JB4730标准讲解李伟附图表09081汇编.docx

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JB4730标准讲解李伟附图表09081汇编

JB/T4730.1.2-2005标准的应用以及需注意的问题

李伟2009年08月

第一部分通用要求

3、术语和定义

3.1公称厚度T；受检工件名义厚度，不考虑材料的制造偏差和加工减薄。

（1）理解；一般由设计图纸提供的厚度，不考虑焊缝余高和垫板厚度。

（2）应用；在单壁透照时为透照厚度，在透照厚度范围选择像质計灵敏度值（单壁透照）以及评级时均采用公称厚度。

（3）注意；在用设备和管线测厚后，应填写公称厚度

3.2透照厚度W；射线照射方向上材料的公称厚度，多层透照时，透照厚度为通过的各层材料公称厚度之和。

（1）理解；所谓射线照射方向上即与主射线垂直。

（2）应用；一般在双壁双影或双壁单影以及带夹套工件透照时采用透照厚度如Ø57×3.5mm,透照厚度是7mm,Ø219×7mm,透照厚度为14mm,夹套厚度10mm,焊接头厚度是12mm,透照厚度22mm（以透照厚度确定灵敏度，评级仍采用单壁公称厚度）

（3）注意；当壁厚不等时已薄工件为准，但选择射线能量时要考虑厚的一面以及焊缝的余高和垫板的厚度。

3.3工件至胶片的距离b；沿射线束中心测定的工件受检部位射线源侧表面与胶片之间的距离。

（1）理解；b等于L2

（2）应用；计算几何不清晰度

（3）注意；计算b厚度时要考虑焊缝余高，双壁双影时为管子的外径+2余高，双壁单影时为管子公称厚度的+1余高，

3.4射线源至工件的距离f；沿射线束中心测定的工件受检部位射线源与受检工件近源侧表面之间的距离。

（1）理解；f等于L1

（2）应用；计算几何不清晰度，环焊缝透照次数

（3）注意；只有采当用内透法时f值可以减小。

中心50﹪，偏心20﹪而且与技术级别无关

3.5焦距F；沿射线束中心测定的射线源与胶片之间的距离。

（1）理解；F=f＋b

（2）应用；计算曝光量，采用其它方式透照环向对接接头

（3）注意当用X射线机时要考虑窗口到焦点的距离。

3.6射线源尺寸d；射线源的有效焦点尺寸

（1）理解；X光机所提供的焦点尺寸是有效焦点尺寸

（2）应用；计算几何不清晰度

（3）注意；采用ƴ射线两个以上源叠加时以长轴计算

3.7管子直径D0；管子的外径

（1）理解；一般给出的管子规格均指外径，如Ø57×3.5mm

（2）应用；计算小径管透照次数，环向焊接接头透照次数，双壁双影计算几何不清晰度，计算椭圆开口间隙。

（3）注意；容器一般给出的D0系指内径

3.8圆形缺陷；长宽比不大于3的气孔、夹渣和夹钨等缺陷

（1）理解；小于和等于3的气孔、夹渣和夹钨等缺陷均属于圆形缺陷

（2）应用；在检测报告缺陷性质一栏中，凡长宽比小于和等于3的气孔、夹渣和夹钨等缺陷均应称作圆形缺陷

（3）注意；当圆形缺陷的长径大于1/2板厚时应注明其尺寸

3.9条形缺陷；长宽比大于3的气孔、夹渣和夹钨等缺陷

（1）理解；凡长宽比大于3的气孔、夹渣和夹钨等缺陷均属于条形缺陷

（2）应用；在检测报告缺陷性质一栏中，凡长宽比大于3的气孔、夹渣和夹钨等缺陷均应称作条形缺陷

（3）注意；在管对接接头评级中，内凹、咬边不属于条形缺陷

