第三章-全息干涉与散斑干涉优质PPT.ppt
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二是波前再现（WavefrontReconstruction）.,设全息底片处物体光波和参考光波的复振幅分别为：
1.波前记录,全息记录系统如图。
1.波前记录,则全息底片所记录的光强分布为：
由此可见，全息底片所记录的光强分布是按余弦规律变化的干涉条纹（不过干涉条纹很细很密，人眼无法分辨），由此全息图实际上是一块余弦光栅，当用再现光波照射全息图时，全息图将发生衍射进而产生物体像。
假设曝光时间为T，则全息底片记录到的曝光量为：
在一定曝光量范围内，全息图的振幅透射率与曝光量成线性关系，若取比例常数为，那么全息图的振幅透射率可表示为：
2.波前再现,该再现系统与记录系统相同，只是在再现系统中已移走物体，并挡住物体光波。
为了观察物体像，需要把经过显影和定影的全息底片放回原位，用参考光波照射全息图。
则透过全息图的光波复振幅为：
注意：
这里如果用的参考光是,作业：
试解释为什么A实验室制作的一全息片可以在B实验室再现。
如果用的原来的参考光波，则：
第一项：
零级衍射光波；
第二项：
正一级衍射光波，构成物体的虚像；
第三项：
负一级衍射光波，构成物体的实像，但与原来物体相位相反。
上述三个衍射光波沿不同的方向传播，彼此互相分离，由此当用原来参考光波照射全息图时，透过全息图将有三束光波沿不同方向射出，这就是有Leith和Upatnieks提出的离轴全息照相。
3.1.2全息图的类型,根据全息记录和再现的方式不同，全息图有多种分类方法，主要分类方法概括如下。
1.振幅全息和相位全息,按照全息图透射率，分为振幅全息图（AmplitudeHologram）和相位全息图（PhaseHologram）。
一般来说，再现光波通过全息图时，光波的相位和振幅都会发生变化。
如果衍射后光波的相位不变，全息图仅仅改变再现光波的振幅，该全息图称为振幅全息图。
或者吸收全息图。
如果衍射后光波的振幅透射率与位置无关，全息图仅仅改变再现改变的相位，该全息图称为相位全息图。
相位全息图分为两类：
一类是浮雕相位全息图，该类全息图的记录介质的厚度在变化，但介质的折射率保持不变；
另一类是变折射率相位全息图，该类相位全息图的记录介质的折射率发生变化，而厚度保持不变。
2.平面全息图和立体全息图,全息底片既可记录为平面全息图（PlaneHologram），也可以记录为体积全息图（VolumeHologram）。
平面全息图（也称为薄全息图）的记录介质的厚度小于所记录的干涉条纹的间隔；
体积全息图（也称为厚全息图）的记录介质的厚度等于或大于干涉条纹的间隔。
应当注意，干涉条纹的间隔不仅与波长有关，还与物体光波和参考光波之间的夹角有关。
平面全息图和立体全息图的主要区别就是平面全息图的干涉条纹是记录在乳胶的表面上，全息图的衍射主要是介质的面效应，其作用类似于平面光栅；
而体积全息图的干涉条纹是记录在乳胶的内部，全息图的衍射主要是介质的体效应。
采用光学方法但通过光敏电子器件（如CCD）记录而得到的全息图称为数字全息图（DigitalHologram）。
数字全息图不需要经过显影和定影等冲洗处理，通过计算机模拟光学衍射过程来实现光波的数字再现，因而可以实现全息记录、存储和再现等过程的数字化。
3.光学全息图，数字全息图和计算全息,采用光学方法通过全息记录材料（如全息底片）记录而得到的全息图称为光学全息图（OpticalHologram）。
光学全息图需要经过显影和定影等冲洗处理，并采用光学系统完成物体光波的再现。
通过计算机模拟和经过光学缩放而得到的全息图，称为（ComputerProductionHologram）。
计算全息的特点是先用计算机制作全息图，然后用光学衍射方法进行再现。
由于计算机技术的发展，目前可对复杂物体通过计算机模拟制作全息图。
计算全息利用计算机制作全息图，由此并不需要物体一定存在，由此计算全息具有很大的灵活性。
3.2全息干涉法,全息干涉法（HolographicInteferometry）是基于全息照相的干涉计量技术。
它是一种高精度非接触全场干涉测试方法，其测量灵敏度可以达到可见光的波长量级。
全息干涉法可用于物体的变形测量和振动分析。
3.2.1全息干涉原理,1.相位位移关系,物点P移到P后物体光波的相位变化可表示为：
再利用：
对于小变形，有,作业：
试推导全息干涉法中相位变化与位移的关系。
2.双曝光全息干涉法,双曝光全息干涉法（Double-ExposureHolographicInterferometry）通过两次系列曝光把对应与物体变形前后的两个不同状态记录于同一张全息底片上。
全息底片经过显影和定影处理后，再放回原记录系统进行再现，则对应于物体变形前后的两个物体光波，因相位不同而发生干涉并形成干涉条纹，通过对干涉条纹进行分析，即可实现物体的位移和变形测量。
设物体变形前后的物体光波复振幅分别为：
设参考光波复振幅为：
那么物体变形前后全息底片记录光强分别为：
设物体变形前后全息底片的曝光时间分别为T1和T2，则全息底片记录到的曝光量可表示为：
