IQC标准.docx
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IQC标准
企盛电子科技有限公司
IQC物料检验规范
文件编号
QS-SMT-PZ/11001
页次
1/15
文件版本
V1.0
文件类型
制定/修改日期
制定部门
品质部
1.目的
作为IQC检验PCB物料之依据
2.适用范围
适用于本公司所有之PCB检验
3.抽样计划
依GB2828.1-2003，LEVELII正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》。
4.职责
供应商负责PCB品质之管制执行及管理，IQC负责供应商之管理及进料检验。
5.允收水准（AQL）
严重缺点（CR）:
0;
主要缺点（MA）:
0.65;
次要缺点（MI）:
1.5.
6.参考文件
1.IPC–A–610D,AcceptabilityofPrintedCircuitsBoards.
7.检验标准定义：
检验项目
缺点名称
缺点定义
检验标准
检验方式
备注
线路
线路凸出
MA
a.线路凸出部分不得大于成品最小间距30%。
带刻度放大镜
残铜
MA
a.两线路间不允许有残铜。
b.残铜距线路或锡垫不得小于0.1mm。
c.非线路区残铜不可大于2.5mm×2.5mm，且不可露铜。
带刻度放大镜
线路缺口、凹洞
MA
a.线路缺口、凹洞部分不可大于最小线宽的30%。
带刻度放大镜
断路与短路
CR
a.线路或锡垫之间绝不容许有断路或短路之现象。
放大镜、万用表
线路裂痕
MA
a.在线路或线路终端部分的裂痕，不可超过原线宽1/3。
带刻度放大镜
线路不良
MA
a.线路因蚀铜不良而呈锯齿状部分不可超过原线宽的
1/3。
带刻度放大镜
线路变形
MA
a.线路不可弯曲或扭折。
放大镜
线路变色
MA
a.线路不可因氧化或受药水、异物污染而造成变色。
目检
线路剥离
CR
a.线路必须附着性良好，不可翘起或脱落。
目检
补线
MA
a.补线长度不得大于5mm，宽度为原线宽的80%~100%。
b.线路转弯处及BGA内部不可补线。
c.C/S面补线路不得超过2处，S/S面补线不得超过1处。
带刻度放大镜
目检
板边余量
MA
a.线路距成型板边不得少于0.5mm。
带刻度放大镜
刮伤
MA
a.刮伤长度不超过6mm，深度不超过铜铂厚度的1/3。
放大镜
孔
孔塞
MA
a.零件孔不允许有孔塞现象。
目检
孔黑
MA
a.孔内不可有锡面氧化变黑之现象。
目检
变形
MA
a.孔壁与锡垫必须附着性良好，不可翘起，变形或脱落。
目检
PAD，RING
锡垫缺口
MA
锡垫之缺口、凹洞、露铜等，不得大于单一锡垫之总面积1/4。
目检、放大镜
PAD，RING
锡垫氧化
MA
a.锡垫不得有氧化现象。
目检
锡垫压扁
MA
锡垫之锡面厚度力求均匀，不可有锡厚压扁之现象或造成间距不足。
目检
锡垫
MA
a.锡垫不得脱落、翘起、短路。
目检
防
焊
线路防焊脱落、起泡、漏印。
MA
线路防焊必须完全覆盖，不可脱落、起泡、漏印，而造成沾锡或露铜之现象。
目检
防焊色差
Minor
a.防焊漆表面颜色在视觉上不可有明显差异。
目检
防焊异物
Minor
防焊面不可沾附手指纹印、杂质或其他杂物而影响外观。
目检
防焊刮伤
MA
不伤及线路及板材（未露铜）之防焊刮伤，长度不可大于15mm，且C/S面不可超过2条，S/S面不可超过1条。
目检
防焊补漆
MA
a.补漆同一面总面积不可大于30mm2，C/S面不可超过3处；S/S面不可超过2处且每处面积不可大于20mm2。
补漆应力求平整，全面色泽一致，表面不得有杂质或涂料不均等现象。
目检
防焊气泡
MA
a.防焊漆面不可内含气泡而有剥离之现象。
目检
防焊漆残留
MA
a.金手指、SMTPAD&光学定位点不可有防焊漆。
目检
防焊剥离
MA
