射线RTⅠ级考试题库范文Word文档格式.docx

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一．判断题

金属材料、焊接、热处理知识（1～30）

1.金属材料的性能包括使用性能和工艺性能。

对

2.材料在外力作用下所表现出的力学性能指标有强度、硬度、塑性、韧性等。

3.评价金属材料的强度指标有抗拉强度、屈服强度、伸长率和断面收缩率。

错

4.一般说来，钢材的硬度超高，其强度也越高。

5.承压设备的冲击试验的试样缺口规定采用V型缺口而不采用U型缺口，是因为前者加工容易且试验值稳定。

6.材料的屈强比越高，对应力集中就越敏感。

7.材料的冲击值不仅与试样的尺寸和缺口形式有关，而且与试验温度有关。

8.应力集中的严重程度与缺口大小和根部形状有关，缺口根部曲率半径越大，应力集中系数越大。

9.氢在钢材中心部位聚焦形成的细微裂纹群称为氢白点，可以用UT检测。

10.低碳钢金属材料中，奥氏体组织仅存在于7270C以上的高温范围内。

11.淬火加高温回火的热处理称为调质处理。

12、在消除应力退火中，应力的消除主要是依靠加热或冷却过程中钢材组织发生变化和产生塑性变形带来的应力松弛实现的。

13.锅炉压力容器用钢的含碳量一般不超过0.25%。

14.低碳钢中硫、磷、氮、氧、氢等都是有害杂质，应严格控制其含量。

15.磷在钢中会形成低熔点共晶物，导致钢的冷脆。

16.硫是钢中的有害杂质，会引起钢的热脆。

17.一般说来，以正火状态供货的低合金钢板比热轧状态供货的低合金钢板具有更好的综合力学性能。

18.奥氏体不锈钢焊接时不会产生延迟裂纹，但容易产生热裂纹。

19.介质中含有H2S，会使奥氏体不锈钢产生应力腐蚀。

20.焊缝余高可增加焊接接头的强度，因而余高超高越好。

21.焊接接头熔合区的组织属过热组织，在很多情况下，熔合区是产生裂纹和局部脆性破坏的发源地。

22.低合金钢的焊接特点是热影响区有较大的淬硬倾向，焊接时易出现冷裂纹。

23.一般认为，钢材的强度等级越高、碳当量越大，焊接性越差。

24.焊后及时进行消氢处理，是防止热裂纹的一项有效措施。

25.常见的焊接外观缺陷有咬边、焊瘤、凹陷、焊接变形、表面气孔、表面裂纹、单面焊根部未焊透等。

26.弧坑裂纹属于冷裂纹。

27.再热裂纹一般发生在焊接接头的热影响区。

28.热裂纹的主要特征是沿晶开裂。

29.冷裂纹的特征是穿晶开裂。

30.焊接接头的薄弱部位不在焊缝，而在熔合区和热影响区。

相关法规、规范知识（31～60）

31.《特种设备安全监察条例》规定，特种设备是指涉及生命安全、危险性较大的锅炉、压力容器（含气瓶）、压力管道。

错

32.军事装备、核设施、航空航天器、铁路机车、海上设施和船舶以及矿山井下使用的特种设备的安全监察不适用《特种设备安全监察条例》。

对

33.《特种设备安全监察条例》规定，特种设备检验检测机构，应当接受特种设备安全监督管理部门依法进行的特种设备安全监察。

34.特种设备检验检测机构包括监督检验机构、定期检验机构、型式试验机构和无损检测机构。

35.《特种设备安全监察条例》规定，特种设备检验检测人员从事检验检测工作，必须在特种设备检验检测机构执业，但不得同时在两个以上检验检测机构中执业。

36.《特种设备安全监察条例》规定，特种设备检验检测机构和检验检测人员不得从事特种设备的生产、销售，但可以监制、监销特种设备。

37.《特种设备无损检测人员考核规则》规定考核范围内的无损检测方法包括射线（RT）、超声（UT）、磁粉（MT）、渗透（PT）、声发射（AE）和涡流（ECT）六种。

