电力电缆及附件抽检作业指导.docx

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电力电缆及附件抽检作业指导

1、额定电压10kV交联聚乙烯绝缘电力电缆抽检

检验项目

标准要求

检验器具

检验方法

检测结果

备注

（照片或相关文件）

绝缘厚度测量

电缆绝缘最薄点厚度≥标称值90%-0.1mm，偏心度≤8%

GB/T12706.2—2008：

17.5.2或依据业主技术协议要求。

投影仪、测量显微镜

试样制备：

1.从样品切取一试验薄片试件用于测量平均厚度和最薄点厚度；

2.用锋利刀具从样段上沿着与试样导体线芯轴线垂直的平面切取薄片一个；

测试步骤：

1.每一试片都必须进行焦距调节，使其处于最佳清晰状态；

2.找出试片厚度的最薄点作为第一个测量点；

3.每个试片测量6点，沿试片芯痕凹槽处圆周尽可能等距离测量6点。

试验结果的计算：

在电缆离端头25cm取1个试件测得6个数值的平均值（用mm表示），应计算到小数点后2位，取该值为厚度的平均值；

GB/T2951.11-2008

（1）环境温度：

℃，相对湿度：

%

试验选用仪器：

（2）绝缘最薄点厚度：

mm

偏心度：

%

结论：

符合□不符合□

非金属护套厚度测量

1、非铠装和护套不直接包覆铠装、金属屏蔽或同心导体上的电缆，护套最薄点测量值≥标称值的85%-0.1mm；2、直接包覆在铠装、金属屏蔽或同心导体上的护套，其最小测量值应≥标称值的80%-0.2mm.隔离套最薄点厚度应≥标称值的80%-0.2mm

GB/T12706.2—2008：

17.5.3

投影仪、测量显微镜

（1）环境温度：

℃，相对湿度：

%

试验选用仪器：

（2）护套最薄点厚度：

mm

隔离套最薄点厚度：

mm

结论：

符合□不符合□

电缆结构检查（导体检查、铠装金属丝和金属带的测量、外径测量）

导体根数不少于规定值。

铠装金属带、圆金属丝、扁金属丝尺寸低于标称尺寸的量值分别应不超过10%、5%、8%。

外径尺寸不考核。

铠装钢带包带间隙应不大于钢带宽度的50%。

铜带屏蔽搭盖率最小5%，铜带最小厚度应不小于标称值的90%。

GB/T12706.2—2008：

17.5，17.7

千分尺、游标卡尺

1.导体检查应采用适当的检验及测量方法来检查导体结构是否符合GB/T3956要求。

2.导体结构

2.1截面积为800ｍｍ2以下的导体采用符合GB/T3956的第2种紧压绞合圆形结构。

2.2截面积为800ｍｍ2以上的导体采用分割导体结构；800ｍｍ2的导体可以采用紧压绞合圆形结构，也可以采用分割导体结构。

2.3铜分割导体中的单线应不少于170根。

2.4各种绞合导体不允许整芯或整股焊接。

绞合导体中的单线允许焊接，但在同一层内,相邻两个接头之间的距离应不小于300ｍｍ。

3导体表面应光洁、无油污、无损伤屏蔽及绝缘的毛刺、锐边以及凸起或断裂的单线。

4铜丝屏蔽应由同心疏绕的软铜线组成，铜丝屏蔽层的表面上应有铜丝或铜带反向扎紧，相邻屏蔽铜丝的平均间隙G应不大于4ｍｍ。

G由下式定义：

G=[π（D+d）-nd]/n式中：

D——铜丝屏蔽下的缆芯直径，ｍｍ；d——铜丝的直径，ｍｍ；n——铜丝的根数。

铜丝屏蔽的截面积应能满足短路容量的要求。

适用时，铜丝屏蔽的电阻测量值应符合GB/T3956规定；或者不大于制造厂标称值（当铜丝屏蔽的）截面积与GB/T3956推荐的系列截面积不同时）。

5金属套屏蔽电缆采用铅套或铝套时，金属套可作为金属屏蔽。

如铅套或铝套的厚度不能满足用户对短路容量的要求时，应采取增加金属套厚度或增加铜丝屏蔽的措施。

GB/T12706.2—2008

（1）环境温度：

℃

相对湿度：

%

试验选用仪器：

仪器编号：

（2）

导体根数：

根

铠装层：

——层数：

层

——厚度：

mm

——包带间隙/钢带宽度：

%

铜带屏蔽：

——搭盖率：

%

——厚度：

mm

结论：

符合□不符合□

局部放电试验

在1.73U0下无超过声明灵敏度（5pC或更优）的可测放电

GB/T12706.2—2008：

18.1.4.

