DDR3基础技术培训.docx

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DDR3基础技术培训

1．DDR的发展：

2003年秋季Intel公布了DDR2内存的发展计划。

而随着当时CPU前端总线带宽的提高和高速局部总线的出现，内存带宽成为系统越来越大的瓶颈。

处于主流DDR技术已经发展到极至，因此DDR2脱颖而出。

DDR2的实际工作频率是DDR的两倍。

这得益于DDR2内存拥有两倍于标准DDR内存的4bit预读取能力。

下图为DDR和DDR2预读取能力的对比。

DDR2内存技术最大的突破点其实不在于用户们所认为的两倍于DDR的传输能力，而是在采用更低发热量、更低功耗的情况下（由2.5V降为1.8V），DDR2可以获得更快的频率提升，突破标准DDR的400MHZ限制。

DDR内存通常采用TSOP芯片封装形式，这种封装形式可以很好的工作在200MHz上，当频率更高时，它过长的管脚就会产生很高的阻抗和寄生电容，这会影响它的稳定性和频率提升的难度。

这也就是DDR的核心频率很难突破275MHZ的原因。

而DDR2内存均采用FBGA封装形式。

不同于目前广泛应用的TSOP封装形式，FBGA封装提供了更好的电气性能与散热性，为DDR2内存的稳定工作与未来频率的发展提供了良好的保障。

2007年中Intel表示支持DDR3的发展，随后DDR3慢慢走上了历史的舞台，根据由JEDEC协会所制定的规格来看，由技术面来切入DDR3与DDR2的异同点，DDR3拥有高频率低电压的优点，DDR3可以比DDR2运作时省下约30%的电力，速度方面DDR3从800Mbps起跳最高可以至1600Mbps，几乎是DDR2的二倍速度，正因为高传输率的关系，DDR3可以在一个时序（Clock）之中传出8bit的数据，比起DDR2的4bit也是二倍的数据传输量，低电压更是DDR3的优势之一，1.5V的电压比DDR2的1.8V降低了17%。

下面的图表总结了DDR，DDR2，以及DDR3的一些重要的区别：

2、认识内存相关工作流程与参数

首先，我们先了解一下内存的大体结构工作流程，这样会比较容量理解这些参数在其中所起到的作用。

这部分的讲述运用DDR3的简化时序图。

 DDR3的内部是一个存储阵列，将数据“填”进去，你可以它想象成一张表格。

和表格的检索原理一样，先指定一个行（Row），再指定一个列（Column），我们就可以准确地找到所需要的单元格，这就是内存芯片寻址的基本原理。

对于内存，这个单元格可称为存储单元,那么这个表格（存储阵列）就是逻辑Bank（LogicalBank，下面简称Bank）。

  DDR3内部Bank示意图，这是一个NXN的阵列，B代表Bank地址编号，C代表列地址编号，R代表行地址编号。

如果寻址命令是B1、R2、C6，就能确定地址是图中红格的位置

目前DDR3内存芯片基本上都是8个Bank设计，也就是说一共有8个这样的“表格”。

寻址的流程也就是先指定Bank地址，再指定行地址，然后指列地址最终的确寻址单元。

目前DDR3系统而言，还存在物理Bank的概念，这是对内存子系统的一个相关术语，并不针对内存芯片。

内存为了保证CPU正常工作，必须一次传输完CPU在一个传输周期内所需要的数据。

而CPU在一个传输周期能接受的数据容量就是CPU数据总线的位宽，单位是bit（位）。

控制内存与CPU之间数据交换的北桥芯片也因此将内存总线的数据位宽等同于CPU数据总线的位宽，这个位宽就称为物理Bank（PhysicalBank，有的资料称之为Rank）的位宽。

目前这个位宽基本为64bit。

在实际工作中，Bank地址与相应的行地址是同时发出的，此时这个命令称之为“行激活”（RowActive）。

在此之后，将发送列地址寻址命令与具体的操作命令（是读还是写），这两个命令也是同时发出的，所以一般都会以“读/写命令”来表示列寻址。

根据相关的标准，从行有效到读/写命令发出之间的间隔被定义为tRCD，即RAStoCASDelay（RAS至CAS延迟，RAS就是行地址选通脉冲，CAS就是列地址选通脉冲），我们可以理解为行选通周期。

tRCD是DDR的一个重要时序参数，广义的tRCD以时钟周期（tCK，ClockTime）数为单位，比如tRCD=3，就代表延迟周期为两个时钟周期，具体到确切的时间，则要根据时钟频率而定，DDR3-800，tRCD=3，代表30ns的延迟。

