低压电器的基本试验方法.docx

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低压电器的基本试验方法

低压电器的根本试验方法

〔根据GB998-67〕

低压电器的根本试验方法包括：

一一般检查〔第1～6条〕

二动作值的测定〔第7～23条〕

〔一〕一般说明〔第7～11条〕

〔二〕电动电器的动作值的测定〔第12～18条〕

〔三〕保护特性的测定〔第19～23条〕

三发热试验〔第24～53条〕

〔一〕一般说明〔第24～31条〕

〔二〕周围介质温度的测定〔第32～33条〕

〔三〕温升的测定〔第34～47条〕

〔四〕试验及测定〔第48～53条〕

四绝缘试验〔第54～71条〕

〔一〕绝缘电阻的测量〔第54～56条〕

〔二〕耐压试验〔第57～63条〕

〔三〕绝缘的抗潮性试验〔第64～71条〕

五接通能力与分断能力的试验〔第72～100条〕

〔一〕一般说明〔第72～75条〕

〔二〕对试验电路及电源的要求〔第76～88条〕

〔三〕试验及测定〔第89～96条〕

〔四〕试验结果的测定〔第97～100条〕

六动稳定与热稳定试验〔第101～112条〕

〔一〕一般说明〔第101～102条〕

〔二〕动稳定试验〔第103～107条〕

〔三〕热稳定试验〔第108～112条〕

七寿命试验〔第113～125条〕

〔一〕一般说明〔第113～116条〕

〔二〕机械寿命试验〔第117～120条〕

〔三〕电寿命试验〔第121～125条〕

一一般检查

1．一般检查包括以下检查工程：

外观检查，电器的外形尺寸及安装尺寸检查，电气间隙与漏电距离的检查，触头断开距离，超额行程和压力的检查，电器操作力的检查及安装检查等。

2．外观检查包括零件及装配质量的检查，如电器在各转换位置时触头的分合情况，电器所有必需的零部件装配的正确性，铭牌，接地标志及漆封等是否符合要求。

3．触头超额行程的测定，可在被测触头处于完全闭合位置时，将刚性的触头移开而测量弹性触头在接触处发生的位移；也可测量弹性触头与其支架之间的空隙，再进展换算。

4．触头终压力的测定，可在被测触头处于完全闭合位置时通过专用装置用悬重产生拉力的方法，使各个断点所串联的指示灯刚刚熄灭〔或用其他指示方法〕，此时如果装置的拉力与触头压力的方向和作用点成一直线时，那么此拉力即为触头终压力。

当装置的拉力不能满足上述条件时，那么触头压力必需通过换算求得。

产生拉力的方法也允许采用其它方法〔如弹簧秤法〕但测量装置必须事先经过砝码校正。

楔形触头的终压力测量，用专用装置将楔形触头两边的触片同时向两侧施加拉力〔或将中间刀片刚性固定，向一侧施加拉力〕进展。

当触头压力不能按上述方法进展测量时，允许在产品上测量触头弹簧的变形量，并将弹簧自电器中取出，放在其它专用设备上，测定其变形与压力的关系，从而求得触头的压力。

5．触头初压力的测定方法同本标准第4条所述，但应在触头刚刚接触时的位置进展测量;或在触头处于断开位置时测量，此时指示装置跨接于动触头及其支持物之间。

6．安装检查时首先检查电器的安装方便性，如果制造厂未附给专用工具，安装时不得使用专用工具。

在电器按正常位置安装下，可用正常使用的最大及最小截面的导线，电缆或金属排先后与电器联接，并固紧应紧固的零件，在联结导线及旋转螺钉时应不损坏电器零件，然后检查备用零件更换的方便性。