局部放电检测仪、串联谐振试验系统

1试样制备

1.1应按产品标准规定取短电缆试样。

1.2应仔细制作试验用电缆终端，以避免因终端产生的局部放电。

（1）环境温度：

℃

相对湿度：

%

2试验程序

2.1短电缆试验

2.1.1条件

短电缆可认为与集中电容相似，对短电缆长度上的限制取决于所采用的试验回路，其实际数值可从GB/T3048.12中附录B的双脉冲曲线图确定，并定义为lk。

当电缆两端连接在一起时，长度直至2lk也属于短电缆。

2.1.2灵敏度检验

校准器应并联于试样远离测试仪器的一端，由注入校准电量qcal和对应测出的偏转值a2，可计算出刻度系数k2（pC/mm）（k2=qcal/a2）和灵敏度qmin（pC）。

qmin=2k2hn

式中：

hn——背景干扰偏转值，单位为毫米（mm）

2.1.3试验步骤

只需在试样的一端进行测量，用测得的偏转值A（mm）计算出放电量q（pC），即：

q=k2A

3注意事项

3.1电缆终端的局部放电影响电缆本体局部放电测量准确度时，可采用任何合适方法加以消除。

3.2测量前试样应先经过工频交流耐受电压试验（在试样上施加试验时所需的最高测试电压有效值，试样不应有任何异常现象），以免在进行局部放电试验发生击穿或闪络，损坏局部放点检测仪。

3.3为了获取理想的双脉冲图，应选用具有a响应宽频带的局部放点检测仪。

4试验记录

4.1试验类型；

4.2试样编号、试样型号、规格、长度；

4.3试验日期、大气条件、试验时试样的温度；

4.4试验回路、测试仪器信号、测试时的相关技术参数；

4.5回路灵敏度校验和背景干扰值；

4.6施加的试验电压的数值和局部放电量；

4.7试验中的异常现象、处理和判断；

4.8必要时的双脉冲图；

4.9试验设备及其校准有效期；

GB/T3048.12-2007

试验选用仪器：

仪器编号：

（2）

试验电压：

kV

背景噪声：

pC

局部放电量：

A相pC

B相pC

C相pC

结论：

符合□不符合□

电压试验

在3.5U0下，持续5min

不击穿

GB/T12706.2—2008：

18.1.8.

高压测试系统

1试样制备

1.1试样的数量和长度应符合产品标准规定；

1.2试样终端部分的长度和终端头的制备方法应能保证在规定的实验电压下不发生沿其表面闪络放电或内部击穿。

2试验程序

2.1试验方式，试样耐压试验的试验电压值和耐受电压时间按产品标准规定。

2.2试验电压应施加在导体和金属屏蔽/金属套间逐渐地升到规定值。

2.3试验要求

2.3.1除非产品标准另有规定，试验应在（20±15）℃温度下进行。

试验时，试样的温度与周围环境温度之差应不超过±3℃。

2.3.2对试样施加电压时，应当从足够低的数值（不应超过产品标准所规定试验电压值的40%）开始，以防止操作瞬变过程而引起的过电压影响；然后应缓慢地升高电压，以便能在仪表上准确读数，但也不能升得太慢，以免造成在接近试验电压时耐压时间过长。

2.3.3保持试验电压至规定时间后，降低电压至试验电压值的40%，然后再切断电源。

”