38.《特种设备无损检测人员考核规则》规定，特种设备《检测人员证》的有效期为4年。

39.《特种设备无损检测人员考核规则》要求报考检测人员至少单眼或者双眼的裸眼或者矫正视力不低于《标准对数视力表》的5.0级。

40.《特种设备无损检测人员考核规则》规定，各级人员笔试和实际操作考试的合格标准均为70分。

41.《特种设备无损检测人员考核规则》规定，年龄65周岁以上（含65周岁）人员的换证申请不再予以受理。

42.《特种设备无损检测人员考核规则》规定，换证分为考试换证和审核换证两种方式，审核换证应当在取证后首次换证时实施，以后采取考试换证与审核换证交替实施，不得连续实施审核换证。

43.《锅炉安全技术监察规程》适用于符合《特种设备安全监察条例》范围内的固定式承压蒸汽锅炉、承压热水锅炉、有机热载体锅炉、以及以余热利用为主要目的的烟道式、烟道与管壳组合式余热锅炉。

44.《锅炉安全技术监察规程》规定，锅炉受压元件及其焊接接头质量检验，包括外观检验、通球试验、化学成份分析、无损检测、力学性能检验、水压试验等。

45.《锅炉安全技术监察规程》规定，B级以下热水锅炉和非承压有机热载体锅炉可免于无损检测。

46.锅炉受压部件无损检测方法应当符合NB/T47013（JB/T4730）《承

压设备无损检测》的要求。

管子对接接头X射线实时成像应符合相应技术规定。

47.《锅炉安全技术监察规程》规定：

蒸汽锅炉、B级及以上热水锅炉和承压有机热载体锅炉的管子或者管道与无直段弯管头的焊接接头应当进行100%射线或者超声检测。

48．《固定式压力容器安全技术监察规程》规定，低压容器均为第一类压力容器。

49.《固定式压力容器安全技术监察规程》规定，压力容器拼接封头对接接头必须在成形后进行无损检测。

50．按照《固定式压力容器安全技术监察规程》的规定，进行局部无损检测的压力容器，制造单位也要对未检测部分的质量负责。

51.《固定式压力容器安全技术监察规程》规定，压力容器焊接接头当采用不可记录的脉冲反射法超声检测时，应当采用射线检测或衍射时差法超声检测做为附加局部检测。

52.《固定式压力容器安全技术监察规程》规定，铁磁性材料制压力容器焊接接头的表面检测应当优先采用磁粉检测。

53.《移动式压力容器安全技术监察规程》规定，罐体以及与罐体连接的接管、管路的对接接头应进行全部射线或超声检测；

夹套壳体的A、B类对接接头应进行局部射线或超声检测。

54.《超高压容器安全技术监察规程》规定，超高压容器筒体及主要受压元件在制造期间（耐压试验前），至少应做两次100%的射线检测（调质热处理前后各一次）。

55.GB150－2011《压力容器》规定，第Ⅲ类容器的对接焊接接头应进行100%射线或超声波检测。

56.GB150－2011《压力容器》规定，对于进行局部射线或者超声波检测的压力容器，其公称直径DN≥250mm的接管与长颈法兰、接管与接管对接连接的焊接接头应进行100%射线或超声波检测。

57.GB150－2011《压力容器》规定，进行局部检测的焊接接头，发现有不允许的缺陷时，应在该缺陷两端的延长部位增加检测长度，增加的长度为该焊接接头长度的10%，且两侧均不少于250mm。