3.10透照厚度比K;一次透照长度范围内，射线束穿过母材的最大厚度与最小厚度之比

（1）理解；透照厚度比K值即横向裂纹捡出角

（2）应用；计算纵向焊接接头一次透照长度和环向焊接接头的透照次数

（3）注意；对100mm＜D0≤400mm的环向焊接接头可放宽≤1.2与技术级别有关（仅限A级和AB级）

3.11小径管；外直径D0小于或等于100mm的管子

（1）理解；小径管外直径的上限为100mm,下限应理解为5mm（6.1.1评级中规定壁厚≥2mm）

（2）应用；小径管的透照次数与技术级别无关

（3）注意；由于结构原因不能进行多次透照时，应采取有效措施扩大缺陷的检出范围

3.12底片评定范围；本部分规定底片上必须观测和评定的范围

（1）理解；以两搭接标记之间的距离为长，焊缝加焊缝两侧热影响区为宽的范围。

对小径管而言应是黑度大于1.5（AB级）或黑度大于大于2.0（B级）部分

（2）应用；评片时评定范围以外的缺陷不作为该片的评定依据，但要在备注栏中注明。

当缺陷延伸到评定范围以外时也应计算其尺寸和数量。

（3）注意；丁字焊口的纵、环部分焊缝也应进行评定。

3.13缺陷评定区；在质量分级评定时，为评价缺陷数量和密集程度而设置的一定尺寸区域。

可以是正方形或长方形。

缺陷评定区应选在缺陷最严重的部位。

（1）理解；缺陷系指条形缺陷和圆形缺陷。

评定区尺寸选取只与母材的公称厚度有关，与技术级别无关。

（2）应用；按不同性质的缺陷和母材的公称厚度择评定区，测量时评定区应与焊缝平行，（5.1.5.1）在圆形缺陷评定区内存在条形缺陷时要综合评级

（3）对小径管圆形缺陷评定区按10mm×10mm

4.2.3射线检测的穿透厚度，主要由射线能量确定，参见表1。

（1）理解；该表对X射线而言只是一个参考值，不是限定值。

200KV（25mm/35mm）300KV（40mm/60mm）400KV（75mm/100mm）对γ射线和高能射线则是限定值，不是参考值。

（第2部分射线检测第4.2.2已明确规定）

（2）应用；对X射线而言只要底片灵敏度、黑度符合标准要求可以适当的高出该表所规定的厚度值。

（3）注意；暗盒后面应贴加一定厚度的铅皮，把不需要曝光的部位遮盖掉，尽量减少来自工件内部的散乱射线。

5.2无损检测工艺规程

（1）理解；无损检测工艺规程包括通用工艺、专用工艺和工艺卡。

（2）应用；按JB/T4730.1－2005标准5.2.2条的规定：

无损检测通用工艺规程应根据相关法规、产品标准。

有关的技术文件和JB/T4730的本部分的要求，并针对检测机构的特点和检测能力进行编制。

无损检测通用工艺应涵盖本单位（制造、安装或检测单位）产品的范围。

不能把原标准照抄一遍.（现举例说明）

a、增感屏的材料和厚度

b、小径管透照时像质计的摆放位置

c、搭接标记、返修标记、扩探标记的规定

d、不同透照厚度允许的最高X射线管电压

e、射线源至工件表面的距离

f、小径管应选用的像质计等。

注意；1、本单位没有的检测设备无需编写该设备的通用工艺（如高能射线、C0-60）

2、如检测单位所从事的检测工程项目牵扯的其他标准（如长输管线、或中石油管线检测）,必须在检测通用工艺中涵盖SY4056《射线》和SY4065《超声》标准中的有关内容及相关规定。