3试验结果及评定

3.1试样在施加所规定的试验电压和持续时间内无任何击穿现象，则可认为该试样通过耐受工频电压试验。

3.2试验中如发生异常现象，应判断是否属于“假击穿”。

假击穿现象应予排除，并重新试验。

只有当试样不可能再次耐受相同电压值的试验时，则应认为试样已击穿。

3.3如果在试验过程，试样的试验终端发生沿其表面闪络放电或内部击穿，允许另做试验终端，并重复进行试验。

GB/T3048.8-2007

（1）环境温度：

℃

相对湿度：

%

试验选用仪器：

仪器编号：

（2）

试验电压：

kV

试验时间：

h

A相试验是否通过：

B相试验是否通过：

C相试验是否通过：

不通过时，记录异常情况

结论：

符合□不符合□

弯曲试验及随后的局部放电试验

[弯曲直径：

15（D+d）±5%]正反弯曲三次，随后的局部放电试验放电量（1.73U0下）不超过声明灵敏度（5pC或更优）的可测放电

GB/T12706.2—2008：

18.1.4.

局部放电检测仪、串联谐振试验系统、电缆弯曲试验机

1弯曲试验

电缆试样应在环境温度下围绕试验用圆柱体（例如电缆盘的筒体）弯曲至少一整圈，然后展直，再在反方向弯曲一整圈，如此作为一个循环。

这样的弯曲循环共应进行三次试验用圆柱体直径应不大于——36（+D）+5%,平铝套电缆；——25（+D）+5%,铅、铅合金、皱纹金属套或金属塑料复合护层电缆；——20（+D）+5%,其他电缆，这里——导体标称直径，mm；D——电缆标称直径，mm。

2、弯曲试验结束后，电缆应立即进行局部放电试验并应符合GB/T12706.2-2008:

18.1.4要求，试验方法参考第3页局放试验方法。

GB/T3048.8，12—2007

（1）环境温度：

℃，相对湿度：

%

试验选用仪器：

仪器编号：

（2）弯曲直径：

mm，正反弯曲次数：

次

（3）试验电压：

kV，背景噪声：

pC

局部放电量：

A相pC，B相pC

C相pC

结论：

符合□不符合□

导体电阻

测量值应按GB/T3956给出的公式和系数校正到温度为20℃，长度为1km的数值，所得计算值应不超过GB/T3956规定的相应的最大值

GB/T12706.2—2008：

16.2

双臂直流电桥、通用导体电阻夹具

测试要点：

1、试样在接入测量系统前，预先清洁其连接部位的导体表面，去除附着物、污垢，连接处表面的氧化层应尽除尽；

2、在试验环境中放置足够长时间最好在密封性好的房间，选择一支精密温度计和一支数字式温湿度计。

两温度计离夹具和试样不超过0.5米，且两者基本在同一高度；

3、对各测量关键配套标准电阻、直流稳流器和检流计等作好功能性检查；

4、施加电流应不大于1.0A/mm2，正反各测量一次。

试验环境要求：

1、在试验环境中放置足够长时间；

2、最好在密封性好的房间，温度：

15-35℃，湿度不大于85%；

3、准备两支精密玻璃温度计和点温计（观察施加电流后导体的温升）。

GB/T3048.4-2007

（1）环境温度：

℃

相对湿度：

%

试验选用仪器：

仪器编号：

（2）

导体直流电阻（20℃）：

A相Ω/km

B相Ω/km

C相Ω/km

结论：

符合□不符合□

tgδ测量

将导体加热达到95℃至100℃之间的一个稳定温度，在2KV下，tgδ测量值应不大于0.0080

GB/T12706.2—2008：

18.1.2

高压电桥、串联谐振试验系统、标准电容器

1试样制备

1.1应按产品标准规定选取试样的长度，但不得小于4m。

1.2试样终端部分的长度和终端的制备方法，应能保证在规定的最高测试电压下不发生沿其表面闪络放电或内部击穿。

1.3被测试样的端部切开保护环，并将保护环接地。

1.4试样测量极对地应具有一定电阻值。

1.5交联聚乙烯绝缘电力电缆可采用脱离子水终。

这时终端制备（包括开保护环）应按其技术说明书的规定进行。

2试验程序

2.1除产品标准中另有规定外，应按下列方式接线：

2.1.1单芯电缆，应将导体接高压端，金属套、屏蔽或附加电极接测量极；

2.1.2分相铅套电缆，应依次将每一线芯接高压端，其他线芯相互连接并与金属套、屏蔽一起接至测量极；

2.1.3多芯电缆，应依次将每一线芯接高压端，其他线芯相互连接并接至测量极；或每一线芯接高压极，其他线芯相互连接并与金属套、屏蔽一起接至测量极。

2.2除产品标准另有规定外，试验一般均应在（20±15）℃的环境温度下进行。

试样的温度与周围环境温度之差应不超过±3℃。

2.3按产品标准要求在规定的试验温度下测量tanδ值时，可采用各种方法测量试样温度，但测量值与标准规定之差不超过±3℃。

2.4测量时应从较低值（不应超过产品所规定的测试电压值的40%）开始将电压缓慢平稳地升至规定的试验电压（电压偏差应不超过规定值的±3%），然后进行电桥平衡（检流计灵敏度应从最低值开始）。

测量结束后，将检流计灵敏度调至最低值，并应迅速降压至低于所规定的试验电压的40%，然后在切断电源。

3试验结果及计算

3.1按试验所采用测量电桥的型式，直接读数或计算试样的tanδ值。

3.2按试验所采用测量电桥的型式，直接读数或计算试样的电容值。

GB/T3048.11-2007

（1）环境温度：

℃

相对湿度：

%

试验选用仪器：

仪器编号：

（2）

导体温度：

℃

试验电压：

kV

tanδ：

A相

B相

C相

结论：

符合□不符合□

热循环试验及随后的局部放电试验

加热循环20次后，随后的局部放电试验：

1.73U0下，无超过声明试验灵敏度（5pC或更优）的可检测到的放电。

GB/T12706.2—2008：

18.1.4

局部放电检测仪、串联谐振试验系统、热循环试验系统

1、热循环试验

应按11.3.4规定的弯曲直径将试样变成U形。

试样应加热至导体达到95℃至100℃之间的一个稳定温度。

加热应至少8ｈ。

在每个加热期内,导体温度应保持在限定的温度范围内至少2ｈ。

随后应自然冷却至少3h，使导体温度不超过环境温度10K。

加热和冷却循环应进行20次。

2、热循环试验结束后，电缆应立即进行局部放电试验，试验方法参考第3页局放试验方法。

GB/T3048.12-2007

（1）环境温度：

℃，相对湿度：

%

试验选用仪器：

仪器编号：

（2）热循环试验：

导体温度：

℃

循环次数：

次

（3）局部放电试验：

试验电压：

kV

背景噪声：

pC

局部放电量：

A相pC，B相pC

C相pC

结论：

符合□不符合□

冲击电压试验及随后的工频电压试验

冲击电压试验（95～100℃,

依据电缆电压等级确定施加电压,正负极性各10次）不击穿、随后工频电压试验（依据电缆电压等级确定施加电压,15min,室温）不击穿。

GB/T12706.2—2008：

18.1.7

冲击电压发生器成套设备

1试样制备

2试验程序

2.1接线方式，对电力电缆绝缘型护套和电缆附件试样进行试验时，试样的所有线芯都应与金属套（屏蔽）和铠装（若有）相连接并与冲击电压发生器输出端，而附加特殊电极（如水槽或石墨涂层）接地。

2.2冲击电压发生器的校准。

通常对每个试样都要校核冲击波形。

但是具有相同设计和相同尺寸的电缆试样，在同一条件下作试验，只需校核一次。

2.3耐受水平冲击电压试验。

2.3.1在试样处于相应产品标准规定的试验压力和温度条件下，连续施加10次正极性相应规定的耐受冲击电压值。

2.3.2在施加10次正极性相应规定值的耐受冲击电压后，立即按2.2规定进行负极性冲击电压值和波形的校准，然后在试样上连续施加10次负极性相同规定值的耐受冲击电压值。

