了解设备的实际运行情况。
3.将情况反馈给设备供应商，愿其在设备运行时温度均匀性上进行有效改进。
以上报告是我的想法和建议，在逻辑和实验方法上有任何不妥的地方请领导批评指正，谢谢！
组件质控中心
沈渊
2008-10-22
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