TT220数字式涂层测厚仪使用说明Word文件下载.docx

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⒈测量范围及测量误差（见表一）

表一示值误差（µ

m）

型号工作原理

测量范围（µ

低限分辨力（µ

m）零点校准二点校准TT220磁感应0~12501±

（3%H+1），±

[（1%~3%）H+1]

型号待测基体最小曲率半径（mm）

基体最小面积的直径（mm）

基体临界厚度（mm）

TT220凸1.5凹9∅70.5

注：

H—标称值

⒉使用环境：

温度：

0~40℃

湿度：

20%～75%

无强磁场环境

⒊电源：

镍镉电池3.6V二节

⒋外型尺寸：

150mm×

55.5mm×

23mm

⒌重量：

150g

二、主要功能

●可进行零点校准及二点校准，并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正；

●具有两种测量方式：

连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式

（SINGLE）；

●具有两种工作方式：

直接方式和成组方式；

●具有删除功能：

对测量中出现的单个可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据，以便进行新的测量；

●设有五个统计量：

平均值（MEAN）、最大值（MAX）、最小值（MIN）、

测试次数（NO．）、标准偏差（S．DEV）；

●具有打印功能，可打印测量值、统计值；

●具有欠压指示功能；

●操作过程有蜂鸣声提示；

●具有错误提示功能；

●具有自动关机功能。

4

第三章使用方法

一、基本测量步骤

⒈准备好待测试件（参见第五章）。

⒉将测头置于开放空间，按一下“ON/C”键，开机。

⒊检查电源

●无“╪”显示，表示电池电压正常；

●“╪”出现，表示电池电压已低落，应充电；

●开机后，出现“╪”并自动关机，表示电池电压已低至极限，应立即充电。

⒋正常情况下，开机后显示上次关机前的测量值。

⒌是否需要校准仪器，如果需要，选择适当的校准方法进行（参见第四章）。

⒍测量

迅速将测头与测试面垂直地接触并轻轻压住，随着一声鸣响，屏幕显示测量值，提起测头可进行下次测量；

如果在测量中测头放置不稳，显示一个明显的可疑值，可在“DELONE？

”状态删除该值；

重复测量三次以上，在“DISSTATS？

”状态，可依次显示五个统计值，即：

平均值（MEAN）、最大测量值（MAX）、最小测量值（MIN）、测

量次数（NO．）、标准偏差（S．DEV）。

⒎关机

在无任何操作的情况下，大约2~3min后仪器自动关机。

二、TT220数字式涂层测厚仪各项功能及操作方法

⒈测量方式（单次测量⇔连续测量）

●单次测量方式──测头每接触被测件1次，随着一声鸣响，显示测量结果。

如若再测量，须提起测头离开被测件，然后再压下测头。

●连续测量方式──不提起测头测量，测量过程中不伴鸣响，显示屏连续显示测量结果。

●两种方式的转换方法是：

在关机状态下，按住“MODE”键后，再按“ON/C”键，随着一声鸣响，转换完成。

单次测量方式，屏幕显示如下：

连续测量方式，屏幕显示如下：

30µ

m

SINGLE

CONTINUE5

⒉工作方式（直接方式⇔成组方式）

●直接（DIRECT）方式──此方式用于随意性测量，测量值暂存在内存单元（共有15个存贮单元）。

当存满15个存贮单元，新的测量值将替掉旧测量值，并且参与统计计算的数值，总是最新的15个数据；

●成组方式（BATCH）──此方式便于用户分批记录所测试的数据，一组最多15个数值，每当存满一组（15个）数据，屏幕将显示此时可用“PRINTALL？

”打印出该组数值及其统计计算值。

用“DELALL？

”删除该组数据，否则不能进行新的测量。

成组方式避免了直接方式下新值替旧值的随意性。

a.按“MODE”键直至屏幕显示，按“ON/C”键确认后，屏幕显示进入直接方式。

b.按“MODE”键直至屏幕显示，按“ON/C”键确认后，屏幕显示进入成组方式。

⒊删除

●删除当前值：

当前测量结果如果出现较大误差，且不希望此结果进入统计计算，可按“MODE”键，直至屏幕提示，此时，按“ON/C”键即可将此数据删除（如果不想删除，在

Tested15!

DIRECT？

DIRECT

BATCH？

BATCH

DELONE？

6“DELONE？

”状态下，按▲或▼键即可）。

●删除全部数据：

如果要删除内存中的全部数据以便进行新一轮测量，可按“MODE”键，直至屏幕提示，此时，按“ON/C”键即可将内存全部数据删除（如果不想删除，在“DELALL？

⒋统计计算

只要有3个测量值，即可进行统计计算。

操作方法是：

重复测量3次以上，按“MODE”键直至屏幕显示，按▲或▼键，平均值（MEAN）、最大测量值（MAX）、最小测量值（MIN）、测量次数（NO．）、标准偏差（S．DEV）可依次显示。

