可靠性试验规范.docx

1、可靠性试验规范可靠性试验规范-试验方法目 次图表目录无线终端产品可靠性试验规范-试验方法11范围12术语和定义12.1实验室环境（Laboratory environment）温度T = 20 25 ，相对湿度RH = 40 60 %。13试验项目13.1A组 环境可靠性试验气候环境试验低温运行a)试验目的：验证样品在低温环境下使用的适应性。b)试验参数：1)温度要求：-30 （CDMA手机，Gota产品，车载产品）；-20（便携式手机）；-10（网卡、接入盒、固定台、监视终端）；2)持续时间：16H（温度稳定后开始计算）；3)电压拉偏：在开机电压下进行试验（如在 V 进行电压拉偏试验）；4)

2、测试样机数：不小于5台。c)测试设备：综合测试仪，温度试验箱d)试验步骤：1)在室温下检查待测试验样机的结构，外观及电性能。2)将待测样机放进温度试验箱，连接好充电器，开机，样机处于充电待机状态。3)温度试验箱内温度以1/min的速率从常温下降到设定的温度。4)温度达到稳定后持续运行4小时，对试验样机进行在线射频监测。量测时，样机不应从试验箱中取出。5)接着,使样机的处于开机电压（例如 V）下进行电压拉偏试验,拉偏作用时间为4小时，然后对样机的射频性能按附录B进行测试。量测完成后，温度试验箱内温度以1/min的速率从低温恢复到常温。13.1.1.1.1例图1：低温运行曲线6)将样机从箱内拿出来

3、立即按附录A和附录B进行外观功能测试。e)判断标准：1)外观结构满足附录A要求2)性能指标满足附录B要求。3)射频指标满足附录C的要求。高温运行a)参考标准：GB/T 试验B：高温 GB/T 温度和湿度GB/T 携带和非固定使用b) 试验目的：验证样品在高温环境下使用的适应性。c)试验参数：1)温度要求：602)持续时间：16H（温度稳定后开始计算）；3)电压拉偏：在开机电压下进行试验（如在 V 进行电压拉偏试验）；4)测试样机数：不小于5台。d)测试设备：综合测试仪，温度试验箱e)试验步骤：1)在室温下检查待测试验样机的结构，外观及电性能。2)将待测样机放进温度试验箱，连接好充电器，开机，样

4、机处于充电待机状态。3)温度试验箱内温度以1/min的速率从常温上升到设定的温度。4)温度达到稳定后持续运行4小时，对试验样机进行在线射频监测。量测时，样机不应从试验箱中取出。5)接着,使样机的处于开机电压（例如 V）下进行电压拉偏试验,拉偏作用时间为4小时，然后对样机的射频性能按附录B进行测试。量测完成后，温度试验箱内温度以1/min的速率从高温恢复到常温。例图2：高温运行曲线6)将样机从箱内拿出来按附录A和附录B进行外观功能测试。f)判断标准:1)外观结构满足附录A要求2)性能指标满足附录B要求。3)射频指标满足附录C的要求。低温存储a)试验目的：验证样品在低温环境中运输、存储的适应性。b

5、)试验参数：1)温度要求：-402)持续时间：24H（温度稳定后开始计算）；3)测试样机数：不小于5台。c)测试设备：综合测试仪，温度试验箱d)试验步骤：1)在室温下检查待测试验样机的结构，外观及电性能。2)将待测样机以关机状态放进温度试验箱。3)温度试验箱内温度以1/min的速率从常温下降到-40。4)温度达到稳定后持续运行16小时后，温度试验箱内温度以1/min的速率恢复到常温。5)将样机在常温中恢复2小时后按附录A、附录B和附录C进行外观、功能和射频指标测试。e)判断标准：1)外观结构满足附录A要求2)性能指标满足附录B要求。3)射频指标满足附录C的要求。高温存储a)试验目的：验证样品在

