使用SI9000进行PCB常规阻抗计算.docx

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使用SI9000进行PCB常规阻抗计算

SI9000常规阻抗计算

常规信号分为微带线和带状线,微带线指该信号线只有一个参考平面〔表底层〕,带状线指该信号线在两个参考平面之间〔层〕,故阻抗计算需要选择不同模型来完成。

一、外层〔微带线〕单端阻抗计算模型

1.单端阻抗构造——>2.单端阻抗模型——>3.设置相应参数

说明:

介电常数和板材有关,常规FR4介电常数在4.2-4.5之间,常规半固化片介电常数106〔3.9〕、1080〔4.2〕、2116〔4.2〕、7628〔4.5〕,罗杰斯板材RO4350B介电常数是3.66,M6板材介电常数在3.3-3.5之间。

二、外层〔微带线〕差分阻抗计算模型

1.差分阻抗构造——>2.差分阻抗模型——>3.设置相应参数

说明:

常规差分控制阻抗100ohm,USB控90ohm,Typec控90ohm

 

以下是1.6mm板厚常规八层板的层叠

1.3个信号层、2个地、一个电源

2.射频隔层参考,线宽16mil

3.关键信号在S1层,注意S2跨分割问题,适用于杂线多的情况

A.根据微带线单端模型50ohm阻抗计算如下〔线宽6〕:

B.根据微带线差分模型阻抗计算如下:

三、层〔带状线〕单端阻抗计算模型

1.单端阻抗构造——>2.单端阻抗模型——>3.设置相应参数

 

四、层〔带状线〕差分阻抗计算模型

1.差分阻抗构造——>2.差分阻抗模型——>3.设置相应参数

根据常规8层板层叠计算层阻抗.

A.层单端阻抗模型:

S1:

H1=16+1.2+4.3=21.5

H2=1.2+4.3=5.5

S1层50ohm:

5mil〔说明:

阻抗允许误差正负10%,H1和H2数值〕

S1和S2参考层面厚度相差较小阻抗线宽一致〔说明:

如果H1和H2数值正确,H1和H2即使颠倒,阻抗变化很小〕

S2:

H1=4.3

H2=1.2+16+1.2+4.3=22.7

S2层50ohm:

5mil

S3:

H1=4.3

H2=1.2+16=17.2

S3层50ohm:

5mil

B.层差分阻抗模型〔介质厚度和单端阻抗一致〕:

S1:

H1=16+1.2+4.3=21.5

H2=1.2+4.3=5.5

S2:

H1=4.3

H2=1.2+16+1.2+4.3=22.7

S3:

H1=4.3

H2=1.2+16=17.2

S1、S2、S3:

90ohm

S1、S2、S3:

100ohm同理计算,概不赘述。

〔关于射频线阻抗计算隔层参考,共面阻抗计算参考

阻抗说明:

叠层厚度通常由单板实际情况决定,如果叠层确定,线宽变小,阻抗变大,差分阻抗线之间的间距变大,阻抗变大,差分100ohm计算时,可通过改变线宽和间距实现〔注意:

建议差分间距不要大于2倍线宽如4的线宽8的间距〕。

单端阻抗主要依靠改变线宽实现。

层叠厚度和阻抗反比,距离主要参考层面越远阻抗越大。

合理的层叠〔参考<常规层叠规那么及选用方法>〕,是计算阻抗的必要条件,有些层叠计算不出来需求阻抗。

通常我们提供应制板厂的层叠和线宽,生产制造时会进展微调,为区别单线和差分阻抗给DFM工程师调整阻抗提供便利,要求同一层面的不同阻抗线线宽不同,即单线50ohm、差分85ohm、差分90ohm、差分100ohm要求不同的线宽。

阻抗存在争议:

以上层算法是SI6000时就存在的模型计算,SI9000在SI6000的根底上又推出新的模型,但是存在争议关于层H1和H2的厚度。

关于H1和H2存在争议:

a.一些工程师使用SI9000推出的新模型

SI9000推出的新模型,此模型忽略层铜箔的厚度,仅仅是pp和core的厚度。

〔个人认为不太合理,层1oz的铜箔1.2mil的厚度加上还是有必要的〕。

b.一些工程师使用SI9000中SI6000的模型,但认为H1是信号距离参考平面近的pp或core的厚度,H2是距离参考平面远的厚度。

c.还有一些工程师,使用SI9000中SI6000的模型,直观的根据模型图提供的信息,判断H1和H2的厚度。

b、c虽然存在局部差异,但是计算的阻抗偏差几乎可以忽略不计。

本文是使用c方法判断H1和H2的厚度,采用原始模型。

 

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