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工具对应的国标号
电子卷2
GB/T12166-1990非平衡电压数字接口电路的电气特性
GB/T12177-1990数子控制机床的数控处理程序输出逻辑结构
GB/T12179-1990噪声发生器通用技术条件
GB/T12180-1990低频信号发生器通用测试方法
GB/T12181-1990低频信号发生器通用技术条件
GB/T12184-1990信息处理磁墨水字符识别印刷规范
GB/T12190-1990高性能屏蔽室屏蔽效能的测量方法
GB/T12200.1-1990汉语信息处理词汇01部分:
基本术语
GB/T12269-1990射频电缆总规范
GB/T12270-1990射频同轴连接器电气试验和测试程序屏蔽效率
GB/T12271-1990射频同轴连接器射频插入损耗测试方法
GB/T12272-1990射频同轴连接器耐射频高电位电压测试方法
GB/T12274-1990石英晶体振荡器总规范（可供认证用）
GB/T12275-1990石英晶体振荡器型号命名方法
GB/T12276-1990电子设备用固定电阻器第七部分:
分规范各电阻器不可单独测量的固定电阻网络（可供认证用）
GB/T12277-1990电子设备用固定电阻器第七部分:
空白详细规范:
各电阻器不可单独测量的固定电阻网络评定水平E（可供认证用）
GB/T12300-1990功率晶体管安全工作区测试方法
GB/T12345-1990信息交换用汉字编码字符集辅助集
GB/T12354-1990电子计算机外围设备型号命名方法
GB/T12453-1990信息处理系统开放系统互连运输服务定义
GB/T12498-1990铷原子频率标准通用技术条件
GB/T12499-1990铷原子频率标准测试方法
GB/T12500-1990信息处理系统开放系统互连面向连接的运输协议规范
GB/T12504-1990计算机软件质量保证计划规范
GB/T12505-1990计算机软件配置管理计划规范
GB/T12507-1990光纤光缆连接器第1部分:
总规范
GB/T12508-1990光学识别用字母数字字符集第二部分:
OCR-B字符集印刷图象的形状和尺寸
GB/T12510-1990信息处理交换用维吾尔文字符集键盘的字母区布局
GB/T12511-1990纤维光学开关第一部分:
总规范（可供认证用）
GB/T12512-1990纤维光学衰减器第一部分:
总规范（可供认证用）
GB/T12559-1990印制电路用照相底图图形系列
GB/T12560-1990半导体器件分立器件分规范（可供认证用）
GB/T12561-1990发光二极管空白详细规范（可供认证用）
GB/T12562-1990PIN二极管空白详细规范（可供认证用）
GB/T12564-1990光电倍增管总规范（可供认证用）
GB/T12565-1990半导体器件光电子器件分规范（可供认证用）
GB/T12567-1990直观存储管测试方法
GB/T12568-1990直观存储管分规范（可供认证用）
GB/T12569-1990直观存储管空白详细规范（可供认证用）
GB/T12570-1990单色显示管空白详细规范（可供认证用）
GB/T12571-1990单色显示管测试方法
GB/T12627-1990软磁盘驱动器通用技术条件
GB/T12628-1990硬磁盘驱动器通用技术条件
GB/T12629-1990限定燃烧性的薄覆铜箔环氧玻璃布层压板（制造多层印制板用）
GB/T12630-1990一般用途的薄覆铜箔环氧玻璃布层压板（制造多层印制板用）
GB/T12631-1990印制导线电阻测试方法
GB/T12633-1990压电晶体性能测试术语
GB/T12634-1990压电晶体电弹常数测试方法
GB/T12635-1990碳膜电阻器用陶瓷基体
GB/T12636-1990微波介质基片复介电常数带状线测试方法
GB/T12646-1990数字控制机床的数控处理程序输入基本零件源程序参考语言
GB12050-1989信息处理信息交换用维吾尔文编码图形字符集
GB12052-1989信息交换用朝鲜文字编码字符集