6、高温环境中运输、存储的适应性。b)试验参数：1)温度要求：-852)持续时间：24H（温度稳定后开始计算）；3)测试样机数：不小于5台。c)测试设备：综合测试仪，温度试验箱d)试验步骤：1)在室温下检查待测试验样机的结构，外观及电性能。2)将待测样机以关机状态放进温度试验箱。3)温度试验箱内温度以1/min的速率从常温上升到+85。4)温度达到稳定后持续运行16小时，温度试验箱内温度以1/min的速率恢复到常温。5)将样机在常温中恢复2小时后按附录A、附录B和附录C进行外观、功能和射频指标测试。e)判断标准：1)外观结构满足附录A要求2)性能指标满足附录B要求。3)射频指标满足附录C的要求。温

7、度冲击a)参考标准：GB/T 试验N：温度变化b)试验目的：验证样品经受急剧温度变化的能力。c)试验参数:1)温度要求：- 40 C / + 85 C，温度交变时间 3 min2)持续时间：10个循环，1个循环= 1H低温/1H高温 3)恢复时间：2小时4)测试样机数：不小于5台。d)测试设备：综合测试仪，温度冲击试验箱e)试验步骤：1)在室温下检查待测试验样机的结构，外观及电性能。2)将待测样机以关机状态放进温度冲击试验箱。3)样机先在低温箱-40中保持一小时后，迅速转移到高温箱，并在+85中保持1小时，此为1个循环。温度交换时间小于3分钟。4)重复温度变化10个循环后，温度试验箱恢复到常温

8、条件。 5)样机在温度冲击箱内以常温状态恢复2小时后，取出样品按附录A、附录B和附录C进行外观、功能和射频指标测试。f)判断标准：1)外观结构满足附录A要求。2)性能指标满足附录B要求。3)射频指标满足附录C的要求。恒定湿热a)参考标准：GB/T 试验Cab：恒定湿热试验 GB/T 温度和湿度GB/T 携带和非固定使用b)试验目的：确定样品在高温高湿条件下的使用、存储和运输的适应性。c)试验参数:1)温度：（+552）2)湿度：（953）%RH3)持续时间：48H（在湿热试验箱内滞留时间）4)测试样机数：不小于5台d)试验设备： 环境试验箱，综合测试仪e)试验步骤：1)在室温下检查待测试验样机

9、的结构，外观及电性能。2)将待测样机以待机充电状态放进温度试验箱。3)温度试验箱内温度以1/min的速率从常温上升到+55。温度稳定后，在1小时内试验箱相对湿度升高到95%RH。4)工作空间内的温度和相对湿度达到规定值并稳定后持续保持48小时，温度试验箱内温度以1/min的速率恢复到常温。5)将样机在常温中恢复2小时后按附录A、附录B和附录C进行外观、功能和射频指标测试。f)判断标准：1)外观结构满足附录A要求。2)性能指标满足附录B要求。3)射频指标满足附录C的要求。交变湿热a)参考标准：GB/T 试验Db：交变湿热试验 b)试验目的：确定样品在温度循环变化的湿热条件下的使用、存储的适应性。

10、c)试验参数:1)温度：（+25/+55）2)湿度：（952）%RH3)持续时间：6天4)测试样机数：不小于5台d)试验设备： 环境试验箱，综合测试仪e)试验步骤：1)在室温下检查待测试验样机的结构，外观及电性能。2)将待测样机以待机充电状态放进温度试验箱。3)温度试验箱内温度在3小时内从常温上升到+55。相对湿度约93%-95%。4)温度在+55保持9小时后，在3小时内下降到+25，湿度保持在（952）%RH。5)温度在+25保持9小时。此为一个测试循环，共24小时。6)重复测试6个循环，共6天。温湿度曲线如下：例图3： 交变湿热运行曲线7)将样机在常温中恢复2小时后按附录A、附录B和附录C

