DS610 DIODE SORTER使用说明.docx
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DS610DIODESORTER使用说明
DS-610
DIODESORTER
使用说明
⊕
EARTH⊕
§按键使用说明
键盘是由25个按键以5x5方式组成。
左边两列10个键为功能键。
右边3列15个键为编辑用键。
分别说明如下：
1.第第第第第
一页二页三页四页五页
此5个键为LCD显示画面选择键。
按下此些键LCD则显示出相对应的页数画面。
大部分的600系列测试机仅使用1～3页。
一般而言，第一页为测试条件设定，第二页为分类条件设定，第三页为机械接口设定，第四页与第五页是在多个二极管测试时（如桥式整流子）使用。
2.编辑
01~9•
输入清除←
要修改设定数据时请先按下所欲修改的画面页数键。
然后按下〝编辑〞键。
一个方块状闪动的光标会出现在该页的第一个可编辑字段。
若不更改此项数据，可按下〝输入〞键移到下一个字段或是按〝←〞键可往回移一个字段。
移到欲修改的字段，利用数字键输入新的数据。
然后按下〝输入〞键即完成。
若输入的数值超过允许之范围，则光标仍停在该字段，数据亦回复为旧数据让用户重新输入。
若在按下〝输入〞键前想放弃所输入的新数据则可按下〝清除〞键该字段将回复为旧数据（并非清除为0）。
3.
读取储存
用户所设定的数据是储存在一由电池供电之RAM内存，当电源关闭时，设定数据仍存在内存不会消失。
除此之外系统另外提供一个EEPROM内存可储存多组设定数据。
要将现在的设定数据储存到EEPROM时。
请先按下〝储存〞键，LCD画面会自动切换显示第三页之数据。
此时再按下〝编辑〞键，光标会出现在TYPE字段。
输入所欲储存的组别号码，然后按下〝输入〞键。
现在的设定数据将全部存入该组别号码记忆内。
若该组别号码内已有数据则旧数据会被新数据所取代。
欲读出所储存数据，请先按下〝读取〞键，LCD画面会自动切到第三页画面，再按下〝编辑〞键，光标会出现在TYPE字段，输入所欲读取的组别号码，然后按下〝输入〞键。
现在的设定数据将被该组别号码内储存的数据所取代。
4.
计数器
归零
各类别BIN累计的计数器可利用此键予以归零。
归零时请先按下此〝归零〞键，然后再按〝输入〞键，所有的计数器都会被归零。
5.
测试测试1
按下此键，测试机即以用户所设定的数据对待测物进行测试。
测试读值与分类结果分别显示在LCD与LED上。
由于这是手动触发测试，驱动机械接口的信号并不输出。
§1.0
二极管测试机DS-610可用来测试一般材料之二极管，可配合自动测试机械使用。
测试项目包括VF、IR、△IR。
根据测试结果可分为七类（BIN~BIN5，NOGO，CONTACT）。
测试条件之设定由面板上的25KEY击键。
资料在一16行*40字的背光LCD显示器，共有四个显示页：
第一页为测试条件设定及测试结果显示；第二页为分类条件设定；第三页是与自动机械连接时之机械界面设定；第四页为指拨开关之功能设定说明。
§1.1
第一页画面如下：
DIODESORTERMODEL:
DS-610W
BINTIMEAC
（1）
（2）mSCONT.（3）（4）
IF（5）A（6）mSVF（7）V
POLAR（8）
VRPULSE（9）mSVRT（10）V
IRT（11）uA
DIR（12）uA（13）mSDIRT（14）uA
BIN1BIN2BIN3BIN4BIN5NOGO
（15）（16）（17）（18）（19）（20）
（1）BIN：
测试分类结果。
1~7
1：
BIN15：
BIN5
2：
BIN26：
NOGO
3：
BIN37：
CONTACT（BADCONTACT）
4：
BIN4
（2）TIME：
为测试总时间（依设定条件不同而异）
（3）CONTA：
在【AP，AS】测试点之接触阻抗。
0.000Ω~4.000Ω
（4）CONTC：
在【CP，CS】测试点之接触阻抗。
0.000Ω~4.000Ω