GB/T11014-1989平衡电压数字接口电路的电气特性
GB/T11015-1989数据通信用数据终端设备和自动呼叫设备之间的接口
GB/T11113-1989人造石英晶体中杂质的分析方法
GB/T11114-1989人造石英晶体位错的X射线形貌检测方法
GB/T11153-1989激光小功率计性能检测方法
GB/T11250.1-1989复合金属覆层厚度的测定金相法
GB/T11250.2-1989复合金属覆层厚度的测定X荧光法
GB/T11250.3-1989复合金属覆镍层厚度的测定容量法
GB/T11250.4-1989复合金属覆铝层厚度的测定重量法
GB/T11279-1989电子元器件环境试验使用导则
GB/T11292-1989数字控制机床的数控处理程序输出2000型记录辅元素（后置处理命令）
GB/T11293-1989固体激光材料名词术语
GB/T11295-1989激光晶体棒型号命名方法
GB/T11296-1989红外探测材料型号命名方法
GB/T11297.10-1989热释电材料居里温度T@C的测试方法
GB/T11297.11-1989热释电材料介电常数的测试方法
GB/T11297.1-1989激光棒波前畸变的测量方法
GB/T11297.12-1989电光晶体铌酸锂、磷酸二氢钾和磷酸二氘钾消光比的测量方法
GB/T11297.2-1989激光棒侧向散射系数的测量方法
GB/T11297.3-1989掺钕钇铝石榴石激光棒消光比的测量方法
GB/T11297.4-1989掺钕钇铝石榴石激光棒长脉冲激光阈值及斜率效率的测量方法
GB/T11297.5-1989掺钕钇铝石榴石激光棒连续激光阈值、斜率效率和输出功率的测量方法
GB/T11297.6-1989锑化铟单晶位错蚀坑的腐蚀显示及测量方法
GB/T11297.7-1989锑化铟单晶电阻率及霍耳系数的测试方法
GB/T11297.8-1989热释电材料热释电系数的测试方法
GB/T11297.9-1989热释电材料介质损耗角正切tan涞牟馐苑椒ā_
GB/T11300-1989电子设备用A类调谐可变电容器空白详细规范
GB/T11301-1989电子设备用装有整体C类预调电容器的A类调谐可变电容器空白详细规范
GB/T11302-1989电子设备用B类微调可变电容器空白详细规范
GB/T11303-1989电子设备用C类预调可变电容器空白详细规范
GB/T11305-1989电子设备用固定电容器分规范:
3类瓷介电容器（可供认证用）
GB/T11306-1989电子设备用固定电容器空白详细规范:
3类瓷介电容器评定水平E（可供认证用）
GB/T11309-1989压电陶瓷材料性能测试方法纵向压电应变常数d@3@3的准静态测试
GB/T11310-1989压电陶瓷材料性能测试方法相对自由介电常数温度特性的测试
GB/T11311-1989压电陶瓷材料性能测试方法泊松比醊E的测试
GB/T11312-1989压电陶瓷材料和压电晶体声表面波性能测试方法
GB/T11320-1989压电陶瓷材料性能测试方法低机械品质因数压电陶瓷材料性能的测试
GB/T11321-1989波导元件模数尺寸选择指南
GB/T11323-1989电缆分配系统用单同轴电缆一般要求和试验
GB/T11383-1989信息处理信息交换用八位代码结构和编码规则
GB/T11384-1989信息处理数据交换用200mm改进调频制记录的位密度为13262磁通翻转/弧度、道密度为1.9道/毫米的双面软磁盘第一部分:
尺寸、物理性能和磁性能
GB/T11385-1989信息处理数据交换用200mm改进调频制记录的位密度为13262磁通翻转/弧度、道密度为1.9道/毫米的双面软磁盘第二部分:
磁道格式
GB/T11386-1989信息处理130mm未记录的硬扇段单面或双面软磁盘尺寸、物理性能和磁性能
GB/T11387-1989压电陶瓷材料静态弯曲强度试验方法
GB/T11433-1989磁性氧化物制成的管、针、柱磁芯的尺寸
GB/T11435-1989铁氧体交流消音头磁芯
GB/T11436-1989软磁铁氧体材料成品、半成品化学分析方法
GB/T11437-1989广播接收机天线用铁氧体磁芯分规范（可供认证用）