11、进行外观、功能和射频指标测试。f)判断标准：1)外观结构满足附录A要求。2)性能指标满足附录B要求。3)射频指标满足附录C的要求。盐雾试验a)参考标准：GB/T 试验Ka：盐雾 GB/T 尘、沙、盐雾b)试验目的：确定样品抗盐雾腐蚀的能力。c)试验参数:1)盐雾浓度：5；PH值在之间。2)温度条件：35；3)持续时间：24H；4)样机数量：不小于3台；d)测试设备：盐雾试验箱，综合测试仪e)试验步骤：1)在室温下检查待测样机的结构，外观及电性能。2)试验样机以关机状态放入盐雾试验箱，放置位置需使受试面与垂直方向成30角。3)试验样机不得相互接触，样机的间隔距离应是不影响盐雾能自由降落在试验样机

12、上，以及一个试验样机上的盐溶液不允许滴落在其他试验样机上。4)试验设备的工作试验空间内的温度为35士2。在工作空间内任一位置，用面积为 80 cm2的漏斗收集连续雾化20 h的盐雾沉降量，平均每小时收集到的溶液。5)试验结束后，用干布擦去试验样机表面盐沉积物，并用离子风枪清洁吹10分钟，然后在常温下恢复4小时。6)恢复后的试验样机应及时按附录A、附录B和进行外观功能测试。f)判断标准：1)样机功能正常，满足附录B要求2)拆机进行观察，主板和连接器无明显的腐蚀，连接充电器能正常充电。3)塑胶件：出现腐蚀的变色点在3mm以内都算合格，但是如果氧化点的面积比较密集，面积超过 10mm10mm（两点间

13、距为小于等于1mm）时，试验结果不合格。4)五金件,用清水擦洗后,目测到可观察的锈迹为不合格。沙尘试验a)参考标准：GB/T 试验L：沙尘试验 GB/T 尘、沙、盐雾b)试验目的：确定空气中悬浮的沙尘对样品的影响。c)试验参数:1)灰尘浓度：2Kg/m3 ，干燥滑石粉，颗粒752)持续时间： 8H；3)测试样机数：3台（移动台）/2台（固定台，网卡）d)试验设备：沙尘试验箱，综合测试仪e)试验步骤：1)在室温下检查待测样机的结构，外观及电性能。2)试验样机一般应在不包装、不通电条件下放入试验箱（室）内。其体积总和不得超过试验箱的有效空间的13，底面积不超过有效水平面积的12，试验样机之间及与试

14、验箱内壁距离应不小于100mm。3)本试验方法采用连续喷砂，试验持续时间为8h。4)试验样机取出后，一般应置于正常的试验大气条件下恢复12h，并用毛刷轻轻擦除表面灰尘，然后按照附录A进行检查。f)判断标准：样机各项功能正常，所有活动元件运转自如，外壳无变形，LCD内不允许有明显粉尘进入（以开机后不影响字体显示为准）。满足附录A和附录B外观和功能要求。跌落试验自由跌落a)参考标准：GB/T 试验Ed：自由跌落 方法一：自由跌落b)试验目的：确定便携式手机产品在搬运、使用期间遭遇跌落的适应性。c)试验参数:1)试验表面：大理石地面；2)跌落高度： 120cm（普通手机、超薄机、超重机） 75cm（

15、大屏机）；3)跌落次数：24次 ；4)测试样品数：6台d)试验设备：跌落试验机，综合测试仪e)试验步骤：1)对样机进行外观，结构，功能及射频指标检查；2)样机sim卡，T-flash卡等附件接插良好，将样机处于开机状态；3)按背面-正面-左侧面-右侧面-顶面(天线)-底面-4个角的跌落顺序，从相应高度垂直跌落到大理石上，每个方向跌落2次，跌落20次。直板手机背面和正面各加跌2次，翻盖手机将上翻打开加跌2次，跌落4次，共跌落24次；4)每次跌落均对外观，结构，功能进行检查。5)跌落测试完成后需进行射频指标检查。f)判断标准：1)内部无破损，无脱落器件，无功能性的损坏；2)外壳无破裂或者碎裂，轻微