全息底片经显影和定影后，设振幅透射率与曝光量成线性关系，取比例常数为，则双曝光全息图的振幅透射率为：
双曝光全息干涉再现系统如图所示。
用参考光波,照射经显影和定影后的全息底片，则透射全息图的光波复振幅表示为：
第一项是透过全息图后沿参考光波方向的0级衍射光波；
第二项是透过全息图后沿物体光波方向的1级衍射光波；
第三项是物体共轭光波。
相应光强分布为：
通常物体变形前后全息底片的曝光时间相等。
即,显然，当满足条件：
双曝光法是测量物体位移和变形常采用的方法，它具有简单易行，干涉条纹清晰，可以进行定量分析等优点。
3.实时全息干涉法,实时全息干涉法（Real-TimeHolographicInterferometry）是指先把物体变形前的状态记录在全息底片上，全息底片经过显影定影处理后精确复位，再把物体光波和参考光波同时照射复位后的全息图，如果此时物体发生变形，则可实时观察到干涉条纹，如果物体发生连续变形，也可观察到连续变化的干涉条纹。
设物体变形前的物体光波和参考光波分别为：
则物体变形前全息底片记录的光强为：
设曝光时间为T，如果振幅透射率与曝光量成线性关系，设比例常数为，则全息底片经显影和定影后的振幅透射率为：
上述经显影和定影的单曝光全息图精确放回原记录系统进行再现，并用原物体光波和参考光波同时照射单曝光全息图，如图所示。
如果此时物体发生变形，则物体变形后的物体光波复振幅可表示为：
其中是因物体变形而引起的物体光波的相位变化，则此时透过单曝光全息图的光波复振幅为：
上式中，第一项和第五项与物体光波有关，取出这两项，得：
通常：
相应的光强分布为:
实时法不易使处理后的全息底片精确复位,为了克服这一问题可设计一个专用装置,在底片支架上进行原位显影和定影等冲洗过程.,3.3激光散斑干涉测量,散斑特性散斑计量时间相移相位展开数字散斑干涉数字散斑剪切干涉,基本要求:
1.了解散斑形成、分布和叠加以及散斑照相、散斑干涉；
2.熟悉时间相移和相位展开；
3.掌握面内位移、离面位移测量。
一、散斑特性：
散斑形成散斑分布散斑尺寸散斑叠加,1）散斑形成：
当激光照射表明粗糙物体时，物面就会散射无数相干子波，这些相干子波在物体周围空间相互干涉而形成了无数随机分布的亮点和暗点，这些亮点和暗点就称为散斑。
粗糙表面:
这里所讲的粗糙是相对于光波波长而言，相对于物体的尺寸，表面是非常光滑的。
在观察点得到的是亮点和是暗点取决于来自物体表面个个地方的反射光在该点叠加的结果。
在散射面的前方的任意位置都可以得到散斑。
散斑图：
在特定的截面上记录的散斑分布称为散斑图。
散斑图是由激光照射在光学粗糙物面的大量散射子波之间的随机干涉而形成的具有高对比度的颗粒结构图像。
右边就是一个激光散斑图，上面有大量的暗点和亮点，但暗点更多。
它的对比度很高。
2）散斑分布：
强度的概率密度函数：
任意给定点的散斑强度遵守负指数统计，强度最可能密度值为零，即散斑图上大部分的点是相消干涉，即暗点。
对比度：
即散斑具有最大对比度。
相位概率密度函数：
是一个常数，即任意给定点散斑相位均匀分布。
3）散斑尺寸,通过自由空间产生的散斑称为客观散斑。
通过成像系统在像面形成的散斑称为主观散斑（也称像面散斑）。
对于圆形散射面，横向平均长度：
纵向尺寸：
所以在比较靠近散射面的地方，散斑在空间类似一个球，但由于它的横向尺寸和纵向尺寸不是按系统规律增加的，所以在远离散射的时候，散斑会逐渐变得类似于一个椭球。
作业：
请问散斑在空间的尺寸如何随着观察面与散射面间距离的增大而变化。
横向平均长度：
我们讨论的散斑基本上是主观散斑。
因为散斑计量当中已经没有客观散斑，在数字散斑中还有。
4）散斑叠加,有两种叠加方式：
振幅叠加和强度叠加。
振幅叠加后的合成强度为：
当散斑按振幅叠加的时候，它的统计性质没有发生改变，合成的强度仍然遵守负指数统计，对比度为1.,散斑场按强度叠加时合成强度为：
当两个光强相等时，对比度为0.707，对比度下降。
二、散斑计量,当高度相干光照射的粗糙物体表面发生位移或者变形时，物面周围空间所形成的散斑分布将按一定规律发生运动或变化，散斑计量就是将物体表面前方空间的散斑场记录下来，通过分析记录在散斑图上的散斑的运动或变化而得到的物体的位移和变形。
散斑计量分为：
散斑照相散斑干涉散斑剪切干涉,作业：
请问散斑计量分为几种，简要介绍它们的区别？
如果记录的散斑图是由表面粗糙的物体的随机散射子波之间的干涉效应而形成，则称为散斑照相，有时也称它为单光束散斑干涉。
如果记录的散斑图是由表面粗糙物体的随机散射子波与另一参考光波之间的干涉效应而形成，则称为散斑干涉，有时也称为双光束散斑干涉。
如果记录的散斑图是由表面粗糙物体相互错位的随机散射子波之间的干涉效应而形成，则称为散斑剪切干涉。
散斑照相和散斑干涉可以进行物体的位移测量和振动分析。
散斑剪切干涉可以测量物体的位移导数，包括斜率和应变等。
传统散斑采用全息底片记录散斑图，因此需要进行显影和定影等冲洗处理。
另外，传统散
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