可靠性试验规范.docx

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可靠性试验规范

可靠性试验规范-试验方法

目次

图表目录

无线终端产品可靠性试验规范-试验方法

11　范围

12　术语和定义

12.1　实验室环境（Laboratoryenvironment）

温度T=20–25℃，相对湿度RH=40–60%。

13　试验项目

13.1　A组环境可靠性试验

气候环境试验

低温运行

a）试验目的：

验证样品在低温环境下使用的适应性。

b）试验参数：

1）温度要求：

-30℃（CDMA手机，Gota产品，车载产品）；

-20℃（便携式手机）；

-10℃（网卡、接入盒、固定台、监视终端）；

2）持续时间：

16H（温度稳定后开始计算）；

3）电压拉偏：

在开机电压下进行试验（如在V进行电压拉偏试验）；

4）测试样机数：

不小于5台。

c）测试设备：

综合测试仪，温度试验箱

d）试验步骤：

1）在室温下检查待测试验样机的结构，外观及电性能。

2）将待测样机放进温度试验箱，连接好充电器，开机，样机处于充电待机状态。

3）温度试验箱内温度以1℃/min的速率从常温下降到设定的温度。

4）温度达到稳定后持续运行4小时，对试验样机进行在线射频监测。

量测时，样机不应从试验箱中取出。

5）接着,使样机的处于开机电压（例如V）下进行电压拉偏试验,拉偏作用时间为4小时，然后对样机的射频性能按附录B进行测试。

量测完成后，温度试验箱内温度以1℃/min的速率从低温恢复到常温。

13.1.1.1.1　例图1：

低温运行曲线

6）将样机从箱内拿出来立即按附录A和附录B进行外观功能测试。

e）判断标准：

1）外观结构满足附录A要求

2）性能指标满足附录B要求。

3）射频指标满足附录C的要求。

高温运行

a）参考标准：

GB/T试验B：

高温

GB/T温度和湿度

　　　　　　　GB/T携带和非固定使用

b）试验目的：

验证样品在高温环境下使用的适应性。

c）试验参数：

1）温度要求：

60℃

2）持续时间：

16H（温度稳定后开始计算）；

3）电压拉偏：

在开机电压下进行试验（如在V进行电压拉偏试验）；

4）测试样机数：

不小于5台。

d）测试设备：

综合测试仪，温度试验箱

e）试验步骤：

1）在室温下检查待测试验样机的结构，外观及电性能。

2）将待测样机放进温度试验箱，连接好充电器，开机，样机处于充电待机状态。

3）温度试验箱内温度以1℃/min的速率从常温上升到设定的温度。

4）温度达到稳定后持续运行4小时，对试验样机进行在线射频监测。

量测时，样机不应从试验箱中取出。

5）接着,使样机的处于开机电压（例如V）下进行电压拉偏试验,拉偏作用时间为4小时，然后对样机的射频性能按附录B进行测试。

量测完成后，温度试验箱内温度以1℃/min的速率从高温恢复到常温。

例图2：

高温运行曲线

6）将样机从箱内拿出来按附录A和附录B进行外观功能测试。

f）判断标准:

1）外观结构满足附录A要求

2）性能指标满足附录B要求。

3）射频指标满足附录C的要求。

低温存储

a）试验目的：

验证样品在低温环境中运输、存储的适应性。

b）试验参数：

1）温度要求：

-40℃

2）持续时间：

24H（温度稳定后开始计算）；

3）测试样机数：

不小于5台。

c）测试设备：

综合测试仪，温度试验箱

d）试验步骤：

1）在室温下检查待测试验样机的结构，外观及电性能。

2）将待测样机以关机状态放进温度试验箱。

3）温度试验箱内温度以1℃/min的速率从常温下降到-40℃。

4）温度达到稳定后持续运行16小时后，温度试验箱内温度以1℃/min的速率恢复到常温。

5）将样机在常温中恢复2小时后按附录A、附录B和附录C进行外观、功能和射频指标测试。

e）判断标准：

1）外观结构满足附录A要求

2）性能指标满足附录B要求。

3）射频指标满足附录C的要求。

高温存储

a）试验目的：

验证样品在高温环境中运输、存储的适应性。

b）试验参数：

1）温度要求：

-85℃

2）持续时间：

24H（温度稳定后开始计算）；

3）测试样机数：

不小于5台。

c）测试设备：

综合测试仪，温度试验箱

d）试验步骤：

1）在室温下检查待测试验样机的结构，外观及电性能。

2）将待测样机以关机状态放进温度试验箱。

3）温度试验箱内温度以1℃/min的速率从常温上升到+85℃。

4）温度达到稳定后持续运行16小时，温度试验箱内温度以1℃/min的速率恢复到常温。

5）将样机在常温中恢复2小时后按附录A、附录B和附录C进行外观、功能和射频指标测试。

e）判断标准：

1）外观结构满足附录A要求

2）性能指标满足附录B要求。

3）射频指标满足附录C的要求。

温度冲击

a）参考标准：

GB/T试验N：

温度变化

b）试验目的：

验证样品经受急剧温度变化的能力。

c）试验参数:

1）温度要求：

-40C/+85C，温度交变时间<3min

2）持续时间：

10个循环，1个循环=1H低温/1H高温

3）恢复时间：

2小时

4）测试样机数：

不小于5台。

d）测试设备：

综合测试仪，温度冲击试验箱

e）试验步骤：

1）在室温下检查待测试验样机的结构，外观及电性能。

2）将待测样机以关机状态放进温度冲击试验箱。

3）样机先在低温箱-40℃中保持一小时后，迅速转移到高温箱，并在+85℃中保持1小时，此为1个循环。

温度交换时间小于3分钟。

4）重复温度变化10个循环后，温度试验箱恢复到常温条件。

5）样机在温度冲击箱内以常温状态恢复2小时后，取出样品按附录A、附录B和附录C进行外观、功能和射频指标测试。

f）判断标准：

1）外观结构满足附录A要求。

2）性能指标满足附录B要求。

3）射频指标满足附录C的要求。

恒定湿热

a）参考标准：

GB/T试验Cab：

恒定湿热试验

GB/T温度和湿度

　　　　　　　GB/T携带和非固定使用

b）试验目的：

确定样品在高温高湿条件下的使用、存储和运输的适应性。

c）试验参数:

1）温度：

（+55±2）℃

2）湿度：

（95±3）%RH

3）持续时间：

48H（在湿热试验箱内滞留时间）

4）测试样机数：

不小于5台

d）试验设备：

环境试验箱，综合测试仪

e）试验步骤：

1）在室温下检查待测试验样机的结构，外观及电性能。

2）将待测样机以待机充电状态放进温度试验箱。

3）温度试验箱内温度以1℃/min的速率从常温上升到+55℃。

温度稳定后，在1小时内试验箱相对湿度升高到95%RH。

4）工作空间内的温度和相对湿度达到规定值并稳定后持续保持48小时，温度试验箱内温度以1℃/min的速率恢复到常温。

5）将样机在常温中恢复2小时后按附录A、附录B和附录C进行外观、功能和射频指标测试。

f）判断标准：

1）外观结构满足附录A要求。

2）性能指标满足附录B要求。

3）射频指标满足附录C的要求。

交变湿热

a）参考标准：

GB/T试验Db：

交变湿热试验

b）试验目的：

确定样品在温度循环变化的湿热条件下的使用、存储的适应性。

c）试验参数:

1）温度：

（+25/+55）℃

2）湿度：

（95±2）%RH

3）持续时间：

6天

4）测试样机数：

不小于5台

d）试验设备：

环境试验箱，综合测试仪

e）试验步骤：

1）在室温下检查待测试验样机的结构，外观及电性能。

2）将待测样机以待机充电状态放进温度试验箱。

3）温度试验箱内温度在3小时内从常温上升到+55℃。

相对湿度约93%-95%。

4）温度在+55℃保持9小时后，在3小时内下降到+25℃，湿度保持在（95±2）%RH。

5）温度在+25℃保持9小时。

此为一个测试循环，共24小时。

6）重复测试6个循环，共6天。

温湿度曲线如下：

例图3：

交变湿热运行曲线

7）将样机在常温中恢复2小时后按附录A、附录B和附录C进行外观、功能和射频指标测试。

f）判断标准：

1）外观结构满足附录A要求。

2）性能指标满足附录B要求。

3）射频指标满足附录C的要求。

盐雾试验

a）参考标准：

GB/T试验Ka：

盐雾

GB/T尘、沙、盐雾

b）试验目的：

确定样品抗盐雾腐蚀的能力。

c）试验参数:

1）盐雾浓度：

5％；PH值在~之间。

2）温度条件：

35℃；

3）持续时间：

24H；

4）样机数量：

不小于3台；

d）测试设备：

盐雾试验箱，综合测试仪

e）试验步骤：

1）在室温下检查待测样机的结构，外观及电性能。

2）试验样机以关机状态放入盐雾试验箱，放置位置需使受试面与垂直方向成30°角。

3）试验样机不得相互接触，样机的间隔距离应是不影响盐雾能自由降落在试验样机上，以及一个试验样机上的盐溶液不允许滴落在其他试验样机上。

4）试验设备的工作试验空间内的温度为35士2℃。

在工作空间内任一位置，用面积为80cm2的漏斗收集连续雾化20h的盐雾沉降量，平均每小时收集到的溶液。

5）试验结束后，用干布擦去试验样机表面盐沉积物，并用离子风枪清洁吹10分钟，然后在常温下恢复4小时。

6）恢复后的试验样机应及时按附录A、附录B和进行外观功能测试。

f）判断标准：

1）样机功能正常，满足附录B要求

2）拆机进行观察，主板和连接器无明显的腐蚀，连接充电器能正常充电。

3）塑胶件：

出现腐蚀的变色点在3mm以内都算合格，但是如果氧化点的面积比较密集，面积超过10mm×10mm（两点间距为小于等于1mm）时，试验结果不合格。

4）五金件,用清水擦洗后,目测到可观察的锈迹为不合格。

沙尘试验

a）参考标准：

GB/T试验L：

沙尘试验

GB/T尘、沙、盐雾

b）试验目的：

确定空气中悬浮的沙尘对样品的影响。

c）试验参数:

1）灰尘浓度：

2Kg/m3，干燥滑石粉，颗粒<75

2）持续时间：

8H；

3）测试样机数：

3台（移动台）/2台（固定台，网卡）

d）试验设备：

沙尘试验箱，综合测试仪

e）试验步骤：

1）在室温下检查待测样机的结构，外观及电性能。

2）试验样机一般应在不包装、不通电条件下放入试验箱（室）内。

其体积总和不得超过试验箱的有效空间的1／3，底面积不超过有效水平面积的1／2，试验样机之间及与试验箱内壁距离应不小于100mm。

3）本试验方法采用连续喷砂，试验持续时间为8h。

4）试验样机取出后，一般应置于正常的试验大气条件下恢复1～2h，并用毛刷轻轻擦除表面灰尘，然后按照附录A进行检查。

f）判断标准：

样机各项功能正常，所有活动元件运转自如，外壳无变形，LCD内不允许有明显粉尘进入（以开机后不影响字体显示为准）。

满足附录A和附录B外观和功能要求。

跌落试验

自由跌落

a）参考标准：

GB/T试验Ed：

自由跌落方法一：

自由跌落

b）试验目的：

确定便携式手机产品在搬运、使用期间遭遇跌落的适应性。

c）试验参数:

1）试验表面：

大理石地面；

2）跌落高度：

120cm（普通手机、超薄机、超重机）

75cm（大屏机）；

3）跌落次数：

24次；

4）测试样品数：

6台

d）试验设备：

跌落试验机，综合测试仪

e）试验步骤：

1）对样机进行外观，结构，功能及射频指标检查；

2）样机sim卡，T-flash卡等附件接插良好，将样机处于开机状态；

3）按背面-正面-左侧面-右侧面-顶面（天线）-底面-4个角的跌落顺序，从相应高度垂直跌落到大理石上，每个方向跌落2次，跌落20次。

直板手机背面和正面各加跌2次，翻盖手机将上翻打开加跌2次，跌落4次，共跌落24次；

4）每次跌落均对外观，结构，功能进行检查。

5）跌落测试完成后需进行射频指标检查。

f）判断标准：

1）内部无破损，无脱落器件，无功能性的损坏；

2）外壳无破裂或者碎裂，轻微磨损和轻微裂纹是允许的，裂缝绝对长度超过５mm或“裂纹的长度、深度，占裂纹方向结构件长度1/2以上”为不合格；

3）跌落时电池允许脱离主体，每台样机电池和手写笔允许脱开不超过12次；

4）上下盖不能移位，不能开口；翻盖或滑盖样机，翻盖不能脱离主体；

5）天线无明显变形，跌落中天线帽只允许脱落一次；

6）带胶粘性质的元器件（如护镜、铭牌、内装饰块等）不允许脱落，

7）同一样机可恢复的功能故障在跌落试验中不允许出现2次以上，否则试验不合格。

8）附件A中各功能正常，应仍能正常使用；进行充电检查，能正常充电，满足附录B要求；射频指标满足附录C要求。

翻滚跌落

a）试验目的：

确定产品经受重复跌落的适应性。

b）试验参数:

1）跌落高度：

1米

跌落次数：

100次

2）试验样品：

10台

c）试验设备：

翻滚跌落机，综合测试仪

d）试验步骤：

1）对样机进行外观，结构，功能及射频指标检查；

2）样机插卡开机，放进滚筒里面，转动速度设置为样品不碰撞到前板和后板，保证样品能垂直跌落到不锈钢板上。

3）每20次跌落后对样品进行外观，结构，功能检查。

4）若样品在跌落过程中结构件频繁散开，需检查结构件损坏情况。

为保证测试连续性，在不影响其他结构件验证的情况下可用胶带固定易松散的结构件，如：

电池盖。

5）跌落测试完成后需进行射频指标检查。

e）判断标准：

1）结构功能正常（机壳、卡扣等完好）

2）电性功能正常（开关机、振动、铃声、呼叫、显示等正常）

3）射频指标满足要求

4）外观出现刮痕或烤漆有轻微裂痕可接受

5）跌落过程中在电池无松脱情况下不允许出现关机或不识卡现象。

重复性跌落

a）参考标准：

b）试验目的：

验证手机的结构强度。

c）试验参数:

1）跌落高度：

15cm；

2）跌落次数：

3000次（手机）

2000次（超重机）

3）测试样品数：

2台

d）试验设备：

重复跌落试验机

e）试验步骤：

1）对样机进行外观，结构，功能检查。

2）手机放在重复跌落试验机中进行测试；每500次时对手机进行功能和外观进行检测；

3）试验结束后，对外观、结构和功能进行检查。

f）判断标准：

1）内部无破损，无脱落器件，无功能性的损坏；

2）附件A中各功能正常，应仍能正常使用；

3）外壳无破裂或者碎裂；

4）跌落过程中，不允许自动关机；

5）带胶粘性质的元器件（如护镜、铭牌、内装饰块等）不允许脱落。

振动试验

随机振动试验

a）参考标准：

GB/T试验Fh宽频随机振动

b）试验目的：

验证样品承受随机振动的能力。

c）试验参数:

1）振动频率：

5Hz～20Hz，ASD=1.92m2/s3（即0.02g2/Hz）；

2）振动频率：

20Hz～500Hz，在20Hz处ASD=1.92m2/s3，其他-3dB/倍频程；

3）振动位置：

3面（3个垂直面x,y,z）；

4）持续时间：

60分钟/面；

5）测试样机数：

不小于３台

d）试验设备：

振动试验系统，综合测试仪

e）试验步骤：

1）在室温下检查待测样机的结构，外观及电性能。

2）样品在插卡开机状态下，按水平方向牢固地固定在试验台上，进行振动，振动时间为60分钟；

3）重复将样机按直立和侧立方向固定在试验台上，每次振动60分钟，如果需要可在振动过程中在线监视一台样机的射频指标的变化，三个轴向振动试验结束后按附录A、附录B和附录C进行外观，功能和射频检查；

f）判断标准：

1）外观无破裂或脆裂，无变形，LCD或其他元器件无永久性损坏，无脱落器件，晃动无异响，满足附录A要求。

2）可正常拔打电话，功能满足附录B要求

3）射频指标满足附录C要求。

4）振动后出现掉电，不识卡现象需重新安装电池和卡进行二次验证。

冲击试验

a）参考标准：

GB/T试验Ea：

冲击

b）试验目的：

揭露机械弱点和性能下降情况

c）试验参数:

1）峰值加速度：

35g

2）脉冲持续时间：

18ms；

3）波形：

半正弦波；

4）冲击次数：

每个面冲击5次，共30次；

5）测试样机数：

不小于３台。

d）试验设备：

振动试验系统，综合测试仪

e）试验步骤：

1）在室温下检查待测样机的结构，外观及电性能。

2）将合格的待测样机，以关机状态牢固地固定在冲击试验台上，在3个互相垂直轴线的每一个方向上施加5次连续冲击，共30次，冲击试验立即后按附录A、附录B和附录C进行外观、功能和射频指标检查。

f）判断标准：

1）外观结构满足附录A要求。

2）性能指标满足附录B要求。

3）射频指标满足附录C的要求。

13.2　B组结构可靠性试验

结构寿命试验

按键

a）试验目的：

验证按键重复使用的适应性。

b）试验参数:

测试等级

次数

压力

速度

样品数

备注

主按键

20万次

≥5N

40-60次/分钟

4台

侧按键（FPC式）

12万次

≥5N

40-60次/分钟

4台

侧按键（机械式）

12万次

≥5N

40-60次/分钟

4台

超薄按键（如PC薄膜按键）

10万次

≥5N

40-60次/分钟

4台

特殊按键（如开机键、拍照键）

10万次

≥5N

40-60次/分钟

4台

PTT键

20万次

≥5N

40-60次/分钟

4台

压头下压时保持2秒

Carkit接听键

5万次

≥5N

40-60次/分钟

4台

c）试验设备：

按键测试仪

d）试验步骤：

1）检查样品的结构，功能。

2）将样品以开机状态固定在按键测试仪上，调整好按键的测试位置，测试压头对应着按键中央位置。

按键压力设置为5N，按键频率为40-60次/分钟。

3）每4万次检查一次按键功能。

e）判断标准：

按键无开裂破损，按键弹性和功能正常。

滚动键

a）试验目的：

验证滚动键重复使用的适应性。

b）试验参数:

测试等级

次数

压力

速度

样品数

上下方向测试次数

各30万次

≥5N

40-60次/分钟

4台

左右方向测试次数

各20万次

≥5N

40-60次/分钟

4台

按压寿命

20万次

≥5N

40-60次/分钟

4台

c）试验设备：

按键测试仪

d）试验步骤：

1）检查样品的结构，功能。

2）将待测手机开机后固定在按键测试仪上，按键的频率调节为40-60次/分钟，进行上下方向和左右方向滚动测试，以及进行按压测试，

3）每4万次检查按键的弹性及功能。

e）判断标准：

按键无开裂破损，按键弹性和功能正常。

滑盖

a）试验目的：

验证手机滑盖的可靠性

b）试验参数:

1）滑盖频率：

40-60次/分钟

2）测试次数：

6万次（研发阶段）

5万次（中试阶段）

3）测试样品数：

2台。

c）试验设备：

滑盖寿命测试仪。

d）试验步骤：

1）检查样品外观，结构，电性功能。

2）待测手机开机后固定到滑盖测试试验机上，将滑盖频率设置为40-60次/分钟。

3）开始测试后，每1万次检查手机的工作状态和滑盖状态。

e）判断标准：

手机外观、结构及功能正常，滑盖不能有松动（垂直手机时不能有自动下滑现象）。

翻盖

a）试验目的：

验证手机翻盖的可靠性

b）试验参数:

1）翻盖频率：

40-60次/分钟

2）测试次数：

6万（研发阶段）

5万（中试阶段）

3）测试样品数：

4台。

c）试验设备：

翻盖寿命测试仪

d）试验步骤：

1）检查样品外观，结构，电性功能。

2）待测手机开机后固定到翻盖测试试验机上，将翻盖频率设置为40-60次/分钟。

3）开始测试后，每1万次检查手机的工作状态和翻盖状态。

e）判断标准：

测试完成后，翻盖无开裂破损，翻盖功能和手机功能正常。

连接器接口

a）试验目的：

验证连接器插拔可靠性

b）试验参数:

测试等级

次数

速度

样品数

充电器

3000次

10-20次/分钟

2台

耳机

5000次

10-20次/分钟

2台

数据线

2000次

10-20次/分钟

2台

三合一

10000次

10-20次/分钟

2台

射频接口

3000次

10-20次/分钟

2台

Carkit天线插头

12000次

10-20次/分钟

2台

Carkit主机盒插头

50次

10-20次/分钟

2台

网卡连接器

5000次

15±2次/分钟

3台

多功能连接器，测试寿命以功能数累计，例如数据+充电：

测试5000次

c）试验设备：

连接器寿命测试仪

d）试验步骤：

1）检查样品外观，结构，电性功能。

2）量测连接器的插拔力量。

3）开始测试后，每500次检查样机的工作状态。

4）插拔测试完成后，量测连接器的插拔力量。

e）判断标准：

1）I/O接口无损坏，焊盘无脱落，功能正常。

2）USB拉出力：

5N-25N；

3）耳机拉出力：

5N-25N；

4）充电器（卡扣式）拉出力：

≥10N；

5）连接器插入力：

≤39N；

6）连接器接插使用方便，顺畅。

接插后，不允许明显晃动造成断线或接触不良。

7）连接器功能正常。

SIM/SD卡插拔

a）试验目的：

验证SIM/UIM/PIM/T-Flash卡及卡座插拔寿命。

b）试验参数:

测试等级

次数

速度

样品数

SIM/UIM/PIM

500次

10~20次/分钟

2台

T-flash

2000次

10~20次/分钟

2台

c）试验设备：

手工测试或插拔测试仪。

d）试验步骤：

插上SIM/UIM/PIM/T-Flash卡，然后取下SIM/UIM/PIM/T-Flash卡，再重新装上，每插拔100次开机检测一次。

e）判断标准：

SIM/UIM/PIM卡接触良好，SIM/UIM/PIM卡推扭开关正常，手机读卡功能使用正常。

摄像头/上翻盖转轴

a）试验目的：

验证手机摄像头或上翻盖转轴旋转寿命的可靠性

b）试验参数:

1）旋转频率：

30-60次/分钟；

2）测试次数：

万

3）测试样品数：

2台。

c）试验设备：

人工测试或转轴寿命测试仪

d）试验步骤：

1）检查样品结构，电性功能。

2）手动或使用转轴寿命测试仪测试转轴，速度约30-60次/分钟。

3）开始测试后，每5000次检查一下手机工作状态。

e）判断标准：

转轴无开裂破损，转轴功能正常，摄像头功能正常。

摄像头滑盖及其他滑动部件

a）试验目的：

验证手机摄像头滑盖或其他滑动部件的可靠性

b）试验参数:

1）旋转频率：

30-60次/分钟；

2）测试次数：

万（研发阶段）

万（中试阶段）

3）测试样品数：

2台。

c）试验设备：

手动或滑盖测试仪

d）试验步骤：

1）检查样品结构，电性功能。

2）手动或使用滑盖寿命测试仪测试，速度约30-60次/分钟。

3）开始测试后，每5000次检查一下手机工作状态。

e）判断标准：

样品结构功能正常。

电池

a）试验目的：

验证手机电池及机壳结构卡扣的可靠性

b）试验参数:

1）频率：

10-20次/分钟；

2）卡扣次数：

1500次；

3）测试样品数：

2台。

c）试验设备：

手动或寿命测试仪

d）试验步骤：

手动或用电池卡扣寿命测试仪测试电池卡扣，开始测试后，每500次检查手机电池卡扣的工作状态，直至测试次数达到1500次。

e）判断标准：

电池及电池卡扣无明显的机械损伤，功能正常。

电池盖

a）试验目的：

验证电池外壳卡扣的可靠性

b）试验参数:

1）频率：

10-20次/分钟

2）卡扣次数：

1500次（手机）

3）测试样