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批准:

稳定性

………………………………………………………………………………………

1

偏倚

4

线性

7

重复性和再现性

9

备注:

对于有条件接收的项目应阐述接受原因.

第一节稳定性分析

1.1稳定性概述

在经过一段长时间下,用相同的测量系统对同一基准或零件的同一特性进行测量所获得的总变差,即稳定性是整个时间的偏倚变化。

1.2试验方案

2017年02月份,随机抽取一常见印制板样品,让中间检验员工每天的早上及晚上分别使用数显卡尺对样品外形尺寸测量5次/组,共测量25组数据,并将每次测量的数据记录在表1。

1.3数据收集

表1稳定性分析数据收集记录表

操作者

陈秋凤

测量日期

2017-02-04~2017-02-20

测量时间

测量结果/单位:

__mm__

第1次

第2次

第3次

第4次

第5次

时段1

65.23

65.24

时段2

时段3

时段4

时段5

时段6

时段7

时段8

时段9

时段10

时段11

时段12

时段13

时段14

时段15

时段16

时段17

时段18

时段19

时段20

时段21

时段22

时段23

时段24

时段25

1.4测量系统稳定性可接受判定标准

1.4.1不允许有超出控制限的点;

1.4.2连续7点位于中心线同一侧;

1.4.3连续6点上升或下降;

1.4.4连续14点交替上下变化;

1.4.5连续3点有2点距中心的距离大于两个标准差;

1.4.6连续5点中有4点距离中心线的距离大于一个标准差;

1.4.7连续15点排列在中心线的一个标准差范围内;

1.4.8连续8点距中心线的距离大于一个标准差。

1.5数据分析

图1中间检验_数显卡尺Xbar-R控制图

从图1Minitab生成Xbar-R控制图可知,没有控制点超出稳定性可接受判定标准,表明该测量系统稳定性可接受。

1.6测量系统稳定性分析结果判定

对中间检验_数显卡尺进行稳定性分析,分析结果表明该测量系统稳定性可接受。

第二节偏倚分析

2.1偏倚分析概述

对相同零件上同一特性的观测值与真值(参考值)的差异。

2.2试样方案

2.2.1选择一个被测样品,确定样品的外形尺寸基准值,样品外形尺寸基准值通过__铣边工序所使用的泛用型尺寸测量机重复测量10次取测量均值获得。

2.2.2让经常使用该量具的检验员测量样品15次,每次读数记为(i为第i次测量)。

2.3数据收集

表2偏倚分析数据收集记录表

2017-01-21

单位

mm

测量次数

测量结果

97.02

2

10

3

97.01

11

12

5

13

6

14

15

8

/

2.4测量系统偏倚可接受判定标准

若0在偏倚95%可信度的置信区间范围内,可以在统计上判定测量系统的偏倚等于零,而这种判定犯错的可能性为5%,此时可判定测量系统偏倚可接受

2.5数据分析

2.5.1根据测量所得数据,将数据记录于表3,并计算测量结果的平均值。

=

2.5.2计算偏倚B。

B=-

2.5.3计算重复性标准差。

2.5.4计算均值的标准差。

2.5.5偏倚95%可信度的置信区间上限及下限计算方式。

上限:

下限:

表3偏倚分析记录表

评价人

分析时间

单位:

读数

偏倚

0.002

-0.008

基准值xι

测量次数n

平均值

偏倚B

复性标准差

均值的标准差

97.018

97.017

0.001

0.0028

0.0007

d2

自由度v

偏倚95%的置信区间

下限

上限

3.47191

3.5533

10.8

2.206

-0.0006

0.0026

注:

d2、、v、可查表获得,具体参考《ZW4DD-034B0MSA测量系统分析管理办法》。

2.5.6从表3数据分析,数显卡尺测量偏倚为0.001mm,偏倚值95%的置信区间为[-0.0006,0.0026],因为0在上述偏倚值的95%置信区间范围内,所以该测量系统偏倚可接受。

2.6测量系统偏倚分析结果判定

对中间检验_数显卡尺_进行偏倚分析,分析结果表明该测量系统偏倚可接受。

第三节线性分析

3.1线性分析概述

在测量设备预期的工作(测量)量程内,偏倚值的差异,线性可被视为偏倚对于量程大小不同所发生的变化。

3.2试验方案

3.2.1选择5个样品,且这5个样品外形尺寸涵盖量具的整个工作量程。

3.2.2确定每个样品的外形尺寸,各样品外形尺寸通过铣边工序所使用的泛用型尺寸测量机重复测量10次取测量均值获得。

3.2.3让经常使用该测量工具的检验员分别对每个样品测量12次,并将对应测量结果记录在表4中,其中i为样品编号,j为测量次数。

3.3数据收集

表4线性分析数据收集记录表

2017-01-22

样品编号i

测量次数j

17.89

39.97

66.78

105.02

146.62

146.61

105.01

17.90

39.98

基准值

17.890

39.967

66.790

104.971

146.644

3.4测量系统线性可接受判定标准

“偏倚=0”的整条直线都在置信区间范围内,则判定测量系统的线性可接受,否则需要分析原因改善。

3.5数据分析

图2中间检验_数显卡尺线性分析图

从图2Minitab生成的线性图分析,“偏倚=0”的整条直线在置信区间内,表明该测量系统线性可接受。

3.6测量系统线性分析结果判定

对中间检验_数显卡尺进行线性分析,分析结果表明该测量系统线性可接受。

第四节重复性、再现性分析

4.1重复性、再现性概述

重复性:

由一个被评价人使用同一测量仪器,多次测量同一零件同一特性值时获得的测量变差。

再现性:

由不同的评价人采用相同的测量仪器,测得同一零件同一特性的测量平均值之间的变差。

4.2试验方案

挑出10个样品,样品外形尺寸涵盖整个过程变差(一般为样品尺寸公差),然后找3个人分别在不同的时间段测量这10块样品的外形尺寸,测试前,测试人员不知道样品的测试顺序,每个人分别在3个时间段分别测量每块样品的外形尺寸1次,并将每次的测量结果记录在表4。

4.3数据收集

表4重复性、再现性分析数据记录表

测量

时间

测量数据/单位:

mm

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