超声波探伤操作工艺规程.docx

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超声波探伤操作工艺规程

超声波探伤操作工艺规程

1. 主题内容与适用范围

1.1 本规程规定了检测人员资格、仪器探头试块、检测范围、方法和质量分级等。

1.2 本规程采用 A 型脉冲反射型超声探伤仪器对钢板、锻件和焊缝进行检测。

1.3 本规程按 JB4730.3-2005 编制，符合《容规》和 GB150-1998 的要求。

1.4 检测工艺卡是本规程的补充，必要时由 III 级人员按合同要求编制，其检测参数规定的

更具体。

2 引用标准

JB4730-2005《承压设备无损检测》

JB/T 7913-1995 《超声波检测用钢制对比试块的制作与校验方法》

JB/T 9214-1999《A 型脉冲反射式超声波探伤系统工作性能 测试方法》

JB/T 10061-1999 《A 型脉冲反射式超声波探伤仪通用技术条件》

JB/T 10062-1999《超声探伤用探头性能测试方法》

JB/T 10063-1999《超声探伤用 1 号标准试块技术条件》 GB150-1998《刚制压力容器》

3 检测人员

3.1 从事承压设备的原材料、零部件和焊接接 头无损检测的人员，应按照 特种设备无 损

检测人员考核与监督管理规则 的要求 取得相应无损检测资格。

3.2 无损检测人员资格级别分为 Ⅲ（高）级、 Ⅱ（中）级和 Ⅰ（初）级。

取得不同无损

检测方法各资格级别的人员，只能从事与 该方法和该资格级别相应的无损检测工作， 并

负相应的技术责任。

1.4 仪器、探头和试块

1.4.1 仪器和探头

现使用仪器为汕头超声仪器厂生产的 CTS-22 和 CTS-26 型仪器以及 CTS-2000 数字超声探

伤仪和武汉科声超声仪器厂生产 KS-1030 数字超声探伤仪及探头。

a 仪器和探头的组合灵敏度：

在达到所检工件最大声程时，其灵敏度余量应≥10dB。

b 衰减器精度：

80 dB 以上连续可调，步进级每档 不大于 2dB 精度为任意相邻 12 dB 误

差在±1dB 以内，最大累计误差不大于 1dB。

c 水平线性：

水平线性误差不大于 1%。

d 垂直线性：

在荧光屏满刻度的 80%范围内呈线性显示，垂直线性误差不大于 5%。

e 探头

（1）晶片面积一般不应大于 5002mm 且任一 边长原则上不大于 25 mm。

（2）单斜探头声束轴线水平偏离角不应大于 2。

，主声束垂直方向不应有明显的双峰。

f 超声探伤仪和探头的系统性能

（1）在达到所探工件的最大检测声程时，其有效灵敏度余量应不小于 10dB

（2）仪器和探头的组合频率与公称频率误差 不得大于 ±10%。

（3）仪器和直探头组合的始脉冲宽度（在基准灵敏度下）对于频率为 5MHz 的探头，宽

度不大于 10 mm。

对于频率为 2.5MHz 的探头，宽度不大于 15mm 。

（4）直探头的远场分辨力应不小于 30dB 斜探头的远场分辨力应不小于 6dB。

1.4.2 试块

a试块应采用与被检工件相同或近似声学性能的材料制成，该材料用直探头检测时，不得

有大于 φ2mm 平底孔当量直径的缺陷。

b 标准试块的其他制造要求应符合 JB/T10063 和 JB/T7913-1995 的规定 。

c 现场检测时，也可采用其他形式的等效试块。

1.5 检测的一般方法

1.5.1 检测复盖率

检测时，探头的每次扫查复盖率应大于探头直径的 15%。

1.5.2 探头的移动速度

探头的扫查速度不应超过 150mm/s。

当采用自动报警装置扫查时，不受此限。

1.5.3 扫查灵敏度

扫查灵敏度通常不低于基准灵敏度。

1.5.4 耦合剂

采用机油、浆糊、甘油和水等透声性好，且不损伤检测表面的耦合剂。

1.5.5 检测面

a 检测面和检测范围的确定原则上应保证检查到工件被检部分的整个体积。

对于钢板和锻

件应检查到整个工件；而对熔接焊缝则应检查到整条焊缝。

b 检测面应经外观检查合格，所有影响超声检测的锈蚀、飞溅和污物都应予以清除，其表

面粗糙度应符合检测要求。

1.6 校准

校准应在基准试块上进行，校准中应使超声主声束垂直对准反射体的轴线，以获得稳定的

和最大的反射信号。

1.6.1 仪器校准

在仪器开始使用时，应对仪器的水平线进行测定，测定方法按 JB/T10061 的规定进行。

在

使用过程中，每隔三个月至少应对仪器的水平线和垂直线性进行一次测定。

1.6.2 探头校准

在探头开始使用时，应对探头进行一次全面的校准。

测定方法按 JB/T10062 的有关规定进

行。