以3MscotchNO.6000.5"宽度胶带密贴于防焊面,密贴长度约25mm,经过30秒,以90度方向垂直拉起,不可有脱落或翘起之现象。
目检
BGA
BGA防焊
MA
在BGA部分，不得有油墨覆盖锡垫之现象，线路防焊必需完全覆盖。
放大镜
BGA区域导通孔塞孔
MA
a.BGA区域要求100%塞孔作业。
放大镜
BGA区域导孔沾锡
MA
a.BGA区域导通孔不得沾锡。
目检
BGA区域线路沾锡、露铜
MA
a.BGA区域线路不得沾锡、露铜。
目检
BGA区域补线
MA
a.BGA区域不得有补线。
目检
BGAPAD
MA
a.BGAPAD不得脱落、缺口、露铜、沾附防焊油墨及异物。
目检
外观
内层黑（棕）化
MA
a.内层采用黑化处理，黑化不足或黑化不均，不可超过单面总面积0.5%（棕化亦同）。
目检
空泡&分层
MA
空泡和分层完全不允许。
目检
外
观
板角撞伤
MA
a.因制作不良或外力撞击而造成板边（角）损坏时，则依成型线往内推不得大于0.5mm或板角以45度最大值1.3mm为允收上限。
目检及带刻度放大镜
章记
MA
焊锡面上应有制造厂之UL号码、生产日期、VendorMark；生产日期YY（年）、WW（周）采用蚀刻方式标示。
目检
外
观
尺寸
MA
a.四层板及金手指的板子，量板子最厚的部分（铜箔及镀金处）厚度为1.60mm±0.15mm，板长和宽分别参考不同Model的SPEC。
卡尺
板弯&板翘
MA
a.板弯，板翘与板扭之允收百分比最大值为0.5%。
塞规平板玻璃
板面污染
MA
a.板面不得有外来杂质，指印，残留助焊剂，标签，胶带或其他污染物。
目检
基板变色
MA
a.基板不得有焦状变色。
目检
丝
印
文字清晰度
Minor
a.所有文字、符号均需清晰且能辨认，文字上线条之中断程度以可辨认该文字为主。
目检
重影或漏印
MA
a.文字，符号不可有重影或漏印。
目检
印错
MA
a.极性符号、零件符号及图案等不可印错。
目检
文字脱落
MA
a.文字不可有溶化或脱落之现象。
目检异丙醇
文字覆盖锡垫
MA
a.文字油墨不可覆盖锡垫（无论面积大小）。
目检
ModelNo.
MA
a.MODELNO不可印错或漏印。
目检
焊锡性
焊锡性
MA
a.镀层不可有翘起或脱落现象且焊锡性应良好。
用供应商提供的试锡板分别过回流炉和波峰焊，上锡不良的点不可大于单面锡垫点数的0.3%。
目检
金
手
指
G/F刮伤
MA
a.金手指不可有见内层之刮伤。
放大镜
G/F变色
MA
a.金手指表面层不得有氧化变色现象。
目检放大镜
G/F镀层剥离
MA
以3MscotchNO.6000.5"宽度胶带密贴于G/F镀层上,密贴长度约25mm,经过30秒,以90度方向垂直拉起,不可有脱落或翘起之现象。
目检
G/F污染
MA
a.金手指不可沾锡、沾漆、沾胶或为其他污染物。
目检
金
手
指
G/F凹陷
MA
a.金手指凹陷、凹洞见底材或铜面刮伤，不得在金手指中间3/5的关键位置，唯测试探针之针点可允收，凹陷长度不可超过0.3mmMAX。
放大镜
G/F露铜
MA
金手指上不可有铜色露出。
放大镜
8.板弯、板翘与板扭之测量方法
8.1.板弯：
将PCB凸面朝上，放置于平板玻璃上，用塞规测量其凸起的高度。
（如图一）
8.2.板翘与板扭：
将PCB翘曲面朝上，放置于平板玻璃上，用塞规测量其翘起的高度。
（如图二）
1.目的
作为IQC人员检验IC类物料之依据。
2.适用范围
适用于本公司所有IC（包括BGA）之检验。
3.抽样计划
依GB2828.1-2003，LEVELII正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》。
4.允收水准（AQL）
严重缺点（CR）:
0;
主要缺点（MA）:
0.65;
次要缺点（MI）:
1.5
5.参考文件
无
检验项目
缺陷
缺陷描述
检验方式
备注
包装检验
MA