5.3无损检测人员资格

理解；通用工艺和专用工艺必须由具有该检测方法的Ⅲ级人员进行编写和审核，工艺卡可以由具有该检测方法的Ⅱ级人员进行编写和审核。

应用；工艺卡一般应由该检测方法的责任师或责任师的代理人审核。

如本单位只有一名高级人员时通用工艺的编写和审核可以同为一人，如另一名高级人员不具备该项资格也可以审核。

注意；专用工艺可以代替工艺卡。

承压设备无损检测

第2部分：

射线检测

1范围

JB/T4730的本部分规定了承压设备金属材料板和管的熔化焊对接接头的X射线和γ射线检测技术和质量分级要求。

本部分适用于承压设备的制造、安装、在用检测中对接焊接接头的射线检测。

用于制作焊接接头的金属材料包括碳素钢、低合金钢、不锈钢、铜及铜合金、铝及铝合金和钛及钛合金、镍及镍合金。

本部分规定的射线检测技术分为三级：

A级——低灵敏度技术；AB级——中灵敏度技术；B级——高灵敏度技术。

承压设备的有关支承件和结构件的对接焊接接头的射线检测，也可参照使用。

1、理解：

（1）适用对象包括承压设备的制造、安装、在用

（2）检测的金属材料包括；碳素钢、低合金钢、不锈钢、铜及铜合金、铝及铝合金和钛及钛合金、镍及镍合金（3）A级AB级B级系指检测技术分级，不是底片质量分级。

2、应用：

（1）对不同的金属材料透照的厚度不同例如碳素钢、低合金钢、不锈钢、铜及铜合金、镍及镍合金透照厚度2－400mm（5.1.1）铝及铝合金透照厚度2－80mm（5.2.1）钛合金2－50mm（5.3.1）