GB/T11438-1989广播接收机天线用铁氧体磁芯空白详细规范评定水平A（可供认证用）
GB/T11441-1989通信和电子设备用变压器和电感器铁心片
GB/T11447-1989光学纤维面板测试方法
GB/T11449.1-1989波导法兰盘第一部分:
一般要求
GB/T11449.2-1989波导法兰盘第二部分:
普通矩形波导法兰盘规范
GB/T11449.3-1989波导法兰盘第三部分:
扁矩形波导法兰盘规范
GB/T11449.4-1989波导法兰盘第四部分:
圆形波导法兰盘规范
GB/T11449.5-1989波导法兰盘第六部分:
中等扁矩形波导法兰盘规范
GB/T11449.6-1989波导法兰盘第七部分:
方形波导法兰盘规范
GB/T11450.1-1989空心金属波导第一部分:
一般要求和测量方法
GB/T11450.2-1989空心金属波导第二部分:
普通矩形波导有关规范
GB/T11450.3-1989空心金属波导第三部分:
扁矩形波导有关规范
GB/T11450.4-1989空心金属波导第四部分:
圆形波导有关规范
GB/T11450.5-1989空心金属波导第六部分:
中等扁矩形波导有关规范
GB/T11450.6-1989空心金属波导第七部分:
方形波导有关规范
GB/T11451-1989软波导组件性能
GB/T11452-1989助听器标准的指南
GB/T11453-1989模拟实际工作条件下的助听器性能测量方法
GB/T11454-1989助听器用音频感应回路的磁场强度
GB/T11455-1989不完全佩戴在听者身上的助听设备
GB/T11458.1-1989信息处理用汉字15_16点阵字模集通信子集
GB/T11458.2-1989信息处理用汉字15_16点阵字模数据集通信子集
GB/T11459.1-1989信息处理用汉字24_24点阵字模集通信子集
GB/T11459.2-1989信息处理用汉字24_24点阵字模数据集通信子集
GB/T11460-1989信息处理设备中汉字点阵字模数据的检测方法
GB/T11461-1989频谱分析仪通用技术条件
GB/T11462-1989频谱分析仪测试方法
GB/T11463-1989电子测量仪器可靠性试验
GB/T11464-1989电子测量仪器术语
GB/T11465-1989电子测量仪器热分布图
GB/T11478-1989摄像管总规范（可供认证用）
GB/T11479-1989摄像管空白详细规范（可供认证用）
GB/T11480-1989摄像管测试方法
GB/T11482-1989交流等离子体显示器件总规范（可供认证用）
GB/T11483-1989交流等离子体显示器件测试方法
GB/T11487-1989捷变频脉冲磁控管电性能测试方法
GB/T11490-1989彩色显像管管基尺寸
GB/T11493-1989半导体集成电路外壳空白详细规范
GB/T11496.1-1989彩色显示管用Y30-G1荧光粉
GB/T11496.2-1989彩色显示管用Y30-B1荧光粉
GB/T11496.3-1989彩色显示管用Y30-R1荧光粉
GB/T11497.1-1989半导体集成电路CMOS电路系列和品种54/74HC系列的品种
GB/T11497.2-1989半导体集成电路CMOS电路系列和品种54/74HCT系列的品种
GB/T11498-1989膜集成电路和混合膜集成电路分规范（采用鉴定批准程序）（可供认证用）
GB/T12034-1989信息交换用汉字32_32点阵仿宋体字模集及数据集
GB/T12035-1989信息交换用汉字32_32点阵楷体字模集及数据集
GB/T12036-1989信息交换用汉字32_32点阵黑体字模集及数据集
GB/T12037-1989信息交换用汉字36_36点阵宋体字模集及数据集
GB/T12038-1989信息交换用汉字36_36点阵仿宋体字模集及数据集
GB/T12039-1989信息交换用汉字36_36点阵楷体字模集及数据集
GB/T12040-1989信息交换用汉字36_36点阵黑体字模集及数据集
GB/T12041-1989信息交换用汉字48_48点阵宋体字模集及数据集