a.根据来料送检单与BOM核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否都正确,任何有误,均不可接受。
包装必须采用防静电真空包装，否则视为异常
目检
数量检验
MA
a.实际包装数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受；
b.实际来料数量与送检单与BOM上的数量是否吻合,若不吻合不可接受
目检
点数
外观检验
MA
a.丝印错或模糊不清难以辨认不可接受；
b.来料品名错，或不同规格的混装，均不可接受；
c.本体变形，或有肉眼可见的龟裂等不可接受；
d.元件封装材料表面因封装过程中留下的沙孔，其面积不超过0.5mm2,且未露出基质,可接受；否则不可接受；
e.Pin氧化生锈，或上锡不良，均不可接受
f.元件脚弯曲，偏位,缺损或少脚，均不可接受；
目检或
10倍以上的放大镜
检验时，必须佩带静电带。
备注：
凡用于真空完全密闭方式包装的IC，由于管理与防护的特殊要求不能现场打开封装的，IQC仅进行包装检验，并加盖免检印章；该IC在SMT上拉前IQC须进行拆封检验。
拆封后首先确认包装袋内的湿度显示卡20%RH对应的位置有没有变成粉红色，若已变为粉红色则使用前必须按供应商的要求进行烘烤。
1.目的
便于IQC人员检验二极管类物料
2.适用范围
适用于本公司所有贴片元件二极管之检验
3.抽样计划
依GB2828.1-2003，LEVELII正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》。
4.允收水准（AQL）
严重缺点（CR）:
0;主要缺点（MA）:
0.65;次要缺点（MI）:
1.5.
5.参考文件
《LCR数字电桥操作指引》
《数字万用表操作指引》
检验项目
缺陷
缺陷描述
检验方式
备注
包装检验
MA
a.根据来料送检单与BOM核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否都正确,任何有误,均不可接受。
b.包装必须采用防静电包装，否则不可接受。
目检
数量检验
MA
a.实际包装数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受；
实际来料数量与送检单与BOM上的数量是否吻合,若不吻合不可接受。
目检
点数
外观检验
MA
a.丝印错或模糊不清难以辨认不可接受；
b.来料品名错，或不同规格的混装，均不可接受；
c.本体变形，或有肉眼可见的龟裂等不可接受；
d.元件封装材料表面因封装过程中留下的沙孔，其面积不超过0.5mm2,且未露出基质,可接受；否则不可接受；
e.Pin氧化生锈，或上锡不良，均不可接受；
目检
10倍以上的放大镜
检验时，必须佩带静电带。
电性检验
MA
元件实际测量值超出偏差范围内.
LCR测试仪
数字万用表
检验时，必须佩带静电带。
检测方法
LED
选择数字万用表的二极管档，正向测量，LED需发出与要求相符的颜色、亮度光，而反向测量不发光；否则该二极管不合格。
注：
有标记的一端为负极。
其它二极管
选择数字万用表的二极管档，正向测量，读数需小于1，而反向测量读数需无穷大；否则该二极管不合格。
注：
有颜色标记的一端为负极。
备注
抽样计划说明：
对于CHIP二极管，执行抽样计划时来料数量以盘为单位，样本数也以盘为单位；从抽检的每盘中取3~5pcs元件进行检测；AQL不变。
检验方法见＂LCR数字电桥测试仪操作指引＂和＂数字万用表操作指引＂。
1.目的
作为IQC人员检验电阻类物料之依据。
2.适用范围
适用于本公司所用电阻之检验。
3.抽样计划
依GB2828.1-2003，LEVELII正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》。
4.允收水准（AQL）
严重缺点（CR）:
0;主要缺点（MA）:
0.65;次要缺点（MI）:
1.5.
