ORT测试规范.docx
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ORT测试规范
ORT测试规
文件编号：
版本：
A0
制订：
2017/发布2017/起实施
一、文件制修记录
（文件制修必须做记录）
版本
修改容
制修人
审核人
批准人
日期
A0
初次发行
2017/3/29
二、文件容评审
（根据适用围确定参与评审的部门，并由负责人签字）
评审领导
签字
评审部门
签字
评审部门
签字
管理者代表
质量管理部
市场开展部
研发中心
制造部
科技部
财务部
办公室
三、文件分发围
（对文件的适用围进展分发并划“√〞电子档的划“e√〞）
围
是否分发
围
是否分发
围
是否分发
研发中心
√
质量管理部
√
市场开展部
财务部
制造部
科技部
办公室
四、文件的归档
（文控中心在下面填写并盖章）
归档确认
受控状态
文件原版存于文控中心，由文控中心负责统一管理。
本文件属中电长城信息平安系统所有，本文件的解释权归制修部门。
文件编号
生效日期
1.目的
建立ORT测试规，确保自主可控产品的信赖性,提升产品品质,满足客户要求。
2.适用围
适用于本公司国产处理器计算机类产品的ORT测试。
3.职责
质量管理部/测试处：
负责样品阶段的ORT测试。
质量管理部/质量处：
监视ORT测试的顺利进展。
研发中心：
针对外包厂实验室测试发现的问题及时分析与改善。
4.引用标准
GB/T2423.1-2008电工电子产品环境试验第2局部:
试验方法试验A:
低温；
GB/T2423.2-2008电工电子产品环境试验第2局部:
试验方法试验B:
高温；
GB/T2423.3-2006电工电子产品环境试验第2局部:
试验方法试验Cab:
恒定湿热方法；
GB/T2423.5-1995电工电子产品环境试验第2局部:
试验方法试验Ea和导那么:
冲击；
GB/T2423.6-1995电工电子产品环境试验第2局部:
试验方法试验Eb和导那么:
碰撞；
GB/T2423.10-2008电工电子产品环境试验第2局部:
试验方法试验Fc：
振动〔正弦〕；
GB17625.1-2012?
电磁兼容限值谐波电流发射限值?
；
GB/T17626.2-2006电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验；
GB9254-2008?
信息技术设备的无线电骚扰限值和测量方法?
；
GB/T6882-2008声学声压法测定噪声源声功率级消声室和半消声室精细法。
5.定义
以下定义适用于本标准
5.1信息技术设备〔informationtechnologyequipment〕
ITE
满足以下a）和b）条件的任何设备；
a）其主要功能为能对数据和电信消息进展录入、存储、显示、检索、传递、处理、交换或控制〔或几种功能的组合〕，该设备可以配置一个或多个通常用于信息传递的终端端口；
b）额定电压不超过600V。
例如，ITE包括数据处理设备、办公设备、电子商用设备、电信设备等。
5.2受试设备（equipmentundertest）
EUT
有代表性的一个ITE或功能上有交互作用的一组ITE〔即系统〕，它包括一个或多个宿主单元，并被用来对ITE进展评定。
5.3危险频率
由于振动导致产品的性能异常或劣化，或产生机械共振和其它响应效应如震颤的频率。
6.工作容
6.1操作指引
6.1.1样机阶段
a.研发提供样机给测试处（具体数量由研发定）。
b.测试处根据测试大纲完成ORT测试。
b.质量处检查测试处测试的结果与测试工程的完整性。
6.1.2量产阶段〔例行检验〕
a.信安质量处要求外包厂质量管理部从正常库存品中随机抽取2台,送至外包厂实验室进展ORT测试。
b.外包厂实验室根据ORT测试规，完成所有测试，输出测试报告给外包厂质量管理部。
c.测试中出现故障或者某项不通过时，应停顿试验，由研发与外包厂工程查明故障原因，提出故障分析报告，重新进展该项试验。
d.外包厂质量管理部提供最终测试报告给信安质量处。
6.1.3特殊阶段〔连续性小批量生产、工艺变更、工厂搬迁等〕
由质量处根据需要，在订单评审中总数量增加2台用于ORT测试（测试流程同6.1.2）。
