JY3428 IEC623215中文译文文档格式.docx
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5设备...........................................................................................................11
5.1概述.....................................................................................................11
5.2设备.....................................................................................................12
6样品...........................................................................................................13
6.1概述.....................................................................................................13
6.2试验部分.............................................................................................13
6.2.1聚合物.......................................................................................13
6.2.2金属..........................................................................................13
6.2.3电子装置...................................................................................13
7步骤...........................................................................................................13
7.1聚合物.................................................................................................13
7.1.1概述..........................................................................................13
7.1.2灰化法.......................................................................................14
7.1.3酸消解法...................................................................................15
7.1.4微波消解...................................................................................15
7.2金属.....................................................................................................16
7.2.1概述..........................................................................................13
7.2.2样品消解的常用方法.................................................................14
7.2.3含Zr，Hf，Ti，Ta，Nb或者W的样品.........................................15
7.2.4含Sn的样品..............................................................................15
7.3电子装置.............................................................................................18
7.3.1概述..........................................................................................18
7.3.2王水消解...................................................................................18
7.3.3微波消解...................................................................................19
7.4试剂空白的制备...................................................................................20
8校准...........................................................................................................20
8.1概述.....................................................................................................20
8.2校准溶液的制备....................................................................................20
8.3校准曲线的建立....................................................................................20
8.4样品的测量..........................................................................................21
9计算...........................................................................................................22
10精确度.......................................................................................................22
11质量控制....................................................................................................24
11.1概述...................................................................................................24
11.2检出限和定量限.................................................................................25
附录A采用AAS，AFS,ICP-OES和ICP-MS来测定聚合物和电子装置中的
Cd，Pb,Cr以及金属中的Cd和Pb的实际应用..................................................27
附录B国际上多个实验室之间研究的结果以及4A（IIS4A）…………….……..33
文献.................................................................................................................36
图A.1-背景修正...............................................................................................31
表1—重复性和再现性.....................................................................................22
表2—质量控制项目的验收准则.......................................................................24
表3—方法检测极限=t*Sn-1............................................................................26