16、磨损和轻微裂纹是允许的，裂缝绝对长度超过mm或“裂纹的长度、深度，占裂纹方向结构件长度1/2以上”为不合格；3)跌落时电池允许脱离主体，每台样机电池和手写笔允许脱开不超过12次；4)上下盖不能移位，不能开口；翻盖或滑盖样机，翻盖不能脱离主体；5)天线无明显变形，跌落中天线帽只允许脱落一次；6)带胶粘性质的元器件（如护镜、铭牌、内装饰块等）不允许脱落，7)同一样机可恢复的功能故障在跌落试验中不允许出现2次以上，否则试验不合格。8)附件A中各功能正常，应仍能正常使用；进行充电检查，能正常充电，满足附录B要求；射频指标满足附录C要求。翻滚跌落 a)试验目的：确定产品经受重复跌落的适应性。b)试验参数

17、:1)跌落高度：1米跌落次数：100次2)试验样品：10台c)试验设备：翻滚跌落机，综合测试仪d)试验步骤：1)对样机进行外观，结构，功能及射频指标检查；2)样机插卡开机，放进滚筒里面，转动速度设置为样品不碰撞到前板和后板，保证样品能垂直跌落到不锈钢板上。3)每20次跌落后对样品进行外观，结构，功能检查。4)若样品在跌落过程中结构件频繁散开，需检查结构件损坏情况。为保证测试连续性，在不影响其他结构件验证的情况下可用胶带固定易松散的结构件，如：电池盖。5)跌落测试完成后需进行射频指标检查。e)判断标准：1)结构功能正常（机壳、卡扣等完好）2)电性功能正常（开关机、振动、铃声、呼叫、显示等正常）3

18、)射频指标满足要求4)外观出现刮痕或烤漆有轻微裂痕可接受5)跌落过程中在电池无松脱情况下不允许出现关机或不识卡现象。重复性跌落 a)参考标准：b)试验目的：验证手机的结构强度。c)试验参数:1)跌落高度： 15cm ；2)跌落次数： 3000次（手机）2000次（超重机）3)测试样品数：2台d)试验设备：重复跌落试验机e)试验步骤：1)对样机进行外观，结构，功能检查。2)手机放在重复跌落试验机中进行测试；每500次时对手机进行功能和外观进行检测；3)试验结束后，对外观、结构和功能进行检查。f)判断标准：1)内部无破损，无脱落器件，无功能性的损坏；2)附件A中各功能正常，应仍能正常使用；3)外壳

19、无破裂或者碎裂 ；4)跌落过程中，不允许自动关机；5)带胶粘性质的元器件（如护镜、铭牌、内装饰块等）不允许脱落。振动试验随机振动试验 a)参考标准：GB/T 试验Fh 宽频随机振动b)试验目的：验证样品承受随机振动的能力。c)试验参数:1)振动频率：5Hz20Hz，ASD=1.92m2/s3 （即0.02g2/Hz）；2)振动频率：20Hz500Hz，在20Hz处ASD=1.92m2/s3，其他-3dB/倍频程；3)振动位置：3面（3个垂直面x,y,z）；4)持续时间：60分钟 / 面；5)测试样机数：不小于台d)试验设备：振动试验系统，综合测试仪e)试验步骤：1)在室温下检查待测样机的结构，