a 斜探头校准

使用前，斜探头至少应进行前沿距离、K 值、主声束偏离、灵敏度余量和分和辨力等的校

准。

使用过程中，每个工作日应校准前沿距离、K 值和主声束偏离。

b 直探头校准

直探头的灵敏度余量和分辨力应每隔一个月检查一次。

1.6.3 仪器和探头系统的复核

a 复核时机

每次检测前均应对扫描线，灵敏度进行复核，遇有下述情况应随时对其进行重新核查：

（1）校准后的探头，耦合剂和仪器调节旋纽发生改变时：

（2）开路电压波动或者检测者怀疑灵敏度有变化时；

（3）连续工作４h 以上时；

（4）工作结束时；

b 扫描量程的复核

如果距离-波幅曲线上任意一点在扫描线上的偏移超过扫描读数的１０％，则扫描量程应予

以修正，并在检测记录中加以说明。

c 距离-波幅曲线的复核

复核时，校核应不少于３点。

如曲线上任何一点幅度下降 2dB 则应对上一次以来所有的检

测结果进行复验；如幅度上升 2dB,则应对所有的记录信号进行重新评定。

1.7 报告存档

按统一表样由Ⅱ级以上人员填写报告，经责任工程师认可。

钢板，锻件报告送委托人转技

术质量部存档；压力容器焊缝检测报告，与其它检测报告一起交技术质量部存档。

资料存

档不少于七年。

2 压力容器钢板超声检测

2.1 检测范围和一般要求

本条适用于板厚为 6～250mm 的钢制压力容器用板的超声检测和缺陷等级评定。

奥氏体钢

板材的超声检测也可以参照本条执行。

2.2 探头选用

探头的选用应按 JB4730-2005 表 1 的规定执行。

2.3 标准试块

2.3.1 用双晶直探头检测壁厚小于或等于 20mm 的钢板时，采用标准试块如 JB4730-2005 图

1 所示 CBI 标准试块。

2.3.2 用单直探头检测板厚大与 20mm 的钢板时，标准试块应符合 JB4730-2005 图 2 和表 2

规定的 CBII 试块。

试块厚度应与被检钢板厚度相近。

2.4 检测灵敏度

2.4.1 板厚小于或等于 20mm 时，用 CBI 试块将工件等厚部位第一次底波高度调整到满刻度

的 50％，再提高 10dB 作为检测灵敏度。

2.4.2 板厚大于 20mm 时，应将 CBII 试块 Φ5 平底孔第一次反射波高调整到满刻度的 50％

作为检测灵敏度。

2.4.3 板厚不小于探头的 3 倍近场区时，也可取钢板无缺陷的完好部位的第一次底波来校准

灵敏度。

其结果应与 2.4.2 条的要求一致。

2.5 检测方法

2.5.1 检测面

JB4730-2005 表 2

试块编号  被检钢板厚度  检测面平底孔的距离 S 试块厚度 T

CBII-1

CBII-2

CBII-3

CBII-4

CBII-5

CBII-6 >20-40

>40-60

>60-100

>100-160

>160-200

>200-250 15

30

50

90

140

190 ≥20

≥40

≥65

≥110

≥170

≥220

可选钢板的任一扎制平面进行检测。

若检测人员认为需要或设计上有要求时，也可对钢板

的上下两扎制平面分别进行检测。

2.5.2 扫查方式

a 探头沿垂直于钢板压延方向，间距为 100mm 的平行线进行扫查。

在钢板坡口预定线两侧

各 50mm（当板厚超过 100mm,以板厚的一半为准）内应作 100%扫查，扫查示意图如 JB4730-

2005 图 3 所示。

b 根据合同，技术协议书或图样的要求，也可进行其它形式的扫查。

2.6 缺陷记录

2.6.1 在检测过程中，发现下列三种情况之一者即作为缺陷：

a 缺陷第一次反射波（F1）波高大于或等于波刻度的 50%,即 F1≥50%者。

b 当底面第一次反射波（B1）波高未达到满刻度，此时，缺陷第一次反射波（F1）波高与

底面第一次反射波（B1）波高之比大于或等于 50%,即 B1＜100%,而 F1/ B1≥50%者。

c 当底面第一次反射波（B1）波高低于满刻度的 50%，即 B1＜50%者。

2.6.2 缺陷的边界或指示长度的测定方法

a 检出缺陷后,应在它的周围继续进行检测，以确定缺陷的延伸。

b 用双晶直探头确定缺陷的边界或指示长度时，探头的移动方向应与探头的声波分割面相

垂直，并使缺陷波下降到检测灵敏度条件下荧光屏满刻度的 25%或使缺陷第一次反射波高

与底面第一次反射波高之比为 50%。

此时，探头中心的移动距离即为缺陷的指示长度，探

头中心点即为缺陷的边界点。

两种方法测得的结果以较严重者为准。

c 用单直探头确定缺陷的边界或指示长度，移动探头，使缺陷波第一次反射波高下降到检

测灵敏度条件下荧光屏满刻度的 25%或使缺陷第一次反射波与底面第一次反射波高之比为

