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东北石油大学机械精度设计与检测2新

 

机械精度设计与检测基础

(互换性与测量技术基础)

 

实验指导书

 

 

东北石油大学

机械设计制造及其自动化教研室

2006年9月

实验一用立式光学计测量轴径

一、实验目的与要求

1.了解立式光学计的原理和使用场合。

2.掌握立式光学计测量微差尺寸方法及量块的使用。

二、立式光学计的原理

立式光学计是应用光学杠杆和自准直原理,以量块作基准,进行比较测量的光学量仪。

其核心部分为Γ型的测微光管(光学计管),光学系统(见图1)工作原理如下:

光线由光源经反射镜6进入棱镜7,使分划板的标尺9得到照明,光线透过标尺继续前进,经棱镜3反射,折向物镜2,由于分划板是放置在物镜的焦点上,所以成为一束平行光入射到反射镜1上,由于反射镜正好对着物镜,因此仍按原路反射回去,且遵循自准直原理,则标尺的像亦显

图1

示在分划板另一半面上,这就是目镜中看到的标尺。

当测杆移动时,顶动反射镜,使之倾斜一个角度,目镜中的标尺像也随之移动一个距离,这个距离与测杆移动距离约以1000倍放大,可以通过目镜5进行读数。

三、实验所需器件

立式光学计、千分尺、量块、被测工件(轴)、无水乙醇、脱脂棉、手套等。

四、实验内容

1.测量轴径2.测量轴的直线度误差3.测量轴的圆度误差

五、实验方法与步骤(参见图2、图3仪器外形图)

1.接通变压器25输入端220V电源,投影灯23插在变压器输出端6V、30VA插座上,灯亮;

2.调节进光反射镜10,拨动提升器19(拨叉),观察目镜投影筒24,直至出现较清晰的标尺刻度和指示线μ;

3.用千分尺粗测工件尺寸,作为组合量块依据;

4.组合量块

(1)组合量块不得超过四块,否则为无效测量;

(2)组合量块尺寸应在粗测工件尺寸±50μm之内;

(3)使用量块应带手套操作,量块两光面用酒精棉擦干净,叠放在工作台上。

5.光学计调零

(1)松开横臂固定螺旋4,旋动横臂升降螺圈3,使横臂下降当测帽20刚好接触组合量块时,将螺旋4固定;

(2)再松开光管固定螺旋16,转动微动手轮6作适当升降,从目镜内看到分划线后,若不清晰再旋转目镜13调焦,调节使分划线零位与指示虚线重合,再将光管固定螺旋16旋紧;

(3)若零位稍有移动,不必再松螺旋16,可旋动零位调节手轮14,归零,此时拨动提升器19几次,零位不变即可换上工件进行比较测量。

测量过程上述紧固部分不能再动,并将量块放回盒内;

(4)注意事项:

1)调零前用微动凸轮托圈固定螺旋15和光管固定螺旋16,将光学计管安放在高低适中位置,同时使微动手轮6上标记点朝上,零位调节手轮14处于中间位,以便调零时有足够调节量;2)测量时必须使工作台平面与测量轴垂直;3)测量时被测物与测帽间接触面,必须使其最小,即近于点或线,因此测柱形轴时宜采用刀刃形或平面测帽。

6.测量:

(1)轴径测量工件上选两截面,每截面0°、90°各测一次。

(2)直线度测量,工件上同一母线均测四个点。

 

图2

 

图3

(3)圆度测量,工件上选同一截面,等分45°测四个点。

测量完毕,断开220V电源。

六、实验数据与报告

上述实验过程的相关数据记录在实验数据表中(见附表1),经数据处理形成实验结论,并画出直线度误差和圆度误差的视图和标注。

思考题:

1.此次测量时量块是按“等”使用,还是按“级”使用?

它们有何不同?

