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一些常用仪器仪表术语

电子知识

仪器(55)仪表(71)术语(17)

一些常用仪器仪表术语如下:

范围range:

由上、下限所限定的一个量的区间。

注:

"范围"通常加修饰语。

例如:

测量范围,标度范围。

它可适用于被测量或工作条件等。

  测量范围measuringrange按规定准(精)确度进行测量的被测量的范围。

  测量范围下限值measuringrangelowerlimit按规定准(精)确度进行测量的被测量的最小值。

  测量范围上限值measuringrangehigherlimit按规定准(精)确度进行测量的被测量的最大值。

  量程span范围上限值与下限值的代数差。

例如:

范围为-20℃至100℃时,量程为120℃。

  性能特性performancecharacteristic确定仪器仪表功能和能力的有关参数及其定量的表述。

  参比性能特性referenceperformancecharacteristic在参比工作条件下达到的性能特性。

  线性标度linearscale标度中各分格间距与对应的分格值呈常数比例关系的标度。

注:

标度分格间距为常数的线性标度称为规则标度。

  非线性标度nonlinearscale标度中各标度分格间距与对应的分格值呈非常数比例关系的标度。

注:

某些非线性标度有专门的名称,例如对数标度、平方律标度。

  抑零标度suppressed-zeroscale标度范围内不包含与被测量零值相对应的标度值的标度。

例如:

医用温度计的标度。

  扩展标度expandedscale标度范围内,不成比例的扩展部分占了大部分标度长度的标度。

  标度scale构成指示装置一部分的一组有序的标度标记以及所有有关的数字。

  标度范围scalerange由标度始点值和终点值所限度的范围。

  标度标记scalemark指示装置上对应于一个或多个确定的被测量值的标度线或其它标记。

注:

对于数字示值,数字本身等效于标度标记。

IBIS模型是一种基于V/I曲线对I/OBUFFER快速准确建模方法,是反映芯片驱动和接收电气特性一种国际标准,它提供一种标准文件格式来记录如驱动源输出阻抗、上升/下降时间及输入负载等参数,非常适合做振荡和串扰等高频效应计算与仿真。

IBIS本身只是一种文件格式,它说明在一标准IBIS文件中如何记录一个芯片驱动器和接收器不同参数,但并不说明这些被记录参数如何使用,这些参数需要由使用IBIS模型仿真工具来读取。

欲使用IBIS进行实际仿真,需要先完成四件工作:

获取有关芯片驱动器和接收器原始信息源;获取一种将原始数据转换为IBIS格式方法;提供用于仿真可被计算机识别布局布线信息;提供一种能够读取IBIS和布局布线格式并能够进行分析计算软件工具。

IBIS模型优点可以概括为:

在I/O非线性方面能够提供准确模型,同时考虑了封装寄生参数与ESD结构;提供比结构化方法更快仿真速度;可用于系统板级或多板信号完整性分析仿真。

可用IBIS模型分析信号完整性问题包括:

串扰、反射、振荡、上冲、下冲、不匹配阻抗、传输线分析、拓扑结构分析。

IBIS尤其能够对高速振荡和串扰进行准确精细仿真,它可用于检测最坏情况上升时间条件下信号行为及一些用物理测试无法解决情况;模型可以免费从半导体厂商处获取,用户无需对模型付额外开销;兼容工业界广泛仿真平台。

IBIS模型核由一个包含电流、电压和时序方面信息列表组成。

IBIS模型仿真速度比SPICE快很多,而精度只是稍有下降。

非会聚是SPICE模型和仿真器一个问题,而在IBIS仿真中消除了这个问题。

实际上,所有EDA供应商现在都支持IBIS模型,并且它们都很简便易用。

大多数器件IBIS模型均可从互联网上免费获得。

可以在同一个板上仿真几个不同厂商推出器件。

IBIS模型是一种基于V/I曲线对I/OBUFFER快速准确建模方法,是反映芯片驱动和接收电气特性一种国际标准,它提供一种标准文件格式来记录如驱动源输出阻抗、上升/下降时间及输入负载等参数,非常适合做振荡和串扰等高频效应计算与仿真。

IBIS本身只是一种文件格式,它说明在一标准IBIS文件中如何记录一个芯片驱动器和接收器不同参数,但并不说明这些被记录参数如何使用,这些参数需要由使用IBIS模型仿真工具来读取。

欲使用IBIS进行实际仿真,需要先完成四件工作:

获取有关芯片驱动器和接收器原始信息源;获取一种将原始数据转换为IBIS格式方法;提供用于仿真可被计算机识别布局布线信息;提供一种能够读取IBIS和布局布线格式并能够进行分析计算软件工具。

IBIS模型优点可以概括为:

在I/O非线性方面能够提供准确模型,同时考虑了封装寄生参数与ESD结构;提供比结构化方法更快仿真速度;可用于系统板级或多板信号完整性分析仿真。

可用IBIS模型分析信号完整性问题包括:

串扰、反射、振

真。

可用IBIS模型分析信号完整性问题包括:

串扰、反射、振荡、上冲、下冲、不匹配阻抗、传输线分析、拓扑结构分析。

IBIS尤其能够对高速振荡和串扰进行准确精细仿真,它可用于检测最坏情况上升时间条件下信号行为及一些用物理测试无法解决情况;模型可以免费从半导体厂商处获取,用户无需对模型付额外开销;兼容工业界广泛仿真平台。

IBIS模型核由一个包含电流、电压和时序方面信息列表组成。

IBIS模型仿真速度比SPICE快很多,而精度只是稍有下降。

非会聚是SPICE模型和仿真器一个问题,而在IBIS仿真中消除了这个问题。

实际上,所有EDA供应商现在都支持IBIS模型,并且它们都很简便易用。

大多数器件IBIS模型均可从互联网上免费获得。

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