（2）不适用范围；锻件、管材、棒材。

T型焊缝、角焊缝、堆焊层一般也不宜采用。

（使用原则4.2.2）

3、注意：

如承压设备的支承件或结构件也采用该标准时应在检测报告中注明《参照》同时应有委托方的确认。

2规范性引用文件

下列文件中的条款，通过JB/T4730的本部分的引用而成为本部分的条款。

凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本部分。

然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。

凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。

GB11533—1989标准对数视力表

GB16357—1996工业Ｘ射线探伤放射卫生防护标准

GB18465—2001工业γ射线探伤放射卫生防护要求

GB18871—2002电离辐射防护及辐射源安全基本标准

GB/T19348.1—2003无损检测工业射线照相胶片第1部分：

工业射线胶片系统的分类

GB/T19348.2—2003无损检测工业射线照相胶片第2部分：

用参考值方法控制胶片处理

HB7684—2000射线照相用线型像质计

JB4730.1—2005承压设备无损检测第1部分：

通用要求

JB/T7902—1999线型像质计

JB/T7903—1999工业射线照相底片观片灯

（共计10个）

1、理解：

（1）JB/T4730直接引用了文件中的某些条款

（2）在工作中要执行这些标准中的有关规定。

例如3.3.1观片灯的主要性能应符合JB/T7903—1999的有关规定。

2、应用：

（1）除JB/T4730外，以上10个标准也是我们编制检测通用工艺和管理规定的主要依据。

（2）如果这些文件有新的版本鼓励采用，但双方要达成一致意见。

3、注意：

（1）凡从事射线检测的单位或部门应有这10个标准的原件

（2）当某些条款与JB/T4730不相符时，以JB/T4730规定的内容为准。

（GB标准除外）例如附录F专用像质计的标识。

4、中国工业标准汇编（第二版）金属无损检测与探伤卷

3一般要求

射线检测的一般要求除应符合JB/T4730.1的有关规定外，还应符合下列规定。

3.1射线检测人员

3.1.1从事射线检测人员上岗前应进行辐射安全知识的培训，并取得放射工作人员证。

3.1.2射线检测人员未经矫正或经矫正的近（距）视力和远（距）视力应不低于5.0（小数记录值为1.0）,测试方法应符合GB11533的规定。

从事评片的人员应每年检查一次视力。

1、理解：

取《放射工作人员证》的对象

2、应用：

（1）对已取得国家质检总局或要取得国家质检总局所颁发的无损检测资质单位的射线检测人员均应有《放射工作人员证》

（2）对其他单位（制造、安装和检验）现场操作人员应有《放射工作人员证》

3、注意：

从事评片人员每年的视力检查情况应存档。

3.2射线胶片

3.2.1胶片系统按照GB/T19384.1分为四类，即T1、T2、T3和T4类。

T1为最高类别，T4为最低类别。

胶片系统的特性指标见附录A（资料性附录）。

胶片制造商应对所生产的胶片进行系统性能测试并提供类别和参数。

胶片处理方法、设备和化学药剂可按照GB/T19384.2的规定，用胶片制造商提供的预先曝光胶片测试片进行测试和控制。

3.2.2A级和AB级射线检测技术应采用T3类或更高类别的胶片，B级射线检测技术应采用T2类或更高类别的胶片。

胶片的本底灰雾度应不大于0.3。

3.2.3采用γ射线对裂纹敏感性大的材料进行射线检测时,应采用T2类或更高类别的胶片。

1、理解：

（1）按胶片系统进行分类，不是按胶片的感光速度分类。

胶片系统包括了胶片、增感屏和冲洗条件。

（2）检测的技术级别与胶片的类别有关。

2、应用：

选择的原则

（1）A级和AB级检测技术不得低于T3类、B级检测技术不得低于T2类

（2）采用γ射线允许采用T3类胶片，但灵敏度应满足要求。

3、注意：

（1）当对公称厚度或透照厚度较薄的工件进行γ射线照相时应采用高类别的胶片。

（2）对可焊性差的材料或Rm≥540MPa高强钢，γ射线照相时应选择T2类或更高类别的胶片。

3.3观片灯

3.3.1观片灯的主要性能应符合JB/T7903的有关规定。

3.3.2观片灯的最大亮度应能满足评片的要求。

1、理解：

（1）观片灯的主要性能指标除了亮度以外还包括:

亮度的均匀性、外壳温度、噪声、绝缘程度等

（2）观片灯亮度和照度的关系，即140000lx——45000cd/m2

2、应用：

当底片评定范围内的黑度≤2.5时，观片灯的亮度不应低于9400cd/m2、当底片评定范围内的黑度2.5＜D≤4时观片灯的亮度不应低于100000cd/m2（已知底片的黑度，应会计算观片灯的亮度）

