化学分析工考试真题精选Word文档格式.docx

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C.物理

D.化学

5、X射线荧光光谱法中，当试样的有效照射面积缩小时，元素的X射线荧光强度（）。

A.增大

B.减小

C.不变

D.无变化

B

6、X射线荧光光谱法为了获得准确的定量分析结果，应使用有证的标准样品，标准样品与分析试料的（）尽可能一致。

A.组成

B.制样方法

C.样品无裂纹

D.样品无气孔

A,B

7、X射线荧光光谱分析的基体效应的数学校正一般分为三类，即（）。

A.经验系数法

B.计算法

C.基本参数法

D.理论影响系数法

A,C,D

8、X射线荧光分析粉末试样时，采用玻璃熔片法可以消除（）带来的分析误差。

A.粒度效应

B.吸收

C.增强

D.矿物效应

A,D

9、基体效应包括吸收和增强两种效应。

消除基体效应的方法有（）法等。

A.稀释

B.薄膜样品

C.吸收校正

D.数学处理

A,B,C,D

10、原子的K层电子被逐出后，其空穴可以被外层中任一电子所填充，从而可以产生一系列的谱线，称为（）谱线。

A.L系

B.M系

C.K系

D.N系

C

11、X射线荧光的（）与元素的种类有关，据此可以进行定性分析，X射线荧光的（）与元素的含量有关，据此可以进行定量分析。

B.波长

C.特征线

B,D

12、元素的特征X射线相对强度是确定的，当Kα2的强度是50Kcps时，则Kα1的强度为（）Kcps。

A.50

B.100

C.80

D.200

13、布拉格公式规定了X射线在晶体中产生衍射的必要条件，即只有在d、θ、λ同时满足公式2dsin0＝nλ时，晶体才能对X射线产生（）。

A.衍射

B.反射

C.折射

D.透射

14、布拉格（Bragg）公式：

2dsin0＝nλ对X射线通过晶体的干涉现象有了（）的描述。

A.定性

B.概括性

C.定量

D.特定

15、元素的X射线特征光谱波长倒数的平方根与原子序数成（）。

A.反比

B.正比

C.规律

D.无关

16、X射线的本质和光一样，都是电磁辐射，X射线的（）较短，（）较大。

A.波谱

C.能量

D.波宽

B,C

17、X射线同一切电磁辐射和微观粒子一样，X射线也具有（）性和（）性的双重性。

A.波动

B.微粒

C.振动

D.活动

18、X射线管的高能电子在一次碰撞中耗尽其全部的能量，所产生的X射线光子具有最大的能量，它的波长最短，称为（）。

A.散射线

B.短波限

D.连续线

19、X射线管的高能电子在与金属靶碰撞中因为电子数目巨大，碰撞是随机的，所以产生了连续的具有不同波长的X射线，即（）X射线。

A.特征

B.断续

C.连续

D.散射

20、X射线管产生的一次X射线束是（），二次X射线束是（）。

A.连续谱+特征谱

B.纯特征谱

C.连续谱

D.散射线

21、波长色散X射线荧光光谱仪的分光晶体是利用晶体的（）现象使不同波长的X射线分开，以便从中选择被测元素的（）谱线进行测定。

A.反射

B.衍射

D.特征

C,D

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22、波长色散X射线荧光光谱仪的X射线探测器是一种将X射线（）转换成（）的装置。