（5）IF：
测试VF顺向压降时所施加之电流源。
0.010A~25.00A
此电源共有三档：
1..0100A~.4000A
2..401A~4.000A
3.4.01A~25.00A
（6）IF电流源脉波宽度。
0.1mS~9.9mS
※当IF电流大于10A时，脉波宽度最大不得超过2.0mS
（7）VF：
测得之VF读值。
0.000V~4.000V
（8）POLAR：
测得之待测物极性1~2
Polar显示1时极性方向为：
Polar显示2时极性方向为：
（9）VRPULSE：
逆向漏电流测试时所施加之逆向电压源脉波宽度。
30.0mS~200.0mS
（10）VRT：
逆向漏电流测试时所施加之逆向电压源0.00V~2200V
（11）IRT：
施加VRT（12）时测得之逆向漏电流读值0.0000uA~9999uA
电流读值共有四档：
1.0.000uA~4.000uA
2.4.001uA~40.00uA
3.40.10uA~400.0uA
4.401uA~9999uA
（12）DIR：
为△IR上限值（仅符合第二页BIN1条件才会加测此项测试）0.000uA~9999uA
（13）DELTAIR测试时持续施加VRT电压的脉波宽度20.0mS~200.0mS
（14）DIRT：
△IR之测试读值│IRDELAY-IR│.0000uA~9999uA
（15）~（20）各类别个数计数器。
除NOGO为5位数外，其余均为6位000000~999999
数。
计数器只在由外部触发测试时才计数，由面板〝TEST〞键做
手动测试时不计数。
§1.2
第二页画面如下：
BIN1BIN2BIN3BIN4BIN5
POLAR
（1）
CONT.
（2）
VFL（3）
VFH（4）
IR（5）
VRL（6）
VRH（7）
第二页是分类件设定。
分类的次序为BIN1、BIN2、BIN3、BIN4、BIN5。
各项参数说明如下：
（1）POLAR：
极性测试方式，可分为三种方式0~2
0：
任一极性均可。
1：
单一极性。
2：
单一极性。
（2）CONT.：
在测试片【AP，AS】两端及【CP，CS】两端测得之接触0.000Ω~4.000Ω
阻抗上限值
（3）VFL：
VF下限值。
0.000V~4.000V
（4）VFH：
VF上限值。
0.000V~4.000V
（5）IR：
IR逆向漏电流上限值。
0.000uA~9999uA
（6）VRL：
测量逆向漏电流时所施加之逆向电压源下限值0.00V~2200V
此电压源共有三文件：
1.0.00V~40.00V
2.40.1V~400.0V
3.401V~2200V
（7）VRH：
测量逆向漏电流时所施加之逆向电压源上限值0.00V~2200V
（请参考第5页第（6）项）
§1.3
第三页画面如下：
TYPE（0-9）:
（1）
PHOTOSTART（0=LOW/1=HIGH）
（2）
SOLENBIN1BIN2BIN3BIN4BIN5NOGOCONT
SHIFT（3）
DRIVE（4）
AUX（5）
ON/OFF（6）
0=ON1=OFF2=PULSE
TIMEPCS/SECK/HOUR
（7）mS（8）pcs（9）K
CONTACTACONTACTC
（10）（11）
第三页为与机械连接设定：
（1）TYPE：
所有的设定值（第1～第4页）均储存在一由电池供电之0~9
内存，所以电源关闭后设定数据仍然保存着不会消失。
另有一EEPROM内存可储存10组设定数据，编号0~9。
此10组数据可经由〝储存〞与〝读取〞两键来存入与读取。
当储存或读取EEPROM内之设定数据时在此处输入编号。
（2）PHOTOSTART：
可设定由自动机械的触发测试信号（SOT）之动作0~1
极性
1：
正缘触发LOW→HIGH
0：
负缘触发HIGH→LOW
（3）SHIFT：
可选择驱动器在测试后是否移位才动作。
0~30
（0表示不移位。
最大可移30位。
）
（4）DRIVE：
可选择各BIN要去驱动哪个驱动器。