GB/T12042-1989信息交换用汉字48_48点阵仿宋体字模集及数据集
GB/T12043-1989信息交换用汉字48_48点阵楷体字模集及数据集
GB/T12044-1989信息交换用汉字48_48点阵黑体字模集及数据集
GB/T12051-1989信息处理用蒙古文24点阵字模集及数据集
GB/T12053-1989光学识别用字母数字字符集第一部分:
OCR-A字符集印刷图象的形状和尺寸
GB/T12054-1989数据处理转义序列的登记规程
GB/T12055-1989信息处理信息交换用的盒式磁带和卡式磁带的标号和文卷结构
GB/T12056-1989数据处理过程计算系统和技术过程之间接口的说明
GB/T12057-1989使用串行二进制数据交换的数据终端设备和数据电路终接设备之间的通用37插针和9插针接口
GB/T12078-1989X射线管总规范（可供认证用）
GB/T12079-1989X射线管光电性能测试方法
GB/T12082-1989气体激光器文字符号
GB/T12083-1989气体激光器电源系列
GB/T12084-1989半导体集成电路TTL电路系列和品种54/74F系列的品种
GB/T12114-1989高频信号发生器通用技术条件
GB/T12115-1989高频信号发生器测试方法
GB/T12116-1989模拟电子电压表通用技术条件
GB/T12117-1989模拟电子电压表测试方法
GB/T12118-1989数据处理词汇21部分:
过程计算机系统和技术过程间的接口
GB/T1526-1989信息处理数据流程图、程序流程图、系统流程图、程序网络图和系统资源图的文件编制符号及约定
GB/T1989-1980信息处理交换用七位编码字符集在9磁道12.7毫米磁带上的表示方法
GB/T249-1989半导体分立器件型号命名方法
GB/T2887-1989计算站场地技术条件
GB/T3430-1989半导体集成电路型号命名方法
GB/T3432.1-1989半导体集成电路TTL电路系列和品种54/74系列的品种
GB/T3432.2-1989半导体集成电路TTL电路系列和品种54/74H系列的品种
GB/T3432.3-1989半导体集成电路TTL电路系列和品种54/74S系列的品种
GB/T3432.4-1989半导体集成电路TTL电路系列和品种54/74LS系列的品种
GB/T4589.1-1989半导体器件分立器件和集成电路总规范（可供认证用）
GB/T813-1989冲击试验用示波器和峰值电压表
GB4943-1995信息技术设备（包括电气事务设备）的安全
GB/T4872-1985办公机器和数据处理设备键盘上控制键定位的原则
GB/T4873-1985信息处理用连续格式纸尺寸和输送孔
GB/T4874-1985直流固定金属化纸介电容器总规范
GB/T4931-1985氦氖激光器系列型谱
GB/T4932-1985二氧化碳激光器系列型谱
GB/T4937-1995半导体器件机械和气候试验方法
GB/T4938-1985半导体分立器件接收和可靠性
GB/T4939-1985普通整流管
GB/T4940-1985普通晶闸管
GB/T4965-1985吸气剂分类及型号命名方法
GB/T4967-1995电子计算器通用技术条件
GB/T5007.1-1985信息交换用汉字24_24点阵字模集
GB/T5007.2-1985信息交换用汉字24_24点阵字模数据集
GB/T5076-1985具有两个轴向引出端的圆柱体元件的尺寸测量
GB/T5077-1985电容器和电阻器的最大外形尺寸
GB/T5078-1985单向引出的电容器和电阻器所需空间的测定方法
GB/T5080.4-1985设备可靠性试验可靠性测定试验的点估计和区间估计方法（指数分布）
GB/T5080.5-1985设备可靠性试验成功率的验证试验方案
GB/T5081-1985电子产品现场工作可靠性、有效性和维修性数据收集指南
GB/T5199.1-1985信息交换用汉字15_16点阵字模集
GB/T5199.2-1985信息交换用汉字15_16点阵数据集
GB/T5261-1994信息处理七位和八位编码字符集用的控制功能
GB/T5271.11-1985数据处理词汇11部分控制器、运算器和输入输出设备