A.光子能量

B.光波

C.电脉冲

D.电流

23、用于能量色散X射线荧光分析仪的探测器主要有：

（）

A.Si-PIN探测器

B.Si（Li）探测器

C.硅漂移探测器（SDD）

D.正比计数器

A,B,C

24、波长色散X射线荧光光谱仪当探测器记录的X射线强度太高时，计数率和X射线真实强度不成正比，这种现象称作（）现象。

A.溢出

B.漏计

C.自吸

D.吸收

25、X射线波长与元素原子序数的平方成（），因此，可根据其波长确定元素。

A.正比

B.线性

C.反比

D.涵数

26、X射线管产生的X射线光谱，除连续X射线光谱外，还有阳极材料所产生的（）X射线光谱，且（）在连续谱之上。

B.叠加

C.散射

D.发射

27、X射线荧光仪在以X射线管作为激发源时，原级X射线光谱中连续光谱是构成（）的主要成分。

A.激发

D.背景

D

28、每种元素的特征X射线，包含一系列波长确定的谱线，且其强度比也是确定的，当Kα线强度为5kcps时，Kβ线的强度约为（）。

A.2kcps

B.1kcps

C.5kcps

D.4kcps

29、X射线衍射与光学反射不同点有（）。

A.光学反射完全是表面作用

B.X射线衍射则深入到晶体内部，其内层原子面也参与反射作用

C.光学反射可选择任意的入射角

D.X射线的反射则受布拉格定律制约，即必须满足布拉格定律

30、在能量色散X射线荧光光谱仪上，探测器接收到的是（）光束。

A.混合

B.特征

31、波长色散X射线荧光光谱仪上，在晶体和探测器之间的光束是（）光束。

B.连续

C.单色

32、用于能量色失散X荧光光谱仪的（）探测器，须在（）中冷却工作。

A.Si（Li）

B.Si-PAN

C.液氮

D.液氧

33、一次X射线激发样品时最大的特点是样品被激后只发射（）X射线。

B.平行

D.连续

34、由L层电子跃迁到K层空穴而辐射的X射线叫（）射线。

A.Kα

B.Kβ

C.Lα

D.Lβ

35、X射线是由高能电子的（）运动或原子内层轨道电子（）产生的短波电磁辐射。

A.碰撞

B.减速

C.跃迁

D.崩出

36、波长色散X射线荧光光谱仪初级准直器的作用是将（）的X射线变成（）的射线束。

A.发散

B.会聚

C.平行

D.混合

37、波长色散X射线荧光光谱仪是利用（）将不同波长的X射线荧光分开，得到单色X射线荧光光谱。

A.分光晶体

B.光栅

C.棱镜

D.反射镜

38、能量色散X射线荧光光谱仪是利用X射线荧光具有不同（）的特点，将其分开，依靠（）探测器来检测。

A.能量

C.半导体

D.计数

39、X射线荧光光谱仪的X射线发生器由（）构成。

A.X射线管

B.高压电源

C.初级电源

D.控制器

A,B,D

40、波长色散X射线荧光光谱仪的精密度以20次连续重复测量的（）表示。

A.标准偏差

B.相对标准偏差

C.极差

D.误差

41、波长色散X射线荧光光谱仪的流气正比计数器经长时间使用，其芯线-阳极丝要被污染，造成阳极丝的污染有由气体中的（）和淬灭气体甲烷的（）造成的等两种情况。

A.杂质

B.还原性

C.分解

D.碳粒

42、X射线荧光分析描述X射线波长与原了序数之间关系的定律是（）。

A.莫塞莱定律

B.郎伯定律

C.反比例

D.比耳定律

43、X射线荧光分析连续X射线中短波限与（）有关。

A.X光管电流

B.X光管电压

C.X光管靶材

D.连续谱

44、波长色散X荧光光谱仪中用于探测重元素X射线荧光是（）计数器，用于探测轻元素X射线荧光是（）正比计数器，封闭式正比计数器是用于探测限定的几个元素的X射线荧光。

A.闪烁

B.半导体

C.流气式

D.光电倍增管

[判断题]

45、波长色散X射线荧光光谱仪的分光晶体对温度的变化较敏感，温度变化会引起晶体面间距值的变化，导致谱线的位移。

对

46、X射线荧光光谱分析散射背景内标法是用由连续谱线的散射线构成的本底（背景）为内标的校正方法。

47、X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法是根据靶线的康普顿散射线的强度很敏感地受样品成分的影响而设计的分析方法。

48、X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法不能校正基体的吸收效应，只能校正增强效应。

错

49、X射线荧光光谱内标法，即把一定量的内标元素加入到标准试料及分析试料中，以标准试料中分析元素与内标元素的X射线荧光强度比与分析元素含量绘制校准曲线。

测定分析试料的分析元素与内标元素的X射线荧光强度比，从校准曲线求得分析元素含量。

50、X射线荧光分析时基体效应的基体与光电直读光谱分析用的铁基样品、镍基样品、铬基样品的铁基、镍基、铬基含意是一样的。

51、在X射线荧光光谱分析中，样品中除分析元素以外的全部元素为基体，基体元素对分析元素的影响叫基体效应。

52、X射线荧光光谱分析中，适当选择分析晶体是消除谱线重叠干扰方法之一。

53、波长色散X射线荧光谱线相对强度是指在一特定谱线系中各谱线间的强度比。

54、波长大于0.2nm的X射线辐射会被空气吸收，因此在此波长范围测定时可以在试样室和单色器通入连续氦气或者在这些区域用泵抽真空。

55、X射线荧光光谱分析的试样，可以是固态，也可以是水溶液。

试样制备的情况对测定误差无影响。

56、X射线荧光的波长轻元素的波长较短，重元素的波长较长。

57、X射线荧光光谱分析中，X射线光强度和管电压V的平方、管电流I以及靶元素原子序数Z成正比。

58、X射线荧光光谱分析中，连续光谱激发样品时，连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源，会影响分析元素的检测限，尤其对痕量元素。

59、X射线荧光光谱分析中，对于不同元素的同名谱线，随着原子序数的增加，波长变短。

特征光谱的这些物理现象和特点，主要是由各种元素的化学成分决定的。

60、X射线荧光仪晶体的衍射和可见光的光学反射意义相同。