2.了解刻度值,标尺示值范围,仪器测量范围等概念。

 

附表1用立式光学计测量轴径实验数据表

年月日

1.被测试件尺寸

试件号

公称直径(mm)

公差

等级

轴径的极限尺寸

(mm)

粗测轴径(mm)

1

最大

最小

2

最大

最小

2.组合量块

组号

量块

第一块

第二块

第三块

第四块

量块组合尺寸(mm)

1

标称尺寸

2

标称尺寸

3.测量数据及处理

测量内容

读数

(μm)

轴径实际尺寸=量块组合尺寸+读数(mm)

试件1

试件2

试件1

试件2

径测量

Ⅰ-Ⅰ截面

1

 

2

 

Ⅱ-Ⅱ截面

1

 

2

 

直 同

线 一

度 条

测 母

量 线

1

2

3

4

圆 同

度 一

测 截

量 面

1

2

3

4

 

轴径实际尺寸变动范围

(mm)

适用性结论(合格或不合格)

试件1

试件2

 

线

 

 

 

 

 

实验二表面粗糙度试验

2.1用光切法显微镜测量表面粗糙度

一、实验目的和要求

1.建立对表面粗糙度的感性认识;

2.了解光切法显微镜的原理和结构;

3.熟悉用光切法显微镜测量表面粗糙度的方法及操作。

二、光切法显微镜测量原理

仪器是采用光切法测量被测表面的微观不平度,其工作原理如图(光学系统图)所示:

仪器外形图光学系统示意图

由光源发出的光线,经狭缝形成一条平行光带,以45°方向投射到被测表面。

由于工件表面粗糙不平,表面的波峰S点产生反射,波谷在S′点产生反射,反射后在与工件成45°的另一方向,通过显微镜的物镜,它们各成像在分划板的a和a′点。

在目镜中观察到的即为具有与被测表面一样的弯曲波形光带。

通过目镜的分划板与测微器测出a点至a′点之间距离N,被测表面的微观不平度h即为:

(1)

V——物镜放大倍数

三、测量方法与步骤

参看仪器的外形

1.估计被测工件表面粗糙度大致级别,依此选择合适的物镜;

测量范围(不平度平均高度值)(μm)

所需物镜

总放大倍数

物镜组件与工件的距离(mm)

视场

(mm)

0.8-1.6

60×N.A.0.55∝*

510×

0.04

0.3

1.6-6.3

30×N.A.0.40∝*

260×

0.2

0.6

6.3-20

14×N.A.0.20∝*

120×

2.5

1.3

20-80

7×N.A.0.12∝*

60×

9.5

2.5

 2.仪器接通电源,将被测工件安放在工作台上,其加工纹路应与显微镜光轴平面平行,即与狭缝像垂直;

 3.松开紧固螺钉,转动粗调螺母进行粗调焦,再转动微调手柄进行调焦,直至光带影像一边缘最清晰为止,锁紧紧固螺钉;

4.松开目镜头座螺钉,将目镜头转动,使视场中的十字坐标线的一根平行于光带、锁紧螺钉。

转动测微套筒的鼓轮,将平行线移到与光带清晰边缘的最高点(峰顶)对准相切(如图a所示),记下测微鼓上的读数。

再转动鼓轮将平行线与光带清晰边缘最低点对准相切(如图b所示),记下测微鼓上读数。

两次读数之差为

图a图b

           (2)

将式

(2)中的N代入式

(1)后得

     (3)

式中:

——分划板的二次读数差

为求出不平度平均高度值,要求在工件不同区域测量被测轮廓的五个最高点(峰)和五个最低点(谷)之间的平均读数差

再按式(3)计算出的h,即不平度平均高度RZ。

然后按标准化参数值查出相应的表面粗糙度数值。

实验过程数据记录及计算参看附表2。

四、物镜放大倍数V的确定

由于目镜百分尺转筒的度数与选用的物镜组的放大倍数有关,同时物镜放大倍数也不够准确,所以要利用仪器备有的标准刻度进行测量。

标准尺的中央圆面上刻有100个格,总长1毫米,每格为0.01毫米。

测量时首先将标准刻度尺放在仪器的工作台上,调整标准刻度尺刻线清晰地成象在目镜视场中,并且使其刻线和狭缝象垂直,分划板十字线的运动方向与狭缝平行。

然后将分划板十字线交点对准标准刻度尺的一端,记下目镜百分尺第一次读数(如图中交叉实线位置),再把十字线交点移到标准刻度尺的另一端(图中交叉虚线位置),记下目镜百分尺第二次读数。

此时测微目镜的二次读数差与标准刻度尺选择段刻度数之比,就是显微镜物镜的放大倍数V。

例如:

假定标准刻度尺选择线段为80格,即0.8毫米。

在测微目镜中对此刻线段的读数值为6.4毫米,仪器上安装的物镜组为14×N.A.0.20时,物镜的放大倍数:

五、思考题

1.评定表面粗糙度的参数有哪些?