2.3.3在连续施加正和负极性相应规定的耐受冲击电压值时，至少应分别摄录第1次和第10次冲击电压示波图。

3试验结果及评定

最后一次冲击电压波形图无畸变或未呈现截波，通过试验。

GB/T3048.13-2007；GB/T3048.8-2007

（1）环境温度：

℃，相对湿度：

%

试验选用仪器：

仪器编号：

（2）冲击电压试验：

导体温度：

℃

试验电压：

kV，试验波形：

A相试验是否通过：

B相试验是否通过：

B相试验是否通过：

（3）工频电压试验：

导体温度：

℃

试验电压：

kV，试验时间：

h

A相试验是否通过：

B相试验是否通过：

B相试验是否通过：

结论：

符合□不符合□

半导电屏蔽电阻率

（90±2）℃下，老化前和老化后的电阻率应不超过：

导体屏蔽，1000Ω·m，绝缘屏蔽，500Ω·m

GB/T12706.2—2008：

18.1.9

电缆半导电屏蔽层电阻测试仪、电热鼓风干燥箱

1试样制备

每个试样应从一段150ｍｍ长的成品电缆试样上制备。

应将电缆绝缘芯样品沿纵向对半切开，将导体以及隔离层（如果有）除去即制成导体屏蔽试样。

应将电缆绝缘芯外所有包覆层除去即制成绝缘屏蔽试样。

2试验步骤应将四只涂银电极Ａ，Ｂ，Ｃ和Ｄ置于半导电层表面。

两个电位电极Ｂ和Ｃ应间距50ｍｍ,而两个电流电极Ａ,Ｄ应分别放在电位电极外侧间隔至少25ｍｍ。

应采用合适的夹子连接电极。

在连接导体屏蔽电极时，应确保夹子与试样表面的绝缘屏蔽层相互绝缘。

连接好的试样应放入已预热到规定温度的烘箱中，在至少30ｍin后测量电极间电阻，测试线路的功率应不超过100ｍＷ。

测量电阻后，应在环境温度下，测量图B1b所示试样导体屏蔽和绝缘的外径及导体屏蔽层和绝缘屏蔽层的厚度。

每项测量6个数值，然后取其平均值。

（1）环境温度：

℃

相对湿度：

%

试验选用仪器：

仪器编号：

B3试验结构的计算

B3.1导体屏蔽电阻率应按下式计算：

式中：

ρc——体积电阻率，Ω·ｍ；Rc——电阻测量值，Ω；Lc——电位电极间距离，ｍ；Dc——导体屏蔽的外径，ｍ；Tc——导体屏蔽层平均厚度，ｍ。

B3.2绝缘屏蔽电阻率应按下式计算：

式中：

ρi——体积电阻率，Ω·ｍ；Ri——电阻测量值，Ω；Li——电位电极间距离，ｍ；Di——导体屏蔽的外径，ｍ；Ti——导体屏蔽层平均厚度，ｍ

GB/T11017.1—2002附录B

（2）

老化前：

——导体屏蔽电阻率：

Ω·m

——绝缘屏蔽电阻率：

Ω·m

老化后：

——导体屏蔽电阻率：

Ω·m

——绝缘屏蔽电阻率：

Ω·m

结论：

符合□不符合□

绝缘老化前后机械性能试验

老化前抗张强度不小于12.5N/mm2，老化前断裂伸长率不小于200%，老化前后抗张强度及断裂伸长率的变化率均不超过±25%

GB/T12706.2—2008：

19.3.4

拉力试验机、指针式测厚仪、自然通风热老化试验箱

老化前，按要求进行各种老化用的试样各至少5个，试样应在一段样品连续取，先取前再取后，并标上记号，试样不能有机械损伤。

（尽可能使用哑铃试件，试件厚度为不小于0.8mm，不大于2.0mm，如不能获得0.8mm的厚度，允许最小厚度为0.6mm，宽度为4mm。

只有当绝缘线芯尺寸不能制备哑铃试件时才使用管状试件，所有试件要除去隔离层）在测量截面积前，所有的试样应避免阳光的直射，并在23±5℃温度下存放至少3h，但热塑性绝缘材料试样的存放温度为23±2℃）。