58.GB150－2011《压力容器》规定，压力容器无损检测档案应完整，保存时间不得少于容器设计使用寿命。

59.GB12337-1998《钢制球形储罐》规定,用有延迟裂纹倾向的钢材制造的球罐,应在焊接结束至少24小时后,方可进行焊缝的无损检测。

60.《压力管道安全技术监察规程－工业管道》规定,无损检测的合格要求应当不低于JB/T4730的规定。

JB/T4730.2－2005标准（61～90）

61.JB/T4730.1-2005标准规定，缺陷评定区是在质量分级评定时，为评价缺陷的性质、数量和密集程度而设置的一定尺寸的区域。

62.按照JB/T4730.2-2005标准规定，对外径DO≥100mm的环向对接接头进行100%检测，所需要的最少透照次数仅与透照方式和透照厚度比有关。

63.JB/T4730.2-2005标准规定，现场进行γ射线检测时，应按GB18465的规定划定控制区和监督区、设置警告标志，检测作业时，应围绕监督区边界测定辐射水平。

64.JB/T4730.2-2005标准规定，筒体纵焊缝的一次透照长度应按透照厚度比K值进行控制，A级、AB级为K≤1.03。

此规定的目的是为了增大透照厚度宽容度。

65.按JB/T4730.2-2005标准规定，由透照次数图确定透照次数时，如交点在两区域的分界线上，则所需最少透照次数应取较大数值。

66.JB/T4730.2-2005标准规定，对小径管进行双壁双影透照椭圆成像时，应控制影像的开口宽度在一倍焊缝宽度左右。

其主要目的是提高横向裂纹的检出率。

67.按照JB/T4730.2-2005标准规定，对规格φ76X7mm且焊缝宽度为20mm的管子环向对接焊接接头100%射线照相时，应采用双壁双影倾斜透照，相隔90°

，透照2次。

68.JB/T4730.2-2005标准规定，承压设备在用检测中，由于结构、环境、射线设备等方面限制，检测条件不能满足AB级射线检测技术条件的要求时，经技术负责人批准，在采取有效补偿措施（例如选用更高类别的胶片）的前提下，若底片像质计灵敏度达到了AB级射线检测技术的规定，则可认为按AB级射线技术进行了检测。

69.按JB/T4730.2-2005标准规定，用大于12MeV高能X射线照相时，可不使用后屏。

其原因是在高能射线照中，后屏对增感并不重要，有时不使用后屏清晰度反而有所提高。

70.按照JB/T4730.2-2005标准规定，对于外径DO＞100mm的容器根部内凹和根部咬边深度也可采用附录H规定的一般对比试块（Ⅱ）进行测定。

71.按照JB/T4730.2-2005标准规定，当采用高能X射线照相时，透照厚度范围的确定与检测技术等级无关。

72.按照JB/T4730.1-2005标准规定，当采用同种检测方法按不同工艺进行检测时，如果检测结果不一致，应对该工艺重新进行鉴定。

73.按照JB/T4730.1-2005标准规定，当应用高能X射线照相时，宜采用高梯度噪声比胶片。

74.对单个条形缺陷最大长度的下限值和一组缺陷累计最大长度的下限值，JB/T4730.2-2005标准均作出了明确规定。

75.JB/T4730.2-2005标准规定，对于铝和铝合金，当Ⅲ级对接接头允许的缺陷点数连续存在，并超过评定区尺寸的3倍时，对接焊接接头的质量应评定为Ⅳ级。

76.JB/T4730.2-2005标准规定，X射线实时成像检测不适用于承压设备对接接头的实时快速检测。

77.按照JB/T4730.2-2005标准规定，用γ射线对截面厚度变化大的工件照时，不允许降低底片的最低黑度。

78.JB/T4730.2-2005标准规定，承压设备在用检测中，由于结构、环境、射线设备等方面限制，检测的某些条件不能满足AB级射线检测技术的要求时，在采取有效补偿措施（例如选用更高类别的胶片）后可采用A级技术进行射线检测，但同时采用其它无损检测方法进行补充检测。