50%。

此时，探头中心移动距离即为缺陷的指示长度，探头中心即为缺陷的边界点，两种

方法测得的结果以较严重者为准。

d 确定 2.6.1c 条缺陷的边界或指示长度时，移动探头，使底面第一次反射波升高到荧光屏

满刻度的 50%。

此时，探头中心移动距离即为缺陷的指示长度，探头中心点即为缺陷的边

界点。

e 当采用第二次缺陷波和第二次底波来评定缺陷时，检测灵敏度应以相应的第二次反射波

来校准。

2.7 缺陷的评定方法

2.7.1 缺陷指示长度的评定方法

一个缺陷按其指示的最大长度作为该缺陷的指示长度。

2.7.2 单个缺陷指示面积的评定规则

a 一个缺陷按其指示的最大面积作为该缺陷的单个指示面积，当其小于 JB4730-2005 表 3 的

规定时，可不作记录。

b 多个缺陷其相邻间距小于 100mm 或间距小于相邻小缺陷的指示长度（取其较大值）时，

其各块缺陷面积之和作为单个缺陷指示面积。

2.7.3 缺陷面积占有率的评定规则

在任一 1m×1m 检测面积内，按缺陷面积所占的百分比来确定。

2.8 钢板缺陷等级评定

2.8.1 钢板缺陷等级划分见 JB4730-2005 表 3。

2.8.2 在坡口预定线两侧各 50mm（板厚大于 100mm 时，以板厚的一半为准）内，缺陷的

指示长度大于或等于 50mm 时，则应评为 V 级。

2.9.3 在检测过程中，检测人员如确认钢板中有白点、裂纹等危害性缺陷存在时，应评为 V

级。

JB4730-2005 表 3

等级单个缺陷指示长度 mm单个缺陷指示面积 cm2在任一 1mX1m 检测面积内存在

的缺陷面积百分比% 以下单个缺陷指示面积不计 cm2

I

II

III

IV <80

<100

<120

<150 <25

<50

<100

<100 ≤3

≤5

≤10

≤10 <9

<15

<25

<25

V 超过 IV 级者

3.压力容器锻件超声检测

本条适用于压力容器用碳素钢和低合金钢锻件的超声检测和缺陷等级评定。

本条不适用于奥氏体钢等粗晶材料的超声检测，也不适用于内外半径之比小于 80%的环形

和筒形锻件的周向横波检测。

3.2 试块

应符合 1.4.2.条的规定。

3.2.1 纵横直探头标准试块

试块应采用 CS1 试块，也可自行加工，其形状和尺寸应按 JB4730-2005 表 4 和 JB4730-2005

图 4 的规定。

JB4730-2005 表 4 纵横直探头采用的标准试块尺寸

L 56 100 150 200

D 50 60 80 80

3.2.2 纵波双晶直探头标准试块

a.工件检测距离小于 45mm 时，应采用纵波双晶直探头标准试块。

b.纵波双晶直探头标准试块的形状和尺寸按 JB4730-2005 图 5 和表 5 的规定。

3.2.3 检测面是曲面时，应采用 CSIII 对比试块来测定由于曲率不同而引起的声能损失，其形

状和尺寸按 JB4730-2005 图 6 所示。

3.3 检测时机

原则上应安排在热处理后，槽、孔、台阶加工前进行。

若热处理后锻件形状不适合超声检

测时，也可在热处理前进行，但在热处理后仍应对锻件进行尽可能完全的检测。

检测面的

表面粗糙度 Ra 为 6.3μm。

3.4 检测方法

锻件一般应进行纵波检测。

对筒形锻件还应增加横波检测，但扫查部位和验收标准应由供

需双方商定。

3.4.1 横波检测应按 JB4730-2005 附录Ⅰ（补充件）的要求进行。

3.4.2 纵波检测

a.原则上应从两个相互垂直的方向进行检测，尽可能地检测到锻件的全体积。

主要检测方

向如 JB4730-2005 图 7 所示。

其它形状的锻件也可参照进行。

b.锻件厚度超过 400mm 时，应从相对两端面进行 100%的扫查。

3.5 检测灵敏度的确定

3.5.1 纵波直探头检测灵敏度的确定

当被检测部位的厚度大于或等于探头的三倍近场区时，原则上可选用底波计算法确定检测

灵敏度。

对由于几何形状所限，不能获得底波或壁厚小于探头的三倍近场区时，可直接采

用 CSI 标准试块确定基准灵敏度。

3.5.2 纵波双晶直探头检测灵敏度的确定

根据需要选择 CSII 试块，并依次测试一组不同检测距离的 Φ3mm 平底孔（至少三个）。

调

节衰减器，使其中最高的回波幅度达到满刻度的 80%。

不改变仪器的参数，测出其它平底

孔回波的最高点，将其标在荧光屏上，连接这些点，即是对应于不同直径平底孔的纵波双

晶直探头的距离-波幅曲线，并以此作为检测灵敏度。

3.5.3 检测灵敏度一般不得低于最大检测距离处的 φ2mm 平底孔当量直径.