6.2说明
6.2.1本规中，除气候环境测试、ESD测试外，其它试验在下述正常大气条件下进展。
温度：
15℃~35℃
相对湿度：
45%RH~75%RH
大气压力：
86kPa~106kPa
6.2.2本规中，一般情况测试样品数量为2台〔有特殊情况，根据具体情况定〕
6.2.3做过ORT测试的机器原那么上不能正常出货销售。
6.3测试容
6.3.1平安性测试
测试工程
测试容
测试方法
测试条件
判定标准
安规测试
抗电强度
1.将平安综合测试仪输出的电源线插入被测机器的电源输入插座；
2.接地夹夹在机器机箱上；
3.按测试仪“启动〞键，开场测试；
4.记录测试仪屏幕的显示结果。
V=1500V,T=60sI=10mA
机器在试验过程中，不允许出现打火、飞弧或击穿等不良现象。
接地连续性
I=20A，T=30s
R<0.1Ω
对地漏电流
V=242±12V，T=60s
I<3.5mA
6.3.2电源适应能力
6.3.2.1测试要求
设备在交流电198V~242V，49Hz~51Hz，能正常工作。
6.3.2.2测试步骤
设置测试仪器，使测试仪器的电压及对应的频率分别按下表设置。
电压
频率
220V
50HZ
198V
49HZ
198V
51HZ
242V
49HZ
242V
51HZ
将测试设备，通电依次按照上述电压及频率进展通电运行。
测试结果判定：
设备运行正常，无断电、黑屏、闪烁不良。
6.3.3噪声测试
6.3.3.1测试要求：
距离测试目标50cm,测试仪器与测试目标成30°，测试噪声要求如下表：
台式主机
主机待机状态
主机工作状态
光驱工作状态
测试距离
50cm
50cm
50cm
普通机型噪声限值〔dBA〕
35
42
48
静音机型噪声限值〔dBA〕
32
38
48
6.3.3.2测试步骤
a）将电脑置于安静的环境中，环境要求为≤25dB；
b）将电脑置于平台上，使电脑通电运行，不翻开任何软件，用声级计测试机器运行的噪声值；
c）主机运行压力测试软件〔如，压力测试程序+高清视频〕，用声级计测试机器运行的噪声值；
d）待机状态下，插入光碟，使光驱运行，用声级计测试机器运行的噪声值。
测试结果：
噪声值符合测试要求。
6.3.4电磁兼容〔EMC〕
6.3.4.1静电放电（ESD）测试
6.3.4.1.1测试条件
环境温度：
15℃～35℃
相对湿度：
30%RH～60%RH
大气压力：
86kPa～106kPa
6.3.4.1.2测试等级
ESD试验应符合如下表所示。
接触放电
空气放电
等级
试验电源/kV
等级
试验电源/kV
4
8
4
15
6.3.4.1.3测试过程
〔a〕在对计算机进展ESD测试前，待测设备必须以最敏感的方式〔程序读/写循环〕运行，需要运行测试软件及播放有声文件〔音乐或视频文件〕，以显示待测设备全部工作方式确实地正常执行工作；
备注：
如果在待测设备安装的操作系统〔例如：
Android,Unix等〕下，无常使用测试软件，可播放有声的高清视频文件。
〔b）对计算机可接触的导电外表，螺钉，端口等金属体进展接触放电，分别选择4个以上实验点进展〔每点至少进展50次放电测试，正负极性各25次〕，其中一个实验点承受水平耦合板前缘中心距计算机0.1m处至少50次间接〔接触〕放电。
实验电压±4kV，用尖端接触放电枪头，最大放电重复频率为1次/秒。
实验电压应从最小值逐渐增加至规定的试验值，以确定故障的临界值。
〔c〕对计算机可接触的壳体外表，按键，指示灯，壳体等的缝隙进展空气放电，分别选择3个以上实验点，每点进展至少20次单次放电，正负极性各10次，实验电压±8kV，用圆形空气放电枪头。
实验电压应从最小值逐渐增加至规定的试验值，以确定故障的临界值。
6.3.4.1.4测试结果判定
测试后工作正常，测试过程中允许功能或性能暂时降低或丧失，但能自行恢复，存储数据不应丧失。
举例：
试验过程如果机器出现重启，不能通过测试。
6.3.4.2EMI（电磁干扰）测试
6.3.4.2.1辐射骚扰限值
1〕1GHz以下的限值
B级ITE在测量距离R处〔3m〕的辐射骚扰限值
频率围/MHz
准峰值限值/dB（µV/m）
30～230
40
230～1000
47
备注：