20、外观及电性能。2)样品在插卡开机状态下，按水平方向牢固地固定在试验台上，进行振动，振动时间为60分钟；3)重复将样机按直立和侧立方向固定在试验台上，每次振动60分钟，如果需要可在振动过程中在线监视一台样机的射频指标的变化，三个轴向振动试验结束后按附录A、附录B和附录C进行外观，功能和射频检查；f)判断标准：1)外观无破裂或脆裂，无变形，LCD或其他元器件无永久性损坏，无脱落器件，晃动无异响，满足附录A要求。2)可正常拔打电话，功能满足附录B要求3)射频指标满足附录C要求。4)振动后出现掉电，不识卡现象需重新安装电池和卡进行二次验证。冲击试验 a)参考标准：GB/T 试验Ea： 冲击b)试验目的

21、：揭露机械弱点和性能下降情况c)试验参数: 1)峰值加速度：35g2)脉冲持续时间：18ms；3)波形：半正弦波；4)冲击次数：每个面冲击5次，共30次；5)测试样机数：不小于台。d)试验设备：振动试验系统，综合测试仪e)试验步骤：1)在室温下检查待测样机的结构，外观及电性能。2)将合格的待测样机，以关机状态牢固地固定在冲击试验台上，在3个互相垂直轴线的每一个方向上施加5次连续冲击，共30次，冲击试验立即后按附录A、附录B和附录C进行外观、功能和射频指标检查。f)判断标准：1)外观结构满足附录A要求。2)性能指标满足附录B要求。3)射频指标满足附录C的要求。13.2B组 结构可靠性试验结构寿命

22、试验按键a)试验目的：验证按键重复使用的适应性。b)试验参数: 测试等级次数压力速度样品数备注主按键20万次5N40-60次/分钟4台侧按键（FPC式）12万次5N40-60次/分钟4台侧按键（机械式）12万次5N40-60次/分钟4台超薄按键（如PC薄膜按键）10万次5N40-60次/分钟4台特殊按键（如开机键、拍照键）10万次5N40-60次/分钟4台PTT键20万次5N40-60次/分钟4台压头下压时保持2秒Carkit接听键5万次5N40-60次/分钟4台c)试验设备：按键测试仪d)试验步骤：1)检查样品的结构，功能。2)将样品以开机状态固定在按键测试仪上，调整好按键的测试位置，测试压

23、头对应着按键中央位置。按键压力设置为5N，按键频率为40-60次/分钟。3)每4万次检查一次按键功能。e)判断标准： 按键无开裂破损，按键弹性和功能正常。滚动键 a)试验目的：验证滚动键重复使用的适应性。b)试验参数: 测试等级次数压力速度样品数上下方向测试次数各30万次5N40-60次/分钟4台左右方向测试次数各20万次5N 40-60次/分钟4台按压寿命20万次5N40-60次/分钟4台c)试验设备：按键测试仪d)试验步骤：1)检查样品的结构，功能。2)将待测手机开机后固定在按键测试仪上，按键的频率调节为40-60次/分钟，进行上下方向和左右方向滚动测试，以及进行按压测试，3)每4万次检查

24、按键的弹性及功能。e)判断标准：按键无开裂破损，按键弹性和功能正常。滑盖 a)试验目的：验证手机滑盖的可靠性b)试验参数:1)滑盖频率： 40-60次/分钟 2)测试次数：6万次（研发阶段） 5万次（中试阶段）3)测试样品数：2台 。c)试验设备：滑盖寿命测试仪。 d)试验步骤：1)检查样品外观，结构，电性功能。2)待测手机开机后固定到滑盖测试试验机上，将滑盖频率设置为40-60次/分钟。3)开始测试后，每1万次检查手机的工作状态和滑盖状态。e)判断标准：手机外观、结构及功能正常，滑盖不能有松动（垂直手机时不能有自动下滑现象）。翻盖 a)试验目的：验证手机翻盖的可靠性b)试验参数: 1)翻盖频