3.6 工件材质衰减系数的测定

3.6.1 在工件无缺陷完好区域，选取三处检测面与底面平行且有代表性的部位，调节仪器使

第一次底面回波幅度（B1）为满刻度的 50%，，记录此时衰减器的读数，再调节衰减器，使

第二次底面回波幅度（B2）为满刻度的 50%，两次衰减器读数之差即为（B1-B2）的 dB 差

值。

3.6.2 衰减系数的计算公式为；

（1）衰减系数计算公式 （T＜3N，且满足 n＞3N/T，m=2n）

α=［（Bn-Bm）-6］/2（m-n）T

（2）衰减系数计算公式（T≥3N）

α=［（B1-B2）-6］/2T

式中：

α--衰减系数，dB/m（单程）；

（Bn-Bm）、（B1-B2）-- 两次衰减器的读数之差， dB ；

T--工件检测厚度，mm。

N-- 单直探头近场区长度， mm

m、n--底波反射次数。

3.6.3 工件上三处衰减系数的平均值即作为该工件的衰减系数。

3.7 缺陷当量的确定

3.7.1采用 AVG 曲线及计算法确定缺陷当量。

对于三倍近场区内的缺陷，可采用单直探头

或双晶直探头的距离-波幅曲线来确定缺陷当量。

也可采用其它等效方法来确定。

计算缺陷当量时，当材质衰减系数超过 4dB /m，应考虑修正。

3.8 缺陷记录

3.8.1 记录当量直径超过 φ4mm 的单个缺陷的波幅和位置。

3.8.2 密集性缺陷：

记录密集性缺陷中最大当量缺陷的位置和分布。

饼形锻件应记录大于或

等于 φ4mm 当量直径的缺陷密集区，其它锻件应记录大于或等于 φ3mm 当量直径的缺陷

密集区。

缺陷密集区面积以 50mm×50mm 的方块作为最小量度单位，其边界可由 6dB 法

决定。

应按 JB4730-2005 表 6 要求记录底波降低量。

3.8.3 衰减系数：

若供需双方有规定时，应记录衰减系数。

3.9 缺陷等级评定

3.9.1 单个缺陷的等级评定见 JB4730-2005 表 7。

3.9.2 底波降低量的等级评定见 JB4730-2005 表 6。

3.9.3 密集区缺陷等级评定见 JB4730-2005 表 8。

3.9.4 JB4730-2008 表 6、表 7 和表 8 的等级应作为独立的等级分别使用。

3.9.5 如果被检测人员判定为危险性缺陷时，锻件质量等级应评定为 V 级。

3.9.7 锻件修补后，应按本标准的要求进行检测和评定。

4. 钢制压力容器焊缝超声检测

4.1 检测范围和一般要求

本条规定了焊缝缺陷的超声检测方法及检验结果的等级评定。

本条适用于母材厚度为 8-400mm 全焊透熔化焊对接焊缝和管座角焊缝的超声检测。

本条不

适用于铸钢及奥氏体钢焊缝，外径小于 159mm 的钢管对接焊缝，内径小于或等于 200mm

的管座角焊缝，也不适用于外径小于 250mm 或内外径之比小于 80%的纵向焊缝检测。

4.2 超声检测技术等级

超声检测技术等级分为 A、B、C 三个检测级别。