间有什么区别?

 

附表2:

用光切法(双管)显微镜测量表面粗糙度实验数据表

年月日

1.估计被测工件表面粗糙度为

2.选定所需物镜组为:

3.确定物镜的放大倍数V=

4.光切法显微镜的测量范围

为____________μm到______________μm

5.测量记录数据与计算

取样序号

n

峰顶

读数

A(格)

谷底

读数

B(格)

峰谷高度

(格)

平均高度

(格)

(μm)

1

 

2

 

3

 

4

 

5

 

请按标准化参数值标注出被测工件表面粗糙度测量结果:

 

2.2用于涉显微镜测量表面粗糙度

一、实验目的与要求

1.了解干涉法的测量原理

2.熟悉仪器的使用方法与测量范围

二、工作原理

6J型干涉显微镜光路系统图、外形图如下:

 

干涉显微镜是干涉仪和显微镜的组合,将被测件和标准光学镜面相比较,用光波波长作为尺子来衡量工件表面的微观不平深度,用显微镜进行高倍放大后再进行观察和测量。

其测量范围

为0.02~0.8μm。

仪器的光路原理是:

光源1发出的光线经聚光镜2,滤色片3,光栏4落在组合棱镜5上,棱镜组合处斜面将光线分成两束(又称分光镜):

一束按原方向射到物镜9到反射镜S1(标准镜面),被S1反射又回到棱镜上,再由5折射经物镜10到反射镜11,由11反射进入目镜。

另一束光线由棱镜5折射转向物镜6,再射到被测量零件表面S2上,由零件表面反射回来,经棱镜5,物镜10,射到反射镜11,由反射镜11也进入目镜。

由于两束光到达目镜的路程不同,必定有一个光程差,人为地控制使其光程差为

则产生干涉条纹。

因工件表面的微观不平度,使干涉条纹呈弯曲状,用目镜百分尺测出干涉带的相对弯曲度,即可确定表面的微观不平度即表面粗糙度。

三、测量方法

1.将被测表面放在工作台上,打开灯源预热15分钟,使温度均衡;

2.选定滤色片,选择原则是目测时用白光,要求测量精度高时用绿色光,照相时用橙色光;

3.转动手柄3,使遮光器移入光路,遮断通向S1平面反射镜的光路;

4.转动滚花手轮2,使工作台上下移动,将物镜与被测表面对焦,直至见到清晰的加工刀痕为止;

5.转动手柄3打开通向S1的光路,可见到干涉条纹。

如果干涉条纹模糊不清。

则再细调滚花手轮2,若看不到干涉条纹,需细调参考镜S1;

6.转动工作台使干涉条纹与加工纹路垂直,转动手轮4使干涉条纹宽度为3~5毫米左右,便可进行测量。

如果被测工件表面加工得很精密,那么可以得到没有弯曲的直接干涉条纹。

用目测估读法测得不平度平均高度值

具体方法如下图:

转动目镜千分尺,使视场中的十字交叉线的一根与干涉条纹平行,并选择其中一条较清晰的干涉带五个最高峰的平均线N1,记下第一读数;下移平行线至同一干涉带五个最低点的平均线N2,记下第二次读数。

再将平行线移至与之相邻的干涉带五个最高峰的平均线N3,记下第三次读数。

此时带宽:

相邻两干涉带的间距:

则:

λ——单色光的波长。

用白光时λ=0.54μm

实验数据记录及计算结果和标注可参看附表3。

四、思考题

1.与光切法测量表面粗糙度相比,各有什么特点?

附表3 用干涉显微镜测量表面粗糙度实验数据表

                         年  月  日

干涉显微镜型号规格

选用单色光的波长

  ,  选用白光时

干涉显微镜的测量范围 

为μm到μm

测量记录数据与计算值

测量

顺序

被测干涉条纹

读数

(格)

计算干涉带宽a和间隔距离b

(格)

N1

选定一条干涉带五个最高点平均线

 

N2

同一条干涉带五个最低点平均线

 

N3

相邻干涉带五个最高点的平均线

 

表面粗糙度计算值:

按标准化参数值标注被测工件表面粗糙度测量结果:

 

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