5.参考文件
检验项目
缺陷属性
缺陷描述
检验方式
备注
包装检验
MA
根据来料送检单与BOM核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否都正确,任何有误,均不可接受。
目检
数量检验
MA
a.实际包装数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受；
实际来料数量与送检单与BOM上的数量是否吻合,若不吻合不可接受。
目检
点数
外观检验
MA
a元件变形，或受损露出本体等不可接受；
b.Pin生锈氧化、上锡不良，或断Pin，均不可接受
c.来料为卷料、节料，须有明确新标签标示，且有检验人员签名确认
d.来料的各参数（标称值、误差、功率、尺寸等）是否与BOM相符
目检
每LOT取5~10PCS在小锡炉上验证上锡性
电性检验
MA
a.测试实际值在规格范围内
b.测量值超出范围则不可接受
电桥
1.目的
作为IQC人员检验电容类物料之依据。
2.适用范围
适用于本公司所用电容之检验。
3.抽样计划
依GB2828.1-2003，LEVELII正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》。
4.允收水准（AQL）
严重缺点（CR）:
0;主要缺点（MA）:
0.65;次要缺点（MI）:
1.5.
5.参考文件
检验项目
缺陷属性
缺陷描述
检验方式
备注
包装检验
MA
根据来料送检单与BOM核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否都正确,任何有误,均不可接受。
目检
数量检验
MA
e.实际包装数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受；
实际来料数量与送检单与BOM上的数量是否吻合,若不吻合不可接受。
目检
点数
外观检验
MA
a元件变形，或受损露出本体等不可接受；
f.Pin生锈氧化、上锡不良，或断Pin，均不可接受
g.来料为卷料、节料，须有明确新标签标示，且有检验人员签名确认
h.来料的各参数（标称值、误差、耐压、尺寸等）是否与BOM相符
目检
每LOT取5~10PCS在小锡炉上验证上锡性
电性检验
MA
a.测试实际值在规格范围内
b.测量值超出范围则不可接受
电桥
钽电容
a.检验钽电容的型号如A\B型是否与BOM要求相符（特别对于钽电容的有厚度要求的手机产品）
b.其它检验如普通SMD电容项目
目检
1.目的
作为IQC人员检验电感类物料之依据。
2.适用范围
适用于本公司所用电感之检验。
3.抽样计划
依GB2828.1-2003，LEVELII正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》。
4.允收水准（AQL）
严重缺点（CR）:
0;主要缺点（MA）:
0.65;次要缺点（MI）:
1.5.
5.参考文件
检验项目
缺陷属性
缺陷描述
检验方式
备注
包装检验
MA
根据来料送检单与BOM核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否都正确,任何有误,均不可接受。
目检
数量检验
MA
i.实际包装数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受；
实际来料数量与送检单与BOM上的数量是否吻合,若不吻合不可接受。
目检
点数
外观检验
MA
a元件变形，或受损露出本体等不可接受；
j.Pin生锈氧化、上锡不良，或断Pin，均不可接受
k.来料为卷料、节料，须有明确新标签标示，且有检验人员签名确认
l.来料的各参数（标称值、误差、Q、尺寸等）是否与BOM相符
目检
每LOT取5~10PCS在小锡炉上验证上锡性
电性检验
MA
a.测试实际值在规格范围内
b.测量值超出范围则不可接受
电桥
1.目的
作为IQC人员检验晶体类物料之依据。
2.适用范围
适用于本公司所用晶体之检验。
3.抽样计划
依GB2828.1-2003，LEVELII正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》。
4.允收水准（AQL）
严重缺点（CR）:
0;
主要缺点（MA）:
0.65;
次要缺点（MI）:
1.5.
