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投标人需要按要求提供采购谈判响应声明、报价一览表、货物说明一览表、商务响应偏离表、技术响应偏离表和产品技术资料等。

除此以外,需要提供采购设备的实际部署和管理维护方案。

 

近代物理——招标技术参数(第二包)

一、紫外可见光光度计

1.采用双光束光学系统(动态反馈比例测光方式)和电路控制系统设计。

2.光源采用氘灯和12V50W溴钨灯,接收器采用光电倍增管。

★3.波长范围(nm)190~900,波长准确度及分辨率(nm)±

0.3,波长重复性(nm)≤0.1。

4.带宽(nm)0.15、0.3、0.5、1.0、2.0(5档可选);

透射比准确度(%T)±

0.3,透射比重复性(%T)≤0.15;

测光精度(透过率):

±

0.3%T(0.0-100%T);

吸光度:

0.002A(0.0-0.5A)±

0.004A(0.5-1.0A)。

5.配专用软件:

工作方式含吸光度、透过率、能量,扫描速度快速、中速、慢速、最慢;

数据处理功能包含浓度计算、光谱存储、光谱四则运算、光谱平滑、光谱微分、基线校正、波长修正、光谱累加平均、峰值检出、指定峰值标注、图谱比对、峰值打印等;

数据导出功能包含图谱预览、图谱打印、导出数据等,均可脱机操作。

二、红外分光光度计

1.高能量双闪耀光栅:

波数范围(cm-1)4000~400(2.5~25μm);

★2.波数精度(cm-1)±

4(4000~2000),±

2(2000~400);

波数重复性(cm-1)≤2(4000~2000),≤1(2000~400);

分辨率(cm-1)≤1.5(1000附近);

3.配套软件:

工作方式(连续扫描、重复扫描、定波长扫描)三种可选;

扫描速度五档可选:

很快、快、正常、慢、很慢;

响应速度(很快、快、正常、慢)四种可选;

狭缝宽度(很宽4cm-1、宽2cm-1、正常1cm-1、窄0.5cm-1、0.2cm-1很窄)五档可选;

测量模式透过率、吸光度、单光束(能量)可选:

透过率精度(%T)±

0.2(不含噪声电平);

杂散光(%T)≤0.5(4000-650cm-1),≤1(650-400cm-1);

基线平直度(%T)±

2,横、纵坐标扩展任意;

数据处理功能、数据导出功能完备;

4.配套附件:

聚苯乙烯在3000附近可分辨7个吸收峰,峰高1%;

液体池:

≥48×

80×

2mm,R=38mm,旋转顶杆机构,内置密封圈,可拆开清洗;

5.数据采集器:

CPU:

i5-6500以上;

内存:

≥2GBDDR3;

硬盘:

≥500G;

1GB以上独立显卡;

DVDRW;

配至少21.5显示器。

三、椭圆偏振光测厚仪

1.薄膜厚度范围1nm~300nm,折射率范围1~10,偏振器方位角范围0°

~180°

,分辨率为0.05°

2.测量膜厚和折射率重复性精度分别为±

1nm和±

0.01,入射角连续调节范围20°

~90°

精度为0.05°

,入射光波长632.8nm;

3.齿轮副机构:

由手轮和斜锥齿轮组成,大小齿轮的模数m=0.5,其传动比为8:

1,灵敏度可以达到0.26°

,读数机构上的大圆刻度盘均分360份,每份1°

固定尺(副尺)上刻有20条刻线与大圆刻度盘的19条刻线首尾分别对齐,即将1°

均分20等份;

4.采集与控制:

光电倍增管采用侧窗式;

采用消光法自动控制,自动测量薄膜厚度和折射率;

.仪器采用USB接口与电脑连接,配套数据采集及处理专用软件。

四、镀膜机电子枪及坩埚配件

1.实验室现有500B镀膜机、ZZS700镀膜机各一台,需现场拆机搬运及维修维护更换维修配件,恢复至出厂时状态;

2.维修验收标准为设备原有的出厂标准;

★3.投标人需在投标截止日期前,与实验室工作人员联系,现场勘探,并出具详细的维修方案,并得到用户认可,投标人必须在投标时提供现场勘探记录及用户认可方案。

五、黑体实验装置

1.装置完整组成:

电源控制箱、标准光源室、连接电缆5/5芯线、连接电缆8/8芯线、连接电缆DB25、USB连接线、软件系统、寄存器10个及以上;

2.波长范围800~2500nm,波长精度±

4nm,波长重复性2nm,杂散光≤0.3%T,透过率精度≤±

1,噪声≤±

2%;

3.准直镜焦距f=302.5mm,相对孔径D/F=1/7,狭缝宽度至少0~2.5mm连续可调;

4.色散元件300L/mm,衍射光栅1400nm闪耀;

5.其它主要元件:

光学元件M2、M3焦距f=302.5mm,滤光片L三块滤光片工作区间,第一片800~1200nm,第二片1200~1950nm,第三片1950~2500nm。

六、单光子计数实验系统

1.系统主机基本要求:

(1)系统入光部分配备:

窄带干涉滤光片(中心波长)532nm,衰减片(1%的1片,10%的2片),可拆卸光阑片

(2)系统光电倍增管:

渡越时间短,暗计数低

(3)信号处理部分:

采用高速运算放大器和高精度脉冲幅度甄别电路,甄别后的信号送至脉冲计数器进行计数;

采用稳定的脉冲计数器,具备计数范围宽、计数准确等优点

(4)带冷却功能,可外接制冷系统

2.光谱响应范围300~650nm;

最大计数10,000,000;

甄别电平数字可调(0~4096/2.56V),暗计数≤30CPS(-20℃);

3.高压控制数字可调(0~1000V),积分时间数字可调(0~10000ms);

4.系统构成:

主机1台,制冷系统1台,包括各种保证仪器正常工作的附件及实验所需附件等;

数据采集器:

CPUi5-6500以上,内存≥2GBDDR3,硬盘≥500G,1GB以上独立显卡,DVDRW,配至少21.5显示器。

七、弗兰克赫兹实验

1.弗兰克—赫兹管:

氩管,管子结构:

4级,寿命≥3000hrs。

2.工作电源及扫描电源(三位半数显):

2.1灯丝电压:

DC0~6.3V,±

1%;

2.2第一栅压:

DC0~5V,±

1%;

2.3第二栅压:

DC0~100V,±

1%(自动扫描/手动);

2.4拒斥电压:

DC0~12V,±

1%。

3.微电流测量仪(三位半数显):

测量范围:

10-6~10-9A,±

1%。

4.

可手动或自动调节扫描电压,普通示波器动态显示实验曲线形成过程,不损失谱峰数;

手动、半自动、自动相结合的多种实验方式:

4.1手动进行数据测量:

手动逐点调节扫描电压测量实验数据,同时普通示波器跟踪显示谱峰曲线波形。

4.2自动测量:

普通示波器动态显示曲线形成过程,回查实验数据,人工描绘曲线。

5.保护性设计:

采用长寿命的独立按键取代易损的旋转电位器,使用次数在20万次以上;

弗兰克—赫兹管保护功能:

为避免学生接错或者短路提供给夫兰克—赫兹管的电源连线而烧坏夫兰克—赫兹管,仪器设有各组工作电源短路、过流保护装置,并具有声音报警功能。

八、X射线管-CU

1.靶材类型:

Cu;

2.焦点尺寸:

10mm或0.4×

14mm;

3.最大输出功率:

2.4kW或2.7kW;

4.使用寿命:

4000个小时以上;

5.能与实验室原有X射线衍射仪设备配套使用。

九、单光子寿命测试仪

1.测试单晶规格:

电阻率范围>

2Ω.cm;

单晶尺寸:

断面竖测φ25mm~150mm;

L2mm~500mm;

纵向卧测φ25mm~150mm;

L50mm~800mm;

2.可测单晶少子寿命范围:

5μS~7000μs,重复误差<

20%;

3.配备光源类型:

波长1.09μm;

余辉<

1μS;

闪光频率为20~30次/秒;

4.高频振荡源:

用石英谐振器,振荡频率30MHz;

5.前置放大器:

放大倍数约25,频宽2Hz~1MHz。

十、四探针测试仪

1.测量范围:

电阻率:

10-5~105Ω.cm(可扩展);

方块电阻:

10-4~106Ω/□(可扩展);

电导率:

10-5~105s/cm;

电阻:

10-5~105Ω;

2.可测晶片尺寸:

140mm×

150mm;

200mm×

200mm;

400mm×

500mm;

3.四探针探头基本指标:

间距:

0.01mm;

针间绝缘电阻:

≥1000MΩ;

机械游移率:

≤0.3%;

探针:

碳化钨或高速钢Ф0.5mm;

探针压力:

5~16牛顿(总力);

4.模拟电阻测量相对误差(按JJG508-87进行):

0.01Ω、0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω、1000Ω、10000Ω≤0.3%±

1字;

整机测量最大相对误差:

(用硅标样片:

0.01-180Ω.cm测试)≤±

5%.

5.配套软件:

软件可记录、保存、打印每一点的测试数据,并统计分析测试数据最大值、最小值、平均值、最大百分变化、平均百分变化、径向不均匀度、并将数据生成直方图,也可把测试数据输出到Excel中,对数据进行各种数据分析。

十一、四探针测试演示仪

1.测量范围:

方块电阻:

10-4~106Ω/m2(可扩展);

电导率:

10-5~105S/cm;

电阻:

厚度≤3mm;

面型规格140mm×

3.探头:

间距1±

针间绝缘电阻≥1000MΩ;

机械游移率≤0.3%;

探针为碳化钨或高速钢Ф0.5mm;

探针压力5~16牛顿(总力);

4.模拟电阻测量相对误差:

(按JJG508-87)0.01Ω、0.1Ω、1Ω、10Ω、100Ω、1000Ω、10000Ω≤0.3%±

1字;

整机测量最大相对误差(用硅标样片:

0.01~180Ω.cm测试)≤±

4%;

5.配套软件功能:

软件可记录、保存、打印每一点的测试数据,并统计分析测试数据最大值、最小值、平均值、最大百分变化、平均百分变化、径向不均匀度、并将数据生成直方图,也可把测试数据输出到Excel中,对数据进行各种数据分析。

十二、半导体制冷片

1.外形尺寸:

≥50×

50×

5.6mm,元件对数127,内部阻值4.0~4.3Ω(环境温度23±

1℃,1kHZAc测试);

2.导线规格:

引线长≥100±

5mm,RV标准导线,单头5mm镀锡;

3.温控范围-12度~室温,温度分辨率0.1度,最大温差△Tmax(Qc=0)60℃以上;

4.额定电压DC12V(Vmax:

15.5V),工作电流Imax=3A(额定电压启动时),致冷功率Qcmax≥18W;

5.主要构成:

数字温度计、散热器。

十三、温控加热片板

1.加热尺寸:

≥300*500mm;

2.温控范围:

室温~400度,温度分辨率0.1度,控温精度±

1%或±

1℃,表面温度均匀度≤2%;

3.功率:

≥600W。

十四、1英寸单晶硅片

1.型号:

N/P;

2.晶向:

100111110;

3.电阻:

4.厚度:

≤3mm;

5.尺寸:

1英寸。

十五、1英寸单晶锗片

十六、4英寸单晶硅片

4英寸。

十七、4英寸单晶锗片

十八、傅里叶变换图像识别实验装置

1.氦氖激光器1台:

输出功率≥1.5mW,TEM00模。

2.DMD空间光调制器1台:

帧刷新率~15000Hz,波长范围400nm~700nm(典型值),量化精度优于11bit,分辨率2569×

1600以上,USB3.0接口,HDMI显示接口,网络接口等;

3.CMOS相机1台:

分辨率1280×

1024以上,10bit,单个像素尺寸≤5.2μm×

5.2μm,USB2.0接口以上;

4.傅里叶变换透镜1个:

Φ40mm,AR@400nm~700nm,f200mm;

准直镜1个:

Φ25.4mm,AR@400nm~700nm;

偏振片2个:

5.精密光学导轨1个:

1200mm,配滑块、支座、支杆;

6.空间滤波器1个:

40×

显微物镜,15μm针孔;

7.线性偏振片1个:

吸收型偏振片,基片材质:

N-BK7;

工作范围:

400nm~700nm;

AOI:

30°

机械外壳直径:

25.4mm;

通光孔径:

21.5mm;

消光比:

>

5000:

1(450nm-510nm),>

10000:

1(510nm~700nm);

镀膜:

反射率:

Ravg<

0.5%(6°

入射角);

8.变频光栅1个:

材质钠钙玻璃,尺寸76.2mm×

25.4mm,分辨率从1.25线对/mm至250线对/mm,提供18组线性光栅;

9.涡旋半波片1个:

532nm,400~700nm,直径25.4mm;

10.目标物1个:

图案精度1μm;

11.专用数据分析软件1套,具备功能:

联合傅里叶变换功率谱的实时记录、读出实验;

联合傅里叶相关图像实时识别实验;

傅里叶光学在光学图像加密的应用实验;

二维线性傅里叶分析实验;

基于分数傅里叶变换的光学相关器实验;

12.以上各器件均含相应支架调节架,实验易损件(傅里叶变换透镜、准直镜、偏振片、空间滤波器、线性偏振片、变频光栅等)需提供实验标准数量的3倍。

十九、体全息晶体存储实验装置

1.激光器1台:

波长532nm,功率≥10mW;

2.扩束镜1个:

Φ6mm,f=-9.8mm;

3.光束准直镜1个:

Φ25.4mm,f150mm;

Φ40mm,f200mm;

5.分光棱镜1个:

偏振分光,25.4×

25.4×

6.可变衰减器1个:

Φ50mm,相对密度范围0~3.0,连续可调;

7.涡旋半波片2个:

材质液晶聚合物,工作波段覆盖405~1550nm,增透膜,透过率≥98%@532nm,平均反射率≤0.5%(0°

入射角),Ф25.4mm,通光孔径≥21.5mm,入射角±

20°

,延迟量λ/2@532nm,延迟量精度λ/100,延迟量均匀性±

5nm,透射光偏转≤10arcsec,透射光波前差λ/6@633nm;

8.线性偏振片1个:

吸收型偏振片,材质N-BK7,工作波段覆盖400~700nm,通光孔径21.5mm,入射角度±

,透射波前差λ/4@633nm,透射光偏转≤10arcsec;

9.CCD图像传感器1个:

传感器尺寸≥2/3”,8.45×

7.07mm,像素尺寸≤3.45×

3.45um,曝光时间0.1ms~60s,fps26@1536×

1024以上,USB2.0以上,最高动态范围≥90dB;

10.铌酸锂晶体1个:

10×

10mm以上;

11.可编程电控旋转台1个:

含控制器、电源、控制软件;

12.异形光学导轨1个:

可旋转180°

光学导轨,≥1200mm+800mm,配滑块、支座、支杆;

13.专用数据软件1套,具备功能:

光栅的晶体存储实验,体全息图的记录和再现实验,图文信息高密度存储的原理和光路设计实验,全息资料存储实验;

14.以上各器件均含相应支架调节架,实验易损件(扩束镜、光束准直镜、傅里叶变换透镜、分光棱镜、可变衰减器、涡旋半波片、线性偏振片、铌酸锂晶体等)需提供实验标准数量的3倍。

二十、光波分复用分分插复用实验装置

1.固体激光器2台:

532nm波长,输出功率≥10mW;

473nm波长,输出功率≥3mW;

2.半导体激光器1台:

650nm波长,输出功率≥1.5mW,内置音频调制模块;

3.声光调制器1个:

工作波长532nm,声光频率输出功率≥100MHz,调制带宽≥10MHz;

4.光电音频解调器1个:

光学带宽覆盖450~650nm

5.薄膜型复用器4个:

红绿蓝光复用

6.光栅型复用器1个:

约100lp/mm;

7.圆形可调衰减器组件1台:

光密度0~3.0连续可调;

8.斩波器1台:

含支架;

9.以上各器件均含相应支架调节架。

二十一、连续空间频率传递函数测量实验装置

1.测量空间频率范围:

0~100lp/mm;