根据压力容器产品的重要程度进行选用。

（1）原则上 A 级检测适用于承压设备有关的支承件和结构件焊缝检测；A 级用 1 种 K 值探

头；A 级适用于母材厚度≥8mm～46mm；A 级为单面单侧；对横向缺陷的检测，A 级一般

不需检测横向缺陷；

（2）B 级检测适用于一般承压设备对接焊缝检测；B 级用 1 种或 2

种 K 值探头；B 级适用于母材厚度≥8mm～400mm；B 级为单面双侧或双面双侧；B 级应

检测横向缺陷。

（3）C 级检测适用于重要承压设备对接焊缝检测；C 级用 2 种 K 值探头；C 级适用于母材

厚度≥8mm～400mm；C 级为单面双侧或双面双侧；C 级应检测横向缺陷

（4）对焊接接头余高的要求，A 级、B 级不要求将焊接接

头的余高磨平，而 C 级要求磨平。

（5）对扫查区母材的检测，C 级要求用直探头对斜探头扫查经过的母材区域进行检测。

A

级和 B 级则不需要。

4.3 试块

4.3.1 应符合 1.4.2 条的规定。

4.3.2 采用的标准试块为 CSK-ⅠA，CSK-ⅡA、CSK-ⅢA 和 CSK-IVA。

其形状和尺寸应分别符合

JB4730-2005 图 14`图 15、图 16、图 17 和表 17 的规定。

4.3.3 CSK-ⅠA，CSK-ⅡA 和 CSK-ⅢA 试块适用壁厚范围为 6-120mm 的焊缝，CSK-ⅠA 和 CSK-

IVA 系列试块适用于壁厚范围大于 120-400mm 的焊缝。

在满足灵敏度要求时，也可采用其

它形式的等效试块。

4.3.4 检测曲面工件时，如检测面曲率半径 R 小于等于 W2/4（W 为探头接触面宽度，环缝

检测时为探头宽度，纵缝检测时为探头长度），应采用与检测面曲率相同的对比试块。

4.4 检测准备

4.4.1 检测面

a 压力容器检测一般采用 K 值探头，利用一次反射法在焊缝的单面双侧对整个焊接接头进

行检测。

当母材厚度大于 46mm 时，采用双面双侧直射波检测。

对于要求比较高的焊缝，

根据实际需要也可将焊缝余高磨平，直接在焊缝上进行检测。

b 检测区的宽度应是焊缝本身，再加上焊缝两侧各相当于母材厚度 30% 的一段区域，这

个区域最小 5mm 最大为 10 mm，见 JB4730-2005 图 18。

c探头移动区应清除焊接飞溅、铁屑、油垢及其它杂质。

检测表面应平整光滑，便于探头

的自由扫查，起表面粗糙度 Ra 应为 6.3цm，一般应进行打磨。

（1）采用一次反射法或串列式扫查检测时，探头移动区应不小于 1.25P：

P=2TK或

P=2Ttgβ

式中：

P--跨距，mm

T--母材厚度，mm

K--探头 K 值

（2）采用直射法检测时，探头移动区应不小于 0.75P。

d 去除余高的焊缝，应将余高打磨到与邻近母材平齐。

保留余高的焊缝，如果焊缝表面有

咬边，较大的隆起和凹陷等也应进行适当的修磨，并作圆滑过渡，以免影响检验结果的评

定.