3、注意：

生产观片灯的厂家所提供的亮度指标应用cd/m2表示。

3.4黑度计（光学密度计）

3.4.1黑度计可测的最大黑度应不小于4.5，测量值的误差应不超过±0.05。

3.4.2黑度计至少每6个月校验一次。

校验方法可参照附录B（资料性附录）的规定进行。

1、理解：

在一定情况下底片的黑度允许大于4（4.11.2）

2、应用：

黑度计属于自校验仪器，不是强制校验设备，而标准黑度片是要强制检验的。

黑度计的校验应有记录并有校验者和审核者签字，保存到下一校验周期。

3、注意：

校准黑度计用的标准黑度片必须在有效期内，并通过计量部门的鉴定（2年）新购置的标准黑度片只要在有效期内也允许。

3.5增感屏

射线检测一般应使用金属增感屏或不用增感屏。

增感屏的选用应符合表1的规定

1、理解：

（1）X射线照相，能量在500KV以下增感屏的材料应是铅，铅屏的厚度不涉及技术级别只与射线能量有关

（2）如采用Se-75或Ir-192，增感屏的厚度与技术级别有关。

（3）如采用Co60或高能X射线（4MeV以下）选择增感屏所用的材料和厚度均与技术级别有关。

2、应用：

（1）前屏和后屏的厚度可以相同也可以不同

（2）如采用Se-75和Ir-192射线照相，AB级或B级检测技术，前屏和后屏的厚度均不能小于0.1mm。

3、注意：

AB级或B级检测技术使用前屏≤0.03mm真空包装胶片时，另有规定。

（仅限于γ射线）

3.6像质计

3.6.1底片影像质量采用线型像质计测定。

线型像质计的型号和规格应符合JB/T7902的规定，JB/T7902中未包含的丝径、线号等内容，应符合HB7684的有关规定。

3.6.2像质计的材料、材料代号和不同材料的像质计适用的工件材料范围应符合表2的规定

表1增感屏的材料和厚度

射线源

前屏

后屏

材料

厚度,mm

材料

厚度,mm

X射线（≤100kV）

铅

不用或≤0.03

铅

≤0.03

X射线

（100kV～150kV）

铅

≤0.10

铅

≤0.15

X射线

（150kV～250kV）

铅

0.02～0.15

铅

0.02～0.15

X射线

（250kV～500kV）

铅

0.02～0.2

铅

0.02～0.2

Se-75

铅

A级0.02～0.2

铅

A级0.02～0.2

AB级、B级

0.1～0.21）

AB级、B级

0.1～0.2

Ir-192

铅

A级0.02～0.2

铅

A级0.02～0.2

AB级、B级

0.1～0.21）

AB级、B级

0.1～0.2

Co-60

钢或铜

0.25～0.7

钢或铜

0.25～0.7

铅（A、AB级）

0.5～2.0

铅（A、AB级）

0.5～2.0

X射线

（1MeV～4MeV）

钢或铜

0.25～0.7

钢或铜

0.25～0.7

铅（A、AB级）

0.5～2.0

铅（A、AB级）

0.5～2.0

X射线

（4MeV～12MeV）

铜、钢或钽

≤1

铜、钢

≤1

钽

≤0.5

铅（A、AB级）

0.5～1.0

铅（A、AB级）

0.5～1.0

X射线（＞12MeV）

钽

≤1

不用后屏

1）如果AB级、B级使用前屏≤0.03mm的真空包装胶片，应在工件和胶片之间加0.07～0.15mm厚的附加铅屏。

表2不同材料的像质计适用的材料范围

像质计材料代号

Fe

Ni

Ti

Al

Cu

像质计材料

碳钢或奥氏体不锈钢

镍-铬合金

工业纯钛

工业纯铝

3#纯铜

适用材料范围

碳钢,低合金钢,不锈钢

镍,镍合金

钛,钛合金

铝,铝合金

铜,铜合金

1、理解：

（1）取消了象质指数“Z”的概念，用线径或线号表示底片的灵敏度。

（2）原JB4730标准选用的是R10等比系列像质計最细线的编后为16号，线径为0.100mm,这一线径已不能满足JB/T4730厚度的下线（2mm）AB级和B级的要求，因此JB/T4730标准引出HB7684－2000增加了小于0.100mm的线，即17号，0.080mm、18号，0.063mm,19号，0.050mm.组成了4组像质计：

1－7、6－12、10－16、13－19。

2、应用：

（1）应根据检测技术级别、透照方式和像质计摆放的位置及公称厚度（T）透照厚度（W）确定像质计灵敏度

（2）以低原子序数材料制作的像质计可以用于高原子序数材料制成的工件照相。

即铁（Fe）像质计可以用于镍（Ni）、铜（Cu）材料的照相，但不能用于钛（Ti）、铝（AI）材料的照相。

3.7表面要求和射线检测时机

3.7.1在射线检测之前，对接焊接接头的表面应经外观检测并合格。

表面的不规则状态在底片上的影像不得掩盖或干扰缺陷影像，否则应对表面作适当修整。

3.7.2除非另有规定，射线检测应在焊后进行。

有延迟裂纹倾向的材料，至少应在焊接完成24h后进行射线检测。

1、理解：

（1）焊缝的外观检查一般由焊工检查员进行。

（2）除非另有规定系指设计图纸的规定、制造方的规定或焊缝返修后焊接工艺的规定。

（3）有延迟裂纹的材料一般指低合金高强钢。

2、应用：

（1）射线检测工艺卡中应明确检测时机

（2）当底片上存在不影响评定的伪缺陷时应在底片评定原始记录中注明。

3、注意：

所谓适当修整是指打磨或较浅补焊。

3.8射线检测技术等级选择

3.8.1射线检测技术等级选择应符合制造、安装、在用等有关标准及设计图样规定。

承压设备对接焊接接头的制造、安装、在用时的射线检测，一般应采用AB级射线检测技术进行检测。

对重要设备、结构、特殊材料和特殊焊接工艺制作的对接焊接接头，可采用B级技术进行检测。

3.8.2由于结构、环境条件、射线设备等方面限制，检测的某些条件不能满足AB级（或B级）射线检测技术的要求时,经检测方技术负责人批准，在采取有效补偿措施（例如选用更高类别的胶片）的前提下，若底片的像质计灵敏度达到了AB级（或B级）射线检测技术的规定,则可认为按AB级（或B级）射线检测技术进行了检测。

3.8.3承压设备在用检测中，由于结构、环境、射线设备等方面限制,检测的某些条件不能满足AB级射线检测技术的要求时,经检测方技术负责人批准,在采取有效补偿措施（例如选用更高类别的胶片）后可采用A级技术进行射线检测，但应同时采用其他无损检测方法进行补充检测。

1、理解：

（1）承压类设备的制造、安装、在用的检测技术级别一般不应低于AB级

（2）承压设备在用检测特殊情况下可以采用A级检测技术（3）检测方技术负责人系指无损检测单位的技术负责人，如是制造、安装单位或检验单位，检测方技术负责人是指该单位的总工程师或分管技术的领导（4）有效措施一般包括：