2.宽光谱光源:

卤素灯,输出光功率≥4.7mw,波长范围覆盖380~2500nm,光输出稳定性优于0.15%(峰间),光输出漂移<0.1%/小时,光源寿命≥10,000小时;

3.狭缝1个:

宽20um,长度≥25.4mm;

4.平行光管组件1套:

D/F=1:

10,L=550mm,Ф50mm,f=500mm;

5.光学组件透镜3个:

Ф40mm,f=70mm;

f=100mm;

f=150mm双凸透镜,

分辨力板:

≥50×

50mm,分辨率范围3.125~12.5LP/mm;

变频朗奇光栅:

外形≥63.5×

31.8mm,分辨率范围5~80LP/mm;

6.滤光片3个:

中心波长:

分别为450nm、532nm和635nm;

透过率:

分别为≥45%、≥70%和≥70%;

直径≥25.4mm;

OD>

4;

FWHM≤5nm;

厚度≤6.3mm;

7.探测器组件CCD1个:

传感器尺寸≥2/3”,单像元尺寸≤3.45um×

3.45um,曝光时间覆盖0.1ms~60s;

帧频≥fps26@1536×

1024;

USB2.0接口,动态范围≥90dB;

8.专用分析软件1套,具备功能:

抽样、平均和统计算法计算MTF值,应用线扩散函数算法测量已知成像系统传递函数,不同波长传递函数测量与最终像质评价。

9.以上各器件均含相应支架调节架,实验易损件(Ф40mm,f=70mm;

f=150mm双凸透镜、滤光片、分辨力板、变频朗奇光栅、狭缝等)需提供实验标准数量的3倍。

二十二、巨磁阻效应实验仪

1.巨磁阻传感器:

灵敏度不低于3.3mV/V·

Gs~4.0mV/V·

Gs,线性范围覆盖–8.0Gs~+8.0Gs,饱和磁场不低于15Gs;

2.传感器工作电源:

覆盖4V~15V连续可调;

3.传感器测量:

信号4位半LED显示;

4.亥姆霍兹线圈:

线圈有效半径≥110mm,单个线圈匝数≥500匝,二线圈中心间距≥110mm,温升不大于10℃的最大负荷电流≥0.5A;

5.内置恒流源:

输出电流覆盖0~0.5A,最大电压≥24V,至少3位半LED显示,最小分辨率≤1mA。

二十三、超低温实验箱

1.获得低温:

≤77K~60K(-196℃~-213℃);

2.惠斯登电桥:

1Ω~9999000Ω精度不低于0.1级;

3.加热器:

≥300W220V;

4.真空泵抽速:

≥0.5L/min,极限真空度≤5×

10-3帕;

5.液氮容器:

≥1L。

二十四、非线性电路混沌实验仪

1.具备功能

(1)非线性电阻的测量功能

(2)蔡氏电路的调试功能(3)倍周期现象的观察功能(4)混沌同步的调试功能(5)混沌掩盖与恢复功能(6)混沌键控加密与解密功能。

2.四位半直流数字电压表,最小分辨率≤10μV,分四个量程:

0~199.99V,0~19.999V,0~1.9999V,0~199.99mV。

3.四位半直流数字电流表,最小分辨率≤0.1μA,分四个量程:

0~1.9999A,0~199.99mA,0~19.999mA,0~1.9999mA。

4.五位频率表测量范围:

覆盖10Hz~100KHz;

5.四位半数字电压表测量范围:

0~2V分辨率≤0.1mV;

0~20V分辨率≤1mV;

6.信号源:

方波覆盖5Hz~1000Hz,峰值幅度0~6V;

正弦波覆盖50Hz~100KHz,峰值幅度0~6V;

7.数字示波器:

带宽≥100MHz,2通道及以上,采样率≥1G/S,7寸彩屏及以上。

二十五、混沌信号检测与分析实验仪

1.具备功能:

(1)非线性电路中混沌现象的观察,

(2)非线性电路振荡周期的分岔与混沌实验,(3)费根鲍姆常数的测量,(4)混沌加密通讯实验;

2.测试电源:

输出覆盖-12V~(+12V)连续可调,

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