79.JB/T4730.2-2005标准规定，底片评定范围的宽度一般为焊缝本身及焊缝两侧的热影响区。

80.按照JB/T4730.2-2005标准规定，AB级检测技术，观察黑度值在2.0≤D≤3.8的底片，此时观片灯的亮度应不低于63096cd/m2。

81.JB/T4730.2-2005标准规定，应根据被检工件的公称厚度限定X射线最高管电压。

82.JB/T4730.2-2005标准规定，采用源在内透照方式，在保证像质计灵敏度达到4.11.3要求的前提下，允许的γ射线透照厚度范围与检测技术级别有关。

83.根据JB/T4730.2-2005标准规定，采用源在内中心透照方式周向曝光时，只要得到的底片质量符合4.11.2和4.11.3的要求，f值可以减小，但减小值不得超过规定值的50%。

这一规定与检测技术级别无关。

84.按JB/T4730.2-2005标准规定，确定小径管的透照次数与焦距大小无关。

85.按照JB/T4730.2-2005标准规定，对初次制定的检测工艺，或使用中检测工艺的条件、环境发生改变时，应进行背散射防护检查。

86.按照JB/T4730.1-2005标准规定，当应用γ射线照时，宜采用高梯度噪声比胶片；

当应用X射线对Rm≥540MPa的高强钢材料对接焊接接头检测时，也应采用高梯度噪声比胶片。

87.JB/T4730.2-2005标准规定，确定圆形缺陷评定区尺寸和条形缺陷评定区尺寸均与被检工件的公称厚度有关。

88.JB/T4730.2-2005标准规定，外径DO≤100mm的管对接接头，对断续根部内凹和根部咬边评定时，以根部内凹和根部咬边本身的长度累加计算总长度。

89.按照JB/T4730.2-2005标准规定，在圆形缺陷评定区内，如果圆形缺陷的长径大于10mm时，该焊接接头应评为Ⅳ级。

90.JB/T4730.2-2005标准规定，像质计放于胶片一侧时，应进行对比试验。

专业理论知识（91～290）

91.原子序数Z等于原子核中的质子数。

92.当原子核内的中子数改变时，它就会变为另一种元素。

93.当一个原子增加一个质子时，仍可保持元素的种类不变。

94.原子序数相同而原子量不同的元素，我们称它为同位素。

95.不稳定的同位素在衰变过程中始终要辐射γ射线。

96.原子是元素的具体存在，是体现元素性质的最小微粒。

97.放射性同位素的半衰期是其能量减小到一半所需的时间。

98.各种γ源产生的射线都单能辐射。

99.在化学反应中，原子的种类和性质都会发生变化。

100.不稳定的核素会自发蜕变，变成另一种元素，同时放出各种

射线，这种现象称为放射性衰变。

101.射线能量越高，其传播速度就越快，因而γ射线传播速度要比

X射线快。

102.当X射线穿过2个半价层后，其能量仅剰下最初的1/4。

103.γ射线是原子核由低能级跃迁到高能级而产生的。

104.标识X射线具有高能量，那是由于高速电子与靶原子核相碰撞的结果。

105.X射线和γ射线是以光速传播的微小的物质粒子。

106.连续X射线是高速电子与靶原子的轨道电子相碰撞而产生的。

错107.标识X射线是高速电子同靶原子核外壳层电子相碰撞的结果。

108.连续X射线的能量与管电压有关，与管电流无关。

109.X射线的产生效率与管电压和靶材料的原子序数成正比。

110.同能量的γ射线和X射线具有完全相同的性质。

111.X射线的强度不仅取决于管电流，而且取决于管电压。

112.光电效应中光子被完全吸收，而康普顿效应中光子未被完全

吸收。

113.光电效应的发生几率随光子能量的增大而减小。

114.光电效应的发生几率随原子序数的增大而增加。

115.光电子又称反冲电子。

116.光子能量必须大于电子的结合能是发生光电效应的前提条件。

117.连续X射线穿透物质后，强度减弱，线质不变。