4.4.2 探头 K 值（角度）

斜探头的 K 值（角度）选取可参照 JB4730-2005 表 18 的规定。

条件允许时，应尽量采用较

大 K 值探头。

4.4.3 母材的效验

a 方法：

接触式脉冲反射法，采用频率 2-5MHz 的直探头，晶片直径 10-25mm；

b 灵敏度：

将无缺陷处第二次底波调节为荧光屏满刻度的 100%。

c记录：

凡缺陷信号幅度超过荧光屏满刻度 20%的部位，应在工件表面上作出标记，并予

以记录。

4.5 距离-波幅曲线的绘制

4.5.1 距离-波幅曲线按所用探头和仪器在试块上实测的数据绘制而成，该曲线族由评定线、

定量线和判废线组成，评定线和定量线之间（包括评定线）为 I 区，定量线与判废线之间

（包括定量线）为 II 区，判废线及其以上为 III 区。

如 JB4730-2005 图 19 所示。

4.5.2 距离-波幅曲线的灵敏度选择

a 壁厚为 6-120mm 的焊缝，其距离-波幅曲线的灵敏度按 JB4730-2005 表 19 的规定。

b 壁厚大于 120-400mm 的焊缝，其距离-波幅曲线灵敏度按 JB4730-2005 表 20 的规定。

c 检测横向缺陷时，应将各线灵敏度均提高 6dB.

d 检测面曲率半径 R 小于或等于 W2/4 时，距离-波幅曲线的绘制应在曲面对比试块上进行。

e 工件的表面耦合损失和材质衰减应与试块相同。

f 扫查灵敏度不低于最大声程处的评定线灵敏度。

4.6 检测方法

4.6.1 平板对接焊缝的检测

a 为检测纵向缺陷，斜探头应垂直于焊缝中心线放置在检测面上，做锯齿型扫查，见

JB4730-2005 图 20。

探头前后移动的范围应保证扫查到全部焊缝截面，在保持探头垂直焊

缝做前后移动的同时，还应作 10°-15°的左右转动。

不同检测技术等级对纵向缺陷检测

技术的要求见 4.2。

b 不同检测技术等级对横向缺陷检测技术的要求见 4.2。

c 对电渣焊缝还应增加与焊缝中心线成 45°的斜向扫查。

d 为确定缺陷的位置、方向和形状，观察缺陷动态波形和区分缺陷信号或伪缺陷信号，可

采用前后、左右、转角、环绕等四种探头基本扫查方式，见 JB4730-2005 图 21。

4.6.2 曲面工件对接焊缝的检测

a检测面为曲面时，可尽量按平板对接焊缝的检测方法进行检测。

对于受几何形状限制，

无法检测部分应予以记录。

b 纵缝检测时，对比试块的曲率半径与检测面曲率半径之差小于 10％。

（1）根据工件的曲率和材料的厚度选择探头 K 值，并考虑几何临界角的限制，确保声束能扫

查到整个焊缝。

（2）探头接触面修磨后，应注意探头入射点和 K 值的变化，并用曲率试块做实际测定。

（3）当检测面曲率半径 R 大于 W2/4 且采用平面对比试块调节仪器时，应注意到荧光屏指示

的缺陷深度和水平距离与缺陷实际的径向埋藏深度或水平距离弧长的差异，必要时应进行

修正。

c 环缝检测时，对比试块的曲率半径应为检测面曲率半径的 0.9-1.5 倍。

4.6.3 管座角焊缝的检测

a 一般原则

在选择检测面和探头时应考虑到各种类型缺陷的可能性，并使声束尽可能垂直于焊缝结构

中的主要缺陷。

b 检测方式

根据焊缝结构形式，管座焊缝的检测有如下五种探测方式，可选择其中一种或几种方式组

合实施检测。

检测方式的选择应由合同双方商定，并考虑主要检测对象和几何条件的限制。

（JB4730-2005 图 22