1.在过渡频率〔230MHz〕处应采用较低的限值。
2.当发生干扰时，允许补充其它的规定。
3.产品的RE〔radiationemission〕测试峰值〔peak值〕需满足3dB（µV/m）裕量。
4.当peak值不满足3dB（µV/m）裕量要求时，以测试准峰值〔QP值〕为最终结果判定。
2〕1GHz以上的限值
B级ITE在测量距离R处〔3m〕的辐射骚扰限值
频率围/GHz
平均值/dB（µV/m）
峰值/dB（µV/m）
1～3
50
70
3～6
54
74
备注：
在过渡频率〔3GHz〕处应采用较低的限值。
3）测量频率上限的选择
EUT的最高部源指在EUT部产生或使用的最高频率，或EUT工作或调谐的频率。
如果EUT部源的最高频率低于108MHz，那么测量只进展到1GHz。
如果EUT部源的最高频率在108MHz～500MHz之间，那么测量只进展到2GHz。
如果EUT部源的最高频率在500MHz～1GHz之间，那么测量只进展到5GHz。
如果EUT部源的最高频率高于1GHz，那么测量将进展到最高频率的5倍或6GHz，取两者中的小者。
6.3.4.2.2电源端子骚扰电压限值
B级ITE电源端子传导骚扰限值
频率围/MHz
限值/dB（µV）
准峰值
平均值
0.15～0.50
66～56
56～46
0.50～5
56
46
5～30
60
50
备注：
1.在过渡频率〔0.50MHz和5MHz〕处应采用较低的限值。
2.在0.15～0.50MHz频率围，限值随频率的对数呈线性减小。
6.3.4.2.3电信端口的传导共模骚扰限值
B级电信端口传导共模〔不对称〕骚扰限值
频率围/MHz
电压限值/dB（µV）
电流限值/dB（µA）
准峰值
平均值
准峰值
平均值
0.15～0.50
84～74
74～64
40～30
30～20
0.50～30
74
64
30
20
备注：
1.在0.15～0.50MHz频率围，限值随频率的对数呈线性减小。
2.电流和电压的骚扰限值是使用了规定阻抗的阻抗稳定网络〔ISN〕的条件下导出的，该ISN对于受试的电信端口呈现150Ω的共模〔不对称〕阻抗〔转换因子为20lg150=44dB〕。
6.3.4.2.4谐波电流限值
1〕规定功率不大于600W的设备为D类设备〔个人计算机和个人计算机显示器〕，D类设备的限值如下表所示。
D类设备的限值
谐波次数n
每瓦允许的最大谐波电流mA/W
最大允许谐波电流A
3
3.4
2.30
4
1.9
1.14
7
1.0
0.77
8
0.5
0.40
11
0.35
0.33
13≤n≤39〔仅有奇次谐波〕
3.85/n
0.15*15/n
2〕谐波电流限值测量
对于每一次谐波，规定在每一个DFT〔离散傅里叶变换〕时间窗口测量1.5s的平滑有效谐波电流；
按下表规定的整个观察周期，计算由DFT时间窗口得到的测量值的算术平均值。
在每一个DFT时间窗口测量1.5s的平滑有功输入功率。
在整个试验周期，由DFT时间窗口确定功率的最大测量值。
试验观察期
设备运行类型
观察周期（Tobs）
准稳态
Tobs应有足够的持续时间以满足对重复性的要求
短周期〔Tcycle≤2.5min〕
Tobs≥10周期〔参考法〕或Tobs应有足够的持续时间或同步已满足对重复性的要求。
随机
Tobs具有足够的周期以满足对重复性的要求
长周期〔Tcycle>2.5min〕
全部设备成新的周期〔参考法〕或典型的2.5min制造商认为产生最大THC（最大总谐波电流）的操作周期。
6.3.5上下温、恒定湿热测试
6.3.5.1上下温、恒定湿热测试
测试工程
测试对象
测试方法
测试标准
高温运行
整机
1.测试条件：
40℃，12h
2.步骤：
（1）测试前，检查机器的的外观、电气性能等状况是否正常；
（2）将测试样品放于室温测试箱中，并将测试箱以1℃/min的温变率升至40℃，样品通电运行，保持12H；
（3）时间到达12h时，确认样品是否正常运行。
（4）测试箱以1℃/min的温变率降到25℃，恢复2h，进展最终检查。
高温运行过程无黑屏、死机、报错等异常现象。
最后检查无异常。
高温贮存
整机
1.测试条件：
60℃，48h；
2.步骤：
（1）测试前，检查机器的的外观、电气性能等状况是否正常；