二动作值的测定

〔一〕一般说明

7．测定动作值时电器应按正常工作位置安装。

假设电器可在各种位置下工作，那么应在最不利的位置下测定动作值〔此位置可在试验时分析确定〕。

8．如果已经试验证明取去外壳并不影响动作数值，那么在测定电器动作数值时允许不带外壳。

9．假设要求电器在冷态下进展试验，那么在测量室的放置时间一般应不小于8小时。

假设对电器零件进展温度测量后证明允许减少放置时间，那么此放置时间可以缩短。

注：

"冷态〞即被试电器各局部的温度与周围介质温度的差异不大于3℃。

10．为了缩短试验时间或本标准第9条所述之放置时间，可采用人工冷却，但同样须对电器零件进展温度测量证明后，方可缩短。

此时尚应考虑电器在周围介质温度下自然冷却的时间，以便电器各局部冷却均匀。

11．测定动作数值应在产品技术条件或产品标准中所规定的极限周围介质温度下进展。

如经试验证明周围介质温度变化对电器动作值的影响可忽略或可进展换算时，那么可在室温下进展。

如有需要，应将试验结果换算到规定的极限周围介质温度。

〔二〕电动电器的动作值的测定

12．测定电动电器的动作值时，试验电路及电源应满足以下要求：

（1）电压线圈端电压的波动，对电源空载电压而言应不大于5％;

（2）电流线圈中电流的波动，对衔铁翻开时的线圈电流而言应不大于5％；

（3）直流电源应采用直流发电机电源、蓄电池电源或三相全波整流电源，但电压线圈允许采用单相全波整流电源。

13．测定释放电压〔或电流〕时，应将电压〔或电流〕从额定值起连续改变，以开场释放时的读数为准。

测定吸上动作值时，应先调到电磁线圈的预期动作值，再接通电路进展试验。

14．点电源容量不能满足本标准第12条的规定时，允许以下述补充方法来确定动作值：

〔1〕对交流电压线圈，以衔铁完全闭合时的电压作为电压线圈的动作电压；

〔2〕对电流线圈，允许在电路中串入适当的电阻，使电流的波动不大于10％，此时动作电流以衔铁动作前的电流读数为准。

15．对于具有电压线圈的电器，应在产品技术条件或产品标准中所规定的最低周围介质温度下于冷态时以及在最高周围介质温度下于热稳态时分别测定动作值，如经试验证明周围介质温度变化对电器动作值的影响可忽略或可进展换算时，那么可以在室温下于冷态时进展。

如有需要，应将试验结果换算到规定的极限周围介质温度。

注：

"热稳态〞即被试电器按额定工作制通以规定的电流发热至稳定，即在30分钟温升的变化不超过1℃。

16．在型式试验时，对实际运行中需要调整参数〔这些参数可能导致动作数值有明显变化〕的电器，那么应将这些参数调至产品技术条件或产品标准中所规定的极限值〔这些极限值必须使动作值的考核为最严〕进展试验。

在型式试验时,被试电器的极数、常分辅助触头数或常合辅助触头数等的选择必须使动作值的考核为最严。

17．对于交流电动电器动作值的测定：

如有选相合闸装置那么应在最不利相角下试验两次；如无选相装置那么在型式试验时应不少于20次，在检查试验时应不少于10次测量。

对于直流电动电器动作值的测定：

在型式试验时不少于6次，每2次试验后改变线圈极性，在检查试验时不少于3次，每次改变线圈极性。

各次测量结果均应符合产品技术条件或产品标准的规定。

18．测定电磁铁在某气隙下的吸力时，假设无专用精细测试装置那么可用悬重产生拉力的方法进展，以衔铁恰能吸上时的拉力为准。

〔三〕保护特性测定

19．进展保护特性的测定时，通过被试电器的电流波动应不大于±2.5％。

20．将符合实际使用状况的电器安装在不受外界空气流、或其它热辐射作用之处，并用产品技术条件或产品标准中所规定的导联结，假设无规定，那么可按附录二选用。

21．热保护元件临界动作电流值的测定，可在通以额定电流发热至稳定后，逐次增加3～5％的额定电流，每次均应使电器到达稳定温度，直至动作为止。

最后测得的两次〔前一次不动作，后一次动作〕电流的算术平均值，即为临界动作电流值。

22．熔断器的保护特性试验，从最小熔化电流到极限分断能力之间按产品技术条件或产品标准的规定试验几档电流。

如产品技术条件或产品标准中未规定试验次数，那么每档电流各试两次。

如果燃弧时间小于总熔断时间的10％，那么可用低于额定电压的电源进展试验，否那么必须用额定电压电源，并记录其熔断时间〔包括熔化时间及燃弧时间〕。

23．除非产品技术条件或产品标准中规定熔断器的保护特性试验应在极限周围介质温度下进展，一般可在大于0℃的室温下进展。

三发热试验

〔一〕一般说明

24．允许发热试验在大于0℃的室温下进展，但假设周围介质温度对试验结果有显著影响时，应根据预先验证给出的修正系数进展换算，或在产品技术条件或产品标准规定的最高周围介质温度下进展试验。

