SEA1000S简易操作手册简体中文.docx
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SEA1000S简易操作手册简体中文
SEA1000S
台式荧光X射线分析仪器有害物质测定简易手册
第2版
DocumentNo.0603-250-003CS2004年10月本册的内容中有未经通知进行更改之处
精工电子纳米科技有限公司
1.分析条件的区别使用
2.分析线的设定
以下是对于各有害物质的分析线的推荐。
3.测定上的注意点
①在测定塑料样品时的注意点
●建议使用的样品厚度在0.5mm以上,面积在φ5mm以上。
建议多集中些小的样品并将样品重叠或排列之后进行测定。
●在测量线状（圆柱形的样品时,请将样品竖着放在测量范围的中央,而且尽可能将样品的底部保持平坦来放置。
●在样品中含有砷（As场合就算不含有铅,由于砷的影响会被误测定。
另外在同时含有砷和铅的场合铅的值会被较多地测定出来。
②在测定电线或接头等含有金属的塑料样品时的注意点
●请将含塑料多的部分朝下放置。
●如果定量结果超过基准值的时,请将金属部分除去再测定一次。
③在测定金属样品（不包括Al·Mg合金时的注意点
●在测定金属中的管理元素时,请使用「块体FP法（metal.bfp」。
●有必要将镀层和表面处理层除去之后对原材料部分进行测定。
④在测定Al·Mg合金样品时的注意点
●在测定Al合金及Mg合金的样品时请使用「块体标准曲线法」。
●定量值的信赖性要比塑料差。
●有必要将镀层和表面处理层除去之后对原材料部分进行测定。
⑤在处理管理元素的测定结果比管理值高时的例子
●请测定同一批的样品,确认是否出现相同程度的结果。
●请确认在能谱中是否明显地出现管理元素的波峰。
●请确认标准物质的测定是否正确。
●在进行塑料分析时通过能谱确认是否含有大量的金属。
●将测定所得到的能谱保存在电脑中,请将样品以ICP进行分析。
⑥其他
●测量小样品时,荧光X射线较弱所以造成测量值的偏差变大。
为了避免此种误差,尽可能将样品大量集中来测量,这样的话,可以提高测量精度。
●请从测量结果确认理论统计变动值（1σ。
如果这个值太大的话,请延长测量时间。
测量时间增加4倍的话,测量值的偏差将减少一半。
●测量金属产品时,请使用FP法。
◆电镀样品也以块体来测量,所以只能做为是否存在的判定,定量值并非绝对正确。
◆含有大量的Fe少量的Cr的情况,对于Cr的是否存在的判定的精度会变差。
◆含有大量的Sn少量的Cd的情况,对于Cd的是否存在的判定的精度会变差。
●金属样品、玻璃样品等除了以塑料为原材料以外的样品的定量依赖性比塑料差。
●关于六价铬和PBB·PBDB
◆通过荧光X射线装置得到的测定值是作为金属的Cd、Pb、Hg、Br、Cr的重量比。
◆测定得到的Cr的测定值不等于六价铬的量
◆测定得到的Br的值不等于PBB和PBDB的量
●如果样品中含有Sn时、由于受到ComptonScattering的影响,所以会降低Cd的定量结果的信赖性。
4.测定前的准备·结束
①启动装置
请按照以下的程序启动装置。
②装置校正
画面上出现了以下的通知之后请将装置校正用的样品放入样品室进行测定。
关于操作请根据「6.
※校正正常完成之后,校正日会被自动更新。
另外到了下次更新日时会再度出现通知。
③标准曲线的确认和更新
建议1星期确认1次标准曲线。
校正结束后请确认标准曲线。
关于操作请根据「7.标准曲线的确认和更新」的程序进行。
④装置的结束操作
⑤清洁底面风扇的过滤网
请定期（建议1000小时清洁底面风扇的过滤网。
关于程序请参考SEA1000A仪器使用说明书内的「4.3.1底面风扇过滤网的清洁」。
5.根据常规进行样品测定的程序
5-2.根据块体标准曲线进行样品测定的程序
5-3.根据块体FP进行样品测定的程序
O
6.装置的校正
按照以下的程序进行强度校正、能量校正、FWHM校正、照射径校正。
①强度校正（1次/周
※上述的校正结果出现异常时,请确认校正样品是否正确。
测定没有错误时,请重新启动测定系统,等待15分钟之后再次进行校正。
如果测量结果还没有改善的场合请与最近的销售处联系。
7.标准曲线的确认和更改
⏹目的:
校正仪器由于环境的变化而引起的状态变动。
⏹频率:
1次/周
⏹
8.管理值的登记和更改
9.在常规测定程序下的能谱保存
10.在块体标准曲线程序下的能谱输入
5在常规程序中保存每一个能谱时选择指定好的文件夹，按下要选择的能谱。
相同能谱的名称有几个（2~4个）请选择其中任何一个,同时所有的能谱将会被输入。
※以下是能谱的文件名的例子。
Test.15PTest.50P2Test.50P3按下再计算的Icon（会出现再计算的结果）。
※输出报告时等出现计算结果后，在画面上调整能谱的大小之后按下输出报告的Icon。
结束时，按下LotEnd键。
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