5.参考文件
《数字频率计操作指引》
检验项目
缺陷属性
缺陷描述
检验方式
备注
包装检验
MA
a.根据来料送检单与BOM核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否都
正确,任何有误,均不可接受。
目检
数量检验
MA
m.实际包装数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受；
n.实际来料数量与送检单与BOM上的数量是否吻合,若不吻合不可接
受。
目检
点数
外观检验
MA
a.字体模糊不清，难以辨认不可接受；
b.有不同规格的晶体混装在一起，不可接受；
o.元件变形，或受损露出本体等不可接受；
p.Pin生锈氧化、上锡不良，或断Pin，均不可接受。
目检
每LOT取5~10PCS在小锡炉上验证上锡性
电性检验
MA
a.晶体不能起振不可接受；
b.测量值超出晶体的频率范围则不可接受。
测试工位
和数字频率计
电性检测方法
晶体
检测方法
32.768KHz
25.000MHz
在好的样板的相应位置插上待测晶体,再接通电源开机;在正常开机后，用调试好的数字频率计测量晶体，看
测量的频率是否在规格范围内，若不能开机或测量值不在规格范围内，则该晶体不合格。
26MHz
在好的样板的相应位置插上待测晶体、CPU、内存条等，再接通电源开机，看能否正常开机显示；在正常开机显示后，用调试好的数字频率计测量晶体，看测量的频率是否在规格范围内，若不能开机显示或测量值不在规格范围内，则该晶体不合格。
1.目的
作为IQC人员检验三极管类物料之依据。
2.适用范围
适用于本公司所有三极管之检验。
3.抽样计划
依GB2828.1-2003，LEVELII正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》。
4.允收水准（AQL）
严重缺点（CR）:
0;
主要缺点（MA）:
0.65;
次要缺点（MI）:
1.5.
5.参考文件
无
检验项目
缺陷属性
缺陷描述
检验方式
备注
包装检验
MA
a.根据来料送检单与BOM核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否都正确,任何有误,均不可接受。
b.包装必须采用防静电包装，否则不可接受。
目检
数量检验
MA
a.实际包装数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受；
实际来料数量与送检单与BOM上的数量是否吻合,若不吻合不可接受。
目检
点数
外观检验
MA
a.Marking错或模糊不清难以辨认不可接受；
b.来料品名错，或不同规格的混装，均不可接受；
c.本体变形，或有肉眼可见的龟裂等不可接受；
d.元件封装材料表面因封装过程中留下的沙孔，其面积不超过0.5mm2,且未露出基质,可接受；否则不可接受；
e.Pin氧化生锈，或上锡不良，均不可接受。
目检
10倍以上的放大镜
检验时，必须佩带静电带。
电性检验
无
1.目的
作为IQC人员检验连接器（USB\电池座）类物料之依据。
2.适用范围
适用于本公司所有连接器（USB\电池座）类之检验。
3.抽样计划
依GB2828.1-2003，LEVELII正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》。
4.允收水准（AQL）
严重缺点（CR）:
0;
主要缺点（MA）:
0.65;
次要缺点（MI）:
1.5.
5.参考文件
无
检验项目
缺陷属性
缺陷描述
检验方式
备注
包装检验
MA
根据来料送检单与BOM核对外包装或LABEL上的P/N及实物是否都正确,任何有误,均不可接受。
目检
数量检验
MA
a.实际包装数量与Label上的数量是否相同,若不同不可接受；
实际来料数量与送检单与BOM上的数量是否吻合,若不吻合不可接受。
目检
点数
外观检验
MA
a.Marking错或模糊不能辩认；
b.塑料与针脚不能紧固连接；
c.塑料体破损，体脏，变形，明显色差，划伤，缩水；
d.过锡炉后塑料体外观变色，变形，脱皮;
e.针脚拧结，弯曲，偏位,缺损，断针或缺少；
f.针脚高低不平、歪针、针氧化、生锈;
g.引脚是否平整（在一个水平面上）
目检
焊锡性检验
MA
PIN上锡不良，或完全不上锡,均不可接受；（将零件脚插入现使用之合格松香水内，全部浸润，再插入小锡炉5秒钟左右后拿起观看PIN是否100%良好上锡；如果不是则拒收）
实际操作
每LOT取5~10PCS在小锡炉上验证上锡性
适配检验
MA
a.引脚是否与实物PCB相应PAD相符;
本体与PCB板上丝印框是否相符
卡尺/PCB
耐温性
a.过炉是否会起泡、变形、氧化等不良
1.目的
作为IQC人员检验SIM/T卡座类物料之依据。
2.适用范围
适用于本公司所用SIM/T卡座之检验。
3.抽样计划
依GB2828.1-2003，LEVELII正常单次抽样计划；具体抽样方式请参考《抽样计划》。
4.允收水准（AQL）
严重缺点（CR）:
0;主要缺点（MA）:
0.65;次要缺点（MI）:
1.5.
5.参考文件
检验项目
缺陷属性
缺陷描述
检验方式
备注
升级会员 