图中显示的是tRCD=3

接下来，相关的列地址被选中之后，将会触发数据传输，但从存储单元中输出到真正出现在内存芯片的I/O接口之间还需要一定的时间（数据触发本身就有延迟，而且还需要进行信号放大），这段时间就是非常著名的CL（CASLatency，列地址脉冲选通潜伏期）。

CL的数值与tRCD一样，以时钟周期数表示。

如DDR3-800，时钟频率为100MHz，时钟周期为10ns，如果CL=2就意味着20ns的潜伏期。

不过CL只是针对读取操作。

由于芯片体积的原因，存储单元中的电容容量很小，所以信号要经过放大来保证其有效的识别性，这个放大/驱动工作由S-AMP负责，一个存储体对应一个S-AMP通道。

但它要有一个准备时间才能保证信号的发送强度（事前还要进行电压比较以进行逻辑电平的判断），因此从数据I/O总线上有数据输出之前的一个时钟上升沿开始，数据即已传向S-AMP，也就是说此时数据已经被触发，经过一定的驱动时间最终传向数据I/O总线进行输出，这段时间我们称之为tAC（AccessTimefromCLK，时钟触发后的访问时间）。

图中标准CL=2，tAC=1

  目前内存的读写基本都是连续的，因为与CPU交换的数据量以一个CacheLine（即CPU内Cache的存储单位）的容量为准，一般为64字节。

而现有的Rank位宽为8字节（64bit），那么就要一次连续传输8次，这就涉及到我们也经常能遇到的突发传输的概念。

突发（Burst）是指在同一行中相邻的存储单元连续进行数据传输的方式，连续传输的周期数就是突发长度（BurstLengths，简称BL）。

在进行突发传输时，只要指定起始列地址与突发长度，内存就会依次地自动对后面相应数量的存储单元进行读/写操作而不再需要控制器连续地提供列地址。

这样，除了第一笔数据的传输需要若干个周期（主要是之前的延迟，一般的是tRCD+CL）外，其后每个数据只需一个周期的即可获得。

突发连续读取模式：

只要指定起始列地址与突发长度，后续的寻址与数据的读取自动进行，而只要控制好两段突发读取命令的间隔周期（与BL相同）即可做到连续的突发传输。

谈到了突发长度时。

如果BL=4，那么也就是说一次就传送4×64bit的数据。

但是，如果其中的第二笔数据是不需要的，怎么办？

还都传输吗？

为了屏蔽不需要的数据，人们采用了数据掩码（DataI/OMask，简称DQM）技术。

通过DQM，内存可以控制I/O端口取消哪些输出或输入的数据。

这里需要强调的是，在读取时，被屏蔽的数据仍然会从存储体传出，只是在“掩码逻辑单元”处被屏蔽。

DQM由北桥控制，为了精确屏蔽一个P-Bank位宽中的每个字节，每个DIMM有8个DQM信号线，每个信号针对一个字节。

这样，对于4bit位宽芯片，两个芯片共用一个DQM信号线，对于8bit位宽芯片，一个芯片占用一个DQM信号，而对于16bit位宽芯片，则需要两个DQM引脚。

在数据读取完之后，为了腾出读出放大器以供同一Bank内其他行的寻址并传输数据，内存芯片将进行预充电的操作来关闭当前工作行。

还是以上面那个Bank示意图为例。

当前寻址的存储单元是B1、R2、C6。

如果接下来的寻址命令是B1、R2、C4，则不用预充电，因为读出放大器正在为这一行服务。

但如果地址命令是B1、R4、C4，由于是同一Bank的不同行，那么就必须要先把R2关闭，才能对R4寻址。

从开始关闭现有的工作行，到可以打开新的工作行之间的间隔就是tRP（RowPrechargecommandPeriod，行预充电有效周期），单位也是时钟周期数。

在不同Bank间读写也是这样，先把原来数据写回，再激活新的Bank/Row。

数据选取脉冲（DQS）

DQS是DDR中的重要功能，它的功能主要用来在一个时钟周期内准确的区分出每个传输周期，并便于接收方准确接收数据。

每一颗芯片都有一个DQS信号线，它是双向的，在写入时它用来传送由北桥发来的DQS信号，读取时，则由芯片生成DQS向北桥发送。

完全可以说，它就是数据的同步信号。

在读取时，DQS与数据信号同时生成（也是在CK与CK#的交叉点）。

而DDR内存中的CL也就是从CAS发出到DQS生成的间隔，DQS生成时，芯片内部的预取已经完毕了，由于预取的原因，实际的数据传出可能会提前于DQS发生（数据提前于DQS传出）。

由于是并行传输，DDR内存对tAC也有一定的要求，对于DDR266，tAC的允许范围是±0.75ns，对于DDR333，则是±0.7ns，有关它们的时序图示见前文，其中CL里包含了一段DQS的导入期。