（共有7个DRIVER1~7
可选择。
）输出信号由测试机背板上之Interface接头
输出（请参考附件：
测试机接口连接电缆线）
（5）AUX：
另一组辅助驱动器输出。
即每一个BIN最多可驱动2个驱动器1~7
（使用例：
有的机械可能同时须要2个驱动信号，GOOD与POLARITY）。
（6）ON/OFF：
驱动器动作方式。
0~2
0：
当分类到此BIN时驱动器动作。
1：
当分类到此BIN时驱动器不动作，非此BIN时则动作。
2：
脉冲式输出。
（移位不得设为0。
）
（7）机械触发测试周期时间。
（8）机械速度，每秒钟之支数。
（9）换算为每小时之数量。
（10）CONTACTA：
只有测试片【AP，AS】接触不良时之计数器。
000000~999999
（11）CONTACTC：
只有测试片【CP，CS】接触不良时之计数器。
000000~999999
※当测试片【AP，AS】，【CP，CS】皆接触不良时则判定
为空料，分类到CONTACT且计数器不计数。
§1.4
第四页画面如下
SKIP:
（0=ON1=OFF）
（1）
DIPSW0-1=ONCALIBRATION
（2）
-8=ONKEYUNLOCK
第四页为指拨开关之功能设定说明：
（1）SKIP：
0~1
0=禁止外部测试。
（此时面板灯全亮）
1=允许外部测试。
（2）指拨开关说明：
〝LLCMKEY〞PC板（左边数来第1片）DIPSW1有8个开关，其功能设定如下：
（〝*〞为出厂时默认值）
SW1-1=ON：
校正模式（执行仪器校正时用）。
*SW1-1=OFF：
正常测试模式。
*SW1-8=ON：
开放键盘设定功能。
SW1-8=OFF：
锁住键盘。
不允许修改规格。
§２．０校正程序
使用FLUKE8060A电表
A.将电源关闭。
B.将〝LCMKEY〞PC板（左方数来第1片）DIPSWSW1-1、SW1-8置于ON之位置。
C.抽出〝VFISO〞PC板（左方数来第5片）以延长板连接。
1.开启电源，将第一页IF之设定值设为2.000A。
以数字电表测量TP1与AGND间之电压应为2.000V。
否则调整VR7使电压读值为2.000V±0.1%。
2.将数字电表移至TP2与AGND两点。
将SW3-3、SW3-4置于ON之位置。
调整VR8使TP2与AGND间之电压为0.000V。
3.将SW3-3置于ON之位置。
SW3-4置于OFF之位置。
调整VR6使TP2与AGND之读值为2.500V±0.1%。
4.观查面板LCD显示器VF之读值是否为2.000V。
否则请调整ADC14A板（左方数来第3片）上的VR1使显示数值为2.000V±0.1%。
5.关闭电源，取出延长板。
将〝VFISO〞PC板上SW3-3、SW3-4置于OFF之位置。
并将此基板插回机架中。
D.将〝VRIRHIGH〞PC板（左方数来第7片）以延长板连接。
*****危险！
注意高压*****
1.开启电源，将第二页BIN1之VRL设为2000V，VRH设为0。
其他BIN之VRL与VRH均设为0。
以数字电表测量TP1与AGND间电压应为2.000V。
否则调整VR1使读值为2.000V±0.1%。
2.将第二页BIN1之VRL设为1000V，VRH设为0。
其他BIN之VRL与VRH均设为0。
调整VR2使VRTP与VRGND间之电压读值为1000V±0.2%。
3.关闭电源，取出延长板。
并将〝VRIRHIGH〞PC板插回机架插槽中。
E.将〝VRIRLOW〞PC板（左方数来第6片）以延长板连接。
**********危险！
注意高压**********
1.打开电源。
将第二页BIN1之VRL设为200.0V，VRH设为0。
其他BIN之VRL与VRH均设为0。
调整VR1使TP1与AGND间之电压读值为2.000V±0.1%。
2.调整VR2使VRTP与VRGND间之电压为200.0V±0.2%。
3.将第二页BIN1之VRL设为20.00V，VRH设为0。