高类别胶片、提高底片黑度、采用最佳透照方式、最大限度的控制散乱射线等措施。

2、应用：

（1）技术负责人要确认是否确实存在“结构、环境、射线设备等方面的限制”

（2）技术负责人一般应在专用工艺或工艺卡批准栏中签字。

3、注意：

底片灵敏度必须达到相应技术级别的规定。

对在用设备如采用A级检测技术应补充其他检测方法进行检测。

返修焊缝应采用AB级或达到AB级灵敏度

3.9辐射防护计算题一道

3.9.1放射卫生防护应符合GB18871、GB16357和GB18465的有关规定。

3.9.2现场进行Ｘ射线检测时，应按GB16357的规定划定控制区和管理区、设置警告标志。

检测工作人员应佩带个人剂量计，并携带剂量报警仪。

3.9.3现场进行γ射线检测时，应按GB18465的规定划定控制区和监督区、设置警告标志，检测作业时，应围绕控制区边界测定辐射水平。

检测工作人员应佩带个人剂量计，并携带剂量报警仪。

1、理解：

（1）现场进行Ｘ射线检测或进行γ射线检测时对辐射防护提出了不同的要求。

（2）在两个标准都提出了辐射照射量的新名词《比释动能》和《空气比释动能率》，比释动能是指不带电粒子与物质相互作用，在单位质量的物质中释放出来的所有带电粒子的初始动能的总和。

2、应用：

（1）空气比释动能率用仪器可以测出

（2）控制区、管理区、监督区范围的确定均根据空气比释动能率量值进行划分的。

3、注意：

尽管两个标准的某些条款内容相同或相近，但在使用中不能相互代替。

4具体要求

4.1透照布置

4.1.1透照方式

应根据工件特点和技术条件的要求选择适宜的透照方式。

在可以实施的情况下应选用单壁透照方式,在单壁透照不能实施时才允许采用双壁透照方式。

典型的透照方式参见附录C（资料性附录）。

4.1.2透照方向

透照时射线束中心一般应垂直指向透照区中心，需要时也可选用有利于发现缺陷的方向透照。

4.1.3一次透照长度

一次透照长度应以透照厚度比K进行控制。

不同级别射线检测技术和不同类型对接焊接接头的透照厚度比应符合表3的规定。

整条环向对接焊接接头所需的透照次数可参照附录D（资料性附录）的曲线图确定。

表3允许的透照厚度比K

射线检测技术级别

A级；AB级

B级

纵向焊接接头

K≤1.03

K≤1.01

环向焊接接头

K≤1.11）

K≤1.06

1）对100mm＜Do≤400mm的环向对接焊接接头（包括曲率相同的曲面焊接接头）,A级、AB级允许采用K≤1.2。

1、理解：

（1）单壁透照最有利于发现缺陷，但并不是最便捷的透照方法。

（2）对《在单壁透照不能实施时才允许采用双壁透照方式》要有正确的理解，不能实施时主要针对工况条件和检验检测单位的资源条件而言，不是指最佳的透照方式。

（3）一次透照长度与检测技术级别有关（K值）。

2、应用：

透照方式不能任意选取，在可以实施的情况下应选用单壁透照方式。

（在用设备）

3、注意：

其他方式透照环向对接接头时，有不能实施的部位即阴影区。

4.1.4小径管环向对接焊接接头的透照布置

小径管采用双壁双影透照布置，当同时满足下列两条件时应采用倾斜透照方式椭圆成像：

T（壁厚）≤8mm；g（焊缝宽度）≤Do/4

椭圆成像时，应控制影像的开口宽度（上下焊缝投影最大间距）在1倍焊缝宽度左右。

不满足上述条件或椭圆成像有困难时可采用垂直透照方式重叠成像。

4.1.5小径管环向对接接头的透照次数

小径管环向对接焊接接头100%检测的透照次数：

采用倾斜透照椭圆成像时，当T/Do≤0.12时,相隔90°透照2次。

当T/Do＞0.12时,相隔120°或60°透照3次。

垂直透照重叠成像时，一般应相隔120°或60°透照3次。

由于结构原因不能进行多次透照时，可采用椭圆成像或重叠成像方式透照一次。

鉴于透照一次不能实现焊缝全长的100%检测，此时应采取有效措施尽量