例如：

若要回到测量状态，按“MODE”键或“ON/C”键即可。

⒌打印功能

●单次打印──与单次测量方式相对应，每测量一次，打印一个测量值。

操作方式是：

在单次测量方式下，按“MODE”键直至屏幕显示，按“ON/C”键确认后，屏幕显示

DELALL？

DIS．STATS？

MEAN100µ

MAX103µ

MIN99µ

NO.5

S.DEV1.6µ

PRTONE？

7此后，每次测量都将打印。

若要放丢打印，在“PRTONE？

”状态下，按▲或▼键即可。

●连续打印──连续打印既适用于单次测量方式也适用于连续测量方式，内存中的全部测量值及统计值一并打印输出。

按“MODE”键直至屏幕显示，按“ON/C”键确认后，屏幕显示同时打印输出内存中的所有测量值及统计值。

若要放弃打印，在“PRTALL？

●打印机与本仪器的连接

只有本公司开发设计的打印机可与本仪器连接，进行打印工作。

将打

印连线一头接打印机，另一头接本仪器，打开打印机电源，按上述方法操作即可。

⒍关于“MODE”键

按住“MODE”键不松开，各状态提示将依次出现。

第四章仪器的校准

为使测量准确，应在测量场所对仪器进行校准。

一、校准标准片（包括箔和基体）

已知厚度的箔或已知覆盖层厚度的试样均可作为校准标准片。

简称标准片。

⒈校准箔

对本仪器“箔”是指非磁性金属或非金属的箔或垫片。

“箔”有利于曲面上的校准。

⒉有覆盖层的标准片

采用已知厚度的、均匀的、并与基体牢固结合的覆盖层作为标准片。

对于本仪器，覆盖层应是非磁性的。

二、基体

⒈对于本仪器标准基体金属的磁性和表面粗糙度，应当与待测试件基体金属PRTON、PRTALL？

、PRTON8的磁性和表面粗糙度相似。

为了证实标准片的适用性，可用标准片的基体与待测试件基体上所测得的读数进行比较。

⒉如果待测试件的基体金属厚度没有超过参数表中所规定的临界厚度，可采用下面两种方法进行校准：

1）在与待测试件的基体金属厚度相同的金属标准片上校准；

2）用一足够厚度的，电学或磁学性质相似的金属衬垫标准片或试件，但必须使基体金属与衬垫金属之间无间隙。

对两面有覆盖层的试件，不能采用衬垫法。

⒊如果待测覆盖层的曲率已达到不能在平面上校准，则有覆盖层的标准片的曲率或置于校准箔下的基体金属的曲率，应与试样的曲率相同。

三、校准方法

本仪器有两种测量中使用的校准方法，零点校准；

二点校准；

还有一种针对测头的基本校准。

⒈零点校准

a．在基体上进行一次测量，仪器显示＜×

.×

µ

m＞。

b．按一下“ON/C”键，屏显＜0.00µ

m＞即完成零点校准。

c．要准确地校准零点，须重复上述a、b以获得基体测量值小于1µ

m，这样有利于提高测量精度。

零点校准完成后就可进行测量了。

⒉二点校准

a．先校零点（见上）。

b．在厚度大致等于预计的待测覆盖层厚度的标准片上进行一次测量，屏幕显示＜×

×

c．用▲或▼键修正读数，使其达到标准片上的标称值。

校准已完成，可以开始测量了。

注意：

即使显示结果与标准片值符合，按▲、▼键也是必不可少的，例如按一次▲键一次▼键。

如欲较准确地进行二点校准，可重复b、c过程，以提高校准的精度，减少偶然误差。

⒊在喷沙表面上校准

喷沙表面的特性导致了测量值大大偏离真值，其覆盖层厚度大致可用下面的方法确定

a．仪器要用三、⒈或三、⒉的方法在曲率半径和基材相同的平滑表面校准好。

b．在未涂覆的经过同样喷沙处理的表面测量10次左右，得到平均值Mo。

c．然后，在已涂覆的表面上测量10次得到平均值Mm。

d．（Mm—Mo）±

S即是覆盖层厚度。

其中S（标准偏差）是SMm和

SMo中较大的一个。

⒋仪器的基本校准

在下述情况下，改变基本校准是有必要的：

──测头顶端被磨损

──测头修理后

──特殊的用途

在测量中，如果误差明显地超出给定范围，则应对测头的特性重新进行校准，称为基本校准。

通过输入6个校准值（一个零值和5个厚度值）可重新校9准测头。

基本校准操作方法如下：

a．在仪器关闭状态下按住▼键再按ON/C键开机，随着一声鸣响即进入基本校准方式。

屏幕显示如下：

b．先校零值（见零点校准）。

可连续重复多次，以获得一个多次校准的平均值，这样可提高校准的准确性。

c．使用标准片，按厚度增加的顺序做五个厚度的校准（见二点校准中的（b、c）。

每个厚度应至少是上一个厚度的1.6倍以上，理想的情况是2倍。

50、100、200、400、800µ

m。

最大值应接近、但低于测头的最大测量范围。

d．在输入6个校准值后，测量一下零点，仪器自动关闭，新的校准值已存入仪器。

当再次开机时，仪器将按新的校准值工作。

第五章与仪器使用有关的注意事项

对本仪器影响测量精度的因素主要有：

基体金属磁性、基体厚度、边缘效应、曲率、表面粗糙度、外界磁场、附着物质、测头压力、测头位置、试样的变形等。

一、影响测量精度的因素及有关说明

⒈基体金属磁性

磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响（在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的），为了避免热处理及冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。

亦可用待涂覆试件进行校准。

⒉基体金属厚度

每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。

大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。

本仪器的临界厚度值见第二章《技术参数》。

⒊边缘效应

本仪器对试件表面形状