其他BIN之VRL与VRH均设为0。
调整VR3使VRTP与VRGND间之电压读值为20.00V±0.2%。
4.关闭电源，取下延长板。
并将〝VRIRLOW〞PC板插回机架插槽中。
F.将〝LCMKEY〞PC板上的DIPSWSW1-1置于OFF位置。
打开电源。
1.取一10Ω±0.1%精密电阻置于【AP，AS】，【CP，CS】测试端间。
将IF设定值设为.2000A。
脉波宽度设为.3mS。
按下〝测试〞键。
观查LCD上的VF读值应在1.980V～2.020V之间。
2.取一1Ω±0.1%精密电阻置于【AP，AS】，【CP，CS】测试端间。
将IF设定值设为2.000A。
按下〝测试〞键。
观查LCD上的VF读值应在1.980V～2.020V之间。
3.取一0.1Ω±0.1%精密电阻置于【AP，AS】，【CP，CS】测试端间。
将IF设定值设为20.00A。
按下〝测试〞键。
观查LCD上的VF读值应在1.980V～2.020V之间。
4.取一1GΩ±0.5%电阻置于【AP，AS】，【CP，CS】测试端间。
将第二页BIN1之VRL设定为2000V。
IR设定值设为2.000uA。
其他BIN之VRL与IR均设为0﹒将第一页之VRPULSE脉波宽度设为40mS。
按下〝测试〞键。
观查LCD上的IRT读值应在1.960uA～2.040uA之间。
5.取一100MΩ±0.5%电阻置于【AP，AS】，【CP，CS】测试端间。
将第二页BIN1之VRL设定为2000V。
IR设定值设为20.00uA。
其他BIN之VRL与IR均设为0。
按下〝测试〞键。
观查LCD上的IRT读值应在19.60uA～20.40uA之间。
6.取一10MΩ±1%电阻置于【AP，AS】，【CP，CS】测试端间。
将第二页BIN1之VRL设定为2000V。
IR设定值设为200.0uA。
其他BIN之VRL与IR均设为0。
按下〝测试〞键。
观查LCD上的IRT读值应在196.0uA～204.0uA之间。
7.取一1MΩ±0.1%电阻置于【AP，AS】，【CP，CS】测试端间。
将第二页BIN1之VRL设定为1000V。
IR设定值设为1000uA。
其他BIN之VRL与IR均设为0。
按下〝测试〞键。
观查LCD上的IRT读值应在980uA～1020uA之间。
8.取一100MΩ±0.5%电阻置于【AP，AS】，【CP，CS】测试端间。
将第二页BIN1之VRL设定为200V。
IR设定值设为2.000uA。
其他BIN之VRL与IR均设为0。
按下〝测试〞键。
观查LCD上的IRT读值应在1.960uA～2.040uA之间。
9.取一10MΩ±1%电阻置于【AP，AS】，【CP，CS】测试端间。
将第二页BIN1之VRL设定为200V。
IR设定值设为20.00uA。
其他BIN之VRL与IR均设为0。
按下〝测试〞键。
观查LCD上的IRT读值应在19.60uA～20.40uA之间。
10.取一1MΩ±0.1%电阻置于【AP，AS】，【CP，CS】测试端间。
将第二页BIN1之VRL设定为200V。
IR设定值设为200.0uA。
其他BIN之VRL与IR均设为0。
按下〝测试〞键。
观查LCD上的IRT读值应在196.0uA～204.0uA之间。
11.取一100KΩ±0.1%电阻置于【AP，AS】，【CP，CS】测试端间。
将第二页BIN1之VRL设定为200V。
IR设定值设为2000uA。
其他BIN之VRL与IR均设为0。
按下〝测试〞键。
观查LCD上的IRT读值应在1960uA～2040uA之间。
12.取一1KΩ±0.1%电阻置于【AP，AS】，【CP，CS】测试端间。
将第二页BIN1之VRL设定为9.00V。
IR设定值设为5000uA。
其他BIN之VRL与IR均设为0。
按下〝测试〞键。
观查LCD上的IRT读值应在8820uA～9180uA之间。
G.校正完成。
维明企业股份有限公司
WEIMININDUSTRIALCO.,LTD.