25、率： 40-60次/分钟 2)测试次数：6万（研发阶段） 5万（中试阶段）3)测试样品数：4台 。c)试验设备：翻盖寿命测试仪d)试验步骤：1)检查样品外观，结构，电性功能。2)待测手机开机后固定到翻盖测试试验机上，将翻盖频率设置为40-60次/分钟。3)开始测试后，每1万次检查手机的工作状态和翻盖状态。e)判断标准：测试完成后，翻盖无开裂破损，翻盖功能和手机功能正常。连接器接口 a)试验目的：验证连接器插拔可靠性b)试验参数:测试等级次数速度样品数充电器3000次10-20次/分钟2台耳机5000次10-20次/分钟2台数据线2000次10-20次/分钟2台三合一10000次10-20次/分

26、钟2台射频接口3000次10-20次/分钟2台Carkit天线插头12000次10-20次/分钟2台Carkit主机盒插头50次10-20次/分钟2台网卡连接器5000次152次/分钟3台多功能连接器，测试寿命以功能数累计，例如数据+充电：测试5000次c)试验设备：连接器寿命测试仪d)试验步骤：1)检查样品外观，结构，电性功能。2)量测连接器的插拔力量。3)开始测试后，每500次检查样机的工作状态。4)插拔测试完成后，量测连接器的插拔力量。e)判断标准：1)I/O接口无损坏，焊盘无脱落，功能正常。2)USB拉出力：5N-25N ；3)耳机拉出力：5N-25N ；4)充电器（卡扣式）拉出力：1

27、0N ；5)连接器插入力：39N ；6)连接器接插使用方便，顺畅。接插后，不允许明显晃动造成断线或接触不良。7)连接器功能正常。SIM /SD卡插拔 a)试验目的：验证SIM/UIM/PIM/T-Flash卡及卡座插拔寿命。b)试验参数:测试等级次数速度样品数 SIM/UIM/PIM500次1020次/分钟2台T-flash2000次1020次/分钟2台c)试验设备：手工测试或插拔测试仪。d)试验步骤： 插上SIM/UIM/PIM/T-Flash卡，然后取下SIM/UIM/PIM/T-Flash卡，再重新装上， 每插拔100次开机检测一次。e)判断标准： SIM/UIM/PIM卡接触良好，SI

28、M/UIM/PIM卡推扭开关正常，手机读卡功能使用正常。摄像头/上翻盖转轴 a)试验目的：验证手机摄像头或上翻盖转轴旋转寿命的可靠性b)试验参数:1)旋转频率： 30-60次/分钟；2)测试次数： 万3)测试样品数：2台。c)试验设备：人工测试或转轴寿命测试仪d)试验步骤：1)检查样品结构，电性功能。2)手动或使用转轴寿命测试仪测试转轴，速度约30-60次/分钟。3)开始测试后，每5000次检查一下手机工作状态。e)判断标准：转轴无开裂破损，转轴功能正常，摄像头功能正常。摄像头滑盖及其他滑动部件 a)试验目的：验证手机摄像头滑盖或其他滑动部件的可靠性b)试验参数:1)旋转频率： 30-60次/

29、分钟；2)测试次数： 万（研发阶段） 万（中试阶段）3)测试样品数：2台。c)试验设备：手动或滑盖测试仪d)试验步骤：1)检查样品结构，电性功能。2)手动或使用滑盖寿命测试仪测试，速度约30-60次/分钟。3)开始测试后，每5000次检查一下手机工作状态。e)判断标准： 样品结构功能正常。电池a)试验目的：验证手机电池及机壳结构卡扣的可靠性b)试验参数:1)频率：10-20次/分钟；2)卡扣次数：1500次 ；3)测试样品数：2台 。c)试验设备：手动或寿命测试仪d)试验步骤： 手动或用电池卡扣寿命测试仪测试电池卡扣，开始测试后，每500次检查手机电池卡扣的工作状态 ，直至测试次数达到1500次。e)判断标准： 电池及电池卡扣无明显的机械损伤，功能正常。电池盖a)试验目的：验证电池外壳卡扣的可靠性b)试验参数:1)频率：10-20次/分钟2)卡扣次数：1500次（手机） 3)测试样