拉力试验应在23±5℃温度下进行。

对热塑性绝缘材料有疑问时试验应23±2℃温度进行。

试验期间测量并记录最大拉力。

是时在同一试件上测量断裂时，两个标记线之间的距离。

分别计算出抗张强度和断裂伸长率。

GB/T2951.11，12-2008

（1）环境温度：

℃

相对湿度：

%

试验选用仪器：

仪器编号：

（2）

绝缘老化前抗张强度：

N/mm2

绝缘老化前断裂伸长率：

%

绝缘老化前后抗张强度变化率：

%

绝缘老化前后断裂伸长率变化率：

%

结论：

符合□不符合□

非金属护套老化前后机械性能试验

非金属护套有ST1、ST2、ST3、ST7、SE1五种混合料，以最常见的ST2举例：

老化前和老化后的抗张强度均不小于12.5N/mm2，老化前和老化后的断裂伸长率均不小于150%，老化前后抗张强度及断裂伸长率的变化率均不超过±25%

拉力试验机、指针式测厚仪、自然通风热老化试验箱

取3个试样（尽可能使用哑铃试件，试件厚度为1.0±0.2mm，宽度为4mm。

只有当绝缘线芯尺寸不能制备哑铃试件时才使用管状试件，所有试件要除去隔离层）。

在环境温度下的干燥器中存放至少20h后取出立即称重，然后放入温度为100±2℃的老化试验箱中保存168h，热处理完毕后试件再重新放入环境温度下的干燥器中存放至少20h后取出再次称重。

检验结果为其质（重）量之差除以表面积。

GB/T2951.32-2008

（1）环境温度：

℃

相对湿度：

%

试验选用仪器：

仪器编号：

（2）

护套老化前抗张强度：

N/mm2

GB/T12706.2—2008：

19.4.4

护套老化前断裂伸长率：

%

护套老化后抗张强度：

N/mm2

护套老化后断裂伸长率：

%

护套老化前后抗张强度变化率：

%

护套老化前后断裂伸长率变化率：

%

结论：

符合□不符合□

成品电缆段相容性老化试验

100℃、7×24h相容性老化后

的性能老化前后抗张强度及断裂伸长率的变化率均不超过±25%

GB/T12706.2—2008：

19.5.4

拉力试验机、指针式测厚仪、自然通风热老化试验箱

（1）环境温度：

℃

相对湿度：

%

试验选用仪器：

仪器编号：

（2）

绝缘老化前后抗张强度变化率：

%

绝缘老化前后断裂伸长率变化率：

%

护套老化后抗张强度：

N/mm2

护套老化后断裂伸长率：

%

护套老化前后抗张强度变化率：

%

护套老化前后断裂伸长率变化率：

%

结论：

符合□不符合□

ST2型PVC护套失重试验

（100℃、168h）老化后，最大允许失重量为1.5mg/cm2

GB/T12706.2—2008：

19.6.2

分析天平、指针式测厚仪、自然通风热老化试验箱

（1）环境温度：

℃

相对湿度：

%

试验选用仪器：

仪器编号：

（2）

处理温度：

℃

处理时间：

h

失重量：

mg/cm2

结论：

符合□不符合□

护套高温压力试验

对ST1、ST2、和ST7护套，压痕深度不超过试样平均厚度的50%

GB/T12706.2—2008：

19.7.2

高温压力测试仪、电热干燥箱、投影仪

试样制备：

对每个被试样品，从每个长度为250至500mm的样段上截取3个相邻的试样，试样长度为50至100mm。

检验方法：

试样应平放在试验装置上，刀片应与试样的轴线相垂直（刀片作用于试样上的压力）。

试验温度应按有关电缆产品的规定进行。

规定的加热时间结束后，试样在烘箱中在压力作用下迅速冷却，可用冷水喷射压在刀口下的试样来冷却。

试样在冷却至室温并不再继续变形后，从试验装置中取出，然后浸入冷水中进一步冷却。

试样冷却后立即测量压痕的深度。

检验结果：

从每个试样上切取的三个试片上测得的中间值，应不大于试样厚度平均值的50%。

（1）环境温度：

℃

相对湿度：

%

试验选用仪器：

仪器编号：

（2）

加热温度：

℃

持续时间：

h

GB/T2951.31-2008

压痕深度：

%

结论：

符合□不符合□

PVC护套（ST1和ST2）低温试验

对ST1和ST2护套，低温拉伸：

-15℃下，断裂伸长率不小于20%，低温冲击：

-15℃下，试样受重锤冲击后，3个试样均不应有裂纹

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