（2）将测试样品放于常温测试箱中，并将测试箱以1℃/min的温变率升至60℃后，保持48H;
（3）然后将室温箱以1℃/min温变率降至25℃，恢复2h,进展最终检查。
根本功能测试无异常。
低温运行
整机
1.测试条件：
0℃，12h；
2.步骤：
（1）测试前，检查机器的的外观、电气性能等状况是否正常；
（2）将测试样品放于室温测试箱中，测试箱以1℃/min的温变率将至0℃，然后样品通电运行，保持12h；
（3）时间到达12h时，确认样品是否运行正常。
（4）然后将室温箱以1℃/min温变率升至25℃，恢复2h，进展最终检查。
无黑屏、死机等现象，系统没有报错，并监控其CPU温度。
低温贮存
整机
1.测试条件：
-40℃，48h；
2.步骤：
（1）测试前，检查机器的的外观、电气性能等状况是否正常；
（2）将处于室温的测试样品放于测试箱中，并将测试箱以1℃/min的温变率降至-40℃，保持48h;
（3）然后将室温箱以1℃/min温变率升至0℃，恢复2h，进展最终检查。
根本功能测试无异常。
恒定湿热运行
整机
1.测试条件：
40℃，80%RH、12h
2.步骤：
〔1〕测试前，检查机器的的外观、电气性能等状况是否正常；
〔2〕将测试样品放于室温测试箱中，并将测试箱温度到达40度，湿度到达80%RH，样品通电运行，保持12h；〔3〕时间到达12h时，确认样品是否正常运行。
〔4〕测试箱降到常温常湿，恢复2h，进展最终检查。
运行过程无黑屏、死机、报错等异常现象。
最后检查无异常。
恒定湿热贮存
整机
1.测试条件：
40℃，80%RH、48h
2.步骤：
（1）测试前，检查机器的的外观、电气性能等状况是否正常；
（2）将测试样品放于常温测试箱中，测试箱温度到达40度，湿度到达80%RH，保持48h;
〔3〕测试箱降到常温常湿，恢复2h，进展最终检查。
根本功能测试无异常。
6.3.6振动测试
6.3.6.1测试条件
测试设备：
扫频振动测试机
样品状态：
整机带包装
6.3.6.2测试方法
通常情况下，振动测试应符合如下表要求。
振动适应性
试验项目
试验容
数值
初始和最后振动响应检查
频率围
Hz
10～55
扫频速度
oct/min
≤1
驱动振幅
mm
0.15
定频耐久检查
驱动振幅
mm
0.75mm（10Hz~25Hz）
0.15（25Hz~58Hz）
持续时间
min
30±1
扫频耐久检查
频率围
Hz
10～55～10
驱动振幅
mm
0．15
扫频速度
oct/min
≤1
循环次数
5
注：
表中驱动振幅为峰值。
受试样品按工作位置固定在振动台上，进展初始测试。
受试样品在不工作状态下，按测试条件规定值，分别对三个互相垂直的轴线方向进展振动。
6.3.6.2.1初始振动响应检查
测试在给定频率围，在一个扫频循环上完成。
测试过程中记录危险频率，一个测试方向上最多不超过4个危险频率。
6.3.6.2.2定频耐久测试
用初始振动响应检查中记录的危险频率进展定频测试，如果两种危险频率同时存在，那么不能只选其中一种。
在测试规定频率围如无明显危险频率，或危险频率超过四个那么不做定频的耐久测试，仅做扫频耐久测试。
6.3.6.2.3扫频耐久测试
按测试条件给定的频率围由低到高，再由高到低，作为一次循环。
按测试条件规定的循环次数进展，已做过定频耐久测试的样品不再做扫频耐久测试。
6.3.6.2.4最后振动响应检查
对于已做过定频耐久测试的受试样品须做此项测试，对于作过扫频耐久测试的样品，可将最后一次扫频测试作为振动响应检查。
本测试须将记录的共振频率与初始振动响应检查记录的共振频率相比拟，假设有明显变化，应对受试样品进展修整，重新进展该项测试。
6.3.6.3测试完成后，进展检查：
a〕无机械损伤，外壳没有破损，断裂等；
b〕插件没有松动、脱落；
c〕机器能正常开机；
d〕机器12小时开机稳定性测试正常。
6.3.7冲击试验
6.3.7.1冲击试验主要用来确定产品在使用和运输过程中承受非屡次重复的机械冲击的能力，以评价其对冲击环境的适应性和构造完好性。
可以作为确定产品构造强度满意设计和质量控制手段。
6.3.7.2试验条件
试验设备：
冲击/碰撞试验机
样品状态：
本试验主要针对非包装样品