GB/T5271.1-1985数据处理词汇01部分基本术语
GB/T5271.12-1985数据处理词汇12部分数据媒体、存贮器和有关设备
GB/T5271.14-1985数据处理词汇14部分可靠性维修和可用性
GB/T5271.4-1985数据处理词汇04部分数据的组织
GB/T5271.6-1985数据处理词汇06部分数据的准备和处理
GB/T5295-1985光电阴极光谱响应特性系列
GB/T5489-1985印制板制图
GB/T5594.1-1985电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法气密性测试方法
GB/T5594.2-1985电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法杨氏弹性模量、泊松比测试方法
GB/T5594.3-1985电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法平均线膨胀系数测试方法
GB/T5594.4-1985电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法介质损耗角正切值的测试方法
GB/T5594.5-1985电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法体积电阻率测试方法
GB/T5594.6-1985电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法化学稳定性测试方法
GB/T5594.7-1985电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法透液性测定方法
GB/T5594.8-1985电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法显微结构的测定
GB/T5597-1985固体电介质微波复介电常数的测试方法
GB/T5598-1985氧化铍瓷导热系数测定方法
GB/T5729-1994电子设备用固定电阻器第一部分:
总规范
GB/T5730-1985电子设备用固定电阻器第二部分:
分规范:
低功率非线绕固定电阻器（可供认证用）
GB/T5731-1985电子设备用固定电阻器第二部分:
空白详细规范:
低功率非线绕固定电阻器评定水平E（可供认证用）
GB/T5732-1985电子设备用固定电阻器第四部分:
分规范:
功率型固定电阻器（可供认证用）
GB/T5733-1985电子设备用固定电阻器第四部分:
空白详细规范:
功率型固定电阻器评定水平E（可供认证用）
GB/T5734-1985电子设备用固定电阻器第五部分:
分规范:
精密固定电阻器（可供认证用）
GB/T5735-1985电子设备用固定电阻器第五部分:
空白详细规范:
精密固定电阻器评定水平E（可供认证用）
GB/T6107-1985使用串行二进制数据交换的数据终端设备和数据电路终接设备之间的接口
GB4793.1-1995测量、控制和试验室用电气设备的安全要求第1部分:
通用要求
GB/T4144-1984程序设计语言最小BASIC
GB/T4165-1984电子设备用可变电容器的使用导则
GB/T4166-1984电子设备用可变电容器的试验方法
GB/T4210-1984电子设备用机电元件名词术语
GB/T4313-1995信息处理办公机器和打印机用编织打印色带通用技术条件
GB/T4314-1984吸气剂名词术语
GB/T4376-1994半导体集成电路电压调整器系列和品种
GB/T4378-1984半导体集成电路c_6800/c_6809微处理机电路系列和品种
GB/T4379-1984半导体集成电路c_8080/c_8085微处理机电路系列和品种
GB/T4475-1995敏感元器件术语
GB/T4586-1994半导体器件分立器件第8部分:
场效应晶体管
GB/T4587-1994半导体分立器件和集成电路
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