表A.1—对于Cd和Pb波长的光谱干扰..........................................................28
表A.2—对于Cr波长的光谱干扰.....................................................................29
表A.3—质量/电荷之比的例子.........................................................................30
表A.4—用于AAS波长的例子.........................................................................30
表A.5—用于AFS波长的例子.........................................................................31
表A.6—用于样品微波消解的程序...................................................................32
表B.1—用于AAS的统计数据.........................................................................33
表B.2—用于AFS的统计数据.........................................................................33
表B.3—用于ICP-OES的统计数据................................................................34
表B.4—用于ICP-MS的统计数据..................................................................35
采用AAS，AFS，ICP-OES,和ICP-MS来测定聚合物和电子装置中的Cd，Pb，Cr和在金属中的Cd，Pb
前言
1）国际电工委员会（IEC）是一个世界性的标准化组织，它是由各个国家的电工委员会组成。
IEC的目的是在电子电气领域内标准化有关的所有问题促进国际间的合作。
为了实现这一目标和其他的活动，IEC共开出版国际标准，技术规范，技术报告，公开发行规范（PAS）和指导（此后均称作“IEC出版物”）。
它们的制定工作委托给技术委员会：
任何国家对此项目感兴趣的IEC委员会均可参与制定工作。
与IEC相关联的国际组织，政府组织或非政府组织也可以参与制定工作。
IEC同国际标准化组织（ISO）根据双方潜力的协议，进行密切的合作。
2）IEC对技术问题的正式决定或协议，就近来说，就是相关的议题在国际范围内达成共识，因为每个技术委员会有感兴趣的来自各个国家IEC委员会的代表。
3）IEC发行的出版物以推荐的形式在国际范围使用，在这种意义上，它被IEC各国委员会所接受。
IEC虽然作出各种合理的努力以确保出版物技术内容的准确性，但却对它们如何被使用或终端使用者的误解不承担责任。
4）为了在国际程度上达到一致，IEC各国委员会担负着在它们的国家和地区性
出版物中最大程度地公开应用IEC出版物。
任何IEC出版物于相应的国家或
地区性出版物之间的差异应在结尾部分予以清楚说明。
5）IEC不提供标识程序以证明符合性，因此，当任何产品宣称符合IEC某一标准时，IEC不负有责任。
6）所有使用者必须确保他们获得的本出版物为最新版本。
7）任何人身伤害，财产损失或其他任何性质的损失，无论是直接还是间接的，或是花费（包括法定费用），及由此出版物产生的花费，使用或依赖次出版物产生的花费，或是其他的IEC出版物，IEC或它的主管，雇员，服务人员、机构包括独立的专家，技术委员会的成员和各个国家的IEC委员会不需要承担责任。
8）需要注意到本出版物中引用到的参考标准，参考标准的使用与正确运用本出版物是密不可分的。
9）需要注意到本IEC出版物的某些部分可能会涉及到著作权的问题，IEC并不负责鉴别这种著作权相关的问题。
国际标准IEC62361-5已经由IEC技术委员会TC111：
电子电气产品于系统的环境标准化制定。
IEC62321:
2008的第一版本是一个“独立的”标准，包括一个介绍，测试方法的概要，一个机械样品的制备以及各种测试方法条款。
IEC62321-5的第一个版本是IEC62321:
2008的部分代替，形成了一个结构化修订，逐步的代替了条款8到10，以及附录F，G和H。
在IEC62321系列中的未来部分将逐步地代替来自IEC62321:
2008的相关条款。
直到出版所有的部分，然而，对于那些还没有发布成一个独立部分的那些条款，IEC62321：
2008仍然是有效的。
本标准的内容基于以下文件：
FIDS
投票报告
111/297/FDIS
111/307/RVD
有关本标准投票通过的全部信息可以从以上表中的投票报告找到。
本出版物根据ISO/IEC指导第2部分起草。
在IEC62321系列中所有部分的清单能够在IEC网站上找到，在以下的标题中：
在电工产品中某些物质的测定。
委员会决定在数据库中与此相关的出版物的内容在修订期限之前将维持不变，此日期显示在IEC的网址：
http:
//webstore.iec.ch中可以找到。
此期限后，本出版物将会被：
●重新确认
●废除
●由修订版取代
●修订
重要—这个出版物的封面上有个“彩色的”标识表明：
这个标志包含被认为是有利于对出版内容正确理解的颜色。
因此，使用者应该用一个彩色的打印机来打印这个文件。
简介
电子电气产品广泛使用对环境产生的影响，已经越来越多地引起了人们的关注。
导致了世界是许多国家修改法律法规以影响电子电气产品中废弃物，物质和能源的使用。
电子电气产品中特定物质，如：
Pb，Cd，PBDE’S,在现行和被提议地区的立法中是一个关注的来源。
IEC62321系列的目的：
提供测试方法，这些测试方法允许电子电气企业去测定在电子电气产品中特定物质的含量。
警告：
使用这个国际标注内的人应该熟悉常规的实验室操作。
这个标准没有发表所有安全问题，如果有可能的话，要和实验室安全使用联系起来。
是使用人的责任去建立恰当的安全和健康的操作，以及确保和国内常规情况的一致性。
1范围
IEC62321的这个部分描述了采用AAS,AFS,ICP-OES和ICP-MS设备来测试聚合物，金属和电子装置中的铅，镉，铬的方法。
这个标准具体说明了在电子电气产品中Cd，Pb，和Cr的测定。
它涉及了3种类型的基础:
聚合物/聚合物的工件,金属，合金和电子设备。
这个标准涉及到的是被加工和被测量的样品。
“样品是什么”或者“如何去得到样品”是通过操作实验来定义的。
在IEC62321-2中可以找到：
从电子装置制成品中获得可被测试的，有代表性样品的进一步指导.注意：
样品的挑选和/或者样品的测定可能会影响测试结果的解释。
这个标准描述了4种方法的使用，命名为AAS（原子吸收光谱法）,AFS（原子荧光光谱法）,ICP-OES（电感耦合等离子体原子发射光谱法）,ICP-MS（电感耦合等离子体质谱法），以及从由专家挑选的最恰当的分析方法的用于制备样品溶液的几个程序。
因为六价铬分析有时候很难去测定在聚合物和电子设备中的六价铬，这个标准介绍了在聚合物和电子设备中铬的扫描（除了从AFS中得到的）。
铬分析提供有关在材料中六价铬存在的信息。
然而，元素分析不能选择性地探测到六价铬；
它能决定在样品中所有氧化状态中Cr含量。
如果Cr含量超出了六价铬的限值，应该要执行六价铬的测试。
在这个标准中描述的测试程序被用来为Pb，Cd和Cr浓度提供最高级的正确性和精确性的。
在ICP-OES和AAS情况中，对于Pb，Cd，Cr来说，从10mg/kg开始。
在ICP-MS情况中，对于Pb,Cd，从0.1mg/kg开始的。
在AFS情况中，对于Pb来说是从10mg/kg开始的。
对于Cd来说，是从1.5mg/kg开始的。
这个步骤对于更高含量的物质是没有限制的。
这个标准不能应用于含有特富龙聚合物的材料，是因为它们的稳定性。
如果硫酸被使用在分析的步骤中，会有损失Pb的风险，这样的话，会导致这个分析物产生一个错误的低值。
除此之外，硫酸和氢氟酸不适合用于使用AFS来测定Cd，因为它会干扰到Cd的还原性。
由于样品的沉淀，会发生限制和风险，比如：
目标物的沉淀或者其他元素可能会出现，在这些情况下，残留物需要被分开检查，或者用另一种方法来溶解。
然后，和测试样品溶液合并起来。
2引用标准
以下参考文件对于本文件的应用是密不可分的。
对于注明日期的参考文件，所引用的版本适用于本标准。
对于未注明的参考文件，所引用的参考文件的最新版本（所括修正案）适用于本标准。
IEC62321-1，在电子电器产品中某些物质的测定-第一部分：
介绍和概述
IEC62321-2，在电子电器产品中某些物质的测定-第二部分：
拆分和机械样品的制备
IEC62321-3-1，在电子电器产品中某些物质的测定-第三部分的第一条，扫描—用XRF来扫描铅，汞，镉，总铬和总溴
ISO3696,分析实验室用水-规格和测试方法
ISO5961，水质-原子吸收光谱法测试镉的含量
3术语，定义和缩写
3.1术语和定义
根据这个文件的目的，可以应用在IEC62321-1中给出的术语和定义以及以下的内容。
3.1.1精确性
一个测试结果和一个可接受的参考值之间的接近程度。
3.1.2校准标准
考虑到分析物的浓度，带有已知的和稳定的分析物浓度的或者用来建立仪器响应（校正曲线）的固态或者液态的物质。
3.1.3校准溶液
通过一个储存溶液或者从一个（有证）参考物质制备的，用来校准仪器的溶液。
3.1.4有证参考物质
附有证书的参考物质，它的一项或多项属性通过认可程序的验证，可以追溯到所表述属性单位的真实准确度，而且每个验证值在所述的置信水平下都附有不确定度。
3.1.5实验室质控样品
和化合物混在一
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