冲击试验应符合如下表要求：
冲击适应性
峰值加速度m/s2
脉冲持续时间ms
冲击波形
150
11
半正弦波
6.3.7.3测试方法
6.3.7.3.1受试样品须进展初始测试，安装时要注意重力影响，按表1规定值，在不工作条件下，分别对三个互相垂直的轴线方向进展冲击。
试验后进展最后测试。
6.3.7.3.2初始测试：
在进展冲击试验之前应对试验样机进展外观、功能各方面的测试。
6.3.7.3.3将试验样机按照装配要求装配到试验机台上。
6.3.7.3.4冲击的施加
应对样品的三个互相垂直方向的每一方向连续施加三次冲击，即共18次。
6.3.7.3.5冲击实验完毕后开机对试验样机进展最后测试：
1）试验样机外观是否变形或受损。
2）试验样机部构造是否变形、受损、或脱落。
3）试验样机进展功能和性能测试，记录检查和测试结果，并与试验前数据进展比拟。
6.3.7.3.6结果判定
试验样机最后测试结果正常，那么判定冲击试验通过。
6.3.8碰撞测试
6.3.8.1碰撞试验主要使用于那些在运输过程中和使用过程中可能经受到重复碰撞影响的产品，其目的是确定产品在使用和运输过程中受屡次重复性机械碰撞的适应性及评定其构造完好性。
也可以作为确定产品构造强度满意设计和质量控制的手段。
6.3.8.2试验条件
试验设备：
冲击/碰撞试验机
样品状态：
本试验主要针对非包装样品
碰撞适应性符合如下表要求：
碰撞适应性
峰值加速度m/s2
脉冲持续时间ms
碰撞次数
冲击波形
100
16
1000
半正弦波
6.3.8.3测试方法
6.3.8.3.1受试样品须进展初始测试，安装时要注意重力影响，按上表规定值，在不工作条件下，分别对三个互相垂直的轴线方向进展碰撞，试验后进展最后测试。
6.3.8.3.2初始测试：
在进展碰撞试验之前应对试验样机进展外观、尺寸和功能各方面的测试。
6.3.8.3.3将试验样机按照装配要求装配到试验机台上。
6.3.8.3.4碰撞的施加
应对样品的三个互相垂直方向的每一方向连续施加1000次碰撞。
6.3.8.3.5碰撞实验完毕后开机对试验样机进展最后测试。
1）试验样机外观是否变形或受损。
2）试验样机部构造是否变形、受损、或脱落。
3）试验样机进展功能和性能测试，记录检查和测试结果，并与试验前数据进展比拟。
6.3.8.3.6结果判定
试验样机最后测试结果正常，那么判定碰撞试验通过。
6.3.9跌落测试
6.3.9.1跌落样品的准备：
按照出厂状态将样机包装好，测量样机的重量。
6.3.9.2跌落设备：
跌落测试机
6.3.9.3跌落标准高度
6.3.9.3.1一般情况下，跌落高度按照如下表进展设置：
包装件质量〔kg〕
跌落高度〔mm〕
15
1000
15～30
800
30～40
600
40～45
500
45～50
400
>50
300
6.3.9.3.2跌落要求：
分别对包装件的一个角及构成角的三个棱和六个面进展跌落测试〔对于不可倒置的产品，对其底面进展连续五次的跌落测试〕。
6.3.9.4跌落测试步骤：
6.3.9.4.1提起测试样品至所需的跌落高度位置，并按预定状态将其支撑住。
其直起高度与预定高度之差不得超过预定高度的±2%。
跌落高度是指准备释放时测试样品是最低点与冲击台面之间的距离。
6.3.9.4.2按以下预定状态，释放测试样品：
a〕面跌落时，使测试样品的跌落面与水平面之间的夹角最大不超过2°；
b〕棱跌落时，使跌落的棱与水平南之间的夹角最大不超过2°，测试样品上规定面与冲击台面夹角的误差不大于±5°或夹角的10%〔以较大数值为准〕，使测试样品的重力线通过被跌落的棱；
c〕角跌落时，测试样品上规定面与冲击台面的夹角误差不大于5或此夹角的10%〔以较大数值为准〕，使测试样品的重力线通过被跌落的角；
d〕无论何种状态和形状的测试样品，都应使测试样品的重力线通过被跌落的面、线、点。
6.3.9.5跌落测试完成后，测试纸箱：
1〕纸箱不应开胶、裂损。
2〕箱钉不能脱落或断折。
3〕纸箱装物品的机械性能和电气性能均应正常。
4〕纸箱、机箱标签完好无损。
7.相关记录QR824-09?
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