DQS在读取时与数据同步传输，那么接收时也是以DQS的上下沿为准吗？

不，如果以DQS的上下沿区分数据周期的危险很大。

由于芯片有预取的操作，所以输出时的同步很难控制，只能限制在一定的时间范围内，数据在各I/O端口的出现时间可能有快有慢，会与DQS有一定的间隔，这也就是为什么要有一个tAC规定的原因。

而在接收方，一切必须保证同步接收，不能有tAC之类的偏差。

这样在写入时，芯片不再自己生成DQS，而以发送方传来的DQS为基准，并相应延后一定的时间，在DQS的中部为数据周期的选取分割点（在读取时分割点就是上下沿），从这里分隔开两个传输周期。

这样做的好处是，由于各数据信号都会有一个逻辑电平保持周期，即使发送时不同步，在DQS上下沿时都处于保持周期中，此时数据接收触发的准确性无疑是最高的。

在写入时，以DQS的高/低电平期中部为数据周期分割点，而不是上/下沿，但数据的接收触发仍为DQS的上/下沿

3.容量的计算

上图为X8data的单颗DDR3架构图，行（Row）地址线复用14

根，列（Column）地址线复用10根，Bank数量为8个，IOBuffer通过8组数位线（DQ0-DQ7）来完成对外的通信，故此单颗DDR3芯片的容量为2的14次方乘2的10次方乘8乘8，结果为1Gbit，因为1B包含8bit，1GB/8=128MB。

如果我们要做成容量为1GB的内存条则需要8颗这样的DDR3内存芯片，每颗芯片含8根数位线（DQ0-DQ7）则总数宽为64bit，这样正好用了一个Rank。

假果还用128MB的DDR3芯片去做2GB内存条，结果就会有所不同。

我们最好选用4根数位线（DQ0-DQ3），数量是16颗，这样也是用了一个Rank。

在K2的项目中我们要做容量为8GB的内存条，则数量用64颗128M的DDR3，这样位宽高达64X4=256bit，要做成4个Rank。

4.下面我们来介绍一下DDR3的工作情况和一些基本command

内存要保存信息就要不断的refresh，

refresh操作与预充电操作一样，都是用S-AMP先读再写。

预充电是对一个或所有Bank中的工作行操作，并且是不定期的，而refresh则是有固定的周期，依次对所有行进行操作，以保留那些久久没经历重写的存储体中的数据。

但与所有BankPrecharge不同的是，这里的行是指所有Bank中地址相同的行，而Precharge中各Bank中的工作行地址并不是一定是相同的。

refresh操作分为两种：

（AutoRefresh，简称AR）与（SelfRefresh，简称SR）。

不论是何种refresh方式，都不需要外部提供行地址信息，因为这是一个内部的自动操作。

对于AR，SDRAM内部有一个行地址生成器（也称refresh计数器）用来自动的依次生成行地址。

refresh涉及到所有Bank，因此在refresh过程中，所有Bank都停止工作，而每次refresh所占用的时间为9个时钟周期（PC133标准），之后就可进入正常的工作状态，也就是说在这9个时钟期间内，所有工作指令只能等待而无法执行。

显然，refresh操作肯定会对SDRAM的性能造成影响，但这是没办法的事情，也是DRAM相对于SRAM（静态内存，无需刷新仍能保留数据）取得成本优势的同时所付出的代价。

SR则主要用于休眠模式低功耗状态下的数据保存，这方面最著名的应用就是STR（SuspendtoRAM，休眠挂起于内存）。

在发出AR命令时，将CKE置于无效状态，就进入了SR模式，此时不再依靠系统时钟工作，而是根据内部的时钟进行refresh操作。

在SR期间除了CKE之外的所有外部信号都是无效的，只有重新使CKE有效才能退出自refresh模式并进入正常操作状态。

重置（Reset）是DDR3新增的一项重要功能，将使DDR3的初始化处理变得简单。

当Reset命令有效时，DDR3内存将停止所有的操作，并切换至最少量活动的状态，以节约电力。

在Reset期间，DDR3内存将关闭内在的大部分功能，所以有数据接收与发送器都将关闭。

所有内部的程序装置将复位，DLL（延迟锁定回路）与时钟电路将停止工作，而且不理睬数据总线上的任何动静，将使DDR3达到最节省电力的目的。

上表中MRS可以设置Mode寄存器值

以上图为例CS#，RAS#，CAS#，WE#为L，L，H，H。

则指令为Row/BankActive；随后CS#拉高，command无效，在第4个时钟周期这4个信号变为L，H，L，H，对照表格，指令为Read，经过几个时钟周期延迟，在3CLK后读数据。