对于直流线圈的温升可按实测值乘以以下公式给定的系数换算到规定的最高周围介质温度：

电流线圈的系数

电压线圈的系数

式中：

——试验时的周围介质温度℃；

——产品技术条件或产品标准中所规定的最高周围介质温度℃；

——在0℃时被测元件材料的电阻温度系数〔对紫铜为，对铝为〕。

25．被试电器的安装应符合本标准第20条的规定，其每相引出线的长度应不短于1.5米，所有部接线应符合安装接线图，当电器部导电局部的发热相互有不可忽略的影响时，试验时应使所有可能同时接通的电路〔如辅助电路、线圈、电阻等〕通电。

26．对于多转换位置的电器，应选择其发热最严重的位置进展试验。

27．对实际运行中触头压力需要调整的电器，应将其触头压力调整至产品技术条件中所规定的最小允许值进展试验。

28．除产品技术条件或产品标准中另有规定者外，被试电器触头上的灰尘和脏物应予以去除后进展试验。

29．三相电器的发热试验应以三相电流进展，三相电流不平衡度应不大于±5％。

如经试验证明单相与三相电流的试验结果无显著差异时，那么可用单相电流进展。

30．试验交流电器时,应在额定频率的电源下进展，其短时频率波动应不大于±10％。

31．直流电器的电压线圈发热试验，除产品技术条件或产品标准中另有规定者外，应以单相全波整流电源供电。

〔二〕周围介质温度的测定

32．周围介质温度用不少于二个温度计读数的算术平均值来测定，这些温度计应均匀分布于距离电器1～2米远和电器本身高度的一半处。

必须保护温度计免受空气的对流以及热辐射的影响。

33．周围介质温度应在试验的最后两个小时，每隔半小时测量之。

如在此两小时周围介质温度的变化不超过3℃，那么在此时间温度计读数的算术平均值即为周围介质温度。

〔三〕温升的测定

用温度计或半导体点温计法测定温升：

34．水银温度计、酒精温度计或半导体点温计在以下情况下可以使用：

电器零件很大，温度计放入后不影响其温升，并且不必损坏电器外壳或破坏其正常工作位置。

35．当在测量点附近有很大交变磁场时，应采用酒精温度计。

36．温度计的球应用金属箔包裹，并用油灰或其它适当材料将其紧贴于被测零件上且在试验过程中不应松开。

37．用温度计或半导体点温计决定温升时，温度计与被测零件外表的角度应不大于30度。

用热电偶法决定温升：

38．热电偶应焊在或紧固在被试零件的测量点上，试验过程中不应脱落或松开。

39．热点偶的导线应彼此绝缘，相互绞扭后放置在强烈的交变磁场影响之外，以防止形成回路而产生感应电动势，否那么须采用抑制感应电动势的滤波器。

40．热电偶的冷接合处应放在不受热辐射或有外界空气流的作用之处，冷接合处的周围介质温度可用温度计测量。

用电阻法测定温升：

41．线圈的平均温升可用电阻法决定，即根据线圈的热电阻与冷电阻之差决定。

42．在测量线圈的冷电阻以前，应将电器放在测量室不少于8小时，在测量前1小时室温变化应不大于3℃。

43．热电阻与冷电阻应当用同样方法和同一仪表测量，导线的联结点也应一样。

测量电路的电流值可以这样选择：

在测量时，被测零件的温度几乎不变，一般应不超过额定电流值的15％；在测量热电阻时允许用额定电流值测量。

44．用电压表和电流表法测量电阻时，必须考虑到与仪表联结的电路，必要时应考虑仪表电阻的影响而予以修正。

在测量小电阻的压降值时，不应将通过试验电流的联结处的接触电阻压降测量进去。

45．交流线圈用直流电源测电阻。

46．用电阻法决定线圈的平均温升时可按照下式计算：

式中：

——被测线圈的温升℃；

——被测线圈在发热情况下的温度℃；

——测量被测线圈热电阻时的周围介质温度℃；

——测量被测线圈冷电阻时的周围介质温度℃；

R2——温度为θ2时，被测线圈的电阻值〔欧姆〕；

R1——温度为θ01时，被测线圈的电阻值〔欧姆〕