TEL:
04-25344669FAX:
04-25342341
ACV
DCV
SERIALNO.:
ProgramRevision:
DS-610DiodeTesterCalibrationRecord
Equipmentrequired:
Humidity:
65%15%
A..
Temp.25℃2℃
1.
Fluke8060AMultimeter
9.
StandardResistor
100K0.1%,1/2W
2.
StandardResistor
100.1%,4W
10.
StandardResistor
1K0.1%,1/2W
3.
StandardResistor
10.1%,4W
4.
StandardResistor
0.10.1%,4W
5.
StandardResistor
1G0.5%,5KV
6.
StandardResistor
100M0.5%,2KV
7.
StandardResistor
10M1%,1/2W
8.
StandardResistor
1M0.1%,1/2W
SampleCheck
Item
Sample
TestCondition
Min.
Max.
CheckValue
1
10Resistor
IF=0.2000A
1.980V
2.020V
2
1Resistor
IF=2.000A
1.980V
2.020V
3
0.1Resistor
IF=20.00A
1.980V
2.020V
4
1GResistor
VR=2000V,IR=2.000uA
1.960uA
2.040uA
5
100MResistor
VR=2000V,IR=20.00uA
19.60uA
20.40uA
6
10MResistor
VR=2000V,IR=200.0uA
196.0uA
204.0uA
7
1MResistor
VR=1000V,IR=1000uA
980uA
1020uA
8
100MResistor
VR=200.0V,IR=2.000uA
1.960uA
2.040uA
9
10MResistor
VR=200.0V,IR=20.00uA
19.60uA
20.40uA
10
1MResistor
VR=200.0V,IR=200.0uA
196.0uA
204.0uA
11
100KResistor
VR=200.0V,IR=2000uA
1960uA
2040uA
12
1KResistor
VR=9.00V,IR=5000uA
8820uA
9180uA
Calibration
Item
Description
TestPoint
Trimmer
Min.
Max.
FactoryAdjust
1
IFDACAdj.
PC5TP1-AGND
PC5-VR7
1.998V
2.002V
2
VFBufferOffsetAdj.
PC5TP2-AGND
PC5-VR8
0.000V
0.001V
3
VFBufferGainAdj.
PC5TP2-AGND
PC5-VR6
2.497V
2.503V
4
ADCAdj.
PC3Display
PC3-VR1
1.998V
2.002V
5
HVDACAdj.
PC7TP1-AGND
PC7-VR1
1.998V
2.002V
6
VRAdj.
PC7VR-VRGND
PC7-VR2
998V
1002V
7
LVDACAdj.
PC6TP1-AGND
PC6-VR1
2.002V
2.002V
8
200VAdj.
PC6VRTP-VRGND
PC6-VR2
200.4V
200.4V
9
20VAdj.
PC6VRTP-VRGND
PC6-VR3
20.04V
20.04V
CheckBy:
Date:
Cal.By:
Date:
DIODETESTER
MODEL：
DS-610
BIN1BIN2BIN3BIN4BIN5NOGOCONTACT
○○○○○○○
WEIMININDUSTRIALCO.,LTD.
1
DRIVER1
9
DRIVERGROUND
2
DRIVER2
10
DRIVERCOM.+24V
3
DRIVER3
11
4
DRIVER4
12
5
DRIVER5
13
SENSOR
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