硬件测试及方案设计定义技术Word文档格式.docx

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硬件测试及方案设计定义技术Word文档格式.docx

测试是为了发现错误而执行操作的过程

测试是为了证明设计有错,而不是证明设计无错误

一个好的测试用例是在于它能发现至今未发现的错误

一个成功的测试是发现了“至今未发现的错误”的测试

测试的目的决定了如何去组织测试。

如果测试的目的是为了尽

可能多地找出错误,那么测试就应该直接针对设计比较复杂的部分或

是以前出错比较多的位置。

如果测试目的是为了给最终用户提供具有

一定可信度的质量评价,那么测试就应该直接针对在实际应用中会经

常用到的商业假设。

综合评估,决定产品的测试方向!

——²

ú

·

Á

ã

Ï

Ý

关注点:

产品规格功能的实现,性能指标,可靠性,可测试性,易

用性等。

实现的保障:

产品的零缺陷构筑于最底层的设计,源于每一个函

数、每一行代码、每一部分单元电路及每一个电信号。

测试就是要排

除每一处故障和每一处隐患,从而构建一个零缺陷的产品。

MTBF²

»

³

´

£

¬

è

¡

Ò

å

测试并不仅仅是为了要找出错误。

通过分析错误产生的原因和错误

的分布特征,可以帮助项目管理者发现当前设计过程的缺陷,以便改

进。

同时,这种分析也能帮助我们设计出有针对性地检测方法,改善

测试的有效性。

没有发现错误的测试也是有价值的,完整的测试是评定测试质量的

一种方法。

ç

ª

Õ

随着质量的进一步要求,硬件测试工作在产品研发阶

段的投入比例已经向测试倾斜,许多知名的国际企业,硬

件测试人员的数量要远大于开发人员。

而且对于硬件测试

人员的技术水平要求也要大于开发人员。

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——Ñ

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——

Ã

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ä

测试前准备

ý

ì

硬件设计审查

原理图检视

PCB¼

发现硬件设计原理缺陷

发现成本浪费问题

发现降额不规设计

发现布局和布线的缺陷

发现EMC等专项设计缺陷

检视专家的确定

评审专家预检视

检视问题反馈整理

检视会议召开

检视问题确认,解决

检视问题跟踪

FMEA£

©

分析系统中每一产品所有可能产生的故障模式及其

对系统造成的所有可能影响,并按每一个故障模式的严重

程度、检测难易程度以及发生频度予以分类的一种归纳分

析方法。

FMEAµ

能帮助设计者和决策者从各种方案中选择满足可靠性要求的最佳方

案;

保证所有元器件的各种故障模式及影响都经过周密考虑;

能找出对系统故障有重大影响的元器件和故障模式,并分析其影响

程度;

有助于在设计评审中对有关措施(如冗余措施)、检测设备等作客

观的评价;

能为进一步定量分析提供基础;

能为进一步更改产品设计提供资料;

能为产品可测试方案提供基础材料;

能为技术支援人员提供维修指南;

为基于故障模式的测试提供依据。

信号级:

对接口信号或某些特殊器件的分析

器件级:

对系统功能模块的可靠性分析

系统级:

对系统的整体可靠性分析

á

在某些系统中,最终影响的严重程度等级又称为严酷度(有时也

称为严重度,系指故障模式所产生后果的严重程度)类别。

严重程度等级(严酷度类别)定义应考虑到故障所造成的最坏的

潜在后果来确定。

严酷度的定义是FMEA的前提和基础,有了共识的严酷度才可以保

证FMEA的顺利开展和问题的落实。

Ü

ò

风险分析的目的是按每一故障模式的严重程度及该故障模式发生

的概率所产生的综合影响对系统中的产品划等分类,以便全面评价系

统中各种可能出现的产品故障的影响,它是一种相对定量的分析方

法,通常借助图形工具(如矩阵图)来辅助分析。

风险分析常用的方法有两种,即风险优先数(RiskPriority

Number,RPN)法和危害性分析(CriticalityAnalysis)法

前者主要用于汽车等民用工业领域,后者主要用于航空、航天等

军用领域。

在进行风险分析时可根据具体情况选择一种方法。

F

M

E

A

确定围

确定功能

失效模式

潜在影响

严酷度

分类

潜在原因

发生频度

控制措施

探测率

RPN

整改措施

如何定义严酷度分类:

对操作者危害最高

失效概率:

每小时,每班次,每天,每星期。

潜在影响:

停机:

损坏,装备与调整,试机损失

报废:

缺陷部件,工具类

安全:

找原因:

1以前FMEA分析

2失效日志

3接口矩阵(物理干涉,能量传递,物

流,信息转移)

4保证书

5专题研究报告

6测试报告

7现场服务报告

FMEA·

í

ñ

器件所属失

名称功能效

单元率

失效失效局部对功对系严

模式比例影响能单统的酷

元的最终度

影响影响

已有

的检

测方

已有建议备

的补改进注

偿措措施

ô

故障检测是指明确到故障已经发生的过程,是故障处理流程的前

提。

这里提到的检测一般是指系统在故障发生后的自动的检测,一般

不需要人进行操作。

在进行故障检测的时候需要结合软、硬件故障检测方法。

某些故障可能需要多次检测确认,避免进行误告警和误操作

故障定位是指将故障定位到现场最小可更换单元的过程,是故障

维修的基础。

故障定位的目的是为了便于维修工程人员进行现场的故障维修和

返修件的故障处理。

故障隔离一般是将故障限定到可更换单元部的过程。

故障隔离

的目标是将故障能够限定在越小的功能单元。

故障隔离是为了将故障的影响围限制在尽可能小的围之。

故障是无法避免的,如何将故障产生的影响降到最低,是故障隔

离所要考虑的关键。

故障恢复是将系统的功能状态恢复到故障发生前状态的过程,是

客户最关心的也是系统稳定运行的关键步骤。

常用的故障恢复手段有复位、冗余倒换、重发等。

故障恢复尽量需要做到自动进行,以降低对用户的影响。

®

描述该测试计划所应达到的目标如下(可依据项目的实际要求做

适当调整):

所有测试需求都已被标识出来;

测试的工作量已被正确估计并合理地分配了人力、物力资源;

测试的进度安排是基于工作量估计的、适用的;

测试启动、停止的准则已被标识;

测试输出的工作产品是已标识的、受控的和适用的。

测试计划一般应该包含一下的容:

测试对象,明确版本,围,任务划分

角色和职责

测试和不被测试的特性原因

测试通过与否的标准

测试任务安排

测试结束的交付件

工作量评估

测试用例更多的是需要描述测试方法,测试步骤,测试的预期效

果,需要达到的指标。

需要更加详细的对每一条测试项目进行描述。

测试用例是直接用来指导测试的,所以对测试项目的描述需要更

具体,更便于参考操作。

测试用例编号

测试项目(模块或单元)

测试子项目(子项目描述)

测试级别(必测、选测、可测)

测试条件(环境、仪器等相关要求)

测试步骤和方法(具体细致的操作方法)

应达到的指标和预期效果

备注

一切测试的需求都来自于产品设计的规格,规格来自于用户的需求。

因此我们的测试是针对产品规格的测试。

具体可以从以下几方面进行

考虑:

产品设计功能

根据功能的实现,分别对实现该功能的各个环节进行测试,从硬件、

单板软件、高层软件到用户界面,只有各个环节都畅通无阻,才能保

证该功能的正常实现。

可靠性

备份、倒换、插拔、互助、自愈等

指标性能需求

指标包括电接口指标、光接口指标、时钟指标、传输指标和指标容

差,

指标一般都有相关的标准可查。

性能一般可从容量、处理能力、容限

等方面去考虑,一般是测试异常输入条件下的单元、模块、系统处理

情况。

性能测试的异常条件主要是指边界条件、异常条件及故障相关

性。

组网

组网需求:

电信网组网、异种厂商的互联

应用环境

应用环境一般可从以下几个方面考虑:

高温、低温、高低温交变、盐雾、湿热、防尘

接地、电源、震动、冲击、存储、运输

电磁兼容性

断电恢复性

硬件测试的种类与操作

测试并不是简单意义上的一些测试操作,在测试前需要有详细的设

计,周密的策划,测试是一项高难度的工作。

测试设计概念的围很广,大致可以分为以下几类:

设计测试平台,用此测试平台能进行通用项目的测试,或是进行能

用此测试平台作一类测试。

设计测试工具,设计测试软件。

设计测试装备。

设计测试用例,测试方法。

良好的测试设计和有效测试工具可减少重复低效的劳动

有效地开发利用测试工具可使测试更深入、更全面

有些复杂的测试只能依靠测试工具进行自动测试

在测试中经常进行测试设计是提升技术水平的有效手段

¤

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现在的测试工作中,经常会遇到一些无法在实验室模拟的情况,可能

在实际现场也无法模拟,并且如果要模拟所花的代价很大,如满配

置、最大负荷的情况,而这些项目的测试通过与否是检验系统性能的

重要手段。

这个测试任务便给我们提出了编写测试软件模拟大负荷情

况的要求。

不但实现和自动化,而且大幅度的节约了成本。

基本的信号质量测试是通过测试单板上的各种信号质量,根据信

号种类的不同,用不同的指标来衡量信号质量的好坏,并对信号质量

的分析,发现系统设计中的不足。

开发人员根据已有的信号质量和时序调试和测试方面的规和指

导书,在单板调试阶段完成对单板信号质量的全面测试并完整记录结

果。

测试仪器——示波器

对板信号时序进行调试,验证信号实际时序关系是否可靠,是

否满足器件要求和设计要求;