118.当射线穿过三个半价层后，其强度剰下最初的1/8。

119.所有γ射线的能量都是相同的。

120.放射性同位素的衰变常数λ越大，该同位素越稳定。

121.X射线和γ射线都是电磁辐射，而中子射线不是电磁辐射。

122.X射线与可见光的区别是波长和产生方式不同。

123.高速电子与靶原子的轨道电子相撞击产生X射线的过程称为韧致辐射。

124.连续X射线的强度与管电流有关，与管电压无关。

125.标识X射线的能量与管电压、管电流均无关，仅取决于靶材料。

126.放射性同位素的衰变常数λ越小，该同位素的半衰期越长。

127.在管电压、管电流不变的前提下，将X射线管的靶材由钼改为钨，所发生的射线强度将会增大。

128.在工业X射线探伤中，使胶片感光的主要是连续X射线，标识X射线不起什么作用。

129.连续X射线透过物质后，强度减弱，平均波长变短。

130.不包括散射线成份的射线束称为窄束射线。

131.单一波长电磁波组成的射线称为“单色”射线，又称为“单能

辐射”。

132.原子由一个原子核和若干个核外电子组成。

133.原子核的核外电子带正电荷，在原子核周围高速运动。

134.原子序数=硋外电子数=质子数=核电荷数。

135.原子的质量数=质子数+中子数。

136.不稳定的同位素又称放射性同位素。

137.目前射线检测所用的同位素均为人工放射性同位素。

138.X射线谱中波长连续变化的部分，称为“连续”谱。

139.只有入射光子能量大于1.02MeV时才能发生电子对效应。

140.光电效应和电子对效应引起的吸收有利于提高射线照相对比度。

141.康普顿效应产生的散射线会降低射线照相对比度。

142.射线照相法适合于各种熔化焊接方法的对接接头和钢板、钢管的检测。

143.X射线管的有效焦点总是小于其实际焦点。

144.X射线机中的焦点尺寸应尽可能大，这样发射的X射线能量大，同时也可防止靶过分受热。

145.X射线管中电子速度越小，则所发生的X射线能量也就越小。

146.移动式X射线机只能在窒内小范围移动，不适合到野外作业。

147.移动式X射线机有油冷和气冷两种冷却方式。

148.同千伏值的金属陶瓷管和玻璃管，前者体积和重量小于后者。

149.变频是减小X射线机重量的有效措施之一。

150.各种放射同位素源的活度越大，其辐射强度也就越大。

151.底片黑度D=1，即意味着透射光强为入射光强的十分之一。

152.用来说明管电压、管电流和透照厚度之间关系的曲线称为胶片特性曲线。

153.胶片灰雾度包括片基固有密度和化学灰雾密度两部分。

154.在常用的100～400KV范围内，铅增感屏的增感系数随其厚度的增大而减小。

155.对X射线机进行“训练”的目的是为了排出绝缘油中的气泡。

156.X和γ射线的本质是相同的，但γ射线来自同位素，而X射线来自于一个以高压加速电子的装置。

157.对于某一同位素放射源，其活度越大，则所发出的射线强度就越大。

158.周向X射线机产生的X射线束向270°

方向辐射。

159.相同标称千伏值和毫安值的X射线机所产生的射线强度和能量必定相同。

160.所谓“管电流”是指通过X射线管灯丝的电流。

161.放射源的活度越大，其半衰期就越短。

162.胶片对比度与射线能量有关，射线能量越高，胶片对比度就越小。

163.胶片特性曲线的斜率用来度量胶片的梯度。

164.宽容度大的胶片，其梯度必然低。

165.胶片特性曲线在座标上的位置左移，意味着胶片感光速度减小。

166.“潜影”是指在没有强光灯的条件下不能看到的影像。

167.铅增感屏除有增感作用外，还有减少散射线的作用，因此在射线测穿透的前提下，应尽量选用较厚的铅屏。

168.透照不锈钢焊缝，可使用碳素钢丝像质计。

169.透照钛焊缝，应使用钛金属丝像质计。

170.透照镍基合金焊缝时使用碳素钢丝像质计，如果底片上显示的线径编号刚刚达到标准规定，则该底片的实际灵敏度肯定达不到标准规定的要求。

171.因为铅增感屏的增感系数高于荧光增感屏，所以得到广泛使用。

172.胶片中卤化银粒度与胶片的感光速度无关。

173.梯燥比高的胶片成像质量好。

174.像质计一般摆放在射线透照区内显示灵敏度较低的部位。

175.X射线管的阴极是产生X射线的部分。

176.X射线管的阳极是由阳极靶、阳极体和阳极罩三个部分组成。

177.携带式X射线机的散热形式多采用辐射散热式。

178.一般阳极体采用导热率大的无氧铜制成。

179.X射线管的阳极特性就是X射线管的管电压和管电流的关系。

180.在换γ射线源的操作过程中，必须使用γ射线剂量仪及音响报

警仪进行监测。

181.射线胶片由片基、结合层、感光乳剂层和保护层组成。

182.胶片感光后产生的眼睛看不见的影像叫“潜影”。

183.射线胶片的感光特性可在曝光曲线上定量表示。

184.射线底片上产生一定黑度所用曝光量的倒数定义为感光度。

对185.未经曝光的胶片经暗窒处理后产生的一定黑度称为本底灰雾度。

对

186.胶片对不同曝光量在底片上显示不同黑度差的固有能力称为梯度。

187.胶片有效黑度范围相对应的曝光量变动范围称为宽容度。

188.胶片的特性指标只与胶片有关，与增感屏和冲洗条件无关。

189.黑度计和光学密度计是两种不同类型的测量仪器。

190.增感系数Q是指不用增感屏的曝光量E0与使用增感屏的曝

光量E之间的比值，即：

Q=E0/E。

191.由于增感系数高，荧光增感屏多用于承压设备的焊缝射线照相。

192.金属增感屏具有增感效应和吸收效应两个基本效应。

193.使用金属增感屏所得底片质量最佳，其增感系数也最大。

194.像质计是用来检查和评定射线底片影像质量的工具。

195.像质计通常用与被检工件材质相同或对射线吸收性能相似的材料制作。

196.一般来说，射线照相像质计灵敏度等于自然缺陷灵敏度。

197.使用较低的能量可得到较高的主因对比度。

206.射线照相时，若千伏值提高，将会使胶片对比度降低。

207.增大曝光量可提高主因对比度。

208.一般来说，对厚度差较大的工件，应使用较高能量的射线透照，其目的是降低对比度增大宽容度。

209.射线照相对比度∆D只与主因对比度有关，与胶片对比度无关。

210.射线照相主因对比度与入射线的能谱有关，与强度无关。

211.用增大射源到胶片距离的方法可降低射线照相固有不清晰度。

212.减小几何不清晰度的途径之一，就是使胶片尽可能地靠近工件。

213.利用阳极侧射线照相所得到的底片几何不清晰度比阴极侧好。

214.胶片的颗粒越粗，引起的几何不清晰度越大，错

215.使用γ射线源可以消除几何不清晰度。

216.增加源到胶片距离可减小几何不清晰度，但会引起固有不清晰度增大。

217.胶片成像的颗粒性会随着射线能量的提高而变差。

218.对比度、清晰度、颗粒度是决定射线照相灵敏度的三个主要因素。

219.使用较低的能量可提高的主因对比度，但同时会降低胶片对比度。

220.可以采用增大焦距的办法使尺寸较大的源的照相几何不清晰度与尺寸较小的源完全一样。

221.胶片对比度与胶片类型或梯度G有关。

222.底片黑度只影响胶片对比度，与主因对比度无关。

223.底片黑度只影响对比度，不影响清晰度。

224.散射线只影响主因对比度，不影响胶片对比度。

235.射线的能量同时影响射线照相的对比度、清晰度和颗粒度。

236.射线照相对比度就是缺陷影像与其周围背景的黑度差。

237.固有不清晰度是由于使溴化银感光的电子在乳剂层中有一定穿越行程而造成的。

238.对有余高的缝，应尽量选择较低能量的射线，以保证