分析设计余量,评价单板工作可靠性。

导书,在单板调试阶段完成对单板时序(包括逻辑外部时序)的全面

调试和测试。

测试仪器——示波器,逻辑分析仪

功能测试是根据硬件详细设计报告中提及的功能规格进行测试,

验证设计是否满足要求。

功能测试是系统功能实现的基本,是需要严格保证测试通过率

的。

如被测对象与其规格说明、总体/详细设计文档之间存在任何差

异的均需要详细描述。

一般包含,电源、CPU、逻辑、复位、倒换、监控、时钟、业务

等。

——È

Þ

指使系统正常工作的输入允许变化围。

容限测试的目的是通过

测试明确知道我们的设备到底在什么样的条件围下能够正常工作,

薄弱环节到底在哪里。

能否发现和验证器件降额的问题,系统工作允许围的临界点

上的性能。

——FIT

指通过冗余设计等手段避免、减小某些故障对系统造成的影响以

及在外部异常条件恢复后系统能够自动恢复正常的能力。

容错测试的

目的是要检验系统对异常情况是否有足够的保护,是否会由于某些异

常条件造成故障不能自动恢复的严重后果。

容错测试的一般方法就是采用故障插入的方式,模拟一些在产品

使用过程中可能会产生的故障因素,进而考察产品的可靠性及故障处

理能力的一种测试方法。

容错测试项目的来源主要是通过FMEA获得,是验证FMEA分析结果

的一种手段。

而且某些通过FMEA分析无法准确获得结论的项目也要通

过FIT来进行模拟。

容错测试还包括的另外一个主要容就是操作方面的,主要模

拟在用户使用不当的时候系统的容忍错误的能力。

容错测试一般允许出现一些功能异常,但是不能出现功能丧失或

故障扩散等严重的安全隐患。

常用的故障插入测试方法有时钟拉偏、误码插入、电源加扰

等,,常用测试工具有些是专用的,有些是部开发的。

通过容错测试,还可以确定在产品的实际应用过程中哪些错是易

产生的,哪些错是可以避免的,以尽量减少损失。

é

由于电子类产品很多是需要长时间运行的,所以进行长时间的验证

测试是很有必要的

某些器件应用不当的设计,更容易在长时间的运行中,才会显露出

来。

系统的散热能力也只有在长时间的大功率运行时才容易暴露。

长时间的运行才容易发生某些被忽略的偶然因素,容易发现某些潜

在问题。

长时间测试不仅对于系统而言,在进行单元测试和集成测试时,

对于每一个功能模块均需要进行长时间的功能验证。

长时间的验证具体的时间把握同产品的实际使用情况相关,对于

通信产品系统,一般建议测试时间要达到一星期。

对于每一个功能模

块的时间要求一般要达到两天。

为了验证不同生产批次的产品质量和不同批次器件的质量,是否

具有较高的一致性,是否能够满足产品的功能和使用条件要求。

测试要点

测试至少要包含3次活以上不同器件批次和生产批次的产品

测试项目要包含所有的功能测试项目,和重要的信号质量和时序等

项目

重点需要验证长时间的稳定性是否一致

如果具备条件,需要验证在环境条件变化时(如高温环境),各样

品的一致性能。

这里的可靠性数据一般包含MTBF(平均故障间隔时间)、

MTTR£

可靠性数据预计的基础是FMEA分析,通过分析获得。

A-availability£

产品在一未知时刻,需要执行任务时,处于可工作或可使用状

态的概率。

MTBR-meantimebetweenremovals)

系统寿命单位总数与从该系统上拆下的产品总次数之比。

MTTR-meantimetorepair£

是在规定的时间,修复性维修所造成的累积工作时间除以在同

一时间所完成的修复维修活动总数得到的结果。

拆卸时间+定位时间+修理时间+安装时间

MTBF-meantimebetweenfailure£

指相邻失效间隔工作时间的平均值。

MTTF-meantimetofailure£

£

表示观察到下次失效的期望的时间。

A(Availability)

产品工作时间与总时间之比。

若不考虑产品的储存时间和闲置时

间,则:

A=MTBF/(MTBF+MTTR)

在规定的条件下,规定的时间,完成规定功能的概率。

λ£

1/MTBF

¥

Fits

1Fits=1×

10£

91/h

可用度A

维修性

年返修率=1/MTBF×

8760

系统M的器件使用情况如下表,请计算M的MTBF,A和年返修率

注:

MTTR=1小时

器件种类

电阻

电容

电感

接插件

集成电路

其他

器件数量

150

200

25

3

5

10

单个器件失效率(单位:

Fits)

2

6

50

400

100

总计

单个器件失效率(单

位:

失效率总和

300

2000

1000

4000

MTBF=1/4000×

109=250000Ð

28.54Ä

250000/£

250000£

99.9996%

返修率=1/250000×

8760=3.5%

硬件测试的级别

黑盒测试注重于测试功能性需求,将测试对象看成一黑盒,对外

只有输入、输出。

设计黑盒测试用例只对于表现在外接口的各种输入,对不同的输入,

测试其表现出来的输出,从而达到测试功能的目的。

白盒测试主要测试模块部的逻辑细节,各个独立的逻辑路径,

黑盒测试不管多么全面,都可能忽略这些错误。

设计白盒测试用例需要构造到信号、逻辑或消息级。

白盒测试与黑盒测试各有优势,设计测试用例时应结合使用

举例:

对于开关电的测试,一般采用黑盒测试,设计的测试用例为:

快速

上、下电,频繁上、下电等;

对于时钟电路、锁相环等的测试,就需要设计白盒测试用例,如锁相

围、静态相差、固有抖动、抖动容限等。

硬件测试按照系统的复杂程度,一般分为:

单元测试——针对独立功能单元的测试

集成测试——针对具有一定集成度的功能子系统的测试

系统测试——针对完整的系统整体的测试

测试不能仅仅在一个层次进行,而是应该打破层次之间的界限问题出

现较多的地方一般都是在层与层之间的配合上,如硬件逻辑与单板软

件的配合,单板软件与高层软件的配合。

按照子系统来划分

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